JPS63132106A - 部品の検出装置 - Google Patents
部品の検出装置Info
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- JPS63132106A JPS63132106A JP27905586A JP27905586A JPS63132106A JP S63132106 A JPS63132106 A JP S63132106A JP 27905586 A JP27905586 A JP 27905586A JP 27905586 A JP27905586 A JP 27905586A JP S63132106 A JPS63132106 A JP S63132106A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 31
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 101000695835 Mus musculus Receptor-type tyrosine-protein phosphatase U Proteins 0.000 description 1
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 1
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- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ、産業上の利用分野
本発明は、微小部品等の検出対象の有無１位置を検出す
る検１１ｔｌ装置に関する。
る検１１ｔｌ装置に関する。
Ｂ１発明の概要
本発明は、部品を検出する装置１ｔＶＣおいて、部品の
輝度画像を読取ってその複数箇所のエツジ位置検出によ
って中心位置及び傾きの正常、異常を判定することによ
り、 微小部品の確実、容易な検出ができ、しでλも検出時間
を大幅に短縮できるようにしたものでＦ私Ｃ０従来の技
術 ＸＣ素子等の電子部品を実装したプリント基板げ、その
製品検査として部品がＶ当する位置に実装ざｔているか
否か、また実装されていると＠では実装状態（位＃）が
誤りなく行ねｎでいるか否か等の判定が行われる。この
検査の従来方法に汀、部品の投影図の読取りからその位
置、有無の自動判定を行うものがあるし、他の方法ＶＣ
ニ光ビームを走査して皺ビームの反射光を検出する受信
部の信号処理によって検糞部品があるか否かｆ該ビーム
の受信パターンで判定するものがある。
輝度画像を読取ってその複数箇所のエツジ位置検出によ
って中心位置及び傾きの正常、異常を判定することによ
り、 微小部品の確実、容易な検出ができ、しでλも検出時間
を大幅に短縮できるようにしたものでＦ私Ｃ０従来の技
術 ＸＣ素子等の電子部品を実装したプリント基板げ、その
製品検査として部品がＶ当する位置に実装ざｔているか
否か、また実装されていると＠では実装状態（位＃）が
誤りなく行ねｎでいるか否か等の判定が行われる。この
検査の従来方法に汀、部品の投影図の読取りからその位
置、有無の自動判定を行うものがあるし、他の方法ＶＣ
ニ光ビームを走査して皺ビームの反射光を検出する受信
部の信号処理によって検糞部品があるか否かｆ該ビーム
の受信パターンで判定するものがある。
Ｄ０発明が解決しようとする問題点
従来の投影法によるものは、部品が密集する部分では部
品同志の影が重なって個別の検出が困難ざらにチップト
ランジスタなど背の低いものの検出が困難になるし、部
品位置の正誤の判定を困難にする問題があつ念。同様に
、光ビームによる方法は部品密集部分での検出２判定を
困難にする問題があつ念。ざらに、後者ｒｘ装置の大型
化、高価なもの全必要とするものであった。
品同志の影が重なって個別の検出が困難ざらにチップト
ランジスタなど背の低いものの検出が困難になるし、部
品位置の正誤の判定を困難にする問題があつ念。同様に
、光ビームによる方法は部品密集部分での検出２判定を
困難にする問題があつ念。ざらに、後者ｒｘ装置の大型
化、高価なもの全必要とするものであった。
上述の問題に加えて、従来方法では検査中には当該プリ
ント板金位置固定しておくことを必要とし、貰た検査に
必要な画像読取りに比較的長い時間を必要とし、検査時
間が長くなるものであった。
ント板金位置固定しておくことを必要とし、貰た検査に
必要な画像読取りに比較的長い時間を必要とし、検査時
間が長くなるものであった。
Ｅ９問題点を解決するための手段と作用本発明ａ上！ｅ
問題点ＶＣ鑑みてなさ扛たもので、検出対象の輝度画像
を読取る読取手段と、この読取った画像から検出対象の
エツジ位ｆ！ｒ’？ｉ−複数箇所で検出しこの検出デー
タから検出対象の中心位置及び傾きを演算して該検出対
象の位さ、傾きの正常、異常全判定する処理手段とを備
え、検出対象をＳ車信号から検出し、この検出信号の輝
度変化から複数箇所のエツジ位！？求め、このエツジ付
蓋データから中心位階、傾きを求めるようｒＣＬｔもの
である。
問題点ＶＣ鑑みてなさ扛たもので、検出対象の輝度画像
を読取る読取手段と、この読取った画像から検出対象の
エツジ位ｆ！ｒ’？ｉ−複数箇所で検出しこの検出デー
タから検出対象の中心位置及び傾きを演算して該検出対
象の位さ、傾きの正常、異常全判定する処理手段とを備
え、検出対象をＳ車信号から検出し、この検出信号の輝
度変化から複数箇所のエツジ位！？求め、このエツジ付
蓋データから中心位階、傾きを求めるようｒＣＬｔもの
である。
Ｆ、実施例
第１図に本発明の一実施例を示すブロック図である。検
査対象としての電子部品全実装したプリント基板１は所
定間隔で配列さｎてＸＹテーブル２によってＸＹ方向に
位置制御され、検査対象位置のプリント基板１が電源３
による光源４の位置に送らｎ、＃位置のＩＣ素子等の電
子部品群の画像が部品の個別範囲でレンズ系５？通して
固体撮像素子６ ＶＣ読取らｆる。素子６の出力になる
映像信号（輝度信号）汀画像処理装置７に取込ま詐て画
像処理−Ｊ ｆｌ、、ビデオモニター８等に表示さｎる
。
査対象としての電子部品全実装したプリント基板１は所
定間隔で配列さｎてＸＹテーブル２によってＸＹ方向に
位置制御され、検査対象位置のプリント基板１が電源３
による光源４の位置に送らｎ、＃位置のＩＣ素子等の電
子部品群の画像が部品の個別範囲でレンズ系５？通して
固体撮像素子６ ＶＣ読取らｆる。素子６の出力になる
映像信号（輝度信号）汀画像処理装置７に取込ま詐て画
像処理−Ｊ ｆｌ、、ビデオモニター８等に表示さｎる
。
画像処理装置７にはディスプレイ装＃９とそのキーボー
ドｌＯが結合Ｉｎでオペレータによる指令が与えらｎ、
またプログラマブルコントローラ１１トそのコンソール
１２によって検査プログラムが入力さｎ、プリンタ１３
への検査データ出力及びＸＹテーブル２の位置制御出力
を得るように構成ｇｎる。
ドｌＯが結合Ｉｎでオペレータによる指令が与えらｎ、
またプログラマブルコントローラ１１トそのコンソール
１２によって検査プログラムが入力さｎ、プリンタ１３
への検査データ出力及びＸＹテーブル２の位置制御出力
を得るように構成ｇｎる。
この＊ＩＹの九めに、画像処理装置７は、インターフェ
ース１４ 、１５ 、１６とはシステムバス１７ヲ介し
てＣＰＵ１８及びメモリ１９が結合ζｎ、読取画像の処
理用としてＡ／Ｄ変挨器２０による輝度信号のディジタ
ル値への変換と、このディジタル値について画像コント
ローラ２１４Ｃよる画像処理と、処理結果についてＤ／
Ａｆ換器２２ＶＣよるアナログ値へのｆ換と１ｃＰＵ１
８を中枢部として行うようにしている、ここで、画像コ
ントローラ２１ 、！ｌ： ＣＰＵ１８によル画像処理
は、ＸＹテーブル２０位賞制御１ＩＶｃよってプリント
基板１上の部品のＹＪ１度信号刀為ら該部品の有無検出
及び部品有りのときに当該部品の位置（中心座標）と傾
きを検出し、こ几ら検出値と実装基準データとの比較に
よって正常、異常の判定出力を得る。このような判定は
実装部品の全部について個々に行わｎる。
ース１４ 、１５ 、１６とはシステムバス１７ヲ介し
てＣＰＵ１８及びメモリ１９が結合ζｎ、読取画像の処
理用としてＡ／Ｄ変挨器２０による輝度信号のディジタ
ル値への変換と、このディジタル値について画像コント
ローラ２１４Ｃよる画像処理と、処理結果についてＤ／
Ａｆ換器２２ＶＣよるアナログ値へのｆ換と１ｃＰＵ１
８を中枢部として行うようにしている、ここで、画像コ
ントローラ２１ 、！ｌ： ＣＰＵ１８によル画像処理
は、ＸＹテーブル２０位賞制御１ＩＶｃよってプリント
基板１上の部品のＹＪ１度信号刀為ら該部品の有無検出
及び部品有りのときに当該部品の位置（中心座標）と傾
きを検出し、こ几ら検出値と実装基準データとの比較に
よって正常、異常の判定出力を得る。このような判定は
実装部品の全部について個々に行わｎる。
上述の画像処理において、実装部品の位置検出方法は、
部品の画ｆ＃ Ｋ対して部品毎に３つの走査経路による
３箇所の部品エツジ位置全検出し、この位置データから
部品位［（中心位ｔｋ）と傾きを算出する０この算出方
法を以下に詳細に説明する。
部品の画ｆ＃ Ｋ対して部品毎に３つの走査経路による
３箇所の部品エツジ位置全検出し、この位置データから
部品位［（中心位ｔｋ）と傾きを算出する０この算出方
法を以下に詳細に説明する。
第２図は部品の画像を四角枠りで示し、この画像に対し
てＹ方向で任意Ｘ方向位置の２つの走査経路Ｓ１．Ｓ２
と、Ｘ方向で任意Ｙ方向位置の１つの走査経路Ｓ３に活
って３つの部品エツジ位置ＰＩ 、Ｐ２ 、Ｐ３を検出
する。この走査経路上のエツジ位ｆｔＰ１ 、Ｐ２ 、
Ｐ３の座標（Ｘ＋ ＋ ｙｌ） 。
てＹ方向で任意Ｘ方向位置の２つの走査経路Ｓ１．Ｓ２
と、Ｘ方向で任意Ｙ方向位置の１つの走査経路Ｓ３に活
って３つの部品エツジ位置ＰＩ 、Ｐ２ 、Ｐ３を検出
する。この走査経路上のエツジ位ｆｔＰ１ 、Ｐ２ 、
Ｐ３の座標（Ｘ＋ ＋ ｙｌ） 。
（Ｘｔ＊ ｙ２） ＃ （Ｘｓｈ Ｙｓ）からＣＰＵ１
８Ｈ枠りの頂点Ｐ ４ （Ｘ４． ｙ４）と傾きΔθを
次式の演３ｖから求める。
８Ｈ枠りの頂点Ｐ ４ （Ｘ４． ｙ４）と傾きΔθを
次式の演３ｖから求める。
そして、部品枠りの中心位置Ｐ Ｃ（ｘｃ、 ｙｃ）σ
、傾きΔθと頂点位償Ｐ ４ （Ｘ４ｍ ’！４）と枠
りに既知のの長辺寸法Ｙ１と短辺寸法Ｘ１から次式の演
算によって求める。
、傾きΔθと頂点位償Ｐ ４ （Ｘ４ｍ ’！４）と枠
りに既知のの長辺寸法Ｙ１と短辺寸法Ｘ１から次式の演
算によって求める。
（Ｘｃ ｌ）’ｃ） ＝ ｌＸ４−Ｌｃｍ（ｌ−１（１
＞、 ｙ４−Ｌｄｎ（θ＋Δ１９））但し、 Ｌ＝、
／Ｅ幻７τＭ これら部品の中心位＠Ｐｃ（Ｘｃ ｈ ｙｃ ）と傾き
Δθの演算結果は、設計基単となる中心位置と傾きのデ
ータに対して許容範囲内にあるか否かによって正常、異
常と判定さするー 上述までの演算と判定はプリント基板１上の部品側々に
行わｎるが、読取画像をプリント基板全面について一括
胱取りをし、各部品について演算と判定する間に当該プ
リント基板はＸＹテーブル１上から搬出ｇｎで良品、不
良品の仕分は工程に送られ、処理装置ｆ７からの演算判
定結果（正常。
＞、 ｙ４−Ｌｄｎ（θ＋Δ１９））但し、 Ｌ＝、
／Ｅ幻７τＭ これら部品の中心位＠Ｐｃ（Ｘｃ ｈ ｙｃ ）と傾き
Δθの演算結果は、設計基単となる中心位置と傾きのデ
ータに対して許容範囲内にあるか否かによって正常、異
常と判定さするー 上述までの演算と判定はプリント基板１上の部品側々に
行わｎるが、読取画像をプリント基板全面について一括
胱取りをし、各部品について演算と判定する間に当該プ
リント基板はＸＹテーブル１上から搬出ｇｎで良品、不
良品の仕分は工程に送られ、処理装置ｆ７からの演算判
定結果（正常。
異常）に応じて仕分けられる。また、プリント基板の搬
出に伴って後続のプリント基板が読取位置まで搬送され
る。
出に伴って後続のプリント基板が読取位置まで搬送され
る。
なお、実施例ではプリント基板の実装部品の検出方式を
示すが、こｎは他の製品検査にも適用できるのは勿論で
ある。
示すが、こｎは他の製品検査にも適用できるのは勿論で
ある。
また、検出対象が長方形のものについて説明するが、正
号形、多角形１円形ざらにこｊらの混成形のものについ
てもその２箇所又は３箇所のエツジ検出によって位置、
傾きを検出できる。
号形、多角形１円形ざらにこｊらの混成形のものについ
てもその２箇所又は３箇所のエツジ検出によって位置、
傾きを検出できる。
Ｇ０発明の効果
以上のとおり１本発明ＦＸ検出対象をその輝度信号から
画像を読カリ、検出対象の有無及び検数箇所のエツジ検
出から中心位置、傾きを求め、この求めた値と基準位置
、傾きとの判定で正常、異常を検出するようにしたため
、部品の密集部分や背の似い部品等もその輝度信号から
識別できる限りにおいて位曾、傾きを容易に検出できる
。そして、位置、傾き検出に検出対象の３点のエツジ検
出データのみで済み、画像読取時間及び演算時間も含め
て検出時間を大幅に短縮できるし、画像読取後には検出
対象を後続のものに切替える制？！！！１を並行ζせて
総和的にも検出時間の大幅な短縮になる０
画像を読カリ、検出対象の有無及び検数箇所のエツジ検
出から中心位置、傾きを求め、この求めた値と基準位置
、傾きとの判定で正常、異常を検出するようにしたため
、部品の密集部分や背の似い部品等もその輝度信号から
識別できる限りにおいて位曾、傾きを容易に検出できる
。そして、位置、傾き検出に検出対象の３点のエツジ検
出データのみで済み、画像読取時間及び演算時間も含め
て検出時間を大幅に短縮できるし、画像読取後には検出
対象を後続のものに切替える制？！！！１を並行ζせて
総和的にも検出時間の大幅な短縮になる０
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図Ｆ
ｘ第１図における処理動作を説明する念めの座標図であ
る。 １・・・プリント基板％２・・・ＸＹテーブル、７・・
・画像処理装＠、１８・・・ＣＰＵ、 ２１・・・画像
コントローラ。 第１図 冥虐例０り゛ロゾグ図
ｘ第１図における処理動作を説明する念めの座標図であ
る。 １・・・プリント基板％２・・・ＸＹテーブル、７・・
・画像処理装＠、１８・・・ＣＰＵ、 ２１・・・画像
コントローラ。 第１図 冥虐例０り゛ロゾグ図
Claims (1)
- 検出対象の輝度画像を読取る読取手段と、この読取つた
画像から検出対象のエッジ位置を複数箇所で検出しこの
検出データから検出対象の中心位置及び傾きを演算して
該検出対象の位置、傾きの正常、異常を判定する処理手
段とを備えたことを特徴とする部品の検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61279055A JP2648476B2 (ja) | 1986-11-22 | 1986-11-22 | 部品の検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61279055A JP2648476B2 (ja) | 1986-11-22 | 1986-11-22 | 部品の検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63132106A true JPS63132106A (ja) | 1988-06-04 |
| JP2648476B2 JP2648476B2 (ja) | 1997-08-27 |
Family
ID=17605768
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61279055A Expired - Lifetime JP2648476B2 (ja) | 1986-11-22 | 1986-11-22 | 部品の検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2648476B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007218778A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Yamatake Corp | 位置検出方法および位置合わせ方法 |
| WO2018035966A1 (zh) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | 江苏亚威机床股份有限公司 | 一种板材用激光切割机的自动寻边装置及其寻边方法 |
| CN113191997A (zh) * | 2021-01-06 | 2021-07-30 | 天津大学 | 一种基于机器视觉的卡簧测量方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102353346B (zh) * | 2011-06-23 | 2013-05-08 | 东华大学 | 自动寻边激光切割机ccd安装垂直度的检测方法和系统 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60231104A (ja) * | 1984-04-28 | 1985-11-16 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 傾斜角検出装置 |
| JPS61223504A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-04 | Fuji Electric Co Ltd | 対象物の中心位置および傾き角の計測方法 |
-
1986
- 1986-11-22 JP JP61279055A patent/JP2648476B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60231104A (ja) * | 1984-04-28 | 1985-11-16 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 傾斜角検出装置 |
| JPS61223504A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-04 | Fuji Electric Co Ltd | 対象物の中心位置および傾き角の計測方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007218778A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Yamatake Corp | 位置検出方法および位置合わせ方法 |
| WO2018035966A1 (zh) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | 江苏亚威机床股份有限公司 | 一种板材用激光切割机的自动寻边装置及其寻边方法 |
| CN113191997A (zh) * | 2021-01-06 | 2021-07-30 | 天津大学 | 一种基于机器视觉的卡簧测量方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2648476B2 (ja) | 1997-08-27 |
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