JPS63143260A - スパッタリングターゲット - Google Patents
スパッタリングターゲットInfo
- Publication number
- JPS63143260A JPS63143260A JP61291029A JP29102986A JPS63143260A JP S63143260 A JPS63143260 A JP S63143260A JP 61291029 A JP61291029 A JP 61291029A JP 29102986 A JP29102986 A JP 29102986A JP S63143260 A JPS63143260 A JP S63143260A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- sputtering
- magnetic field
- packing plate
- ferromagnetic material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、漏洩磁界の印加により高速かつ均一な成廖を
可能とするマグネトロンスパッタリング装置に使用され
るスパッタリングターゲットに関するものである。
可能とするマグネトロンスパッタリング装置に使用され
るスパッタリングターゲットに関するものである。
従来の技術
近年、磁気光学効果を利用した光磁気記録媒体や磁気バ
ルブ記録媒体に磁化容易軸が膜面に対し垂直な方向にあ
るTb Fe Co 、 Gd Tb Fe Co等の
非晶質垂直磁化膜が多用されつつあり、前記非晶質垂直
磁化膜はマグネトロンスパッタリング装置により作製さ
れている。このマグネトロンスパッタリング装置は、膜
の付着形成速度が速い、基板の温度上昇をおさえること
ができる等の優れた特徴を有することから近年広く利用
されている。
ルブ記録媒体に磁化容易軸が膜面に対し垂直な方向にあ
るTb Fe Co 、 Gd Tb Fe Co等の
非晶質垂直磁化膜が多用されつつあり、前記非晶質垂直
磁化膜はマグネトロンスパッタリング装置により作製さ
れている。このマグネトロンスパッタリング装置は、膜
の付着形成速度が速い、基板の温度上昇をおさえること
ができる等の優れた特徴を有することから近年広く利用
されている。
以下、図面を参照しながら、上述したような従来のマグ
ネトロンスパッタリング装置のスパッタリングターゲッ
トについて説明を行う。
ネトロンスパッタリング装置のスパッタリングターゲッ
トについて説明を行う。
第4図は従来のマグネトロンスパッタリンクツ方法を説
明するためのマグネトロンスパッタリング装置の構成を
示す略断面図、第6図aは従来のスパッタリングターゲ
ットの平面図、第6図すはB−B線断面図である。
明するためのマグネトロンスパッタリング装置の構成を
示す略断面図、第6図aは従来のスパッタリングターゲ
ットの平面図、第6図すはB−B線断面図である。
第4図において、1oはアルゴン雰囲気中でかつ低真空
である真空容器、12は基板11を固定する基板ホルダ
ー、14は非晶質垂直磁化膜13の原料であるターゲッ
ト、16はターゲット14を固定したパッキングプレー
トである。
である真空容器、12は基板11を固定する基板ホルダ
ー、14は非晶質垂直磁化膜13の原料であるターゲッ
ト、16はターゲット14を固定したパッキングプレー
トである。
真空容器1o内には、基板11とターゲット14が平行
に固定されている。ターゲット14を固定したパッキン
グプレート16の裏面にはターゲット14の中心部がS
極となり周辺部がN極となるよう磁界発生装置(以下磁
石と略称する)16が配置されていて、図示のごとく磁
界17を生じさせている。まだ、ターゲット14と基板
ホルダー12との間には放電電力が供給される交流電源
(または直流電源)18が接続されており、ターゲット
14の表面に垂直方向に電界19を生じさせる。
に固定されている。ターゲット14を固定したパッキン
グプレート16の裏面にはターゲット14の中心部がS
極となり周辺部がN極となるよう磁界発生装置(以下磁
石と略称する)16が配置されていて、図示のごとく磁
界17を生じさせている。まだ、ターゲット14と基板
ホルダー12との間には放電電力が供給される交流電源
(または直流電源)18が接続されており、ターゲット
14の表面に垂直方向に電界19を生じさせる。
ここで、この電界19の放電によって生ずる二次電子は
、磁界17のターゲット14面に平行な磁界成分によっ
てサイクロイドあるいはトコロイド運動をする。このた
め、スパッタガス分子と二次電子との衝突回数が増加し
イオン化が促進されて、ターゲット14の表面近傍に高
密度プラズマが形成され、ターゲット14の表面から高
速スパッタを生じさせるものである。
、磁界17のターゲット14面に平行な磁界成分によっ
てサイクロイドあるいはトコロイド運動をする。このた
め、スパッタガス分子と二次電子との衝突回数が増加し
イオン化が促進されて、ターゲット14の表面近傍に高
密度プラズマが形成され、ターゲット14の表面から高
速スパッタを生じさせるものである。
このマグネトロンスパッタリング装置に使用されるター
ゲットとしては、一般に遷移金属と希土類金属とをアー
ク炉等で溶解し、合金とした合金ターゲット、遷移金属
と希土類金属とを微粉末にして焼結した焼結ターゲット
等のスパッタリングターゲット14をパッキングプレー
ト16にボンディングして製作され使用されている。
ゲットとしては、一般に遷移金属と希土類金属とをアー
ク炉等で溶解し、合金とした合金ターゲット、遷移金属
と希土類金属とを微粉末にして焼結した焼結ターゲット
等のスパッタリングターゲット14をパッキングプレー
ト16にボンディングして製作され使用されている。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら上記のような構成では、ターゲットの表面
の限られた領域でしか均一な平行磁界成分が得られず、
ターゲットのスパッタリング領域は不均一となる。この
ため、第6図のごと〈ターゲットは不均一に消耗してタ
ーゲットの寿命が短かくなり、まだスパッタが生ずる有
効面積が小さく、基板の膜形成速度が十分でないという
問題点を有していた。
の限られた領域でしか均一な平行磁界成分が得られず、
ターゲットのスパッタリング領域は不均一となる。この
ため、第6図のごと〈ターゲットは不均一に消耗してタ
ーゲットの寿命が短かくなり、まだスパッタが生ずる有
効面積が小さく、基板の膜形成速度が十分でないという
問題点を有していた。
本発明は上記問題点に鑑み、マグネトロンスパッタリン
グ装置のターゲットのエロージョン領域を広くすること
のできるスパッタリングターゲットを提供するものであ
る。
グ装置のターゲットのエロージョン領域を広くすること
のできるスパッタリングターゲットを提供するものであ
る。
問題点を解決するための手段
この目的を達成するために本発明のマグネトロンスパッ
タリング装置のスパッタリングターゲットは、ターゲッ
トとターゲットを固定するパッキングプレートとの間の
一部が強磁性体により構成されている。
タリング装置のスパッタリングターゲットは、ターゲッ
トとターゲットを固定するパッキングプレートとの間の
一部が強磁性体により構成されている。
作用
この構成によって、ターゲットの裏面に設置した磁石に
よる磁界は、ターゲットとパッキングプレートの間の強
磁性体により磁界の方向が変えられ、ターゲットの表面
のほぼ全域にわたって漏洩磁界によるターゲットに平行
な磁界成分が得られることにより、エロージョン領域を
広げられることとなる。
よる磁界は、ターゲットとパッキングプレートの間の強
磁性体により磁界の方向が変えられ、ターゲットの表面
のほぼ全域にわたって漏洩磁界によるターゲットに平行
な磁界成分が得られることにより、エロージョン領域を
広げられることとなる。
実施例
以下本発明の実施例について、図面を参照しながら説明
する。第1図&は本発明の一実施例におけるスパッタリ
ングターゲットの平面図であり、第1図すは第1図aの
ムーム線断面図である。
する。第1図&は本発明の一実施例におけるスパッタリ
ングターゲットの平面図であり、第1図すは第1図aの
ムーム線断面図である。
第1図において、1は希土類金属と遷移金属を主成分と
するターゲット、2はFe、 Go、 Ni 。
するターゲット、2はFe、 Go、 Ni 。
Fe−Ni合金、 Fe2O3等の強磁性体、3はター
ゲット10表面での漏洩磁界、4はターゲット1及び強
磁性体2を固定するパッキングプレートである。
ゲット10表面での漏洩磁界、4はターゲット1及び強
磁性体2を固定するパッキングプレートである。
6は電磁石もしくは永久磁石で構成される磁石であり、
マグネトロンスパッタリング装置ではパッキングプレー
ト4の裏面に設置されている。このN極またはS極から
なる磁石5からの磁界は、ターゲット1とパッキングプ
レート4との間に配設された強磁性体2により磁界の方
向が変えられ、強磁性体2の厚さが厚い程ターゲット1
の表面に強い漏洩磁界を生ずるものである。このことか
ら本実施例に示すように、強磁性体2の厚さ全磁石6の
中心から離れる程厚くすることにより、ターゲット1表
面の全域にわたってほぼ均一な平行方向の磁界3を生じ
させている。そのため、放電により生ずる二次電子はタ
ーゲット1の表面近傍全域に効率良く高密度プラズマを
生成し、ターゲット1の表面全域にわたってスパッタを
生じさせることができる。第3図は本実施例のターゲッ
トの消耗状態を示すもので、消耗が表面全域にわたって
おり、エローシコン領域が広くなっている。
マグネトロンスパッタリング装置ではパッキングプレー
ト4の裏面に設置されている。このN極またはS極から
なる磁石5からの磁界は、ターゲット1とパッキングプ
レート4との間に配設された強磁性体2により磁界の方
向が変えられ、強磁性体2の厚さが厚い程ターゲット1
の表面に強い漏洩磁界を生ずるものである。このことか
ら本実施例に示すように、強磁性体2の厚さ全磁石6の
中心から離れる程厚くすることにより、ターゲット1表
面の全域にわたってほぼ均一な平行方向の磁界3を生じ
させている。そのため、放電により生ずる二次電子はタ
ーゲット1の表面近傍全域に効率良く高密度プラズマを
生成し、ターゲット1の表面全域にわたってスパッタを
生じさせることができる。第3図は本実施例のターゲッ
トの消耗状態を示すもので、消耗が表面全域にわたって
おり、エローシコン領域が広くなっている。
以上のように本実施例によれば、ターゲット1とパッキ
ングプレート40間の一部に強磁性体を配設することに
より、ターゲット1表面に平行な磁界成分が、ターゲッ
ト1の表面の全域にわたって均一とすることができ、タ
ーゲット1の全域にわたってほぼ均一にスパッタするこ
とができる。
ングプレート40間の一部に強磁性体を配設することに
より、ターゲット1表面に平行な磁界成分が、ターゲッ
ト1の表面の全域にわたって均一とすることができ、タ
ーゲット1の全域にわたってほぼ均一にスパッタするこ
とができる。
なお、第1図に示す本実施例では強磁性体の厚さは連続
的に変化させたが、第2図の別の実施例に示すように、
強磁性体2&の厚さを不連続的に階段状に変化さ、せて
もよい。またターゲット形状は円板状としたが、四角形
等、任意の形状でもよい。
的に変化させたが、第2図の別の実施例に示すように、
強磁性体2&の厚さを不連続的に階段状に変化さ、せて
もよい。またターゲット形状は円板状としたが、四角形
等、任意の形状でもよい。
さらにターゲットの表面は平面としたが、強磁性体の厚
さと対応させて、連続的又は不連続的に変化させてもよ
い。
さと対応させて、連続的又は不連続的に変化させてもよ
い。
発明の効果
本発明は、ターゲットとパッキングプレートとの間に強
磁性体を配設することにより、磁石に生ずる磁界の向き
を変化させ、強磁性体を配設した近傍のターゲット表面
に比較的強い漏洩磁界を生じさせたため、ターゲット表
面のほぼ全域てわたって均一な平行方向の磁界が得られ
、ターゲットの全域より均一にスパッタが発生すること
ができる。このため、ターゲットのエロージョン領域が
広くなり、より有効なターゲットの利用が可能となる。
磁性体を配設することにより、磁石に生ずる磁界の向き
を変化させ、強磁性体を配設した近傍のターゲット表面
に比較的強い漏洩磁界を生じさせたため、ターゲット表
面のほぼ全域てわたって均一な平行方向の磁界が得られ
、ターゲットの全域より均一にスパッタが発生すること
ができる。このため、ターゲットのエロージョン領域が
広くなり、より有効なターゲットの利用が可能となる。
また、従来のようにターゲットの一部のみが消耗するこ
となく、タニゲットの寿命を長くすることができ、ター
ゲットの利用効率を向上させることができるものである
。さらに、スパッタが発生する面積が広くなるために基
板の膜付着速度が犬となるなど、数々の優れた効果を得
ることのできるスパッタリングターゲットを実現できる
ものである。
となく、タニゲットの寿命を長くすることができ、ター
ゲットの利用効率を向上させることができるものである
。さらに、スパッタが発生する面積が広くなるために基
板の膜付着速度が犬となるなど、数々の優れた効果を得
ることのできるスパッタリングターゲットを実現できる
ものである。
第1図aは本発明の一実施例におけるスパッタリングタ
ーゲットの平面図、第1図すは第1図aのムー人線断面
図、第2図aは本発明の他の実施例におけるスパッタリ
ングターゲットの平面図、第2図すはC−C線断面図、
第3図は不発明のスパッタリングターゲットの消耗を示
す断面図、第4図は従来のマグネトロンスパッタリング
装置の構成を示す略断面図、第6図aは従来のスパッタ
リングターゲットの平面図、第5図すはB−B線断面図
、第6図は従来のスパッタリングターゲットの消耗を示
す図である。 1・・・・・・ターゲット、2・・・・・・強磁性体、
3・・・・・・磁界、4・・・・・・パッキングプレー
ト、5・・川・磁石、1゜・・・・・・真空容器、11
・・・・・・基板、12・・・・・・基板ホルダー、1
3・・・・・・垂直磁化膜、14・・・・・・ターゲッ
ト、16・・・・・・パッキングプレート、16・・・
・・・磁石、17・・・・・・磁界、18・・・・・・
電源、19・・・・・・電界。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名−ヘ
リ ? r
(Nζq V 稼 稼 程
ーゲットの平面図、第1図すは第1図aのムー人線断面
図、第2図aは本発明の他の実施例におけるスパッタリ
ングターゲットの平面図、第2図すはC−C線断面図、
第3図は不発明のスパッタリングターゲットの消耗を示
す断面図、第4図は従来のマグネトロンスパッタリング
装置の構成を示す略断面図、第6図aは従来のスパッタ
リングターゲットの平面図、第5図すはB−B線断面図
、第6図は従来のスパッタリングターゲットの消耗を示
す図である。 1・・・・・・ターゲット、2・・・・・・強磁性体、
3・・・・・・磁界、4・・・・・・パッキングプレー
ト、5・・川・磁石、1゜・・・・・・真空容器、11
・・・・・・基板、12・・・・・・基板ホルダー、1
3・・・・・・垂直磁化膜、14・・・・・・ターゲッ
ト、16・・・・・・パッキングプレート、16・・・
・・・磁石、17・・・・・・磁界、18・・・・・・
電源、19・・・・・・電界。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名−ヘ
リ ? r
(Nζq V 稼 稼 程
Claims (1)
- 希土類金属と遷移金属を主成分とする非晶質垂直磁化膜
を生成するためのターゲットの表面に、前記ターゲット
の背面に設けた磁界発生装置の磁界を漏洩させることに
よるマグネトロンスパッタリング装置において、前記タ
ーゲットと前記ターゲットを固定するパッキングプレー
トとの間に強磁性体が配設されたことを特徴とするマグ
ネトロンスパッタリング装置のスパッタリングターゲッ
ト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61291029A JPH0784659B2 (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | スパッタリングターゲット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61291029A JPH0784659B2 (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | スパッタリングターゲット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63143260A true JPS63143260A (ja) | 1988-06-15 |
| JPH0784659B2 JPH0784659B2 (ja) | 1995-09-13 |
Family
ID=17763524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61291029A Expired - Fee Related JPH0784659B2 (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | スパッタリングターゲット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0784659B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017133065A (ja) * | 2016-01-27 | 2017-08-03 | 株式会社アルバック | 成膜方法 |
| US10314453B2 (en) | 2016-05-09 | 2019-06-11 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10342404B2 (en) | 2016-05-09 | 2019-07-09 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10405717B2 (en) | 2016-05-09 | 2019-09-10 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10405719B2 (en) | 2016-05-09 | 2019-09-10 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10561291B2 (en) | 2016-05-09 | 2020-02-18 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10660493B2 (en) | 2016-05-09 | 2020-05-26 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60155672A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-08-15 | ライボルト−ヘレ−ウス・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 陰極スパツタリング装置に対する陰極装置 |
-
1986
- 1986-12-05 JP JP61291029A patent/JPH0784659B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60155672A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-08-15 | ライボルト−ヘレ−ウス・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 陰極スパツタリング装置に対する陰極装置 |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017133065A (ja) * | 2016-01-27 | 2017-08-03 | 株式会社アルバック | 成膜方法 |
| US10314453B2 (en) | 2016-05-09 | 2019-06-11 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10342404B2 (en) | 2016-05-09 | 2019-07-09 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10405717B2 (en) | 2016-05-09 | 2019-09-10 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10405719B2 (en) | 2016-05-09 | 2019-09-10 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10561291B2 (en) | 2016-05-09 | 2020-02-18 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10660493B2 (en) | 2016-05-09 | 2020-05-26 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US10959589B2 (en) | 2016-05-09 | 2021-03-30 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US11363928B2 (en) | 2016-05-09 | 2022-06-21 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US11399676B2 (en) | 2016-05-09 | 2022-08-02 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US11839348B2 (en) | 2016-05-09 | 2023-12-12 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US12108923B2 (en) | 2016-05-09 | 2024-10-08 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
| US12150614B2 (en) | 2016-05-09 | 2024-11-26 | Lg Electronics Inc. | Cleaner holder |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0784659B2 (ja) | 1995-09-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |