JPS63144272A - 複数の検出限界値による磁気デイスクの検査方法 - Google Patents
複数の検出限界値による磁気デイスクの検査方法Info
- Publication number
- JPS63144272A JPS63144272A JP29222886A JP29222886A JPS63144272A JP S63144272 A JPS63144272 A JP S63144272A JP 29222886 A JP29222886 A JP 29222886A JP 29222886 A JP29222886 A JP 29222886A JP S63144272 A JPS63144272 A JP S63144272A
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- magnetic disk
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、再生信号の波高値に対する限界値を複数段
階として磁気ディスクの磁性媒体を検査する方法に関す
るものである。
階として磁気ディスクの磁性媒体を検査する方法に関す
るものである。
［従来の技術］
コンピュータシステムに使用されている磁気ディスクは
、磁気媒体に磁気的な異常ないし、不均一などの欠陥が
あるときは、書き込みデータが記録されないミーＩシン
グエラーまたは書き込まれないデータのいわゆる湧き出
しエラーが発生する。
、磁気媒体に磁気的な異常ないし、不均一などの欠陥が
あるときは、書き込みデータが記録されないミーＩシン
グエラーまたは書き込まれないデータのいわゆる湧き出
しエラーが発生する。
このような欠陥をなくして品質を向上するため、生産工
場においては欠陥検査装置による検査が行われている。
場においては欠陥検査装置による検査が行われている。
検査方法は磁気ディスクの円周の１回転を試験トラ・ツ
クとし、これに一定の波高値の正弦波磁界を加えて検査
信号な記憶させ、その再生信号の波高値が一定の限界値
以内にあることを判定いて検査するものである。以下図
について従来の方法を説明する。
クとし、これに一定の波高値の正弦波磁界を加えて検査
信号な記憶させ、その再生信号の波高値が一定の限界値
以内にあることを判定いて検査するものである。以下図
について従来の方法を説明する。
第４図は（ａ）は正弦波磁界を示し、図（ｂ）は再生信
号と限界値の設定方法を示す。なお、図（ｂ）において
は、再生信号は正弦波信号の負側を転極して正極として
限界値判定するものとしである。
号と限界値の設定方法を示す。なお、図（ｂ）において
は、再生信号は正弦波信号の負側を転極して正極として
限界値判定するものとしである。
限界値は各試験トラックについて再生信号の波高値の平
均値ｍを計算し、この平均値ｍの例えば１゜１倍の上限
値と０．９６の下限値で再生信号を判定する。再生信号
波（（）、（ＩＦ）、（八）およびに）の波高値は限界
内にあり良であるが、（幻、（へ）および（ト）は限界
を外れており欠陥である。
均値ｍを計算し、この平均値ｍの例えば１゜１倍の上限
値と０．９６の下限値で再生信号を判定する。再生信号
波（（）、（ＩＦ）、（八）およびに）の波高値は限界
内にあり良であるが、（幻、（へ）および（ト）は限界
を外れており欠陥である。
さて、磁気ディスクの利用上では欠陥が少ないことが望
ましいが、しかし欠陥が極めて少ないときは、これを許
して使用することが実際的である。
ましいが、しかし欠陥が極めて少ないときは、これを許
して使用することが実際的である。
そこで、再生信号の波高値に対して限界値に段階を設け
て、それぞれに対する一定の欠陥厳により合格、不合格
を区別して品質規格をクラス分類し、システムの要請す
る仕様に適した分蔑のものが充当されている。しかしな
がら、これに対して従来行われている検査方法では、適
当な一組の上および下の限界値で行い、利用者の要請す
る仕様がこの限界値と同一であればそのまま使用する。
て、それぞれに対する一定の欠陥厳により合格、不合格
を区別して品質規格をクラス分類し、システムの要請す
る仕様に適した分蔑のものが充当されている。しかしな
がら、これに対して従来行われている検査方法では、適
当な一組の上および下の限界値で行い、利用者の要請す
る仕様がこの限界値と同一であればそのまま使用する。
もし異なるときは要請された限界値で再検査を行うもの
であって、このような再検査は不能率であり、最初から
限界値をいくつかの段階として１回の検査でそれぞれの
検査データをうる方法が望ましいことは明らかである。
であって、このような再検査は不能率であり、最初から
限界値をいくつかの段階として１回の検査でそれぞれの
検査データをうる方法が望ましいことは明らかである。
［発明の目的］
この発明は磁気ディスクの検査において、再生信号の波
高値に対する限界値を複数の段階とし、１回の検査で各
限界値に対する欠陥データがすべてえられる、磁気ディ
スクの検査方法を提供することを目的とするものである
。
高値に対する限界値を複数の段階とし、１回の検査で各
限界値に対する欠陥データがすべてえられる、磁気ディ
スクの検査方法を提供することを目的とするものである
。
［問題点を解決するための手段］
この発明は複数の検出限界値による磁気ディスクの欠陥
検査方法であって、マイクロプロセッサの制御により磁
気ディスクの円周の試験トラ・ツクに、波高値が一定の
正弦波磁界を検査信号として記憶させ、その再生信号の
波高値の平均値を算出し、該平均値の上側および下側に
、該平均値に近い順序に第１、第２、以下第ｎのｎ段階
の上限値および下限値をそれぞれ設ける。検査の手順は
、試験トラ・ツク毎に、まず第１の上限値および下限直
による第１次検査を行い、欠陥が検出されたときは第２
の上限値および下限値による第２次検査を行い、さらに
欠陥が検出されたときは、同様に第３次以下第ｎ次検査
までを行い、各次検査毎に欠陥数をカウントするもので
ある。
検査方法であって、マイクロプロセッサの制御により磁
気ディスクの円周の試験トラ・ツクに、波高値が一定の
正弦波磁界を検査信号として記憶させ、その再生信号の
波高値の平均値を算出し、該平均値の上側および下側に
、該平均値に近い順序に第１、第２、以下第ｎのｎ段階
の上限値および下限値をそれぞれ設ける。検査の手順は
、試験トラ・ツク毎に、まず第１の上限値および下限直
による第１次検査を行い、欠陥が検出されたときは第２
の上限値および下限値による第２次検査を行い、さらに
欠陥が検出されたときは、同様に第３次以下第ｎ次検査
までを行い、各次検査毎に欠陥数をカウントするもので
ある。
［作用］
この発明による複数の検出限界値による磁気ディスク検
査方法においては、再生信号の波高値の平均値に最も近
い第１の上および下限値が最も厳しい限界値規格で、第
２以下は順次緩くなるものである。そこで厳しい順に検
査を行い欠−がなければそのまま合格とし、もし欠陥が
あれば順次第２次検査に移って第１次検査で当該試験ト
ラックを終了し、次位の試験トラヅクに移行する。各次
検査における欠陥数をそれぞれカウントして欠陥検査デ
ータとするもので、磁気ディスクの全面について、１回
の検査により各段階め限界値に対する欠陥データがすべ
てえられるものである。
査方法においては、再生信号の波高値の平均値に最も近
い第１の上および下限値が最も厳しい限界値規格で、第
２以下は順次緩くなるものである。そこで厳しい順に検
査を行い欠−がなければそのまま合格とし、もし欠陥が
あれば順次第２次検査に移って第１次検査で当該試験ト
ラックを終了し、次位の試験トラヅクに移行する。各次
検査における欠陥数をそれぞれカウントして欠陥検査デ
ータとするもので、磁気ディスクの全面について、１回
の検査により各段階め限界値に対する欠陥データがすべ
てえられるものである。
［実施例］
第１図はこの発明にかかる、複数の検出限界値による磁
気ディスク検査方法の実施例における限界値の設定を示
すもので、この場合は複数ｎを３とする。図において、
任意の試験トラ・ツクにおける再生信号の波高値の平均
値ｍに対して第１の上限および下限としてそれぞれ１．
１、および０゜９倍の値とし、第２としてそれぞれ１．
２．および０．８、第３としてそれぞれ１．３および０
゜７倍に設定しである。ここで、平均値としては試験ト
ラ−１りの１周について計算するものであるが。
気ディスク検査方法の実施例における限界値の設定を示
すもので、この場合は複数ｎを３とする。図において、
任意の試験トラ・ツクにおける再生信号の波高値の平均
値ｍに対して第１の上限および下限としてそれぞれ１．
１、および０゜９倍の値とし、第２としてそれぞれ１．
２．および０．８、第３としてそれぞれ１．３および０
゜７倍に設定しである。ここで、平均値としては試験ト
ラ−１りの１周について計算するものであるが。
各試験トラ・ツク毎にそれぞれの平均値を算出する方法
と、被検査磁気ディスクについて最初の試験トラ・ツク
の平均値を算出して当該磁気ディスクの全試験トラ・ツ
クに共通に使用する方法、あるいは予め適当な数の試験
トラックの平均値を求めておき、一定の口・ソトの磁気
ディスクの全体に適用する方法など各種があり、これら
のうち適切なものを選択して採用することができる。
と、被検査磁気ディスクについて最初の試験トラ・ツク
の平均値を算出して当該磁気ディスクの全試験トラ・ツ
クに共通に使用する方法、あるいは予め適当な数の試験
トラックの平均値を求めておき、一定の口・ソトの磁気
ディスクの全体に適用する方法など各種があり、これら
のうち適切なものを選択して採用することができる。
第２図はこの発明にかかる、複数の検出限界値による磁
気ディスクの検査方法を適用した磁気デ仁スクの欠陥検
出装置の概略のブロック構成図で、まずＭＰＵＩの指示
により検査シーケンス制御回路４が起動し、ディスク欠
陥検出回路２において正弦波磁界が被検磁気ディスクの
試験トラックに加えられて検査信号として記録され、つ
いでこれが再生・される、この再生信号の波高値の平均
値がマイクロプロセッサｌにおいて計算される。この平
均値をちととして第１の上限および下限値がディスク欠
陥検出回路２に与えられ、同時に検査シーケンス制御回
路４が起動され、再び試験トラ・ツクの検査信号が再生
されて検査される。もし欠陥があるときはその餅度、欠
陥データが第１メモリ３に記録される。該試験トラック
の１周について検査が終ったとき、第１メモリ３に欠陥
の記録がないときはこの試験トラ・ツクについての検査
を終了して１次位の試験トラ・ツクに移行する。第１メ
モリに欠陥の記録があるときは、この欠陥データは第２
メモリ５に転送され、これをＭＰＵ１が読み出して、第
２の゛上限および下限値をディスク欠陥検出回路２に設
定し、検査シーケンス制御回路４が再び起動し第２次検
査が行われる。ここで欠陥が検出されないときは当該試
験トラックの検査は終了して次位の試験トラ−１りに移
行するが、さらに欠陥が検出されたときは、上記と同様
に第１メモリ３、第２メモリ５．ＭＰＵＩおよび検査シ
ーケンス制御回路４が動乍して、第３次検査が続いて行
われる。なお１以上によりえられる欠陥データは１．検
査次数毎にカウントされて第２メモリ５に記録されてい
るので、適当に出力されるものである。
気ディスクの検査方法を適用した磁気デ仁スクの欠陥検
出装置の概略のブロック構成図で、まずＭＰＵＩの指示
により検査シーケンス制御回路４が起動し、ディスク欠
陥検出回路２において正弦波磁界が被検磁気ディスクの
試験トラックに加えられて検査信号として記録され、つ
いでこれが再生・される、この再生信号の波高値の平均
値がマイクロプロセッサｌにおいて計算される。この平
均値をちととして第１の上限および下限値がディスク欠
陥検出回路２に与えられ、同時に検査シーケンス制御回
路４が起動され、再び試験トラ・ツクの検査信号が再生
されて検査される。もし欠陥があるときはその餅度、欠
陥データが第１メモリ３に記録される。該試験トラック
の１周について検査が終ったとき、第１メモリ３に欠陥
の記録がないときはこの試験トラ・ツクについての検査
を終了して１次位の試験トラ・ツクに移行する。第１メ
モリに欠陥の記録があるときは、この欠陥データは第２
メモリ５に転送され、これをＭＰＵ１が読み出して、第
２の゛上限および下限値をディスク欠陥検出回路２に設
定し、検査シーケンス制御回路４が再び起動し第２次検
査が行われる。ここで欠陥が検出されないときは当該試
験トラックの検査は終了して次位の試験トラ−１りに移
行するが、さらに欠陥が検出されたときは、上記と同様
に第１メモリ３、第２メモリ５．ＭＰＵＩおよび検査シ
ーケンス制御回路４が動乍して、第３次検査が続いて行
われる。なお１以上によりえられる欠陥データは１．検
査次数毎にカウントされて第２メモリ５に記録されてい
るので、適当に出力されるものである。
第３図は第２図に対する、検査手順のフローチャートで
ある。ＭＰＵＩの指示により装置がスタートすると、検
査シーケンス制御回路４が起動し■、試験トラ・ツクに
検査信号が書き込まれ■、これが再生される■、ＭＰＵ
Ｉにおいて再生信号の波高値の平均値が算出され■、こ
の平均値をちととして第１の上、下限値が算出して設定
される■。
ある。ＭＰＵＩの指示により装置がスタートすると、検
査シーケンス制御回路４が起動し■、試験トラ・ツクに
検査信号が書き込まれ■、これが再生される■、ＭＰＵ
Ｉにおいて再生信号の波高値の平均値が算出され■、こ
の平均値をちととして第１の上、下限値が算出して設定
される■。
ついで、再び試験トラックの読みだしにより試験信号が
再生され、欠陥のｆ’ｊｌ定検査がなされ■、欠陥が有
るときはそのデータを第１メモリ３に記録し適当なタイ
ミングで第２メモリ５に転送する■。
再生され、欠陥のｆ’ｊｌ定検査がなされ■、欠陥が有
るときはそのデータを第１メモリ３に記録し適当なタイ
ミングで第２メモリ５に転送する■。
ＭＰＵ１において第２メモリ５の欠陥の有無を判断する
■、欠陥力讐有る場合は検査次数が３未満であることを
みて■、次位（この場合は第２次）の上、下限を算出し
て設定し［株］、ルーチンは欠陥判定検査■に戻る。■
において第２メモリ５に欠陥の記録がない場合、および
■において検査次数が３に達しているときは、いずれも
次位の試験トラ−１りがシークされて移行し■、検査信
号の書き込み■より同様の検査が行われる。
■、欠陥力讐有る場合は検査次数が３未満であることを
みて■、次位（この場合は第２次）の上、下限を算出し
て設定し［株］、ルーチンは欠陥判定検査■に戻る。■
において第２メモリ５に欠陥の記録がない場合、および
■において検査次数が３に達しているときは、いずれも
次位の試験トラ−１りがシークされて移行し■、検査信
号の書き込み■より同様の検査が行われる。
以上は、平均値の算出を試験トラック毎に毎回行う方法
であるが、前記したように、最初の試験トラ・ツクの平
均値で全試験トラックに共通する場合、または適当に選
んだ試験トラックによる代表値を使用する場合などにお
いては、第３図の■は１回のみ行い、２回目以降は点謙
により処理を省くものである。
であるが、前記したように、最初の試験トラ・ツクの平
均値で全試験トラックに共通する場合、または適当に選
んだ試験トラックによる代表値を使用する場合などにお
いては、第３図の■は１回のみ行い、２回目以降は点謙
により処理を省くものである。
［発明の効果］
以上の説明で明らかなように、この発明にょる複数の検
出限界値による磁気ディスク検査方法によれば、異なる
品質規格に対して、複数の上、下の検出限界値により１
回の検査により同時にすべての限界値に対する欠陥デー
タかえられるので、従来のように異なる品質規格に対し
て行う再検査が省略され、検査時間、作業のＢ減をはじ
め、磁気ディスクの生産上に寄与する効果が大きいらの
である１、なお、実施例として第３次までの検査につい
て説明したが、検査次数および限界値の定め方は任意で
あり、また平均政分とる試験トラ・１りの定め方は実情
にマ・ソチした方法ととればよいなど自由性のあるもの
である。
出限界値による磁気ディスク検査方法によれば、異なる
品質規格に対して、複数の上、下の検出限界値により１
回の検査により同時にすべての限界値に対する欠陥デー
タかえられるので、従来のように異なる品質規格に対し
て行う再検査が省略され、検査時間、作業のＢ減をはじ
め、磁気ディスクの生産上に寄与する効果が大きいらの
である１、なお、実施例として第３次までの検査につい
て説明したが、検査次数および限界値の定め方は任意で
あり、また平均政分とる試験トラ・１りの定め方は実情
にマ・ソチした方法ととればよいなど自由性のあるもの
である。
第１図はこの発明にかかる。複数の検出限界値による磁
気ディスクの検査方法の実施例における検出限界値の設
定分示す図、第２図はこの発明にかかる。複数の検出限
界値による磁気ディスクの検査方法の実施例における回
路構成の概略のプロ・ツク図、第３図は第２図に対する
検査手順のフローチャート図、第４図＜ａ）および（ｂ
）は、従来の磁気ディスク検査方法における限界値の設
定を示す図である。 １・・・マイクロ１０セ・ソサ（ＭＰＵ）、２・・・デ
ィスク欠陥検出回路、 ３・・・第１メモリ、４・・・検査シーケンス制御回路
、５・・・第２メモリ、（（）〜（ト）・・・再生信号
波、■−〇・・・フローチャートの番号。
気ディスクの検査方法の実施例における検出限界値の設
定分示す図、第２図はこの発明にかかる。複数の検出限
界値による磁気ディスクの検査方法の実施例における回
路構成の概略のプロ・ツク図、第３図は第２図に対する
検査手順のフローチャート図、第４図＜ａ）および（ｂ
）は、従来の磁気ディスク検査方法における限界値の設
定を示す図である。 １・・・マイクロ１０セ・ソサ（ＭＰＵ）、２・・・デ
ィスク欠陥検出回路、 ３・・・第１メモリ、４・・・検査シーケンス制御回路
、５・・・第２メモリ、（（）〜（ト）・・・再生信号
波、■−〇・・・フローチャートの番号。
Claims (1)
- マイクロプロセッサの制御により、磁気ディスクの円周
の試験トラックに、波高値が一定の正弦波磁界を検査信
号として記憶させ、該検査信号を再生した再生信号の波
高値を、一定の限界値で判定して磁気媒体の欠陥を検査
する磁気ディスクの検査方法において、該試験トラック
の再生信号の波高値の平均値を算出し、該平均値の上側
および下側に、該平均値に近い順序に第１、第２以下第
ｎのｎ段階の上記再生信号の波高値に対する上限値およ
び下限値をそれぞれ設け、各試験トラックについて、上
記第１の上限値および下限値による第１次検査を行い、
欠陥が検出されたときは上記第２の上限値および下限値
による第２次検査を行い、さらに欠陥が検出されたとき
は、同様に第３次以下第ｎ次検査までを行い、上記各次
検査毎に欠陥数をカウントすることを特徴とする、複数
の検出限界値による磁気ディスク検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29222886A JPS63144272A (ja) | 1986-12-08 | 1986-12-08 | 複数の検出限界値による磁気デイスクの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29222886A JPS63144272A (ja) | 1986-12-08 | 1986-12-08 | 複数の検出限界値による磁気デイスクの検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63144272A true JPS63144272A (ja) | 1988-06-16 |
Family
ID=17779150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29222886A Pending JPS63144272A (ja) | 1986-12-08 | 1986-12-08 | 複数の検出限界値による磁気デイスクの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63144272A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5342002A (en) * | 1976-09-28 | 1978-04-17 | Nec Corp | Method for inspection of magnetic recording medium |
| JPS58115378A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-09 | Fujitsu Ltd | 磁気媒体の検査装置 |
-
1986
- 1986-12-08 JP JP29222886A patent/JPS63144272A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5342002A (en) * | 1976-09-28 | 1978-04-17 | Nec Corp | Method for inspection of magnetic recording medium |
| JPS58115378A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-09 | Fujitsu Ltd | 磁気媒体の検査装置 |
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