JPS6314906B2 - - Google Patents
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- JPS6314906B2 JPS6314906B2 JP56091254A JP9125481A JPS6314906B2 JP S6314906 B2 JPS6314906 B2 JP S6314906B2 JP 56091254 A JP56091254 A JP 56091254A JP 9125481 A JP9125481 A JP 9125481A JP S6314906 B2 JPS6314906 B2 JP S6314906B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9013—Arrangements for scanning
- G01N27/902—Arrangements for scanning by moving the sensors
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- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
本発明は、鍛造加工された頭付きボルト用素材
の如く外側面が円周状又は球面状の膨出部のある
軸材を被検査物とし、所定検査位置に固定した該
被検査物の検査物である円周状又は球面状の外側
面の回りに、渦流検査用プローブを高速回転（公
転）下で倣わせながら渦流探傷を行うプローブ回
転式渦流探傷装置に関する。
の如く外側面が円周状又は球面状の膨出部のある
軸材を被検査物とし、所定検査位置に固定した該
被検査物の検査物である円周状又は球面状の外側
面の回りに、渦流検査用プローブを高速回転（公
転）下で倣わせながら渦流探傷を行うプローブ回
転式渦流探傷装置に関する。
従来、被検査物の円周状又は球面状の外側面を
渦流探傷する場合、第１図に示す如く、搬入シユ
ート１から所定検査位置へ搬入された被検査物２
に駆動車３，３，３を押圧して該被検査物２を所
定回転速度まで加速させつつ渦流検査用プローブ
の検出ヘツド４を円周状又は球面状の外側面２ａ
近傍へ接近させて渦流探傷を行い、続けて該検出
ヘツド４を後退させつつ被検査物２を減速停止さ
せた後、検査済の被検査物２を排出シユート５へ
排出し、検査結果に基づいて選別手段６を作動さ
せて合格品又は不合格品に選別する方法で行なつ
ていた。
渦流探傷する場合、第１図に示す如く、搬入シユ
ート１から所定検査位置へ搬入された被検査物２
に駆動車３，３，３を押圧して該被検査物２を所
定回転速度まで加速させつつ渦流検査用プローブ
の検出ヘツド４を円周状又は球面状の外側面２ａ
近傍へ接近させて渦流探傷を行い、続けて該検出
ヘツド４を後退させつつ被検査物２を減速停止さ
せた後、検査済の被検査物２を排出シユート５へ
排出し、検査結果に基づいて選別手段６を作動さ
せて合格品又は不合格品に選別する方法で行なつ
ていた。
この従来検査方法は、被検査物２の加速及び減
速を速くすれば被検査物２と駆動車３との間に生
ずるスリツプにより被検査物２に擦り傷が発生
し、また該スリツプを防止するために駆動車３の
押圧力を増大すれば被検査物２に圧痕が発生する
等があるため加速及び減速を遅くする必要があ
り、その結果、時間当りの検査処理能力が低下す
る欠点があつた。 上記欠点を解決するための渦流探傷装置として
は、実開昭55−157758号公報に提案されたものが
ある。この提案された渦流探傷装置は、被検査物
固定空間の周囲を公転し且つ公転求心方向に付勢
揺動する鉤形アームと、鉤形アームに保持された
状態で被検査物固定空間の周囲を公転しつつ渦流
探傷を行なうプローブとを備えたものであつて、
検査を行なう際には被検査物に鉤形アームの一部
を案内接触させながら所定位置にセツトした後
に、鉤形アームの先端を被検査物に滑り接触させ
て倣わせながら探傷を行ない、検査終了後には被
検査物に鉤形アームの一部を案内接触させながら
移動退避させるものである。 しかし、上記提案された渦流探傷装置には、次
のような問題点がある。 (a) 被検査物の表面に滑り接触する鉤形アームの
先端は、揺動方向にのみしか自由移動しない。
そのため、被検査物の軸芯が所定固定位置から
偏心していたり被検査物の真円度が悪い場合に
は、プローブの公転中に、被検査物の表面から
プローブまでの距離が変動すると共に被検査物
に対するプローブの入射角度が変動するためノ
イズを生じさせ、探傷精度が低下する。 (b) 被検査物に鉤形アームの先端を滑り接触させ
て倣わせながら探傷するため、滑り接触の速度
限界により高速回転の探傷ができない。その結
果、検査処理能力が低い。 (c) 被検査物に鉤形アームの一部を案内接触させ
つつ鉤形アームの装着及び離脱を行なうため、
鉤形アームを回転させながら装着及び離脱させ
ることが困難である。そのため、被検査物を取
替える際、鉤形アームを一旦停止して鉤形アー
ムの装着及び離脱を行なう必要があり、検査処
理能力が非常に低くなる。 本発明は、上記問題点に鑑み、プローブの回転
を減速させることなく装着及び離脱が可能で且つ
高速回転させながら渦流探傷を行うことができる
検査処理能力の優れたプローブ回転式渦流探傷装
置の提供を目的とする。
速を速くすれば被検査物２と駆動車３との間に生
ずるスリツプにより被検査物２に擦り傷が発生
し、また該スリツプを防止するために駆動車３の
押圧力を増大すれば被検査物２に圧痕が発生する
等があるため加速及び減速を遅くする必要があ
り、その結果、時間当りの検査処理能力が低下す
る欠点があつた。 上記欠点を解決するための渦流探傷装置として
は、実開昭55−157758号公報に提案されたものが
ある。この提案された渦流探傷装置は、被検査物
固定空間の周囲を公転し且つ公転求心方向に付勢
揺動する鉤形アームと、鉤形アームに保持された
状態で被検査物固定空間の周囲を公転しつつ渦流
探傷を行なうプローブとを備えたものであつて、
検査を行なう際には被検査物に鉤形アームの一部
を案内接触させながら所定位置にセツトした後
に、鉤形アームの先端を被検査物に滑り接触させ
て倣わせながら探傷を行ない、検査終了後には被
検査物に鉤形アームの一部を案内接触させながら
移動退避させるものである。 しかし、上記提案された渦流探傷装置には、次
のような問題点がある。 (a) 被検査物の表面に滑り接触する鉤形アームの
先端は、揺動方向にのみしか自由移動しない。
そのため、被検査物の軸芯が所定固定位置から
偏心していたり被検査物の真円度が悪い場合に
は、プローブの公転中に、被検査物の表面から
プローブまでの距離が変動すると共に被検査物
に対するプローブの入射角度が変動するためノ
イズを生じさせ、探傷精度が低下する。 (b) 被検査物に鉤形アームの先端を滑り接触させ
て倣わせながら探傷するため、滑り接触の速度
限界により高速回転の探傷ができない。その結
果、検査処理能力が低い。 (c) 被検査物に鉤形アームの一部を案内接触させ
つつ鉤形アームの装着及び離脱を行なうため、
鉤形アームを回転させながら装着及び離脱させ
ることが困難である。そのため、被検査物を取
替える際、鉤形アームを一旦停止して鉤形アー
ムの装着及び離脱を行なう必要があり、検査処
理能力が非常に低くなる。 本発明は、上記問題点に鑑み、プローブの回転
を減速させることなく装着及び離脱が可能で且つ
高速回転させながら渦流探傷を行うことができる
検査処理能力の優れたプローブ回転式渦流探傷装
置の提供を目的とする。
本発明の要旨は、被検査物固定空間の周囲を公
転し且つ公転求心方向に付勢する保持具と、保持
具に保持された状態で被検査物固定空間の周囲を
公転しつつ渦流探傷を行なう渦流検査用プローブ
とを備え、検査終了後には保持具を公転半径方向
へ移動しつつ公転軸芯に沿う方向へ移動退避する
ようにしたプローブ回転式渦流探傷装置であつ
て、前記保持具には公転方向に枢支間隔を設けて
枢支された２個一組のコロが前記被検査物固定空
間に臨むように設けられ、更に前記保持具は公転
軸芯と平行な軸芯を中心として自動調芯揺動する
ように設けられると共に検査終了後に上記コロが
前記被検査物固定空間から公転半径方向へ離反す
るように設けられ、前記渦流検査用プローブは前
記両コロの中間から前記被検査物固定空間に臨む
ように前記保持具に保持されたことである。
転し且つ公転求心方向に付勢する保持具と、保持
具に保持された状態で被検査物固定空間の周囲を
公転しつつ渦流探傷を行なう渦流検査用プローブ
とを備え、検査終了後には保持具を公転半径方向
へ移動しつつ公転軸芯に沿う方向へ移動退避する
ようにしたプローブ回転式渦流探傷装置であつ
て、前記保持具には公転方向に枢支間隔を設けて
枢支された２個一組のコロが前記被検査物固定空
間に臨むように設けられ、更に前記保持具は公転
軸芯と平行な軸芯を中心として自動調芯揺動する
ように設けられると共に検査終了後に上記コロが
前記被検査物固定空間から公転半径方向へ離反す
るように設けられ、前記渦流検査用プローブは前
記両コロの中間から前記被検査物固定空間に臨む
ように前記保持具に保持されたことである。
保持具は、被検査物固定空間に固定された被検
査物に対して、２個一組のコロで転がり接触する
ため、摩擦抵抗が非常に小さくなり高速回転させ
ることができる。保持具は、被検査物の表面に２
個のコロが常に接触するように自動調芯揺動する
ため、被検査物の軸芯が被検査物固定空間の軸芯
から偏心したり被検査物の真円度が悪くても、被
検査物の表面からプローブまでの距離並びに被検
査物に対するプローブの入射角度が一定に保たれ
る。更に保持具は、コロが被検査物固定空間から
公転半径方向へ離反するように設けられているた
め、被検査物と接触させることなく高速回転状態
下で装着及び離脱を行なうことができる。
査物に対して、２個一組のコロで転がり接触する
ため、摩擦抵抗が非常に小さくなり高速回転させ
ることができる。保持具は、被検査物の表面に２
個のコロが常に接触するように自動調芯揺動する
ため、被検査物の軸芯が被検査物固定空間の軸芯
から偏心したり被検査物の真円度が悪くても、被
検査物の表面からプローブまでの距離並びに被検
査物に対するプローブの入射角度が一定に保たれ
る。更に保持具は、コロが被検査物固定空間から
公転半径方向へ離反するように設けられているた
め、被検査物と接触させることなく高速回転状態
下で装着及び離脱を行なうことができる。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて説
明する。第２図は本発明に係るプローブ回転式渦
流探傷装置（以下「本発明装置」という）の実施
例を示す要部断面右側面図であつて、図中７は中
空の回転軸である。該回転軸７は、本体フレーム
８の正面側に設けた軸受箱９に軸支してあり、該
回転軸７の上端に固着したプーリ１０と本体フレ
ーム８の上方に配設したモータ１１のプーリ１２
とを巻掛け伝動１３し、該回転軸７を所望回転速
度に強制駆動してある。該回転軸７の下端寄りに
は、外周部にスプライン溝１８ａを形成したスリ
ーブ１８を嵌着固定してある。該スリーブ１８の
下方外周には、該スリーブ１８のスプライン溝１
８ａに対応するスプライン凸起１４ａを内周面上
に形成した環状のブラケツト１４が上下動自在に
被嵌されており、前記回転軸７の下端ネジ部に取
付けたワツシヤ１９により該ブラケツト１４が抜
け落ちないように構成してある。該ブラケツト１
４に形成されたヒンジ部１４ｂ，１４b′には、
夫々１個宛てチヤツク本体１５，１５′を、前記
回転軸７の下方延長軸部に形成された被検査物固
定空間Ａの外側から該被検査物固定空間Ａ寄りへ
チヤツキングするように揺動自在に枢支してあ
る。該チヤツキング本体１５，１５′は、対向す
る両側部中央寄りに夫々１個宛て凹所１５ａ，１
５′ａを凹設すると共に、該凹所１５ａ，１５′ａ
内に圧縮コイルスプリング１６，１６（第４図参
照）を装着し、該チヤツク本体１５，１５′が被
検査物固定空間Ａに近づく場合に反発弾性力が該
圧縮コイルスプリング１６，１６に蓄えられるよ
うに構成してある。なお、回転（公転）中のチヤ
ツク本体１５，１５′には遠心力が作用している
ため、該圧縮コイルスプリング１６，１６は必ず
しも必要でない。また、該チヤツク本体１５，１
５′を揺動自在に枢支することなく、図示は省略
したが、チヤツク本体をブラケツト等の適所に摺
動自在に設けることは勿論可能である。 前記チヤツク本体１５，１５′には、外側中央
寄りにテーパ面１５ｂ，１５′ｂが形成されてい
る。１７は該テーパ面１５ｂ，１５′ｂを押圧す
るシフタであつて、該シフタ１７は、上方短筒部
の内周面にスプライン凸起１７ａを形成して前記
スリーブ１８に、前記ブラケツト１４より上方位
置で上下動自在に被嵌すると共に、下方スカート
部１７ｂの端部にコロ２０，２０を枢支し、該シ
フタ１７を上方位置（第３図参照）から前記回転
軸７の軸芯Ｅに沿つて下方へ移動させたとき、該
コロ２０，２０が前記チヤツク本体１５，１５′
のテーパ面１５ｂ，１５′ｂを押圧してチヤツク
本体１５，１５′にチヤツキング動作を行なわせ
るように構成してある。該シフタ１７のスカート
部１７ｂにはボルト３９，３９を内側に突出させ
ると共に、該ボルト３９，３９の先端部を、前記
チヤツク本体１５，１５′に形成した縦長孔１５
ｅ，１５′ｅ内に挿入し、該ボルト３９，３９の
先端部が該縦長孔１５ｅ，１５′ｅの下方位置に
あるときには、前記チヤツク本体１５，１５′に
チヤツキング動作を行なわせるように、また該ボ
ルト３９，３９の先端部が該縦長孔１５ｅ，１
５′ｅを上方へ押圧状態のときには、第３図に示
す如く、チヤツキング状態を開放したチヤツク本
体１５，１５′及び前記ブラケツト１４を上方へ
移動させて、被検査物固定空間Ａへの被検査物３
７の搬入を阻止しないように構成してある。な
お、チヤツキング開放時に前記チヤツク本体１
５，１５′を上方へ持上げる構造とすることなく、
図示は省略したが、前記スリーブ１８とブラケツ
ト１４とを一体構造とすると共に、前記ボルト３
９，３９を取付けることなく、チヤツク本体１
５，１５′の揺動角度を大きくして、被検査物固
定空間Ａへの被検査物３７の搬入を阻止しない構
造とすることは勿論可能である。 ２１は前記シフタ１７を上下方向へ移動させる
ための上下操作手段であつて、該上下操作手段２
１は、前記本体フレーム８の内部に操作レバー２
３を軸支２２すると共に、本体フレーム８の開口
部８ａから前方へ突出させた先端部に取付けた転
子２４を前記シフタ１７の外側部に形成した環状
凹溝１７ｃ内に係合し、更に該操作レバー２３の
曲臂２３′の先端部に取付けた転子２６を確動正
面カム板２７のカム溝２７ａに係合させて、該転
子２６がカム溝２７ａのＢ領域内で係合している
ときには、第２図に示す如く、前記シフタ１７を
最下位置に降下させ、また該転子２６がカム溝２
７ａのＣ領域内で係合しているときは、第３図に
示す如く、前記シフタ１７を最上位置に上昇させ
るように、即ち前記シフタ１７を間欠上下運動さ
せるように構成してある。該カム板２７の軸２７
ｂは、後述する被検査物供給手段３８（第９図参
照）の駆動源と連動又は同期するように構成され
ている。なお、該上下操作手段２１は、操作レバ
２３及びカム板２７等を用いた前記実施例に限定
されることなく、図示は省略したが、出力端が上
下動するエアーシリンダの出力端に取付けた転子
をシフタ１７の環状凹溝１７ｃ内に係合させてシ
フタ１７を間欠上下運動させる等の適宜手段とす
ることも勿論可能である。 前記チヤツク本体１５の下端部には、揺動保持
具２８が設けられており、該揺動保持具２８は、
第４図に示す如く、外側円弧面２８ｃ，２８ｃを
前記チヤツク本体１５に形成された凹円弧状の案
内面１５ｃ，１５ｃに案内保持させると共に、該
揺動保持具２８が該案内面１５ｃ，１５ｃの円弧
中心Ｄを中心として、且つ前記チヤツク本体１５
のチヤツキング位置（第２図参照）において前記
回転軸７の軸芯Ｅと略々直交する任意の平面上を
揺動するように構成されている。なお、該揺動保
持具２８をチヤツク本体１５の案内面１５ｃ，１
５ｃに揺動自在に案内させることなく、図示は省
略したが、揺動保持具の上面に揺動支持軸を垂設
すると共に、該揺動支持軸を前記円弧中心Ｄ位置
でチヤツク本体に軸支して、揺動保持具を揺動自
在に構成することは勿論可能である。 ２９は揺動押圧具であつて、該揺動押圧具２９
は、先端において２個のコロ３０，３０を軸支３
２，３２し、且つ該コロ３０，３０の中間から被
検査物固定空間Ａに渦流検査用プローブの検出ヘ
ツド３１を臨ませると共に、小径部２９ａを前記
揺動保持具２８の案内孔２８ａに摺動自在に挿入
し、且つ前記揺動保持具２８の凹所２８ｂ，２８
ｂ内に嵌挿した圧縮コイルバネ３３，３３で該摺
動押圧具２９の段部面２９ｂ，２９ｂを押圧させ
て、該摺動押圧具２９を前記被検査物固定空間Ａ
に向つて付勢させて構成してある。前記チヤツク
本体１５′には、第４図に示す如く、揺動保持具
２８′を前記揺動保持具２８と同様に設けると共
に、先端において２個のコロ３０，３０を軸支し
た摺動保持具２９′を該揺動保持具２８′に摺動自
在に設けると共に、圧縮コイルバネ３３，３３に
て該摺動保持具２９′を前記被検査物固定空間Ａ
に向つて付勢するように構成してある。前記渦流
検査用プローブの検出ヘツド３１のリード線３５
は、第２図に示す如く、前記回転軸７の中空部７
ａ内へ導かれ、該回転軸７の上端に取付けたスリ
ツプリング３６の回転子（図示省略）に接続され
ている。更に、該リード線３５からの検査信号
は、スリツプリング３６の固定ブラシ（図示省
略）に接続したリード線４５に導かれて、本発明
装置の外部に備えられた渦流探傷測定アンプ（図
示省略）へ入力される。 第６図乃至第８図は、本発明の別態様の実施例
を示し、前記第２図乃至第５図に示す実施例と異
なる所は、回転軸７′の下端寄りにシフタ４８が
上下動自在に被嵌されていると共に、該回転軸
７′の外周に配設したソレノイド４９へ通電する
ときには、該シフタ４８が上昇（第６図参照）す
るように、また非通電時には、降下（第８図参
照）するように構成されており、更に該シフタ４
８の環状下面４８ａに対向するように配設したソ
レノイド５０，５０の中空コア５０ａ，５０ａへ
保持具５１の摺動棒５１ａが挿入されていると共
に、該ソレノイド５０，５０へ通電するときに
は、保持具５１，５１を外周方向（矢符Ｇ方向）
へ移動させて、たとえシフタ４８が降下してもコ
ロ３０，３０…と被検査物３７′とが非接触状態
（第７図参照）となるように、またソレノイド５
０，５０の非通電時には、保持具５１の摺動棒５
１ａに被嵌した圧縮コイルバネ５２の反発弾性力
により保持具５１，５１を中心方向（矢符Ｈ方
向）へ移動させて、コロ３０，３０が被検査物３
７′の外周面上を接触しながら倣うように（第８
図参照）構成されている点である。 次に、本発明装置の動作を説明する。第２図乃
至第５図に示す実施例の場合には、先ず、回転軸
７を所望の検査回転速度（例えば、300乃至600r.
p.m）に保持し、第３図に示す如く、上下操作手
段２１の操作レバ２３を上昇させて回転中のチヤ
ツク本体１５，１５′を開放状態にする。次に、
被検査物３７を被検査物固定空間Ａへ適宜の被検
査供給手段にて搬入する。該被検査供給手段とし
ては、例えば第９図に示す如く、ターンテーブル
４３の外周縁にガイド４６を設けて被検査物３７
がターンテーブル回転による遠心力で外周方向へ
飛び出すのを防止し、ターンテーブル４３を間欠
回転させて被検査物３７を所定の被検査物固定空
間Ａへ移動させるタイプの被検査物供給手段３８
を用いる。被検査物３７が被検査物固定空間Ａに
搬入されたならばカム機構４７又はエアーシリン
ダー等により被検査物を固定し、第２図に示す如
く、カム板２７の回転に伴い操作レバー２３を降
下させつつ、チヤツク本体１５，１５′をチヤツ
キング位置まで揺動降下させ、チヤツク本体１
５，１５′に設けた摺動押圧具２９，２９′を前記
被検査物３７の側へ付勢し、第４図に示す如く、
該摺動押圧具２９，２９′の先端に軸支したコロ
３０，３０…を被検査物３７の円周状又は球面状
の外側面に倣わせながら回転（公転）させる。第
５図に示す如く、被検査物３７の固定中心O1（O1
は回転軸７の軸芯Ｅと略々一致する関係にある）
と被検査面である円周状又は球面状の外側面の中
心O2とが一致しない場合及び／又は被検査面で
ある円周状又は球面状の外側面が真円でない場合
であつても、前記摺動保持具２９，２９′に枢支
したコロ３０，３０…が被検査面上を倣うように
揺動保持具２８，２８′を揺動させるので、摺動
押圧具２９に設けられた渦流検査用プローブの検
出ヘツド３１と被検査面との距離を略々一定に保
持し且つ被検査面に対する検出ヘツド３１の入射
角度を一定に保持したまま渦流検査を行ない得
る。従つてたとえ真円度の悪い被検査物であろう
とも再現性良く高精度の検査を行ない得る。検出
ヘツド３１が被検査物３７の外周を１回転以上し
たのちシフタ１７を上昇させ、第３図に示す如
く、チヤツク本体１５，１５′を揺動上昇させて
チヤツキング状態を開放し被検査物３７の搬入、
搬出を妨げることのないよう上方へ退避する。続
けて渦流探傷済の被検査物３７は、被検査物固定
空間Ａから搬出されると共に、次の被検査物３７
が被検査物固定空間Ａへ搬入される。即ち、第９
図に示す被検査物供給手段３８を用いた場合は、
ターンテーブル４３の間欠回転により被検査物３
７の被検査物固定空間Ａへの搬入及び搬出が行な
われる。渦流探傷済の被検査物３７はレバー４８
により搬出シユート４１へ排出されるが、この時
該被検査物３７の渦流探傷結果に基づいて選別手
段４２を作動させて合格品又は不合格品に選別す
る。なお、第９図に示す被検査物供給手段３８と
本発明装置を組合せたときのカム板２７とターン
テーブル４３との動作関係は、カム板２７のカム
溝２７ａに係合している転子２６がカム溝２７ａ
のＣ領域にあるときにのみターンテーブル４３が
θ1角度だけ間欠回転し、該転子２６がＣ領域以外
にあるときにはターンテーブル４３が停止する関
係にある。 次に、第６図乃至第８図に示す実施例の場合の
動作を説明する。先ず、回転軸７′を前記同様の
検査回転速度に保持し、第６図に示す如く、シフ
タ４８を上昇させると共に、保持具５１を外周方
向（矢符Ｇ方向）へ移動させて待機状態にする。
次に、被検査物３７′を所定の被検査物固定空間
A′へ適宜の被検査物供給手段にて搬入し固定す
る。続けて、第８図に示す如く、シフタ４８を降
下させた後、保持具５１，５１を前記被検査物３
７′側へ付勢させて、コロ３０，３０…を被検査
物３７′の円周状又は球面状の外側面上にならわ
せながら回転させる。なお、保持具５１はコロ保
持部５１ｂと摺動棒５１ａとがピン連結５１ｃさ
れているので、たとえ被検査面が真円でない場合
であつても、コロ３０，３０…が被検査面上を倣
うようにコロ保持部５１ｂが自動調芯揺動するの
で、摺動棒５１ａの摺動動作と相俟つて、コロ保
持部５１ｂに設けられた渦流検査用プローブの検
出ヘツド３１′と被検査面との距離を略々一定に
保持し且つ被検査表面に対する検出ヘツド３１′
の入射角度を一定に保持したまま渦流探傷を行な
い得る。検出ヘツド３１′が被検査物３７′の外周
を１回転以上したのち保持具５１，５１を外周方
向（矢符Ｇ方向）へ移動させ、被検査物３７′の
搬入、搬出を妨げることのないように上方へ退避
させて、次の検査まで待機させる。
明する。第２図は本発明に係るプローブ回転式渦
流探傷装置（以下「本発明装置」という）の実施
例を示す要部断面右側面図であつて、図中７は中
空の回転軸である。該回転軸７は、本体フレーム
８の正面側に設けた軸受箱９に軸支してあり、該
回転軸７の上端に固着したプーリ１０と本体フレ
ーム８の上方に配設したモータ１１のプーリ１２
とを巻掛け伝動１３し、該回転軸７を所望回転速
度に強制駆動してある。該回転軸７の下端寄りに
は、外周部にスプライン溝１８ａを形成したスリ
ーブ１８を嵌着固定してある。該スリーブ１８の
下方外周には、該スリーブ１８のスプライン溝１
８ａに対応するスプライン凸起１４ａを内周面上
に形成した環状のブラケツト１４が上下動自在に
被嵌されており、前記回転軸７の下端ネジ部に取
付けたワツシヤ１９により該ブラケツト１４が抜
け落ちないように構成してある。該ブラケツト１
４に形成されたヒンジ部１４ｂ，１４b′には、
夫々１個宛てチヤツク本体１５，１５′を、前記
回転軸７の下方延長軸部に形成された被検査物固
定空間Ａの外側から該被検査物固定空間Ａ寄りへ
チヤツキングするように揺動自在に枢支してあ
る。該チヤツキング本体１５，１５′は、対向す
る両側部中央寄りに夫々１個宛て凹所１５ａ，１
５′ａを凹設すると共に、該凹所１５ａ，１５′ａ
内に圧縮コイルスプリング１６，１６（第４図参
照）を装着し、該チヤツク本体１５，１５′が被
検査物固定空間Ａに近づく場合に反発弾性力が該
圧縮コイルスプリング１６，１６に蓄えられるよ
うに構成してある。なお、回転（公転）中のチヤ
ツク本体１５，１５′には遠心力が作用している
ため、該圧縮コイルスプリング１６，１６は必ず
しも必要でない。また、該チヤツク本体１５，１
５′を揺動自在に枢支することなく、図示は省略
したが、チヤツク本体をブラケツト等の適所に摺
動自在に設けることは勿論可能である。 前記チヤツク本体１５，１５′には、外側中央
寄りにテーパ面１５ｂ，１５′ｂが形成されてい
る。１７は該テーパ面１５ｂ，１５′ｂを押圧す
るシフタであつて、該シフタ１７は、上方短筒部
の内周面にスプライン凸起１７ａを形成して前記
スリーブ１８に、前記ブラケツト１４より上方位
置で上下動自在に被嵌すると共に、下方スカート
部１７ｂの端部にコロ２０，２０を枢支し、該シ
フタ１７を上方位置（第３図参照）から前記回転
軸７の軸芯Ｅに沿つて下方へ移動させたとき、該
コロ２０，２０が前記チヤツク本体１５，１５′
のテーパ面１５ｂ，１５′ｂを押圧してチヤツク
本体１５，１５′にチヤツキング動作を行なわせ
るように構成してある。該シフタ１７のスカート
部１７ｂにはボルト３９，３９を内側に突出させ
ると共に、該ボルト３９，３９の先端部を、前記
チヤツク本体１５，１５′に形成した縦長孔１５
ｅ，１５′ｅ内に挿入し、該ボルト３９，３９の
先端部が該縦長孔１５ｅ，１５′ｅの下方位置に
あるときには、前記チヤツク本体１５，１５′に
チヤツキング動作を行なわせるように、また該ボ
ルト３９，３９の先端部が該縦長孔１５ｅ，１
５′ｅを上方へ押圧状態のときには、第３図に示
す如く、チヤツキング状態を開放したチヤツク本
体１５，１５′及び前記ブラケツト１４を上方へ
移動させて、被検査物固定空間Ａへの被検査物３
７の搬入を阻止しないように構成してある。な
お、チヤツキング開放時に前記チヤツク本体１
５，１５′を上方へ持上げる構造とすることなく、
図示は省略したが、前記スリーブ１８とブラケツ
ト１４とを一体構造とすると共に、前記ボルト３
９，３９を取付けることなく、チヤツク本体１
５，１５′の揺動角度を大きくして、被検査物固
定空間Ａへの被検査物３７の搬入を阻止しない構
造とすることは勿論可能である。 ２１は前記シフタ１７を上下方向へ移動させる
ための上下操作手段であつて、該上下操作手段２
１は、前記本体フレーム８の内部に操作レバー２
３を軸支２２すると共に、本体フレーム８の開口
部８ａから前方へ突出させた先端部に取付けた転
子２４を前記シフタ１７の外側部に形成した環状
凹溝１７ｃ内に係合し、更に該操作レバー２３の
曲臂２３′の先端部に取付けた転子２６を確動正
面カム板２７のカム溝２７ａに係合させて、該転
子２６がカム溝２７ａのＢ領域内で係合している
ときには、第２図に示す如く、前記シフタ１７を
最下位置に降下させ、また該転子２６がカム溝２
７ａのＣ領域内で係合しているときは、第３図に
示す如く、前記シフタ１７を最上位置に上昇させ
るように、即ち前記シフタ１７を間欠上下運動さ
せるように構成してある。該カム板２７の軸２７
ｂは、後述する被検査物供給手段３８（第９図参
照）の駆動源と連動又は同期するように構成され
ている。なお、該上下操作手段２１は、操作レバ
２３及びカム板２７等を用いた前記実施例に限定
されることなく、図示は省略したが、出力端が上
下動するエアーシリンダの出力端に取付けた転子
をシフタ１７の環状凹溝１７ｃ内に係合させてシ
フタ１７を間欠上下運動させる等の適宜手段とす
ることも勿論可能である。 前記チヤツク本体１５の下端部には、揺動保持
具２８が設けられており、該揺動保持具２８は、
第４図に示す如く、外側円弧面２８ｃ，２８ｃを
前記チヤツク本体１５に形成された凹円弧状の案
内面１５ｃ，１５ｃに案内保持させると共に、該
揺動保持具２８が該案内面１５ｃ，１５ｃの円弧
中心Ｄを中心として、且つ前記チヤツク本体１５
のチヤツキング位置（第２図参照）において前記
回転軸７の軸芯Ｅと略々直交する任意の平面上を
揺動するように構成されている。なお、該揺動保
持具２８をチヤツク本体１５の案内面１５ｃ，１
５ｃに揺動自在に案内させることなく、図示は省
略したが、揺動保持具の上面に揺動支持軸を垂設
すると共に、該揺動支持軸を前記円弧中心Ｄ位置
でチヤツク本体に軸支して、揺動保持具を揺動自
在に構成することは勿論可能である。 ２９は揺動押圧具であつて、該揺動押圧具２９
は、先端において２個のコロ３０，３０を軸支３
２，３２し、且つ該コロ３０，３０の中間から被
検査物固定空間Ａに渦流検査用プローブの検出ヘ
ツド３１を臨ませると共に、小径部２９ａを前記
揺動保持具２８の案内孔２８ａに摺動自在に挿入
し、且つ前記揺動保持具２８の凹所２８ｂ，２８
ｂ内に嵌挿した圧縮コイルバネ３３，３３で該摺
動押圧具２９の段部面２９ｂ，２９ｂを押圧させ
て、該摺動押圧具２９を前記被検査物固定空間Ａ
に向つて付勢させて構成してある。前記チヤツク
本体１５′には、第４図に示す如く、揺動保持具
２８′を前記揺動保持具２８と同様に設けると共
に、先端において２個のコロ３０，３０を軸支し
た摺動保持具２９′を該揺動保持具２８′に摺動自
在に設けると共に、圧縮コイルバネ３３，３３に
て該摺動保持具２９′を前記被検査物固定空間Ａ
に向つて付勢するように構成してある。前記渦流
検査用プローブの検出ヘツド３１のリード線３５
は、第２図に示す如く、前記回転軸７の中空部７
ａ内へ導かれ、該回転軸７の上端に取付けたスリ
ツプリング３６の回転子（図示省略）に接続され
ている。更に、該リード線３５からの検査信号
は、スリツプリング３６の固定ブラシ（図示省
略）に接続したリード線４５に導かれて、本発明
装置の外部に備えられた渦流探傷測定アンプ（図
示省略）へ入力される。 第６図乃至第８図は、本発明の別態様の実施例
を示し、前記第２図乃至第５図に示す実施例と異
なる所は、回転軸７′の下端寄りにシフタ４８が
上下動自在に被嵌されていると共に、該回転軸
７′の外周に配設したソレノイド４９へ通電する
ときには、該シフタ４８が上昇（第６図参照）す
るように、また非通電時には、降下（第８図参
照）するように構成されており、更に該シフタ４
８の環状下面４８ａに対向するように配設したソ
レノイド５０，５０の中空コア５０ａ，５０ａへ
保持具５１の摺動棒５１ａが挿入されていると共
に、該ソレノイド５０，５０へ通電するときに
は、保持具５１，５１を外周方向（矢符Ｇ方向）
へ移動させて、たとえシフタ４８が降下してもコ
ロ３０，３０…と被検査物３７′とが非接触状態
（第７図参照）となるように、またソレノイド５
０，５０の非通電時には、保持具５１の摺動棒５
１ａに被嵌した圧縮コイルバネ５２の反発弾性力
により保持具５１，５１を中心方向（矢符Ｈ方
向）へ移動させて、コロ３０，３０が被検査物３
７′の外周面上を接触しながら倣うように（第８
図参照）構成されている点である。 次に、本発明装置の動作を説明する。第２図乃
至第５図に示す実施例の場合には、先ず、回転軸
７を所望の検査回転速度（例えば、300乃至600r.
p.m）に保持し、第３図に示す如く、上下操作手
段２１の操作レバ２３を上昇させて回転中のチヤ
ツク本体１５，１５′を開放状態にする。次に、
被検査物３７を被検査物固定空間Ａへ適宜の被検
査供給手段にて搬入する。該被検査供給手段とし
ては、例えば第９図に示す如く、ターンテーブル
４３の外周縁にガイド４６を設けて被検査物３７
がターンテーブル回転による遠心力で外周方向へ
飛び出すのを防止し、ターンテーブル４３を間欠
回転させて被検査物３７を所定の被検査物固定空
間Ａへ移動させるタイプの被検査物供給手段３８
を用いる。被検査物３７が被検査物固定空間Ａに
搬入されたならばカム機構４７又はエアーシリン
ダー等により被検査物を固定し、第２図に示す如
く、カム板２７の回転に伴い操作レバー２３を降
下させつつ、チヤツク本体１５，１５′をチヤツ
キング位置まで揺動降下させ、チヤツク本体１
５，１５′に設けた摺動押圧具２９，２９′を前記
被検査物３７の側へ付勢し、第４図に示す如く、
該摺動押圧具２９，２９′の先端に軸支したコロ
３０，３０…を被検査物３７の円周状又は球面状
の外側面に倣わせながら回転（公転）させる。第
５図に示す如く、被検査物３７の固定中心O1（O1
は回転軸７の軸芯Ｅと略々一致する関係にある）
と被検査面である円周状又は球面状の外側面の中
心O2とが一致しない場合及び／又は被検査面で
ある円周状又は球面状の外側面が真円でない場合
であつても、前記摺動保持具２９，２９′に枢支
したコロ３０，３０…が被検査面上を倣うように
揺動保持具２８，２８′を揺動させるので、摺動
押圧具２９に設けられた渦流検査用プローブの検
出ヘツド３１と被検査面との距離を略々一定に保
持し且つ被検査面に対する検出ヘツド３１の入射
角度を一定に保持したまま渦流検査を行ない得
る。従つてたとえ真円度の悪い被検査物であろう
とも再現性良く高精度の検査を行ない得る。検出
ヘツド３１が被検査物３７の外周を１回転以上し
たのちシフタ１７を上昇させ、第３図に示す如
く、チヤツク本体１５，１５′を揺動上昇させて
チヤツキング状態を開放し被検査物３７の搬入、
搬出を妨げることのないよう上方へ退避する。続
けて渦流探傷済の被検査物３７は、被検査物固定
空間Ａから搬出されると共に、次の被検査物３７
が被検査物固定空間Ａへ搬入される。即ち、第９
図に示す被検査物供給手段３８を用いた場合は、
ターンテーブル４３の間欠回転により被検査物３
７の被検査物固定空間Ａへの搬入及び搬出が行な
われる。渦流探傷済の被検査物３７はレバー４８
により搬出シユート４１へ排出されるが、この時
該被検査物３７の渦流探傷結果に基づいて選別手
段４２を作動させて合格品又は不合格品に選別す
る。なお、第９図に示す被検査物供給手段３８と
本発明装置を組合せたときのカム板２７とターン
テーブル４３との動作関係は、カム板２７のカム
溝２７ａに係合している転子２６がカム溝２７ａ
のＣ領域にあるときにのみターンテーブル４３が
θ1角度だけ間欠回転し、該転子２６がＣ領域以外
にあるときにはターンテーブル４３が停止する関
係にある。 次に、第６図乃至第８図に示す実施例の場合の
動作を説明する。先ず、回転軸７′を前記同様の
検査回転速度に保持し、第６図に示す如く、シフ
タ４８を上昇させると共に、保持具５１を外周方
向（矢符Ｇ方向）へ移動させて待機状態にする。
次に、被検査物３７′を所定の被検査物固定空間
A′へ適宜の被検査物供給手段にて搬入し固定す
る。続けて、第８図に示す如く、シフタ４８を降
下させた後、保持具５１，５１を前記被検査物３
７′側へ付勢させて、コロ３０，３０…を被検査
物３７′の円周状又は球面状の外側面上にならわ
せながら回転させる。なお、保持具５１はコロ保
持部５１ｂと摺動棒５１ａとがピン連結５１ｃさ
れているので、たとえ被検査面が真円でない場合
であつても、コロ３０，３０…が被検査面上を倣
うようにコロ保持部５１ｂが自動調芯揺動するの
で、摺動棒５１ａの摺動動作と相俟つて、コロ保
持部５１ｂに設けられた渦流検査用プローブの検
出ヘツド３１′と被検査面との距離を略々一定に
保持し且つ被検査表面に対する検出ヘツド３１′
の入射角度を一定に保持したまま渦流探傷を行な
い得る。検出ヘツド３１′が被検査物３７′の外周
を１回転以上したのち保持具５１，５１を外周方
向（矢符Ｇ方向）へ移動させ、被検査物３７′の
搬入、搬出を妨げることのないように上方へ退避
させて、次の検査まで待機させる。
以上詳述の如く、本発明装置は次の如き優れた
効果を有する。 被検査物固定空間に固定された被検査物に対
する保持具の接触が摩擦抵抗の非常に小さな転
がり接触であるため、被検査物に擦り傷を生じ
させることなく高速回転の探傷が可能となる。
その結果、検査処理能力を飛躍的に向上させる
ことができる。 保持具の自動調芯揺動により被検査物の表面
からプローブまでの距離並びに被検査物に対す
るプローブの入射角度が一定に保たれる。その
結果、ノイズのない精度の高い探傷が可能とな
る。 保持具は、被検査物に接触することなく装着
及び離脱ができるので、高速回転（公転）状態
を維持しつつ被検査物の取替えを行なうことが
できる。その結果、前記記に記載の効果と相
俟つて検査処理能力を飛躍的に向上させること
ができる。本発明者の確認試験によれば、被検
査物をM20ボルト用の素材としたときに従来方
法において20本／分であつた検査処理能力が、
本発明装置においては、３倍の60本／分の検査
処理能力を実現できた。
効果を有する。 被検査物固定空間に固定された被検査物に対
する保持具の接触が摩擦抵抗の非常に小さな転
がり接触であるため、被検査物に擦り傷を生じ
させることなく高速回転の探傷が可能となる。
その結果、検査処理能力を飛躍的に向上させる
ことができる。 保持具の自動調芯揺動により被検査物の表面
からプローブまでの距離並びに被検査物に対す
るプローブの入射角度が一定に保たれる。その
結果、ノイズのない精度の高い探傷が可能とな
る。 保持具は、被検査物に接触することなく装着
及び離脱ができるので、高速回転（公転）状態
を維持しつつ被検査物の取替えを行なうことが
できる。その結果、前記記に記載の効果と相
俟つて検査処理能力を飛躍的に向上させること
ができる。本発明者の確認試験によれば、被検
査物をM20ボルト用の素材としたときに従来方
法において20本／分であつた検査処理能力が、
本発明装置においては、３倍の60本／分の検査
処理能力を実現できた。
第１図は従来の渦流探傷方法を示す斜視図、第
２図は本発明に係るプローブ回転式渦流探傷装置
の実施例を示す要部断面右側面図、第３図はチヤ
ツク本体のチヤツキング開放状態を示す断面図、
第４図は第２図の―線切断面図、第５図は渦
流探傷状態を示す断面図、第６図は本発明に係る
プローブ回転式渦流探傷装置の別態様の実施例の
要部を示す半截右側面図、第７図は同上の底面
図、第８図は検査状態を示す半截右側面図、第９
図は本発明に係るプローブ回転式渦流探傷装置を
用いた渦流探傷システムを示す斜視図である。 ２９，５１…保持具、３０…コロ、３１，３
１′…渦流探傷用プローブの検出ヘツド、Ａ…被
検査物固定空間。
２図は本発明に係るプローブ回転式渦流探傷装置
の実施例を示す要部断面右側面図、第３図はチヤ
ツク本体のチヤツキング開放状態を示す断面図、
第４図は第２図の―線切断面図、第５図は渦
流探傷状態を示す断面図、第６図は本発明に係る
プローブ回転式渦流探傷装置の別態様の実施例の
要部を示す半截右側面図、第７図は同上の底面
図、第８図は検査状態を示す半截右側面図、第９
図は本発明に係るプローブ回転式渦流探傷装置を
用いた渦流探傷システムを示す斜視図である。 ２９，５１…保持具、３０…コロ、３１，３
１′…渦流探傷用プローブの検出ヘツド、Ａ…被
検査物固定空間。
Claims (1)
- １ 被検査物固定空間の周囲を公転し且つ公転求
心方向に付勢する保持具と、保持具に保持された
状態で被検査物固定空間の周囲を公転しつつ渦流
探傷を行なう渦流検査用プローブとを備え、検査
終了後には保持具を公転半径方向へ移動し且つ公
転軸芯に沿う方向へ移動退避するようにしたプロ
ーブ回転式渦流探傷装置であつて、前記保持具に
は公転方向に適宜間隔を設けて枢支された２個一
組のコロが前記被検査物固定空間に臨むように設
けられ、更に前記保持具は公転軸芯と平行な軸芯
を中心として自動調芯揺動するように設けられる
と共に検査終了後に上記コロが前記被検査物固定
空間から公転半径方向へ離反するように設けら
れ、前記渦流検査用プローブは前記両コロの中間
から前記被検査物固定空間に臨むように前記保持
具に保持されたことを特徴とするプローブ回転式
渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56091254A JPS57204451A (en) | 1981-06-11 | 1981-06-11 | Probe rotary system eddy current test equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56091254A JPS57204451A (en) | 1981-06-11 | 1981-06-11 | Probe rotary system eddy current test equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57204451A JPS57204451A (en) | 1982-12-15 |
| JPS6314906B2 true JPS6314906B2 (ja) | 1988-04-02 |
Family
ID=14021284
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56091254A Granted JPS57204451A (en) | 1981-06-11 | 1981-06-11 | Probe rotary system eddy current test equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57204451A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3551739B2 (ja) * | 1997-12-22 | 2004-08-11 | 住友金属工業株式会社 | 圧延ロールのクラック探傷方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS592525Y2 (ja) * | 1979-04-27 | 1984-01-24 | 三菱重工業株式会社 | 渦電流探傷子 |
-
1981
- 1981-06-11 JP JP56091254A patent/JPS57204451A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57204451A (en) | 1982-12-15 |
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