JPS63151016A - 横型気相成長装置 - Google Patents
横型気相成長装置Info
- Publication number
- JPS63151016A JPS63151016A JP29760186A JP29760186A JPS63151016A JP S63151016 A JPS63151016 A JP S63151016A JP 29760186 A JP29760186 A JP 29760186A JP 29760186 A JP29760186 A JP 29760186A JP S63151016 A JPS63151016 A JP S63151016A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- susceptor
- main body
- fork
- furnace main
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は横型気相成長装置に関し、特に横型炉本体に改
良ftmした横型気相成長装置に係わる。
良ftmした横型気相成長装置に係わる。
(従来の技術〕
従来、化合物半導体に成長層を形成する横型気相成長装
置としては、例えば第2図に示すものが知られてbる。
置としては、例えば第2図に示すものが知られてbる。
図中の1は、横型炉本体である。この炉本体1の長手方
向の一端部(左端部)には原料ガス2を導入する導入口
3が設けられ、また炉本体ノの他端部の上方には排気口
4が設けられている。前記炉本体1内には1石英板4を
傾斜して支持するフォーク5が設けられている。このフ
ォーク5は炉本体1に対してとり出し自在である。前記
石英板4上には、結晶基板6を載置するサセプタ7が設
けられている。この前記炉本体1の外周でかつ篩記サセ
プタ6の周囲に位置する部分には、高周波誘導加熱コイ
ル8が設けられている。
向の一端部(左端部)には原料ガス2を導入する導入口
3が設けられ、また炉本体ノの他端部の上方には排気口
4が設けられている。前記炉本体1内には1石英板4を
傾斜して支持するフォーク5が設けられている。このフ
ォーク5は炉本体1に対してとり出し自在である。前記
石英板4上には、結晶基板6を載置するサセプタ7が設
けられている。この前記炉本体1の外周でかつ篩記サセ
プタ6の周囲に位置する部分には、高周波誘導加熱コイ
ル8が設けられている。
上記構造の装置においては、原料ガス2が前記サセプタ
z上の結晶基板6に吹きつけられる。このとき、結晶基
板6は前記加熱コイル8によりあたためられているため
、ガスは熱分解を起こし、結晶基板6上にエピタキシャ
ル層が成長する。ま九、反応ガスは流れを乱すことなく
流れる。
z上の結晶基板6に吹きつけられる。このとき、結晶基
板6は前記加熱コイル8によりあたためられているため
、ガスは熱分解を起こし、結晶基板6上にエピタキシャ
ル層が成長する。ま九、反応ガスは流れを乱すことなく
流れる。
しかしながら、従来の横型気相成長装置によれば、ガス
の流れは結晶基板6面内に均一に当たらないため、エピ
タキシャル成長層はX部のように導入口3の中心と同じ
高さの基板位置を中心にして盛υ上がる。すなわち、エ
ピタキシャル層に不均一性を生じさせる。
の流れは結晶基板6面内に均一に当たらないため、エピ
タキシャル成長層はX部のように導入口3の中心と同じ
高さの基板位置を中心にして盛υ上がる。すなわち、エ
ピタキシャル層に不均一性を生じさせる。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は上記事情を鑑みてなされ念もので。
膜厚の均一性のよい良質なエピタキシャル層が得られる
横型気相成長装置を提供することを目的とする。
横型気相成長装置を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は、横型炉本体と、この炉本体に出入自在に設け
られたフォークと、この7オークの先端部に傾斜して設
けられこの傾斜面に化合物半導体基板をセットするサセ
プタと、前記炉本体の長手方向に設けられた原料ガス導
入用のガス導入口と、前記サセプタの斜め上部に位置す
る前記炉本体に設けられた排気口とを具備することを要
旨とする。
られたフォークと、この7オークの先端部に傾斜して設
けられこの傾斜面に化合物半導体基板をセットするサセ
プタと、前記炉本体の長手方向に設けられた原料ガス導
入用のガス導入口と、前記サセプタの斜め上部に位置す
る前記炉本体に設けられた排気口とを具備することを要
旨とする。
(作用)
本発明によれば、ガス排気口をサセプタの斜め上部に位
置する横型炉本体に設けることによシ、ガスの流れがウ
ェハ(結晶基板)面上に沿って無駄なく均一に流れ、良
質なエピタキシャル層を得ることができる。また、ウェ
ルが大口径化した場合でも良質なエピタキシャル層が得
られ、従来と比べ歩留シが向上する。
置する横型炉本体に設けることによシ、ガスの流れがウ
ェハ(結晶基板)面上に沿って無駄なく均一に流れ、良
質なエピタキシャル層を得ることができる。また、ウェ
ルが大口径化した場合でも良質なエピタキシャル層が得
られ、従来と比べ歩留シが向上する。
(実施例)
図中の11は、横型炉本体である。この炉本体1ノの長
手方向の一端部(左端部)には、原料ガス12を導入す
るガス導入口13が設けられている。前記炉本体11内
には1石英板14を傾斜させて支持するフォーク15が
設けられている。このフォーク15は炉本体11に出し
入シ自由である。前記石英板14上には、例えばGaA
sからなる結晶基板16を載置するサセプタ17が設け
られている。このサセプタ17のヱ下斜め方向には接合
部18が設けられ、サセプタ17間に介在させたOリン
グ19によシ原料ガス12の漏れを防いでいる。このサ
セプタ17の斜め上方に位置する前記炉本体11には、
ガス排気口20が設けられている。前記炉本体11の外
周でかつ前記サセプタ17の周囲に位置する部分には、
高周波誘導加熱コイル21が設けられている。なお、図
中の22はH2加圧ガス23t−炉本体1ノ内に導入す
るガス導入口である。このガス導入口22にH2加圧ガ
ス23を導入して加圧することによシ、炉本体11内を
完全に密閉する。ここで、前記H2加圧fス23は、例
えば反応ガスよシ2.0倍程度に加圧しである。
手方向の一端部(左端部)には、原料ガス12を導入す
るガス導入口13が設けられている。前記炉本体11内
には1石英板14を傾斜させて支持するフォーク15が
設けられている。このフォーク15は炉本体11に出し
入シ自由である。前記石英板14上には、例えばGaA
sからなる結晶基板16を載置するサセプタ17が設け
られている。このサセプタ17のヱ下斜め方向には接合
部18が設けられ、サセプタ17間に介在させたOリン
グ19によシ原料ガス12の漏れを防いでいる。このサ
セプタ17の斜め上方に位置する前記炉本体11には、
ガス排気口20が設けられている。前記炉本体11の外
周でかつ前記サセプタ17の周囲に位置する部分には、
高周波誘導加熱コイル21が設けられている。なお、図
中の22はH2加圧ガス23t−炉本体1ノ内に導入す
るガス導入口である。このガス導入口22にH2加圧ガ
ス23を導入して加圧することによシ、炉本体11内を
完全に密閉する。ここで、前記H2加圧fス23は、例
えば反応ガスよシ2.0倍程度に加圧しである。
上記実施例によれば、サセプタ17の斜め上方に位置す
る炉本体11にガス排気口20を設け。
る炉本体11にガス排気口20を設け。
かつガス導入口22よりH2加圧ガス23を炉本体1ノ
内のフォーク側に流しながらフォーク15に支持された
石英板14 、 O!Jング19及び接合部18により
反応ガスを他へ流れないように密封した構造となってい
るため、ガス流を自然に結晶基板面内に均一に流すこと
ができる。従って、前記結晶基板16上に盛シ上がりの
ない均一性のよいエピタキシャル層24を形成できる。
内のフォーク側に流しながらフォーク15に支持された
石英板14 、 O!Jング19及び接合部18により
反応ガスを他へ流れないように密封した構造となってい
るため、ガス流を自然に結晶基板面内に均一に流すこと
ができる。従って、前記結晶基板16上に盛シ上がりの
ない均一性のよいエピタキシャル層24を形成できる。
また、上記ガス導入口22よシ導入されるガスがH2で
あるため、これがたとえ結晶基板16側に漏れても反応
用のキャリアガスのH′2と同じであり、結晶基板16
に悪影響を及ばさない。
あるため、これがたとえ結晶基板16側に漏れても反応
用のキャリアガスのH′2と同じであり、結晶基板16
に悪影響を及ばさない。
[発明の効果コ
以上詳述した如く本発明によれば、膜厚の均一性のよい
良質なエピタキシャル層が得られ、ウェハが大口径化し
ても有用な横型気相成長vc111を提供できる。
良質なエピタキシャル層が得られ、ウェハが大口径化し
ても有用な横型気相成長vc111を提供できる。
第1図は本発明の一実画例に係る横型気相成長装置の説
明図、第2図は従来の横型気相成長装置の説明図である
。 11・・・横型炉本体、12・・・原料ガス、13゜2
2・・・ガス導入口、14・・・石英板、15・・・フ
ォーク、16・・・結晶基板、17・・・サセプタ、1
8・・・接合部、19・・・Oリング、20・・・ガ゛
ス排気口、21・・・高周波誘導加熱コイル、23・・
・H2加圧ガス、24・・・エピタキシャル層。 出願人代理人 弁理士 鉛工 武 彦 第1図
明図、第2図は従来の横型気相成長装置の説明図である
。 11・・・横型炉本体、12・・・原料ガス、13゜2
2・・・ガス導入口、14・・・石英板、15・・・フ
ォーク、16・・・結晶基板、17・・・サセプタ、1
8・・・接合部、19・・・Oリング、20・・・ガ゛
ス排気口、21・・・高周波誘導加熱コイル、23・・
・H2加圧ガス、24・・・エピタキシャル層。 出願人代理人 弁理士 鉛工 武 彦 第1図
Claims (1)
- 横型炉本体と、この炉本体に出入自在に設けられたフォ
ークと、このフォークの先端部に傾斜して設けられこの
傾斜面に化合物半導体基板をセットするサセプタと、前
記炉本体の長手方向に設けられた原料ガス導入用のガス
導入口と、前記サセプタの斜め上部に位置する前記炉本
体に設けられたガス排気口とを具備することを特徴とす
る横型気相成長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29760186A JPS63151016A (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 横型気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29760186A JPS63151016A (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 横型気相成長装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63151016A true JPS63151016A (ja) | 1988-06-23 |
| JPH0556854B2 JPH0556854B2 (ja) | 1993-08-20 |
Family
ID=17848671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29760186A Granted JPS63151016A (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 横型気相成長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63151016A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60193323A (ja) * | 1984-03-15 | 1985-10-01 | Nec Corp | 半導体気相成長装置 |
| JPS6266622A (ja) * | 1985-09-19 | 1987-03-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 気相成長装置 |
-
1986
- 1986-12-16 JP JP29760186A patent/JPS63151016A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60193323A (ja) * | 1984-03-15 | 1985-10-01 | Nec Corp | 半導体気相成長装置 |
| JPS6266622A (ja) * | 1985-09-19 | 1987-03-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 気相成長装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0556854B2 (ja) | 1993-08-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |