JPH03241733A - 気体成長装置 - Google Patents
気体成長装置Info
- Publication number
- JPH03241733A JPH03241733A JP2037264A JP3726490A JPH03241733A JP H03241733 A JPH03241733 A JP H03241733A JP 2037264 A JP2037264 A JP 2037264A JP 3726490 A JP3726490 A JP 3726490A JP H03241733 A JPH03241733 A JP H03241733A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- susceptor
- magnetic field
- frequency magnetic
- substrate
- coil
- Prior art date
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- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
エピタキシャル成長用、特に有機金属気相成長に適する
気相成長装置に関し、 サセプタ上の基板の温度の均一性を高めて、大面積にわ
たって均一な組成の結晶を成長させることを目的とし、 高周波磁界発生用コイルの軸がサセプタの基板搭載面に
対して平行してサセプタを貫くように構成する。
気相成長装置に関し、 サセプタ上の基板の温度の均一性を高めて、大面積にわ
たって均一な組成の結晶を成長させることを目的とし、 高周波磁界発生用コイルの軸がサセプタの基板搭載面に
対して平行してサセプタを貫くように構成する。
本発明は、エピタキシャル成長用、特に有機金属気相成
長に適する気相成長装置に関する。
長に適する気相成長装置に関する。
一般に、高周波磁界によって導電性物体に発生する渦電
流は、磁束の周辺にそって流れるので、ジュール熱は導
電性物体の周辺部にそって発生する。
流は、磁束の周辺にそって流れるので、ジュール熱は導
電性物体の周辺部にそって発生する。
従来の高周波磁界によって加熱される縦型気相成長装置
は、高周波磁界発生用コイルの軸が円形サセプタの回転
軸に沿って平行しているので、磁界の方向がサセプタの
基板搭載面に対して直角となり、サセプタの円周にそっ
て渦電流が発生し、サセプタの温度は中央部が周辺部よ
り低くなり、その上に搭載する基板も温度が不均一とな
る。そのため基板面に衝突して反応するガスの反応量も
不均一となり、エピタキシャル成長相の組成および膜厚
が不均一となる欠点がある。
は、高周波磁界発生用コイルの軸が円形サセプタの回転
軸に沿って平行しているので、磁界の方向がサセプタの
基板搭載面に対して直角となり、サセプタの円周にそっ
て渦電流が発生し、サセプタの温度は中央部が周辺部よ
り低くなり、その上に搭載する基板も温度が不均一とな
る。そのため基板面に衝突して反応するガスの反応量も
不均一となり、エピタキシャル成長相の組成および膜厚
が不均一となる欠点がある。
(1)
(2)
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は、高周波磁界によって加熱される気相成長装置
のサセプタの温度を均一にして、エピタキシャル結晶の
組成の均一性を高めて、大面積にわたって均一な組成を
成長させることを目的とする。
のサセプタの温度を均一にして、エピタキシャル結晶の
組成の均一性を高めて、大面積にわたって均一な組成を
成長させることを目的とする。
上記課題は、高周波磁界によって加熱されるサセプタを
有する気相成長装置であって、高周波磁界発生用コイル
の軸が、サセプタの基板搭載面に対して平行して、サセ
プタを通るように配置されていることを特徴とする装置
によって達成することができる。
有する気相成長装置であって、高周波磁界発生用コイル
の軸が、サセプタの基板搭載面に対して平行して、サセ
プタを通るように配置されていることを特徴とする装置
によって達成することができる。
第1図に示すように、サセプタ1はカーボンディスクで
あって、高周波磁界を発生するコイル2の軸はサセプタ
1の基板搭載面に対して平行してサセプタを貫いている
。カーボンサセプタ1で発生する渦電流は、サセプタ1
の円周方向ではなく、第2図で示すように、A−A’線
断面内でその周辺に沿って発生するので、ジュール熱は
サセプタ断面の表面で均一に発生し、サセプタ、従って
その上の基板の温度の均一性を高めることができる。
あって、高周波磁界を発生するコイル2の軸はサセプタ
1の基板搭載面に対して平行してサセプタを貫いている
。カーボンサセプタ1で発生する渦電流は、サセプタ1
の円周方向ではなく、第2図で示すように、A−A’線
断面内でその周辺に沿って発生するので、ジュール熱は
サセプタ断面の表面で均一に発生し、サセプタ、従って
その上の基板の温度の均一性を高めることができる。
第3図は本発明の気相反応装置の要部の構成を示す断面
図であり、図中、第1図で示したものと同一のものは同
一の記号で示しである。反応ガス導入口5から、反応用
の原料ガスを反応管6内に導入する。サセプタ1は直径
7cm、厚み4cmのカーボンディスクである。高周波
磁界発生用コイル2はその直径が25cmであり、コイ
ル2の軸がサセプタ1の基板搭載面に平行して、サセプ
タ1を貫くように配置しである。反応ガス導入口5から
原料ガスのトリメチルインジウム:トリエチルガリウム
:アルシン:ホスフィンの5 : 1 ニア5 :15
00混合ガスを5QSCCM、キャリアガス水素を80
00SCCMを圧力50Torrで導入し、コイルに出
力10Kw、周波(3) (4) 数10KHzの高周波電流を通した。サセプタの基板搭
載面に近い部分の温度は600℃であった。基板上にエ
ピタキシャル成長したインジウムガリウムヒ素りん結晶
はその厚みおよび組成の均一性をほぼ保つことができた
。
図であり、図中、第1図で示したものと同一のものは同
一の記号で示しである。反応ガス導入口5から、反応用
の原料ガスを反応管6内に導入する。サセプタ1は直径
7cm、厚み4cmのカーボンディスクである。高周波
磁界発生用コイル2はその直径が25cmであり、コイ
ル2の軸がサセプタ1の基板搭載面に平行して、サセプ
タ1を貫くように配置しである。反応ガス導入口5から
原料ガスのトリメチルインジウム:トリエチルガリウム
:アルシン:ホスフィンの5 : 1 ニア5 :15
00混合ガスを5QSCCM、キャリアガス水素を80
00SCCMを圧力50Torrで導入し、コイルに出
力10Kw、周波(3) (4) 数10KHzの高周波電流を通した。サセプタの基板搭
載面に近い部分の温度は600℃であった。基板上にエ
ピタキシャル成長したインジウムガリウムヒ素りん結晶
はその厚みおよび組成の均一性をほぼ保つことができた
。
本発明の気相成長装置によれば、気相成長において基板
の温度、ひいてはその上に成長する大面積の結晶の組成
の均一性に寄与するところが大きい。
の温度、ひいてはその上に成長する大面積の結晶の組成
の均一性に寄与するところが大きい。
第1図は本発明の原理説明図であり、第2図は第1図の
サセプタのA−A’線断面図であり、第3図は本発明の
気相成長装置の要部を示す断面である。 1・・・サセプタ、 2・・・高周波磁界発生用コイル
、3・・・磁束の方向、4・・・渦電流の流れ、5・・
・ガス導入口、6・・・反応管。 (5) 本発明の原理説明図 第 図 4」ヒコを]ト3 第1因のサセプタのA−A’線断面図 第2図 1・・・サセプタ 20番コイル 3・・・磁束の方向 4・・・渦電流の流れ 本発明の気相成長装置の要部断面図 第3図 5・・・ガス等入口 6・・・反応管
サセプタのA−A’線断面図であり、第3図は本発明の
気相成長装置の要部を示す断面である。 1・・・サセプタ、 2・・・高周波磁界発生用コイル
、3・・・磁束の方向、4・・・渦電流の流れ、5・・
・ガス導入口、6・・・反応管。 (5) 本発明の原理説明図 第 図 4」ヒコを]ト3 第1因のサセプタのA−A’線断面図 第2図 1・・・サセプタ 20番コイル 3・・・磁束の方向 4・・・渦電流の流れ 本発明の気相成長装置の要部断面図 第3図 5・・・ガス等入口 6・・・反応管
Claims (1)
- 1、高周波磁界によって加熱されるサセプタを有する気
相成長装置であって、高周波磁界発生用コイルの軸が、
サセプタの基板搭載面に対して平行して、サセプタを貫
くように配置されていることを特徴とする装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2037264A JPH03241733A (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 気体成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2037264A JPH03241733A (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 気体成長装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03241733A true JPH03241733A (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=12492809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2037264A Pending JPH03241733A (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 気体成長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03241733A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011119448A (ja) * | 2009-12-03 | 2011-06-16 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 半導体基板熱処理装置 |
| JP2011187636A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-09-22 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 半導体基板熱処理装置および半導体基板熱処理装置による温度推定方法 |
| JP2011198832A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 半導体基板熱処理装置および半導体基板熱処理装置による温度計測方法 |
| JP4918168B1 (ja) * | 2011-03-31 | 2012-04-18 | 三井造船株式会社 | 誘導加熱装置 |
| JP4980475B1 (ja) * | 2011-03-31 | 2012-07-18 | 三井造船株式会社 | 誘導加熱装置 |
| JP5005120B1 (ja) * | 2012-01-26 | 2012-08-22 | 三井造船株式会社 | 誘導加熱方法 |
-
1990
- 1990-02-20 JP JP2037264A patent/JPH03241733A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011119448A (ja) * | 2009-12-03 | 2011-06-16 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 半導体基板熱処理装置 |
| JP2011187636A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-09-22 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 半導体基板熱処理装置および半導体基板熱処理装置による温度推定方法 |
| JP2011198832A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 半導体基板熱処理装置および半導体基板熱処理装置による温度計測方法 |
| JP4918168B1 (ja) * | 2011-03-31 | 2012-04-18 | 三井造船株式会社 | 誘導加熱装置 |
| JP4980475B1 (ja) * | 2011-03-31 | 2012-07-18 | 三井造船株式会社 | 誘導加熱装置 |
| WO2012132077A1 (ja) * | 2011-03-31 | 2012-10-04 | 三井造船株式会社 | 誘導加熱装置 |
| WO2012132078A1 (ja) * | 2011-03-31 | 2012-10-04 | 三井造船株式会社 | 誘導加熱装置 |
| JP5005120B1 (ja) * | 2012-01-26 | 2012-08-22 | 三井造船株式会社 | 誘導加熱方法 |
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