JPS63153111U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS63153111U JPS63153111U JP4506787U JP4506787U JPS63153111U JP S63153111 U JPS63153111 U JP S63153111U JP 4506787 U JP4506787 U JP 4506787U JP 4506787 U JP4506787 U JP 4506787U JP S63153111 U JPS63153111 U JP S63153111U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical disk
- circuit
- sample
- error signal
- focus error
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
第１図は本考案の光デイスク検査装置の一実施
例を示す構成図、第２図はその作用効果を示す波
形図、第３図は従来の光デイスク検査装置の一例
を示す構成図、第４図は一般的なプリフオーマツ
ト付光デイスクの形態を示す斜視図である。 １……光デイスク、１１……プリフオーマツト
領域、２……スピンドルモータ、３……光ヘツド
、３１……レーザダイオード、３２……集光レン
ズ、３３……レンズアクチユエータ、３４……ト
ラツキングセンサ、３５……フオーカスセンサ、
３６……変位センサ、４……送り機構、５……演
算制御回路、６１，６２……比較回路、７……ゲ
ート回路、８……ローパスフイルタ、９……サン
プルホールド回路、１０……切換えスイツチ。
例を示す構成図、第２図はその作用効果を示す波
形図、第３図は従来の光デイスク検査装置の一例
を示す構成図、第４図は一般的なプリフオーマツ
ト付光デイスクの形態を示す斜視図である。 １……光デイスク、１１……プリフオーマツト
領域、２……スピンドルモータ、３……光ヘツド
、３１……レーザダイオード、３２……集光レン
ズ、３３……レンズアクチユエータ、３４……ト
ラツキングセンサ、３５……フオーカスセンサ、
３６……変位センサ、４……送り機構、５……演
算制御回路、６１，６２……比較回路、７……ゲ
ート回路、８……ローパスフイルタ、９……サン
プルホールド回路、１０……切換えスイツチ。
Claims (1)
- サーボ機構を使用して集光レンズをトラツキン
グ方向およびフオーカス方向に変位させ光デイス
クの読取り状態を維持するとともにこの時の集光
レンズの変位量から光デイスクにおける偏心およ
び振れなどの大きさを測定するようにした光デイ
スク検査装置において、光デイスクの反射率に比
例した信号を一定の基準レベルと比較する比較回
路と、この比較回路の出力に応じてフオーカスエ
ラー信号をサンプルホールドするサンプルホール
ド回路と、このサンプルホールド回路の前段に挿
入されフオーカスエラー信号の立上りを緩和する
ローパスフイルタと、前記比較回路の出力に応じ
てフオーカスエラー信号と前記サンプルホールド
回路の出力信号とを切り換えフオーカスサーボ回
路に供給する切換えスイツチとを具備してなる光
デイスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4506787U JPH0543370Y2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4506787U JPH0543370Y2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63153111U true JPS63153111U (ja) | 1988-10-07 |
| JPH0543370Y2 JPH0543370Y2 (ja) | 1993-11-01 |
Family
ID=30863469
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4506787U Expired - Lifetime JPH0543370Y2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0543370Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-03-27 JP JP4506787U patent/JPH0543370Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0543370Y2 (ja) | 1993-11-01 |
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