JPS6315510A - 水晶振動子 - Google Patents
水晶振動子Info
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- JPS6315510A JPS6315510A JP16065686A JP16065686A JPS6315510A JP S6315510 A JPS6315510 A JP S6315510A JP 16065686 A JP16065686 A JP 16065686A JP 16065686 A JP16065686 A JP 16065686A JP S6315510 A JPS6315510 A JP S6315510A
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- Japan
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- vibration
- frequency
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の利用分野)
本発明は、クリスクルインピーダンス(以下、CIとす
る)等の電気的特性にbれた水晶振動子に係わり、特に
、主振動に対する副振動の発生位置を制御して電気的的
特性を良好にした水晶振動子に関する。
る)等の電気的特性にbれた水晶振動子に係わり、特に
、主振動に対する副振動の発生位置を制御して電気的的
特性を良好にした水晶振動子に関する。
(発明の背景)
水晶振動子は、共振特性の先鋭底を示すQ値が高いこと
から、周波数や時間の基準源として各種の電子PI&器
に多用されろ。特に、切断角度6・所謂ATカットとし
た厚みすべり振動子は、常温付近で平坦な周波数温度特
性を示すので、旧来より通信機型に重用されてきた。近
年では、電子技術、生産技術等の発展により、小型で、
品質に優れた厚みすべり振動子が開発されている。
から、周波数や時間の基準源として各種の電子PI&器
に多用されろ。特に、切断角度6・所謂ATカットとし
た厚みすべり振動子は、常温付近で平坦な周波数温度特
性を示すので、旧来より通信機型に重用されてきた。近
年では、電子技術、生産技術等の発展により、小型で、
品質に優れた厚みすべり振動子が開発されている。
(従来技術)
第1図は、この種の小型な厚みすべり振動子を説明する
図である。なお、第 図(a)は切断方位、同図(b)
は水晶片の図である。
図である。なお、第 図(a)は切断方位、同図(b)
は水晶片の図である。
即ち、この厚みすべり振動子は、水晶片1が結晶軸X、
y1Zのy軸を回転軸、yz!IIIを主面とし、y軸
からZ軸に約35° 15′回転して切断される。そ1
7て、新たにできた軸y′を厚みt、7.’軸を幅w、
x軸を長さdと17、X軸方向に長い矩形状に加工され
ろ。例えば長さd r!!8゜1ml′rI±0.2m
m、幅Wを1.5〜2.3mmに設定される。そして、
厚みLが大きく主振動が低い場合には主面に対してy″
−z’側面を傾斜させたりする。そして、通常では、第
2図(a)の断面図に示したように、例えばX軸方向の
両端部の稜線部を切落とす所謂ベベル処理を施す。また
、両主面あるいは片面を曲面状にするコンベックス処理
を施す(第2図す、c)。このベベルやコンベックス処
理等の面加工は、例えば主振動のCIt!!小さくする
作用がある。また、輪郭系等のスプリアス振動を抑圧し
たり、発生位置を遠ざけたりして主振動に対する影響を
防止する。そして、この面加工の条件が小型化の達成に
大きく寄与する。なお、実際には、両主面に図示しない
電極を形成し、この電極が延出した両端部を保持した構
成とする。
y1Zのy軸を回転軸、yz!IIIを主面とし、y軸
からZ軸に約35° 15′回転して切断される。そ1
7て、新たにできた軸y′を厚みt、7.’軸を幅w、
x軸を長さdと17、X軸方向に長い矩形状に加工され
ろ。例えば長さd r!!8゜1ml′rI±0.2m
m、幅Wを1.5〜2.3mmに設定される。そして、
厚みLが大きく主振動が低い場合には主面に対してy″
−z’側面を傾斜させたりする。そして、通常では、第
2図(a)の断面図に示したように、例えばX軸方向の
両端部の稜線部を切落とす所謂ベベル処理を施す。また
、両主面あるいは片面を曲面状にするコンベックス処理
を施す(第2図す、c)。このベベルやコンベックス処
理等の面加工は、例えば主振動のCIt!!小さくする
作用がある。また、輪郭系等のスプリアス振動を抑圧し
たり、発生位置を遠ざけたりして主振動に対する影響を
防止する。そして、この面加工の条件が小型化の達成に
大きく寄与する。なお、実際には、両主面に図示しない
電極を形成し、この電極が延出した両端部を保持した構
成とする。
(従来技術の欠点)
ところで、前述した面加工は、CI、スプリアス特性以
外の例えば容量比CO/c1、温度特性等の他の電気的
特性にも少ながらず影響を及ぼす、 I/かじ、面加工
時におけろ研摩量は微小な機械量であるため、研摩量を
最適値に制御することは困難であった。即ち、機械的な
測定器の誤差範囲内で、電気的特性に影響を及ぼすから
である。従って、実際には、各仕様毎に経験的な勘に基
づき、面加工、特性測定の繰り返しにより作業が行われ
ていた。特に、周波数等の異なる新規な仕様の場合には
、周波数的に近い他の仕様に基づく思考錯誤により、各
特性を満足させていた。従って、このような面加工では
、歩留りが悪く生産性を低下させていた。そして、仕様
が同一で量産の場合には、品質的にもバラツキも多く、
CIの低下、スプリアス発生等の問題があった。
外の例えば容量比CO/c1、温度特性等の他の電気的
特性にも少ながらず影響を及ぼす、 I/かじ、面加工
時におけろ研摩量は微小な機械量であるため、研摩量を
最適値に制御することは困難であった。即ち、機械的な
測定器の誤差範囲内で、電気的特性に影響を及ぼすから
である。従って、実際には、各仕様毎に経験的な勘に基
づき、面加工、特性測定の繰り返しにより作業が行われ
ていた。特に、周波数等の異なる新規な仕様の場合には
、周波数的に近い他の仕様に基づく思考錯誤により、各
特性を満足させていた。従って、このような面加工では
、歩留りが悪く生産性を低下させていた。そして、仕様
が同一で量産の場合には、品質的にもバラツキも多く、
CIの低下、スプリアス発生等の問題があった。
(発明の目的)
本発明は、生産性に優れ、特に、CIを良好に17でス
プリアスの発生を防止し、電気的性能に優れた小型な水
晶振動子を提供することを目的とする。
プリアスの発生を防止し、電気的性能に優れた小型な水
晶振動子を提供することを目的とする。
(発明の着目点及び解決手段)
本発明は、厚みすべり振動子の主振動と副振動との周波
数差が面加工量に比例して大きくなるととに着目し、主
振動と副振動との周波数差が所定の値のとき良好な電気
的特性を得ることができろことを発見し、 厚み系の振動が励起される水晶片のX軸及びZ′軸方向
の長さ!と幅Wとの辺比1/wを3.52から5.40
の範囲内に設定した水晶振動子において、この水晶片の
主振動と副振動との発生周波数の差Δfmが Δfm=2435×e−””5F′ ±10%((F
3. L、eは自然対数における底値で略2.76、F
は単位をM Hとした主振動の周波数値)になる面加工
を施したことを解決手段とする。
数差が面加工量に比例して大きくなるととに着目し、主
振動と副振動との周波数差が所定の値のとき良好な電気
的特性を得ることができろことを発見し、 厚み系の振動が励起される水晶片のX軸及びZ′軸方向
の長さ!と幅Wとの辺比1/wを3.52から5.40
の範囲内に設定した水晶振動子において、この水晶片の
主振動と副振動との発生周波数の差Δfmが Δfm=2435×e−””5F′ ±10%((F
3. L、eは自然対数における底値で略2.76、F
は単位をM Hとした主振動の周波数値)になる面加工
を施したことを解決手段とする。
なお、上記副振動とは、主振動に対して発生する厚み系
のインバーミニツク振動で、ここでは主振動に最も近接
した副振動をいう。
のインバーミニツク振動で、ここでは主振動に最も近接
した副振動をいう。
(発明の作用)
本発明は、主振動と副振動との周波数差Δfmを
Δf m 二2435 X e ±10%
に設定したので、面加工量を電気的な周波数量として検
出し、加工精度を高めろ一作用がある。以下、本発明の
詳細な説明する。
に設定したので、面加工量を電気的な周波数量として検
出し、加工精度を高めろ一作用がある。以下、本発明の
詳細な説明する。
(実施例)
なお、実施例の説明では、前述した第1図及び第2図、
及び実験に基づく第3図以降の図を参照して説明する。
及び実験に基づく第3図以降の図を参照して説明する。
水晶振動子は、第1図で説明したように、結晶軸X軸を
回転軸として約35°152回転して切断されるATカ
ット水晶片1からなる。水晶片1はx、y、z軸方向を
それぞれ長さ11厚みt1幅Wとし、X軸方向に細長い
矩形状に形成されろ。なお、各寸法は、前述したように
、X軸方向の長さ1を8.1±0.2mm、z’軸方向
の幅Wを1.5〜2.3mmとする。
回転軸として約35°152回転して切断されるATカ
ット水晶片1からなる。水晶片1はx、y、z軸方向を
それぞれ長さ11厚みt1幅Wとし、X軸方向に細長い
矩形状に形成されろ。なお、各寸法は、前述したように
、X軸方向の長さ1を8.1±0.2mm、z’軸方向
の幅Wを1.5〜2.3mmとする。
第3図(a)はこの水晶振動子の共振特性図、同図(b
)はX軸方向の両端にベベル加工を施したときの面加工
量に対する主振動f0と副振動f1との周波数差Δfを
示す図である。即ち、この図では、主振動f0に対し副
振動f、が発生(7、ベペル加工量に比例して1振@J
t oから副搬%f、が遠ざかり周波数差Δfが大きく
なることを示している。
)はX軸方向の両端にベベル加工を施したときの面加工
量に対する主振動f0と副振動f1との周波数差Δfを
示す図である。即ち、この図では、主振動f0に対し副
振動f、が発生(7、ベペル加工量に比例して1振@J
t oから副搬%f、が遠ざかり周波数差Δfが大きく
なることを示している。
第4図は主振動f0と副振動f、どの周波数差△fを横
軸、縦軸を主振動r0のCI値としたCI特性図である
。なお、図中の曲線(イ)は主振動の周波数を略8.6
MHz、(ロ)は略8.OMHz、(ハ)は7.2MH
zとしたCI特性である。即ち、曲線(イ)では主振動
と副振動との周波数差Δfが略135 K Hz、曲線
(ロ)では周波数差が150KHz、曲線(ハ)では2
30KHz、とき、CIの最小値をそれぞれ15にΩ、
20にΩ、30にΩとした二次曲線的になる。そして、
図示しない実験の結果でも、主振動f0の周波数に関係
なく所定の周波数差ΔfのときCI値が最小になること
が判明した。なお、主振動の周波数が高いほどCIの最
小値は小さくなる。
軸、縦軸を主振動r0のCI値としたCI特性図である
。なお、図中の曲線(イ)は主振動の周波数を略8.6
MHz、(ロ)は略8.OMHz、(ハ)は7.2MH
zとしたCI特性である。即ち、曲線(イ)では主振動
と副振動との周波数差Δfが略135 K Hz、曲線
(ロ)では周波数差が150KHz、曲線(ハ)では2
30KHz、とき、CIの最小値をそれぞれ15にΩ、
20にΩ、30にΩとした二次曲線的になる。そして、
図示しない実験の結果でも、主振動f0の周波数に関係
なく所定の周波数差ΔfのときCI値が最小になること
が判明した。なお、主振動の周波数が高いほどCIの最
小値は小さくなる。
第5図は1振@Jtoの周波数とCI値を最小にする周
波数差Δfrnとの関係を示す図である。なお、横軸を
主振動の周波数f1縦軸を1振@Jf。
波数差Δfrnとの関係を示す図である。なお、横軸を
主振動の周波数f1縦軸を1振@Jf。
と副振動f、の周波数差△frnとしている。即ち、こ
の図から明らかなように、1振@Jr oのCI値が最
小になる周波数差Δfmは、主振動f0の周波数が高く
なると指数関数的に小さくなる。例えば主振動が7.1
5MHzてはΔfmが230K HZ、 8 、 OM
Hy、では150 K H7,1R、6M HZでは
135 K H7,となろ。次式は、この図から導かれ
た1振@f、のCIQ最小にする周波数差Δ「mの実験
式である。即ち、 Δf m = 2435 X e−0、335F±+o
X。
の図から明らかなように、1振@Jr oのCI値が最
小になる周波数差Δfmは、主振動f0の周波数が高く
なると指数関数的に小さくなる。例えば主振動が7.1
5MHzてはΔfmが230K HZ、 8 、 OM
Hy、では150 K H7,1R、6M HZでは
135 K H7,となろ。次式は、この図から導かれ
た1振@f、のCIQ最小にする周波数差Δ「mの実験
式である。即ち、 Δf m = 2435 X e−0、335F±+o
X。
となる。1口17、Cは自然対数における底値て略2.
76、Fは単位をMHzとした主振動の周波数値である
。
76、Fは単位をMHzとした主振動の周波数値である
。
以上から、この実施例では、上記実験式を満足する周波
数差にベベル加工量を規定すれば、最小のCI値を得る
ことができろ。なお、実用上は、第5図の破線に示した
ように水晶片の寸法精度や実験誤差を考慮し、実験式の
±10%の領域であればよい。
数差にベベル加工量を規定すれば、最小のCI値を得る
ことができろ。なお、実用上は、第5図の破線に示した
ように水晶片の寸法精度や実験誤差を考慮し、実験式の
±10%の領域であればよい。
この実験式を利用し、例えば主振動f。の周波数を8
、64 M Hzとしたい場合には、F=8゜64を代
入してΔfm=135KHzを得る。従って、この周波
数差に基づいて、水晶片にベベル加工を施せばよいので
、作業を容易にしバラツキを少なくすることができる。
、64 M Hzとしたい場合には、F=8゜64を代
入してΔfm=135KHzを得る。従って、この周波
数差に基づいて、水晶片にベベル加工を施せばよいので
、作業を容易にしバラツキを少なくすることができる。
即ち、従来の経験と勘による加工量を電気的な周波数量
17て高精度に検出できるからである。そして、この実
施例では、この実験式を満足すると、例えば容量比01
/COや温度特性等の他の電気的特性をも良好になるこ
とが確認された。
17て高精度に検出できるからである。そして、この実
施例では、この実験式を満足すると、例えば容量比01
/COや温度特性等の他の電気的特性をも良好になるこ
とが確認された。
(他の事項)
なお、上記実施例では、面加工としてベベル処理とした
が、例えばコンベックス処理等の他の面加工であっても
、本実験式は適用される。そして、水晶片の長さl及び
幅Wの寸法は、外形形状が相似であれば同様な特性を得
ることから、辺比d/Wが3.52から5.40であれ
ば同様な効果を奏する。
が、例えばコンベックス処理等の他の面加工であっても
、本実験式は適用される。そして、水晶片の長さl及び
幅Wの寸法は、外形形状が相似であれば同様な特性を得
ることから、辺比d/Wが3.52から5.40であれ
ば同様な効果を奏する。
(発明の効果)
本発明は、厚み系の振動が励起されろ水晶片のX軸及び
Z′軸方向の長さdと幅Wとの辺比d/Wを3.52か
ら5.40の範囲内に設定(7た水晶振動子において、
この水晶片の主振動と副振動との発生周波数の差Δfm
が Δf m= 2435 X e−””” ±10%
(IQシ、eは自然対数における底値で略2.76、F
は単位をM Hzとした主振動の周波数値)になる面加
工を施したので、 効果として生産性及びCI、スプリアス特性等の電気的
性能を向上させ、実用上の価値が極めて高い水晶振動子
を提供できる。
Z′軸方向の長さdと幅Wとの辺比d/Wを3.52か
ら5.40の範囲内に設定(7た水晶振動子において、
この水晶片の主振動と副振動との発生周波数の差Δfm
が Δf m= 2435 X e−””” ±10%
(IQシ、eは自然対数における底値で略2.76、F
は単位をM Hzとした主振動の周波数値)になる面加
工を施したので、 効果として生産性及びCI、スプリアス特性等の電気的
性能を向上させ、実用上の価値が極めて高い水晶振動子
を提供できる。
は切断方位、同図(b)は水晶片の図である。第2図は
面加工を施(7た水晶片の断面図で、同図(n)はベベ
ル処理、1m図(b)(e)!:iコンベックス処理を
示す図である。第3図(a)は主振動に対する副振動の
発生を示す図、同図(b)は面加工量に対する主振動と
副振動との周波数差を示す図、第4図は主振動に対する
副振動の周波数差と主振動のCIとの関係を示すCI特
性図、第5図は各周波数におけろ主振動のCIを最小に
する主振動と副振動との周波数差を示す図である。
面加工を施(7た水晶片の断面図で、同図(n)はベベ
ル処理、1m図(b)(e)!:iコンベックス処理を
示す図である。第3図(a)は主振動に対する副振動の
発生を示す図、同図(b)は面加工量に対する主振動と
副振動との周波数差を示す図、第4図は主振動に対する
副振動の周波数差と主振動のCIとの関係を示すCI特
性図、第5図は各周波数におけろ主振動のCIを最小に
する主振動と副振動との周波数差を示す図である。
u、1.、、u。
第3図
fo fs MHz(b
) 面加工量 第4図
) 面加工量 第4図
Claims (1)
- (1)厚み系の振動が励起される水晶片のx軸及びz’
軸方向の長さd及び幅wとの辺比d/wが3.52から
5.40の範囲内にある水晶振動子において、主振動と
副振動との発生周波数の差Δfmが Δfm=2435×e^−^0^、^3^3^5^F±
10%(但し、eは自然対数における底値で略2.76
、Fは単位をMHzとした主振動のた周波数値)になる
面加工が施されたことことを特徴とする水晶振動子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61160656A JP2864242B2 (ja) | 1986-07-08 | 1986-07-08 | 水晶振動子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61160656A JP2864242B2 (ja) | 1986-07-08 | 1986-07-08 | 水晶振動子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6315510A true JPS6315510A (ja) | 1988-01-22 |
| JP2864242B2 JP2864242B2 (ja) | 1999-03-03 |
Family
ID=15719650
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61160656A Expired - Lifetime JP2864242B2 (ja) | 1986-07-08 | 1986-07-08 | 水晶振動子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2864242B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02112309A (ja) * | 1988-10-20 | 1990-04-25 | Seiko Electronic Components Ltd | 矩形状atカット水晶振動子 |
| JPH02198213A (ja) * | 1988-04-11 | 1990-08-06 | Matsushima Kogyo Co Ltd | オーバートーン用矩形状atカット水晶振動子の製造方法 |
| JPH02198212A (ja) * | 1988-04-11 | 1990-08-06 | Matsushima Kogyo Co Ltd | 矩形状atカット水晶振動子の製造方法 |
| JP2008118685A (ja) * | 2007-12-03 | 2008-05-22 | Seiko Epson Corp | 水晶ブランクの製造方法及び、水晶ブランクを利用した水晶振動子の製造方法 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54151389A (en) * | 1978-05-19 | 1979-11-28 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Crystal oscillator of rectangular at cut |
| JPS5575323A (en) * | 1978-12-01 | 1980-06-06 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Thickness shear oscillator |
| JPS5669918A (en) * | 1979-11-13 | 1981-06-11 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Rectangular at cut quartz oscillator |
| JPS5671321A (en) * | 1979-11-15 | 1981-06-13 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Thickness slip oscillator |
| JPS58171119A (ja) * | 1982-04-01 | 1983-10-07 | Kinseki Kk | 水晶振動子 |
-
1986
- 1986-07-08 JP JP61160656A patent/JP2864242B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| JP2008118685A (ja) * | 2007-12-03 | 2008-05-22 | Seiko Epson Corp | 水晶ブランクの製造方法及び、水晶ブランクを利用した水晶振動子の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2864242B2 (ja) | 1999-03-03 |
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