JPS6315784Y2 - - Google Patents
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- JPS6315784Y2 JPS6315784Y2 JP1982077693U JP7769382U JPS6315784Y2 JP S6315784 Y2 JPS6315784 Y2 JP S6315784Y2 JP 1982077693 U JP1982077693 U JP 1982077693U JP 7769382 U JP7769382 U JP 7769382U JP S6315784 Y2 JPS6315784 Y2 JP S6315784Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- counting
- signal
- circuit
- switch
- microprocessor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は流体用の流量計等の器差試験のデータ
処理装置に関する。流体、例えば石油類等の取引
証明用あるいは管理用に使用する容積式流量計は
法的あるいは自主的な定期的器差試験を必要とさ
れている。また、その流量計に自動温度補正装置
が付属する場合、その自動温度補正装置について
も同様に器差試験が必要とされている。
処理装置に関する。流体、例えば石油類等の取引
証明用あるいは管理用に使用する容積式流量計は
法的あるいは自主的な定期的器差試験を必要とさ
れている。また、その流量計に自動温度補正装置
が付属する場合、その自動温度補正装置について
も同様に器差試験が必要とされている。
ここで云う器差試験とは、流量計および自動温
度補正装置を基準となるものと比較し、精度を確
認することである。
度補正装置を基準となるものと比較し、精度を確
認することである。
まづ従来より実施されている器差試験について
説明する。
説明する。
容積式流量計を検定する際には、第1図に示す
ように、被試験用流量計2の下流側に器差が既知
の基準となる流量計3とバルブ4とを直列に接続
し、配管1に矢印で示す方向に測定されるべき流
体を流し下記のような手順で検定作業を実施して
いた。
ように、被試験用流量計2の下流側に器差が既知
の基準となる流量計3とバルブ4とを直列に接続
し、配管1に矢印で示す方向に測定されるべき流
体を流し下記のような手順で検定作業を実施して
いた。
(1) 基準流量計3の読しとストツプウオツチによ
り流速を測り、所要の流速になるようバルブ4
の開度を調節する。
り流速を測り、所要の流速になるようバルブ4
の開度を調節する。
(2) 流速が所要の値になつたら、次に被試験流量
計2と基準流量計3の各々の始めの指示値を同
時に読む。
計2と基準流量計3の各々の始めの指示値を同
時に読む。
(3) 一定時間(最底1分以上)経過後、合図のよ
り同時に二つの流量計のその時の指示値を読
む。
り同時に二つの流量計のその時の指示値を読
む。
(4) 手計算により被試験流量計2の器差を計算す
る。
る。
(5) 上記(2)〜(4)の作業を2〜3回繰り返す。
(6) 被試験流量計2の流速の使用限界の上限、中
間および下限の3点において、上記(1)〜(5)の作
業を繰り返す。
間および下限の3点において、上記(1)〜(5)の作
業を繰り返す。
以上の如き従来の検定方法では、
(1) 流速調整が難しく、時間を要する。
(2) 少なくとも2〜3名の熟練者を必要とする。
(3) 読み取り誤差、計算間違い等の発生の可能性
がある。
がある。
などの欠点があつた。
また、取引証明用の流量計等のごとく、流体量
をある基準温度(石油類の場合は15℃)における
容積で表示する必要がある場合、基準温度におけ
る容積に換算するために、流量計に自動温度補正
装置が付設され、これも上記流量計と同様に検定
の対象となる。
をある基準温度(石油類の場合は15℃)における
容積で表示する必要がある場合、基準温度におけ
る容積に換算するために、流量計に自動温度補正
装置が付設され、これも上記流量計と同様に検定
の対象となる。
この自動温度補正装置は流量計から流量値を入
力し、一方で計測すべき流体の温度を測定して予
め組み込まれてある当該流体の容積換算係数を用
いて、基準温度における流量値に換算して出力す
る装置である。
力し、一方で計測すべき流体の温度を測定して予
め組み込まれてある当該流体の容積換算係数を用
いて、基準温度における流量値に換算して出力す
る装置である。
従来の自動温度補正装置の器差試験方法を機械
式自動温度補正装置を例として説明する。
式自動温度補正装置を例として説明する。
第2図を参照して、恒温槽5を所定の温度に保
持し、温度検出部6を挿入し、その際の温度補正
値7および自動温度補正装置8の非補正値8′の
指示を読む。その後回転手段9に所定の流量にな
る迄回転を与え、そして回転を止めて、最終の各
指示を読み取り、この指示より手計算にして器差
を計算する。
持し、温度検出部6を挿入し、その際の温度補正
値7および自動温度補正装置8の非補正値8′の
指示を読む。その後回転手段9に所定の流量にな
る迄回転を与え、そして回転を止めて、最終の各
指示を読み取り、この指示より手計算にして器差
を計算する。
このような従来の試験方法においても、上記流
量計の場合に発生したと略同様の欠点があつた。
量計の場合に発生したと略同様の欠点があつた。
本考案の目的は、上記従来の器差試験において
発生した欠点を克服し、被試験流量計および基準
流量計の各々にパルス発信器を装置しこのパルス
を同時に入力して演算し自動的に器差が表示され
る流量計器差試験データ処理装置を提供するにあ
り、本考案により1名の検定者により読み取り誤
差や計算違いもなく、迅速な器差試験が可能とな
つた。また本考案により自動温度補正装置の器差
試験も流量計と同様に能率よく正確かつ迅速に実
施できる。
発生した欠点を克服し、被試験流量計および基準
流量計の各々にパルス発信器を装置しこのパルス
を同時に入力して演算し自動的に器差が表示され
る流量計器差試験データ処理装置を提供するにあ
り、本考案により1名の検定者により読み取り誤
差や計算違いもなく、迅速な器差試験が可能とな
つた。また本考案により自動温度補正装置の器差
試験も流量計と同様に能率よく正確かつ迅速に実
施できる。
つぎに本考案について、実施例により、図面を
参照しつつ説明する。流量計の器差試験の場合
は、第3図に示すように、配管1に被試験流量計
2、基準流量計3およびバルブ4を直列に接続
し、この各流量計2および3にパルス発信器2a
および3aをそれぞれ装着し、リード線2b,3
bによりそれぞれデータ処置装置10に接続され
る。
参照しつつ説明する。流量計の器差試験の場合
は、第3図に示すように、配管1に被試験流量計
2、基準流量計3およびバルブ4を直列に接続
し、この各流量計2および3にパルス発信器2a
および3aをそれぞれ装着し、リード線2b,3
bによりそれぞれデータ処置装置10に接続され
る。
本考案実施例のデータ処理装置10を第4図の
ブロツク図で示す。その各構成要素は下記の通り
である。
ブロツク図で示す。その各構成要素は下記の通り
である。
11:波形整形回路A
被試験器のパルス発信器2aからのパルス信号
又は温度補正装置の出力側のパルス信号を受信
し、計数積算回路に入力可能なようにパルス波を
整形し、計数積算回路A13へ送信する波形整形
回路。
又は温度補正装置の出力側のパルス信号を受信
し、計数積算回路に入力可能なようにパルス波を
整形し、計数積算回路A13へ送信する波形整形
回路。
12:波形整形回路B
基準器のパルス発信器3aからのパルス信号又
は温度補正装置の入力側のパルス信号を受信し、
計数積算回路に入力可能なようにパルス波を整形
し、計数積算回路B14と流速用計数回路15へ
送信する波形整形回路。
は温度補正装置の入力側のパルス信号を受信し、
計数積算回路に入力可能なようにパルス波を整形
し、計数積算回路B14と流速用計数回路15へ
送信する波形整形回路。
13:計数積算回路A
波形整形回路A11からのパルス信号を受信
し、パルス数をカウントし、パルス数/量目変換
スイツチ17から予め入力されている変換係数を
用いて積算流量に変換し、積算値信号を積算値表
示器A21とマイクロプロセツサ27へ送信する
計数積算回路。
し、パルス数をカウントし、パルス数/量目変換
スイツチ17から予め入力されている変換係数を
用いて積算流量に変換し、積算値信号を積算値表
示器A21とマイクロプロセツサ27へ送信する
計数積算回路。
14:計数積算回路B
波形整形回路B12からのパルス信号を受信
し、上記計数積算回路Aの場合と同様にして積算
値信号を積算値表示器B22とマイクロプロセツ
サ27へ送信する計数積算回路。
し、上記計数積算回路Aの場合と同様にして積算
値信号を積算値表示器B22とマイクロプロセツ
サ27へ送信する計数積算回路。
15:流速用計数回路
波形整形回路B12からのパルス信号を受信
し、パルス数をカウントし、クロツク16から一
定時間毎に送信されて来る時間信号とパルス数/
量目変換スイツチ17から予め入力されている変
換係数を用いて流速に換算し、流速値信号をマイ
クロプロセツサ27へ送信する流速用計数回路。
し、パルス数をカウントし、クロツク16から一
定時間毎に送信されて来る時間信号とパルス数/
量目変換スイツチ17から予め入力されている変
換係数を用いて流速に換算し、流速値信号をマイ
クロプロセツサ27へ送信する流速用計数回路。
16:クロツク
一定時間毎に流速用計数回路15へ時間信号を
発信するクロツク。
発信するクロツク。
17:パルス数/量目変換スイツチ
パルス数を流量に変換するための係数を予め入
力しておき、計数積算回路A13およびB14な
らびに流速用計数回路15、へ送信するパルス
数/量目変換スイツチ。
力しておき、計数積算回路A13およびB14な
らびに流速用計数回路15、へ送信するパルス
数/量目変換スイツチ。
18:積算値設定スイツチ
一回に計測しようとする流量を予め設定して、
マイクロプロセツサ27へ送信する積算値設定ス
イツチ。
マイクロプロセツサ27へ送信する積算値設定ス
イツチ。
19:係数入力スイツチ
検定に使用する基準流量計の器差(既知)を1
から引いた数又は実流量を基準温度の容積に換算
する係数を予め入力して、マイクロプロセツサ2
7へ送信する係数入力スイツチ。
から引いた数又は実流量を基準温度の容積に換算
する係数を予め入力して、マイクロプロセツサ2
7へ送信する係数入力スイツチ。
20:スタートスイツチ
計測開始命令を入力し、計数積算回路A13お
よびB14ならびにマイクロプロセツサ27へ送
信するスタートスイツチ。
よびB14ならびにマイクロプロセツサ27へ送
信するスタートスイツチ。
21:積算値表示器A
計数積算回路A13からの積算値信号を受信
し、表示する積算値表示器。
し、表示する積算値表示器。
22:積算値表示器B
計数積算回路B14からの積算値信号を受信
し、表示する積算値表示器。
し、表示する積算値表示器。
23:ストツプスイツチ
計測中に、流量が積算値が予め設定された値に
達する前の任意の時点で計測を終了させる命令を
入力し、計数積算回路A13およびB14ならび
にマイクロプロセツサ27へ送信するストツプス
イツチ。
達する前の任意の時点で計測を終了させる命令を
入力し、計数積算回路A13およびB14ならび
にマイクロプロセツサ27へ送信するストツプス
イツチ。
24:器差演算スイツチ
一回の計測終了後、計算命令を入力しマイクロ
プロセツサ27へ送信する器差演算スイツチ。
プロセツサ27へ送信する器差演算スイツチ。
25:印字スイツチ
計算終了後、印字命令を入力しマイクロプロセ
ツサ27へ送信する印字スイツチ。
ツサ27へ送信する印字スイツチ。
26:リセツトスイツチ
印字終了後、リセツト命令を入力し、積算表示
器A21およびB22ならびにマイクロプロセツ
サ27へ送信するリセツトスイツチ。
器A21およびB22ならびにマイクロプロセツ
サ27へ送信するリセツトスイツチ。
27:マイクロプロセツサ
計数積算回路A13およびB14からの各々の
積算値信号と、流速用計数回路15からの流速値
信号と、積算値設定スイツチ18からの設定流量
信号と、係数入力スイツチ19からの基準器器差
補正信号又は換算係数信号と、スタートスイツチ
20からの計測開始命令と、ストツプスイツチ2
3からの計測終了命令と、器差演算スイツチ24
からの計算命令と、印字スイツチ25からの印字
命令と、リセツトスイツチ26からのリセツト命
令を入力とし、予め入力してあるプログラムに従
つて演算処理を行い、計数積算回路A13および
B14への積算開始又は終了命令と、流速表示器
28への流速値信号と、被試験器器差表示器29
および印字装置30への器差数値信号と、印字装
置30への基準器器差補正信号又は換算係数信号
および計数積算回路A13側の積算値信号および
計数積算回路B14側の積算値信号および計測中
の平均流速値信号を出力とするマイクロプロセツ
サ。
積算値信号と、流速用計数回路15からの流速値
信号と、積算値設定スイツチ18からの設定流量
信号と、係数入力スイツチ19からの基準器器差
補正信号又は換算係数信号と、スタートスイツチ
20からの計測開始命令と、ストツプスイツチ2
3からの計測終了命令と、器差演算スイツチ24
からの計算命令と、印字スイツチ25からの印字
命令と、リセツトスイツチ26からのリセツト命
令を入力とし、予め入力してあるプログラムに従
つて演算処理を行い、計数積算回路A13および
B14への積算開始又は終了命令と、流速表示器
28への流速値信号と、被試験器器差表示器29
および印字装置30への器差数値信号と、印字装
置30への基準器器差補正信号又は換算係数信号
および計数積算回路A13側の積算値信号および
計数積算回路B14側の積算値信号および計測中
の平均流速値信号を出力とするマイクロプロセツ
サ。
28:流速表示器
マイクロプロセツサ27からの流速値信号を受
信してこれを表示する流速表示器。
信してこれを表示する流速表示器。
29:被試験器器差表示器
マイクロプロセツサ27からの器差数値信号を
受信してこれを表示する被試験器器差表示器。
受信してこれを表示する被試験器器差表示器。
30:印字装置
マイクロプロセツサ27からの器差数値信号と
基準器器差補正信号又は換算係数信号と計数積算
回路A側と積算値信号と、計数積算回路B側の積
算値信号と、計測中の平均流速値信号を受信し
て、これ等を印字する印字装置。
基準器器差補正信号又は換算係数信号と計数積算
回路A側と積算値信号と、計数積算回路B側の積
算値信号と、計測中の平均流速値信号を受信し
て、これ等を印字する印字装置。
31:パルス発信回路
パルス信号を、計数積算回路A13およびB1
4ならびに流速用計数回路へ送信し、装置全体が
正常に作動するか否かを診断するためのパルス発
信回路。
4ならびに流速用計数回路へ送信し、装置全体が
正常に作動するか否かを診断するためのパルス発
信回路。
すなわち、本考案の実施例のデータ処理装置は
上記11ないし31の各要素と、さらに第3図に
示すように以下の格納容器と電源によつて構成さ
れる。
上記11ないし31の各要素と、さらに第3図に
示すように以下の格納容器と電源によつて構成さ
れる。
32:格納容器
上記11〜31をコンパクトに格納して携帯可
能とする小型格納容器。
能とする小型格納容器。
33:電源回路
上記11〜31の作動用電力を供給するため
の、バツテリーを内蔵して携帯可能とした電源回
路。
の、バツテリーを内蔵して携帯可能とした電源回
路。
ただし、場合によつて、下記の事項を考慮しても
よい。
よい。
(1) 被試験器等からのパルス信号が計数積算回路
AおよびBに直接入力可能な場合は、波形整形
回路AおよびBは省略してもよい。
AおよびBに直接入力可能な場合は、波形整形
回路AおよびBは省略してもよい。
(2) 流速値を必要としない場合又は既知の場合は
流速用計数回路、クロツクおよび流速表示器は
省略してもよい。
流速用計数回路、クロツクおよび流速表示器は
省略してもよい。
(3) パルス数/量目変換スイツチ、係数入力スイ
ツチおよび積算値設定スイツチはデジタルスイ
ツチの使用が適当である。
ツチおよび積算値設定スイツチはデジタルスイ
ツチの使用が適当である。
(4) 計測中の任意の時点での終了が必要なけれ
ば、ストツプスイツチは省略してもよい。
ば、ストツプスイツチは省略してもよい。
(5) 本装置機能のチエツクのため適当なパルス信
号を他から得られる場合は、パルス発信回路を
省略してもよい。
号を他から得られる場合は、パルス発信回路を
省略してもよい。
(6) 電源回路を含めて全体を1個の携帯容器にま
とめてもよい。
とめてもよい。
つぎに、本考案装置の使用方法について実施例
により説明する。
により説明する。
第3図および第4図に示す如く、予め被試験流
量計2の下流側に基準流量計3およびバルブ4を
設置し、被試験流量計2のパルス信号線を波形整
形回路A11の入力端子へ、基準流量計3のパル
ス信号線を波形整形回路B12の入力端子へそれ
ぞれ接続し、本装置の電源をオンにしておく。
量計2の下流側に基準流量計3およびバルブ4を
設置し、被試験流量計2のパルス信号線を波形整
形回路A11の入力端子へ、基準流量計3のパル
ス信号線を波形整形回路B12の入力端子へそれ
ぞれ接続し、本装置の電源をオンにしておく。
(1) パルス数/量目変換スイツチ17に1パルス
当りの流量値を入力し、係数入力スイツチ19
に基準流量計3の器差(既知)を1から引いた
数値即ち基準器器差補正値を入力する。
当りの流量値を入力し、係数入力スイツチ19
に基準流量計3の器差(既知)を1から引いた
数値即ち基準器器差補正値を入力する。
(2) 流速表示器28の表示値を見ながら、バルブ
4の開度を調節し、所要の流速にする。
4の開度を調節し、所要の流速にする。
(3) 積算値設定スイツチ18に、1回の計測中に
流す予定の流量値を入力する(最底1分以上流
すようにする。) (4) スタートスイツチ20を押し、計測を開始す
る。
流す予定の流量値を入力する(最底1分以上流
すようにする。) (4) スタートスイツチ20を押し、計測を開始す
る。
(5) 上記(3)で設定した流量だけ流れると、積算値
表示器A21およびB22の表示値が停止し、
計測が終了した事を示す。
表示器A21およびB22の表示値が停止し、
計測が終了した事を示す。
(6) 器差演算スイツチ24を押すと、演算処理を
行い、被試験器器差表示器29に求める器差が
表示される。
行い、被試験器器差表示器29に求める器差が
表示される。
(7) 印字スイツチ25を押し、印字装置30に計
測結果をプリントさせる。
測結果をプリントさせる。
(8) リセツトスイツチ26を押し、積算値表示器
A21およびB22ならびに被試験器器差表示
器29の表示を零に戻す。
A21およびB22ならびに被試験器器差表示
器29の表示を零に戻す。
(9) 被試験流量計2の流速の使用限界の上限、中
間および下限の3点において上記(2)〜(8)の作業
を行う。
間および下限の3点において上記(2)〜(8)の作業
を行う。
さらに、本考案装置の動作について実施例によ
り説明する。第3,4図を参照して、波形整形回
路A11は被試験流量計2のパルスを受け入れ
て、ノイズ等を除去するなど計数積算回路に入力
可能な状態に整形して出力する。
り説明する。第3,4図を参照して、波形整形回
路A11は被試験流量計2のパルスを受け入れ
て、ノイズ等を除去するなど計数積算回路に入力
可能な状態に整形して出力する。
計数積算回路A13には予めパルス数/量目変
換スイツチ17から1パルス当りの流量が入力さ
れているので、スタートスイツチ20からスター
ト命令が入り次第計数を開始し、波形整形回路A
11からのパルスの計数を開始し、入力パルス数
を遂次流量に変換しながら、この流量値を積算値
表示器A21およびマイクロプロセツサ27へ出
力する。マイクロプロセツサ27又はストツプス
イツチ23からストツプ命令が入力されると計数
動作を停止する。
換スイツチ17から1パルス当りの流量が入力さ
れているので、スタートスイツチ20からスター
ト命令が入り次第計数を開始し、波形整形回路A
11からのパルスの計数を開始し、入力パルス数
を遂次流量に変換しながら、この流量値を積算値
表示器A21およびマイクロプロセツサ27へ出
力する。マイクロプロセツサ27又はストツプス
イツチ23からストツプ命令が入力されると計数
動作を停止する。
積算値表示器A21は計数積算回路A13が作
動している限り積算流量計を更新し続け、計数積
算回路A13の動作が停止すると、その時の積算
流量値を表示したまゝとなる。リセツトスイツチ
26からリセツト命令が入力されると帰零する。
動している限り積算流量計を更新し続け、計数積
算回路A13の動作が停止すると、その時の積算
流量値を表示したまゝとなる。リセツトスイツチ
26からリセツト命令が入力されると帰零する。
波形整形回路B12、計数積算回路B14およ
び積算値表示器B22は、基準流量計からのパル
スを受け、前述のA系列同様の動作を行う。な
お、波形整形回路B12は流速用計数回路15へ
も同時に出力パルスを送る。
び積算値表示器B22は、基準流量計からのパル
スを受け、前述のA系列同様の動作を行う。な
お、波形整形回路B12は流速用計数回路15へ
も同時に出力パルスを送る。
流速用計数回路15には予め計数積算回路B1
4と同様に1パルス当りの流量値が入力されてい
るので、クロツク16からの時間信号と波形整形
回路B12からのパルス数によつて単位時間当り
の流量値が入力されているので、クロツク16か
らの時間信号と波形整形回路B12からのパルス
数によつて単位時間当りの流量即ち流速を計算
し、流速値をマイクロプロセツサ27へ送る。
4と同様に1パルス当りの流量値が入力されてい
るので、クロツク16からの時間信号と波形整形
回路B12からのパルス数によつて単位時間当り
の流量値が入力されているので、クロツク16か
らの時間信号と波形整形回路B12からのパルス
数によつて単位時間当りの流量即ち流速を計算
し、流速値をマイクロプロセツサ27へ送る。
マイクロプロセツサ27には予め必要なプログ
ラムを読み込ませておき、次の順序で処理を行わ
せる。
ラムを読み込ませておき、次の順序で処理を行わ
せる。
(1) 波形整形回路B12に基準流量計3のパルス
が入力し始めると、流速用計数回路15から定
期的(数秒程度の間隔で)に流速値が入力され
るので、その都度、流速値表示器28へ流速値
を送る。
が入力し始めると、流速用計数回路15から定
期的(数秒程度の間隔で)に流速値が入力され
るので、その都度、流速値表示器28へ流速値
を送る。
(2) スタートスイツチ20からのスタート命令に
より、計数積算回路A13およびB14の動作
を開始させ、両回路からの積算値を読み込む。
同時に、既に定期的に入力されている流速値を
記憶し始める。
より、計数積算回路A13およびB14の動作
を開始させ、両回路からの積算値を読み込む。
同時に、既に定期的に入力されている流速値を
記憶し始める。
(3) 計数積算回路B14から入力と積算値設定ス
イツチ18から予め入力された流量値を比較
し、等しくなつた時点で計数積算回路Aおよび
Bの作動を停止させ、同時に流速値の記憶も停
止する。
イツチ18から予め入力された流量値を比較
し、等しくなつた時点で計数積算回路Aおよび
Bの作動を停止させ、同時に流速値の記憶も停
止する。
(4) 器差演算スイツチ24からの計算命令によ
り、次式によつて被試験流量計2の器差を計算
する。
り、次式によつて被試験流量計2の器差を計算
する。
E=I−a・Q/I
たゞし、
E=被試験流量計の器差
I=計数積算回路Aからの流量積算値
Q=計数積算回路Bからの流量積算値
a=係数入力スイツチから予め入力された基準
器器差補正値 (5) 前記(2)からのスイツチから(3)のストツプまで
間に記憶した流速の平均値を計算する。
器器差補正値 (5) 前記(2)からのスイツチから(3)のストツプまで
間に記憶した流速の平均値を計算する。
(6) 積算中にストツプスイツチ23から停止命令
が入力されると、前記(3)と同様に積算および流
速の記憶を中止し、(4)および5の動作を行う。
が入力されると、前記(3)と同様に積算および流
速の記憶を中止し、(4)および5の動作を行う。
(7) 被試験器器差表示器29へ(4)で計算した器差
を送信し、表示させる。
を送信し、表示させる。
(8) 印字スイツチ25からの印字命令により、流
速の平均値、基準器器差補正値、被試験流量計
2の流量積算値、基準流量計3への流量積算値
および被試験流量計2の器差を印字装置30へ
送信し、印字させる。
速の平均値、基準器器差補正値、被試験流量計
2の流量積算値、基準流量計3への流量積算値
および被試験流量計2の器差を印字装置30へ
送信し、印字させる。
(9) リセツトスイツチ26からのリセツト命令に
より、被試験器器差表示器29を帰零させる。
本装置の動作が正常か否かをチエツクするとき
は、パルス発信回路31を作動させる事によ
り、診断することができる。
より、被試験器器差表示器29を帰零させる。
本装置の動作が正常か否かをチエツクするとき
は、パルス発信回路31を作動させる事によ
り、診断することができる。
つぎに本考案のデータ処理装置を使用して行な
う機械式自動温度補正装置の検定について、その
実施例により説明する。
う機械式自動温度補正装置の検定について、その
実施例により説明する。
第3図および第4図を参照して;
(1) 検定すべき自動温度補正装置8の入力軸9′
(流量計からの流量値に応じて回転する)と出
力部7に各々パルス発信器9a,7aを付設
し、入力軸9′側のパルス信号を波形整形回路
B12の入力端子へ、出力側のパルス信号を波
形整形回路A11の入力端子へそれぞれ接続
し、電源をオンにする。
(流量計からの流量値に応じて回転する)と出
力部7に各々パルス発信器9a,7aを付設
し、入力軸9′側のパルス信号を波形整形回路
B12の入力端子へ、出力側のパルス信号を波
形整形回路A11の入力端子へそれぞれ接続
し、電源をオンにする。
自動温度補正装置8の温度検出部6は恒温槽
中5に投入しておく。
中5に投入しておく。
(2) 恒温槽5の温度を所定の温度(自動温度補正
装置8の使用温度範囲の上限、中間および下限
の3点で各々試験を実施する)に保つ。
装置8の使用温度範囲の上限、中間および下限
の3点で各々試験を実施する)に保つ。
(3) 自動温度補正装置8の入力軸9′を任意の方
法で回転させ、補正動作を行わせる。
法で回転させ、補正動作を行わせる。
入力軸9′のパルス発信器9aは、入力軸
9′の回転数によつて与えられた仮想の未補正
流量値に比例するパルス数を波形整形回路B1
2へ送る。同時に、出力側のパルス発信器7a
は、恒温槽の温度による容積換算を行つた流量
値は比例するパルス数を波形整形回路A11へ
送信する。
9′の回転数によつて与えられた仮想の未補正
流量値に比例するパルス数を波形整形回路B1
2へ送る。同時に、出力側のパルス発信器7a
は、恒温槽の温度による容積換算を行つた流量
値は比例するパルス数を波形整形回路A11へ
送信する。
入力軸9′の回転数は10000パルス相当分くら
いが望ましい。
いが望ましい。
(4) 器差演算スイツチ24を押すと、演算処理を
行い、被試験器器差表示器29に求める器差が
表示される。
行い、被試験器器差表示器29に求める器差が
表示される。
自動温度補正装置8の器差は次式によつて計
算される。
算される。
F=I−b・Q/I
たゞし、
F=自動温度補正装置の器差
I=計数積算回路Aからの流量積算値
Q=計数積算回路Bからの流量積算値
b=係数入力スイツチから予め入力された容積
換算係数 (5) 印字スイツチ25を押し、印字装置30に計
測結果をプリントさせる。
換算係数 (5) 印字スイツチ25を押し、印字装置30に計
測結果をプリントさせる。
(6) リセツトスイツチ26を押し、積算値表示器
A21およびB22ならびに被試験器器差表示
器29の表示を零に戻す。
A21およびB22ならびに被試験器器差表示
器29の表示を零に戻す。
本装置は容積式流量計およびこれに付設された
自動温度補正装置の検定に使用できるのみなら
ず、マイクロプロセツサに所要のプログラムを読
みこませておくことによつて、2個の状態量の検
出機構になんらかの方法でパルス発信器を付設す
るならば、2個の状態量の比較作業を簡単に行う
ことができる。
自動温度補正装置の検定に使用できるのみなら
ず、マイクロプロセツサに所要のプログラムを読
みこませておくことによつて、2個の状態量の検
出機構になんらかの方法でパルス発信器を付設す
るならば、2個の状態量の比較作業を簡単に行う
ことができる。
本考案装置によれば、容積式流量計の器差試験
および自動温度補正装置の器差試験等におけるデ
ータ処理の迅速化が可能となり、従来の手計算に
よる間違いを防止でき、従来は2〜3名の熟練し
た試験要員を必要としたが、1名で試験ができる
ようになつた。さらに装置を携持可能としたため
運搬が便利である。
および自動温度補正装置の器差試験等におけるデ
ータ処理の迅速化が可能となり、従来の手計算に
よる間違いを防止でき、従来は2〜3名の熟練し
た試験要員を必要としたが、1名で試験ができる
ようになつた。さらに装置を携持可能としたため
運搬が便利である。
第1図は従来の流量計の器差試験の説明図、第
2図は従来の自動温度補正装置の器差試験の説明
図、第3図は本考案装置を使用する流量計器差試
験の1実施例の説明図、第4図は本考案の実施例
のブロツク図、第5図は本考案装置を使用する自
動温度補正装置の器差試験の1実施例の説明図で
ある。 11……波形整形回路A、12……波形整形回
路B、13……計数積算回路A、14……計数積
算回路B、15……流速用計数回路、16……ク
ロツク、17……パルス数/量目変換スイツチ、
18……積算値設定スイツチ、19……係数入力
スイツチ、20……スタートスイツチ、21……
積算値表示器A、22……積算値表示器B、23
……ストツプスイツチ、24……器差演算スイツ
チ、25……印字スイツチ、26……リセツトス
イツチ、27……マイクロプロセツサ、28……
流速表示器、29……被試験器器差表示器、30
……印字装置、31……パルス発信回路、32…
…格納容器、33……電源回路。
2図は従来の自動温度補正装置の器差試験の説明
図、第3図は本考案装置を使用する流量計器差試
験の1実施例の説明図、第4図は本考案の実施例
のブロツク図、第5図は本考案装置を使用する自
動温度補正装置の器差試験の1実施例の説明図で
ある。 11……波形整形回路A、12……波形整形回
路B、13……計数積算回路A、14……計数積
算回路B、15……流速用計数回路、16……ク
ロツク、17……パルス数/量目変換スイツチ、
18……積算値設定スイツチ、19……係数入力
スイツチ、20……スタートスイツチ、21……
積算値表示器A、22……積算値表示器B、23
……ストツプスイツチ、24……器差演算スイツ
チ、25……印字スイツチ、26……リセツトス
イツチ、27……マイクロプロセツサ、28……
流速表示器、29……被試験器器差表示器、30
……印字装置、31……パルス発信回路、32…
…格納容器、33……電源回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 被試験器からのパルス信号を受信し、パルス
数をカウントし、パルス数/量目変換スイツチ
から予め入力されている変換係数を用いて積算
流量に変換し、積算値信号を積算値表示器Aと
マイクロプロセツサへ送信する計数積算回路A
と、基準器からのパルス信号を受信し、上記計
数積算回路Aの場合と同様にして積算値信号を
積算値表示器Bとマイクロプロセツサへ送信す
る計数積算回路Bと、 パルス数を流量に変換するための係数を予め
入力しておき、計数積算回路AおよびBへ送信
するパルス数/量目変換スイツチと、 一回に計測しようとする流量を予め設定し
て、マイクロプロセツサへ送信する積算値設定
スイツチと、 検定に使用する基準器の器差(既知)を1か
ら引いた数又は実流量を基準温度の容積に換算
する係数を予め入力して、マイクロプロセツサ
へ送信する係数入力スイツチと、 計測開始命令を入力し、計数積算回路Aおよ
びBならびにマイクロプロセツサへ送信するス
タートスイツチと、 計数積算回路Aからの積算値信号を受信し、
表示する積算値表示器Aと、 計数積算回路Bからの積算値信号を受信し、
表示する積算値表示器Bと、 一回の計測終了後、計算命令を入力しマイク
ロプロセツサへ送信する器差演算スイツチと、 計算終了後、印字命令を入力しマイクロプロ
セツサへ送信する印字スイツチと、 印字終了後、リセツト命令を入力し、積算表
示器AおよびBならびにマイクロプロセツサへ
送信するリセツトスイツチと、 計数積算回路AおよびBからの各々の積算値
信号と、積算値設定スイツチからの設定流量信
号と、係数入力スイツチからの基準器器差補正
信号又は換算係数信号と、スタートスイツチか
らの計測開始命令と、器差演算スイツチからの
計算命令と、印字スイツチからの印字命令と、
リセツトスイツチからのリセツト命令を入力と
し、予め入力してあるプログラムに従つて演算
処理を行い、計数積算回路AおよびBへの積算
開始又は終了命令と、被試験器器差表示器およ
び印字装置への器差数値信号と、印字装置への
基準器器差補正信号又は換算係数信号および計
数積算回路A側の積算値信号および計数積算回
路B側の積算値信号を出力とするマイクロプロ
セツサと、マイクロプロセツサからの器差数値
信号を受信してこれを表示する被試験器器差表
示器と、マイクロプロセツサからの器差数値信
号と基準器器差補正信号又は換算係数信号と計
数積算回路A側の積算値信号と計数積算回路B
側の積算値信号とを受信して、これ等を印字す
る印字装置とを備えたことを特徴とする流量計
等の器差試験データ処理装置。 2 被試験器からのパルス信号又は温度補正装置
の出力側のパルス信号を受信し、計数積算回路
に入力可能なようにパルス波を整形し、計数積
算回路Aへ送信する波形整形回路と、 基準器からのパルス信号又は温度補正装置の
入力側のパルス信号を受信し、計数積算回路に
入力可能なようにパルス波を整形し、計数積算
回路Bへ送信する波形整形回路とを備えたこと
を特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記
載のデータ処理装置。 3 基準器からパルス信号を直接または波形整形
回路Bを介して受信し、パルス数をカウント
し、クロツクから一定時間毎に送信されて来る
時間信号とパルス数/量目変換スイツチから予
め入力されている変換係数を用いて流速に換算
し、流速値信号をマイクロプロセツサへ送信す
る流速用計数回路と、 一定時間毎に流速用計数回路へ時間信号を発
信するクロツクと、 マイクロプロセツサからの流速値信号を受信
してこれを表示する流速表示器とを備えたこと
を特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項な
いし第2項いずれかに記載のデータ処理装置。 4 計測中に、流量の積算値が予め設定された値
に達する前の任意の時点で計測を終了させる命
令を入力し、計数積算回路AおよびBならびに
マイクロプロセツサへ送信するストツプスイツ
チを備えたことを特徴とする実用新案登録請求
の範囲第1項ないし第3項いずれかに記載のデ
ータ処理装置。 5 前記パルス数/量目変換スイツチ、係数入力
スイツチおよび積算値設定スイツチの一部ある
いは全部がデジタルスイツチであることを特徴
とする実用新案登録請求の範囲第1項ないし第
4項いずれかに記載のデータ処理装置。 6 パルス信号を、計数積算回路AおよびBある
いは計数積算回路AおよびBならびに流速用計
数回路へ送信し、装置全体が正常に作動するか
否かを診断するためのパルス発信回路を備えた
ことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1
項ないし第5項いずれかに記載のデータ処理装
置。 7 温度補正装置の出力側のパルス信号を直接ま
たは間接に前記計数積算回路Aに、また温度補
正装置の入力側のパルス信号を直接または間接
に前記計数積算回路Bにそれぞれ受信し、温度
補正装置の検定を行なうようにしたことを特徴
とする実用新案登録請求の範囲第1項ないし第
6項いずれかに記載のデータ処理装置。 8 前記各構成要素を小型格納容器に格納して携
帯可能としたことを特徴とする実用新案登録請
求の範囲第1項ないし第7項いずれかに記載の
データ処理装置。 9 前記各構成要素に作動用電力を供給するため
の携帯可能な電源回路を備えたことを特徴とす
る実用新案登録請求の範囲第1項ないし第8項
いずれかに記載のデータ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7769382U JPS58180421U (ja) | 1982-05-28 | 1982-05-28 | 流量計等の器差試験デ−タ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7769382U JPS58180421U (ja) | 1982-05-28 | 1982-05-28 | 流量計等の器差試験デ−タ処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58180421U JPS58180421U (ja) | 1983-12-02 |
| JPS6315784Y2 true JPS6315784Y2 (ja) | 1988-05-06 |
Family
ID=30086944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7769382U Granted JPS58180421U (ja) | 1982-05-28 | 1982-05-28 | 流量計等の器差試験デ−タ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58180421U (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5815043B2 (ja) * | 1978-01-19 | 1983-03-23 | トキコ株式会社 | 流量計測装置 |
-
1982
- 1982-05-28 JP JP7769382U patent/JPS58180421U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58180421U (ja) | 1983-12-02 |
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