JPS63163860A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

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JPS63163860A
JPS63163860A JP61315563A JP31556386A JPS63163860A JP S63163860 A JPS63163860 A JP S63163860A JP 61315563 A JP61315563 A JP 61315563A JP 31556386 A JP31556386 A JP 31556386A JP S63163860 A JPS63163860 A JP S63163860A
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JP
Japan
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layer
electrophotographic photoreceptor
photoconductive
charge generation
superlattice structure
Prior art date
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Application number
JP61315563A
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English (en)
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Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Publication date
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08264Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐
環境性等が優れた電子写真感光体に関する。
[従来の技術] 水素(H) を含有するアモルファスシリコン(以下、
a−8t:Hと略す)は、近年、光電変換材料として注
目されておシ、太陽電池、薄膜トランジスタ、及びイメ
ージセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体として
応用されている。
従来、電子写真感光体の光導電層を構成する材料として
、CdS 、 ZnO5Se、若しくは5o−To等の
無機材料又はポIJ + N−ビニルカルバゾール(P
VCZ)若しくはトリニトロフルオレノン(TNF)等
の有機材料が使用されていた。しかしながら、a−81
:Hはこれらの無機材料又は有機材料に比して、無公害
物質であるため回収処理の必裂かないこと、可視光領域
で高い分光感度を有すること、並びに表面硬度が高く耐
磨耗性及び耐衝撃性が優れていること等の利点を有して
いる。このため、a−8t:Hは電子写真fc!セスの
感光体として注目されている。
このa−8i*Hに、カールソン方式に基づく感光体と
して検討が進められているが、この場合、感光体特性と
して抵抗及び光感度が高いことが要求される。しかしな
がら、この両特性を単一の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁層
を設け、かつ光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層
型の構造にすることにより、このような要求を満足させ
ている。
[発明が解決しようとする問題点] ところで、*−81:Hは、通常、シラン系ガスを使用
したグロー放電分解法によフ形成されるが、この際に、
a−8l:H膜中に水素が取シ込まれ、水素量の差によ
シミ気的及び光学的特性が大きく変動%4 する。即ち、a−8t:H膜に侵入する水蓄の量が多く
なると、光学的バンドギャップが大きくなフ、a−81
:Hの抵抗が高くなるが、それにともない、長波長光に
対する光感度が低下してしまうので、例えば、半導体レ
ーデを搭載したレーデビームプリンタに使用することが
困難である。また、a−8i:H膜中の水素の含有量が
多くなると、成膜条件にょって%  (SiH2)n及
び51)I2等の結合構造を有するものが膜中で大部分
の領域を占める場合がある。そうすると、がイドが増加
し、シリコンダングリング〆ンドが増加するため、光導
電特性が劣化し、電子写真感光体として使用不能になる
。逆に、a−81:H中に取込まれる水素の量が低下す
ると、光学的バンドギャップが小さくなシ、その抵抗が
小さくなるが、長波長光に対する光感度が増加する。
しかし、水素含有量が少ないと、シリコンダングリング
ゲ/ドと結合してこれを減少させるべき水素が少なくな
る。このため、発生するキャリアの移動匿が低下し、寿
命が短くなると共に、光導電特性が劣化してしまい、電
子写真感光体として使用し難いものとなる。
このように、電子写真感光体の光導電1を単一のa−8
1:H層のみで構成したのでは、a−81:H層の製造
条件によって特性が大きく変化し、望ましい特性が得ら
れないという問題がある。
この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れておシ、残留電位が低く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。
[発明の構成コ (問題点を解決するための手段) 本発明者らは、種々研究を重ねた結果、電子写真感光体
の光導電層を電荷保持層と電荷発生層とによシ構成し、
そのうち電荷発生層を、所定の複数の微結晶シリ−/膜
の積層即ち超格子構造によシ構成し、電荷保持層を所定
の複数の非晶質シリコン膜の積層即ち超格子構造にょ)
構成することにより、上記目的を達成し得ることを見出
し、本発明を完成するに至っ九。
即ち、本発明の電子写真感光体は、導電性支持体と光導
電層とを有する電子写真感光体において、前記光導電層
は電荷発生層と電荷保持層とを有し、前記電荷発生層の
少なくとも一部は、炭素、酸素および窒素から選ばれた
元素の少なくとも1種を含み、かつその濃度が異なる複
数の微結晶シリコン膜を交互に積層して構成されておシ
、前記電荷保持層の少なくとも1部は、非結晶シリコン
膜と炭素、酸素および窒素から選ばれた元素の少なくと
も1種を含む非晶質シリコン膜とを交互に積層して構成
されていることを特徴とする。
微結晶シリコン膜間の炭素等の濃度差は0.5〜10面
子チが好ましく、1〜5原子−がよシ好ましい。
本発明において用いる微結晶シリコン(μc−81)は
、粒径が数十オンゲストqムの微結晶化したシリコンと
非晶質シリコンとの混合層によシ形成されているものと
考えられ、以下のような物性上の特徴を有している。第
一に、X線回析測定では20が28〜28.5°付近に
ある結晶回折パターンを示α以上に調整することができ
、暗抵抗が150・はの?リクリスタリンシリコンから
も明確に区別される。
本発明で用いる上記μe−81の光学的バンドギヤラグ
(Egつは、例えば1.55 eVとするのが望ましい
。しかし、一定の範囲で任意に設定することができる。
望ましいEg6を得るために夫々に所要蓋の水素を添加
し、μa−8t : Hとして使用するのが好ましい。
これによシ、シリコンのダングリング?ンドが補償され
、暗抵抗と明抵抗との調和がとれ、光導電特性が向上す
る。
なお、実際のμc−81膜は、製造東件等の具体的な要
因によって弱いP型またはN型を帯びることが多い(特
にN型になシ易い)。そこで、超格子構造を形成する几
めに必要なI型とするために、夫々逆の導電型を有する
不純物を軽くドープして前記のP型またはN型を打消す
のが望ましい。
(作用) 本発明の電子写真感光体では、光導電層に前記超格子構
造が設けられているため、この領域では発生したキャリ
アの寿命が長く、移動度も大きくなる。その理論につい
ては未だ充分に確立しているとは言えないが、超格子構
造に特徴的な周期的井戸型ポテンシャルによる量子効果
であることは疑いがなく、これは特に超格子効果といわ
れる。
こうして光導電層での中ヤリアの移動度が大きくな夛、
またキャリアの寿命が長くなることによって電子写真感
光体の感度は著しく向上することになる。
(実施例) 第1図は、本発明の一実施例に係る電子写真感光体の断
面構造を示す図である。同図において、導電性支持体1
の上に障壁層2が形成され、その上に電荷保持層5およ
び電荷発生層6からなる光導電層3が形成されている。
また、電荷発生層6の上に表面層4が形成されている。
なお、電荷保持層5および電荷発生層6はいずれも超格
子構造を有している。
第2図〜第4図は、本発明の他の実施例に係る電子写真
感光体の断面構造を示す。第2図に示す感光体では、電
荷発生層の一部が超格子構造を有し、第3図に示す感光
体でに、電荷保持層の一部が超格子構造を有し、第4図
に示す感光体では、電荷発生層および電荷保持層のそれ
ぞれ一部が超格子構造を有している。
以下、第1図に示す電子写真感光体の構成について、よ
シ詳細に説明する。
導電性支持体1は、通常はアルミニウム製のドラムで構
成される。
障壁層2はμc−81やa−8t:Hを用いて形成して
もよく、またa−BN:H(窒素および水素を添加した
アモルファス硼素)を使用してもよい。更に、絶縁性の
膜を用いてもよい。例えば、μc−8l : H及びa
−8i :Hに炭素C1窒素N及び酸素0から選択され
た元素の一種以上を含有させることによフ、高抵抗の絶
縁性障壁層を形成することができる。障壁層2の膜厚は
100X〜10μmが好ましい。
上記障壁層2は、導電性支持体1と電荷発生層5との間
の電荷の流れを抑制することにより感光体表面の電荷保
持機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成され
るものである。従って、半導体層を障壁層に用いてカー
ルソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電さ
せた電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2を
P型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電させ
る場合には障壁層2をP型とし、表面電荷を中和する電
子が電荷発生層に注入されるのを防止する。
逆に表面に負帯電させる場合には障壁層2をN型とし、
表面電荷を中和するホールが電荷発生層へ注入されるの
を防止する。障壁層2から注入されるギヤリアは光の入
射で電荷発生層6内に発生するキャリアに対してノイズ
となるから、上記のようにしてキャリアの注入を防止す
ることは感度の向上をもたらす。なお、Ae −8i 
:H+a−8t :Ht P型にするためには、周期律
表の第1族に属する元素、例えば硼素B、アルミニウム
At 、ガリウムG1゜インジウムIn、及びタリクム
Tt等をドーピングすることが好ましい。また、μc−
81:H+a−8i :HをN型にするためには周期律
表の第V族に属する元素、例えば窒素、燐P、砒素As
、アンチモンsb、及びビスマス81等をドーピングす
ることが好ましい。
電荷発生層6は、光の入射によシキャリアを発生し、こ
のキャリアは、一方の極性のものが感光体表面の帯電電
荷と中和し、他方のものが電荷保持層5内を走行して導
電性支持体1に到達する。
電荷保持層5および電荷発生層6は、第5図にその断面
を拡大して示すように、μa−8i又はa−8tからな
る薄層11と薄層12とを交互に積層して構成されてい
る。薄層11.12は、光学的バンドギャップが相違し
、それぞれ厚みが30〜200Xの範囲にある。
第6図は横軸に厚み方向をとシ、縦軸に光学的バンドギ
ャップをとって示す超格子構造のエネルギバンド図であ
る。このように、光学的バンドギャップが相互に異なる
薄層を積層することによって、光学的バンドギヤフグの
大きさ自体に拘シなく、光学的バンドギャップが小さい
層を基準にして光学的バンドギャップが大きな層がバリ
アとなる周期的なポテンシャルバリアを有する超格子構
造が形成される。この超格子構造においては、バリア薄
層が極めて薄いので、薄層におけるキャリアのトンネル
効果によシ、キャリアはバリアを通過して超格子構造中
を走行する。また、とのような超格子構造においては、
光の入射によ多発生するキャリアの数が多い、従りて、
光感度が高い、なお、超格子構造の薄層のバンドギャッ
プと層厚を変更することによフ、ヘテロ接合超格子構造
を有する層のみかけのバンドギャップを自由に調整する
ことができる。
電荷保持層5および電荷発生層6を構成するa−81:
Hおよびμc−81:[における水素の含有量は、0.
01〜30原子俤が好1しく、1〜25原子チがよシ好
ましい。このような水素の含有量にょ)、シリコンのダ
ングリングボンドが補償され、暗抵抗と明抵抗とが調和
のとれ友ものとな〕、光導電特性が向上する。
a−at:H層をグロー放電分解法により成膜するには
、原料としてSIH,及びs t 2H5等の7ラン類
ガスを反応室に導入し、高周波にょジグロー放電するこ
とによフ薄層中にHt−添加することができる。
必要に応じて、シラン類の中ヤリアガスとして水素又は
ヘリタムをガスを使用することができる。
一方、5IF4.l’/ス及び5ict4ガス等のハロ
ゲン化ケイ素を原料ガスとして使用することができる。
また、シラン類ガスとへロデフ化ケイ素ガスとの混合ガ
スで反応させても、同様にHを含有するa−81,Hを
成膜することができる。なお、グロー放電分解法によら
ず、例えば、ス、pJ?ツタリング等の物理的な方法に
よってもこれ等の薄層を形成することができる。
μC−81層も、a−81:Hと同様に、高周波グロー
放電分解法によシ、シランガスを原料として、成膜する
ことができる。この場合に、支持体の温度をa−8i:
Hを形成する場合よ〕も高く設定し、高周波電力もa 
−S 1: Hの場合よりも高く設定すると、μC−8
1:H1形成しやすくなる。マ九、支持体温度及び高周
波電力を高くすることによシ、シランがスなどの原料ガ
スの流量を増大させることができ、その結果、成膜速度
を早くすることができる。また、原料ガスの5tH4及
びS1□H6等の高次のシランガスを水素で希釈したガ
スを使用することによシ、μa−8i:Hを一層高効率
で形成することができる。
μc−81:H及びa−81:Hf:P型にするために
は、周期律表の第1族に属する元素、例えば、ホク素B
アルミニクムht 、ガリウムGa 、インジウムIn
及びタリウムTt等をドーピングすることが好ましく、
μe−81:H及びa−8i:Ht−n型にするために
は、周期律表の第V族に属する元素、例えば、窒素N。
リンP、ヒ素As 、アンチモンSb1及びビスマスB
i等をドーピングすることが好ましい。このp型不純物
又はn型不純物のP−ピングによシ、支持体側から光導
電層へ電荷が移動することが防止される。一方、μc−
81:H及びa−81:Hに、炭素C1窒素N及び酸素
0から選択された少なくとも1種の元素を含有させるこ
とによシ、高抵抗とし、表面電荷保持能力を増大させる
ことができる。これら元素の含有量は5〜40原子チ、
好ましくに10〜30原子チである。
電荷発生層6の上に表面層4が設けられている。
電荷発生層6のμc−81:H等は、その屈折率が3乃
至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起きや
すい。このような光反射が生じると、光導電層又は電荷
発生層に吸収される光量の割合いが低下し、光損失が大
きくなる。このため、表面層4を設けて反射を防止する
ことが好ましい。また、表面層4を設けることにより、
電荷発生層6が損傷から保護される。さらに、表面層を
形成することにより、帯電能が向上し、表面に電荷がよ
くのるよりになる。表面層を形成する材料としては、a
−8IN:I(s  a−810:H%及びa−8iC
:H等の無機化合物並びにポリ塩化ビニル及びポリアミ
ド等の有機材料がある。
このように構成される電子写真感光体の表面を、コロナ
放電によシ約5oovの正電圧で帯電させると、第7図
に示すように、ポテンシャルバリアが形成される。この
感光体に光(hν)が入射すると、電荷発生層6の超格
子構造で電子と正孔の中ヤリアが発生する。この伝導帯
の電子は、感光体中の電界によ〕、表面層4側に向けて
加速され、正孔は導電性支持体1側に向けて加速される
。この場合に、光学的バンドギャップが相違する薄層の
境界で発生するキャリアの数は、バルクで発生するキャ
リアの数よフも極めて多い。このため、この超格子構造
においては、光感度が高い。また、ポテンシャルの井戸
層においては、量子効果のために、超格子構造でない単
一層の場合に比して、キャリアの寿命が5乃至10倍と
長い。更に、超格子構造においては、バンドギャップの
不連続性によシ、周期的なバリア層が形成されるが、キ
ャリアはトンネル効果で容易にバイアス層を通シ抜ける
ので、キャリアの実効移動度はバルクにおける移動度と
同等であシ、キャリアの走行性が優れている。
電荷保持層5の場合も同様に、?テンシャル井戸層にお
いては、量子効果の九めに、超格子構造でない単一層の
場合に比して、キャリアの寿命が5乃至10倍と長い。
−!な、超格子構造においては、バンドギャップの不連
続性により、周期的なバリア層が形成されるが、キャリ
アはトンネル効果で容易にバイアス層を通シ抜けるので
、キャリアの実効移動度はバルクにおける移動度と同等
であり、キャリアの走行性が優れている。以上のごとく
、光学的バンドギャップが相違する薄層を積層した超格
子構造によれば、高光導電特性を得ることができ、従来
の感光体よシも鮮明な画像を得ることかできる。
以下に第6図を参照し、上記実施例の電子写真感光体を
グロー放電法により製造する装置、並びに製造方法を説
明する。同図において、ガスゲンベ21.22.23.
24には、例えば夫々S iH,。
B2I(6,H2,CH4等の原料ガスが収容されてい
る。
これらfス?ンペ内のガスは、流量調整用のパルプ26
及び配管27を介して混合器28に供給されるようにな
っている。各?ンペには圧力計25が設置されており、
該圧力計25を監視しつつパル126を調整することに
より混合器28に供給する各原料ガスの流量及び混合比
を調節できる。
混合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給さ
れる。反応容器29の底部31には1回転軸3Qが鉛直
方向の回りに回転可能に取付けられている。該回転軸3
0の上端に、円板状の支持台32がその面を回転軸30
に垂直にして固定されている。反応容器29内には、円
筒状の電極33がその軸中心を回転軸30の軸中心と一
致させて底部31上に設置されている。感光体のドラム
基体34が支持台32上にその軸中心を回転軸30の軸
中心と一致させて載置されておシ、このドラム基体34
の内側にはドラム基体加熱用のヒータ35が配設されて
いる。電極33とドラム基体34との間には高周波電源
36が接続されておシ、電極33およびドラム基体34
間に高周波電流が供給されるようになっている。回転軸
30はモータ38によシ回転駆動される。反応容器29
内の圧力は圧力計37によシ監視され、反応容器29は
r−)パルプ38t−介して真空−ング等の適宜の排気
手段に連結されている。
上記製造装置によフ感光体を製造する場合には、反応容
器29内にドラム基体34を設置した後、ダートパルプ
39を開にして反応容器29内を約0、1 Torrの
圧力以下に排気する。次いで、がンペ21.22,23
.24から所要の反応ガスを所定の混合比で混合して反
応容器29内に導入する。
この場合に、反応容器29内に導入するガス流量は反応
容器29内の圧力が0.1乃至1.0 Torrになる
ように設定する。次いで、モータ38を作動させてドラ
ム基体34を回転させ、ヒータ35によりドラム基体3
4を一定温度に加熱すると共に、高周波電源36により
電極33とドラム基体34との間に高周波電流を供給し
て、両者間にグロー放電を形成する。これによシ、ドラ
ム基体34上にa−81:Hが堆積する。なお、原料ガ
ス中にN20゜NH,、NO,、N2.CH,、C2H
4,O□がス等を使用することによシ、これらの元素を
a−81:H中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。
次に、この発明に係る電子写真感光体を成膜し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。
試験例1 必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80u1幅が
3500のアルミニウム製ドラム基体を反応容器内に装
着し、反応容器を約10−5トルの真空度に排気した。
ドラム基体を250°0に加熱し、  10 rpmで
自転させつつ、SiH4ガスを500800M% B2
H6ガス15SiH4ガスに対する流量比で10.CH
4ガスを1008CCMという流量で反応容器内に導入
し、反応容器内の圧力を1トルに調節した。そして、1
3.56 MHzの高周波電力を印加してプラズマを生
起させ、ドラム基体上にP型のa−8iC:H障壁層を
形成した。
次に、放電を一旦停止し、NH3,ガス流量を1208
CCM導入し、反応圧力を1.2トルに調節し、500
Wの高周波電力を印加して、100Xのa−8iN:H
薄層を形成した。次いで、SiH4ガスを5003CC
Mの流量で、B2H6181)[4ガスに対する流量比
で10 となるような流量で反応容器内に導入し、50
0Wの高周波電力を印加して、100Xのa−81:H
薄層を形成し几。このような操作を繰り返して、600
層の&−3IN:H層と600層のa−8l:H薄層と
を交互に積層し、ヘテロ接合超格子構造の電荷保持層を
12μm形成した。
次いで、SiH4ガスを50 SCCM、  H2ガス
を450応圧力t−1,2Torrに調節して800W
の高周波電力を印加し、100Xのμe−8IC:H薄
膜(炭素濃度0.5原子%)を形成した。次に、0M4
ガスの流量t−9SCCMに増加し、100Xのμc−
81C:H薄膜(炭素濃度8原子ts)を形成した。こ
のような操作を繰返して、炭素濃度が異なる250層の
μc−81C:H薄膜と250層のμe−8iC:Hと
を交互に積層し、ヘテロ接合超格子構造の5μmの電荷
発生層を形成した。
次いで、狭面層として0.5μmのa−8iC:H層を
形成した。
このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
電し、白色光を露光すると、この光は電荷発生層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿命が
高く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品
質の画像が得られた。また、この試験例で製造された感
光体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性及
び安定性は極めて良好であシ、更に、耐コロナ性。
耐湿性、及び耐磨耗性等の耐久性が優れていることが実
証された。
このようにして製造された感光体は、半導体レーデの発
振波長である780乃至790 nmの長波長光に対し
ても高い感度を有する。この感光体を半導体レーデプリ
ンタに搭載してカールソンプロセスによシ画像を形成し
たところ、感光体表面の露光量が25 @rg tx2
である場合でも、鮮明で高解像度の画像を得ることがで
きた。
試験例2 電荷保持層の構成層の一つである100Xのa−8IN
:H薄層の代わ夛に100Xのa−stc:a薄層を形
成したことを除いて、試験例1と同様にして電子写真感
光体を製造した。
なお、a−8tC:H薄層は、CH4ガス流量を75S
CCMに設定し、反応容器内圧力を1.2 Torrに
調節し、500Wの高周波電力を印加することによシ得
られた。
この感光体を繰返し帯電したところ、転写画像の再現性
及び安定性が高く、耐コロナ性、耐湿性、及び耐磨耗性
などの耐久性が優れていた。
なお、上記試験例においては、電荷発生層の厚みが5μ
mであり九が、これに限らず、1又は3μm等に設定し
ても感光体として実用可能である。
また、薄層の種類は、上記試験例のように2種類に限ら
ず、3種類以上の薄層を積層しても良く、要するに、光
学的パ/ドギャップが相違する薄層の境界を形成すれば
良い。
[発明の効果] この発明によれば、光導電層の一部又は全部に、光学的
バンドギャップが相互に異なる薄層を積層して構成され
る超格子構造を使用するから、可視光から近赤外光の広
い波長領域に亘って高感度であシ、キャリアの走行性が
高いと共に、高抵抗で帯電特性が優れた電子写真感光体
を得ることができる。特に、この発明においては、薄層
を形成する材料を適宜組み合わせることによシ、任意の
波長帯の光に対して最適の光導電特性を有する感光体を
得ることができるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例民係る電子写真感光体を示す
断面図、第2図〜第4図は同じく他の実施例に係る電子
写真感光体を示す断面図、第5図は第1図及び第4図の
一部拡大断面図、第6図は超格子構造のエネルイ/(ン
ドを示す図、第7図はこの発明の実施例に係る電子写真
感光体の製造装置を示す図、第8図は感光体のエネルギ
ギャップを示す模式図である。 1・・・導電性支持体、2・・・障壁層、3・・・光導
電層、4・・・表面層、5・・・電荷輸送層、6・・・
電荷発生層、11.12・・・薄層。 出願人代理人 弁理土鈴 江 武 彦 第1図    第2図 第3図     第4図 第5@

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性支持体と光導電層とを有する電子写真感光
    体において、前記光導電層は電荷発生層と電荷保持層と
    を有し、前記電荷発生層の少なくとも一部は、炭素、酸
    素および窒素から選ばれた元素の少なくとも1種を含み
    、かつその濃度が異なる複数の微結晶シリコン膜を交互
    に積層して構成されており、前記電荷保持層の少なくと
    も1部は、非結晶シリコン膜と炭素、酸素および窒素か
    ら選ばれた元素の少なくとも1種を含む非晶質シリコン
    膜とを交互に積層して構成されていることを特徴とする
    電子写真感光体。
  2. (2)前記微結晶シリコン膜および非晶質シリコン膜の
    膜厚は、30〜200Åであることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の電子写真感光体。
  3. (3)前記光導電層は、周期律表第III族又は第V族に
    属する元素から選択された少なくとも一種を含むことを
    特徴とする特許請求の範囲第1又は2項記載の電子写真
    感光体。
  4. (4)前記導電性支持体と光導電層との間に、非晶質材
    料又は少なくとも一部が微結晶化した半導体材料からな
    る障壁層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の電子写真感光体。
  5. (5)前記障壁層は、周期律表第III族又は第V族に属
    する元素から選択された少なくとも一種を含むことを特
    徴とする特許請求の範囲第4項記載の電子写真感光体。
  6. (6)前記障壁層は、炭素、酸素および窒素からなる群
    から選択された元素の少なくとも一種を含むことを特徴
    とする特許請求の範囲第4項記載の電子写真感光体。
  7. (7)前記光導電層の上に表面層を有することを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。
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