JPS6316670A - 電荷結合素子を用いた遅延素子 - Google Patents
電荷結合素子を用いた遅延素子Info
- Publication number
- JPS6316670A JPS6316670A JP61159546A JP15954686A JPS6316670A JP S6316670 A JPS6316670 A JP S6316670A JP 61159546 A JP61159546 A JP 61159546A JP 15954686 A JP15954686 A JP 15954686A JP S6316670 A JPS6316670 A JP S6316670A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stage
- delay
- transfer
- clock signal
- transfer gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 63
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 abstract description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/28—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
- G11C19/282—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements with charge storage in a depletion layer, i.e. charge coupled devices [CCD]
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
- Filters That Use Time-Delay Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は電荷結合素子を用いた遅延素子に関する。
(従来技術)
電荷結合素子を用いた遅延素子(以下、CCD遅延素子
という)はカラービデオカメラの色信号処理回路等にお
いて多用されている。
という)はカラービデオカメラの色信号処理回路等にお
いて多用されている。
例えば、単一搬送波周波数分離方式の色信号分離回路に
おいて、カラー撮像素子より出力された色信号出力とこ
れより1水平走査期間前に出力された色信号出力とを加
党あるいは引き算することにより赤色信号(R)及び青
色信号(B)を発生させ、このような処理を行なうため
色信号出力を1水平走査期間だけ遅延させるのにCCD
遅延素子が用いられている。
おいて、カラー撮像素子より出力された色信号出力とこ
れより1水平走査期間前に出力された色信号出力とを加
党あるいは引き算することにより赤色信号(R)及び青
色信号(B)を発生させ、このような処理を行なうため
色信号出力を1水平走査期間だけ遅延させるのにCCD
遅延素子が用いられている。
第3図は従来のCCD遅延素子の一例として2相クロッ
ク転送方式のものの要部縦断面を示しており、P−形シ
リコン基板1の表面には、一対の転送ゲート電極とその
内の一方の転送ゲート電極の下側に形成されたP+形の
転送バリヤー2により1単位セルAが構成され、クロッ
ク信号φ1が印加される単位セルとクロック信号φ、が
印加される甲、位セルが転送方向に交互に配列されてい
る。転送方向に配列された単位セル群の入出力端には、
入力ゲートG、、G、及び出力ゲートOTGを介して、
P+形の領域よりなる入力ダイオード3と出力ダイオ−
ド4が形成され、入力ダイオード3が入力端子INに、
出力ダイオード4が出力端子OUTに接続されている。
ク転送方式のものの要部縦断面を示しており、P−形シ
リコン基板1の表面には、一対の転送ゲート電極とその
内の一方の転送ゲート電極の下側に形成されたP+形の
転送バリヤー2により1単位セルAが構成され、クロッ
ク信号φ1が印加される単位セルとクロック信号φ、が
印加される甲、位セルが転送方向に交互に配列されてい
る。転送方向に配列された単位セル群の入出力端には、
入力ゲートG、、G、及び出力ゲートOTGを介して、
P+形の領域よりなる入力ダイオード3と出力ダイオ−
ド4が形成され、入力ダイオード3が入力端子INに、
出力ダイオード4が出力端子OUTに接続されている。
第4図は2相クロック信号φ1.φ2の波形を示し、第
5図は2相クロック信号φ1.φ2によって生じるポテ
ンシャル井戸のポテンシャルプロフィールを時刻j1+
t2+ t、毎に示している。入力ゲートG、、G、
及び出力ゲートOTGをオン状態にして。
5図は2相クロック信号φ1.φ2によって生じるポテ
ンシャル井戸のポテンシャルプロフィールを時刻j1+
t2+ t、毎に示している。入力ゲートG、、G、
及び出力ゲートOTGをオン状態にして。
遅延されるべき信号を入力端子INに供給すると。
第5図に示すように、各m位セルに生じたポテンシャル
井戸により出力端子OUT側に転送動作が行なわれ、転
送方向に直列に配置された単位セルの数と、2相クロッ
ク信号φ1.φ2の周期によって決まる遅延時間の経過
後に出力端子OUTより信号が出力されるようになって
いる。
井戸により出力端子OUT側に転送動作が行なわれ、転
送方向に直列に配置された単位セルの数と、2相クロッ
ク信号φ1.φ2の周期によって決まる遅延時間の経過
後に出力端子OUTより信号が出力されるようになって
いる。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、従来のCCD遅延素子にあっては。
半導体集積回路技術により一度製造されると電位セルの
数を変更することができないため、遅延時間を調整する
には、転送クロック信号の周期を変える必要があった。
数を変更することができないため、遅延時間を調整する
には、転送クロック信号の周期を変える必要があった。
ところが、転送クロック信号を発生する発振回路を調整
して遅延時間を微調整等することは要求されている精度
を考慮すると困難である。又、ビデオ用の場合、マスタ
ークロツタをもとにしてシステムに必要な多くのクロッ
ク信号を作り出しているため遅延線用のクロックだけの
周期を変更することも困這であった。
して遅延時間を微調整等することは要求されている精度
を考慮すると困難である。又、ビデオ用の場合、マスタ
ークロツタをもとにしてシステムに必要な多くのクロッ
ク信号を作り出しているため遅延線用のクロックだけの
周期を変更することも困這であった。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであ
り、遅延時間の調整を容易に行ない得るCCD遅延素子
を提供することを目的とする。
り、遅延時間の調整を容易に行ない得るCCD遅延素子
を提供することを目的とする。
この目的を達成するため、本発明は、転送方向に形成さ
れた単位セル群の適宜の場所に少なくとも1個の他の単
位セルを直列に設けてこれを調整段とし、該調整段に転
送クロック信号を印加して転送動作させることにより遅
延時間を延長させ。
れた単位セル群の適宜の場所に少なくとも1個の他の単
位セルを直列に設けてこれを調整段とし、該調整段に転
送クロック信号を印加して転送動作させることにより遅
延時間を延長させ。
一方、該調整段の転送ゲート電極を所定の電位に固定す
ることにより転送クロック信号に無関係すなわち遅延時
間を生じない信号電荷の流路となるチャネル部分を形成
して遅延時間を短縮することで遅延時間の増減調整を行
なうようにしたことを技術的要点とする。
ることにより転送クロック信号に無関係すなわち遅延時
間を生じない信号電荷の流路となるチャネル部分を形成
して遅延時間を短縮することで遅延時間の増減調整を行
なうようにしたことを技術的要点とする。
(実施例)
第1図は本発明によるCCD遅延素子の一実施例の要部
を示す縦断面図である。
を示す縦断面図である。
これは2相クロック転送方式のCCD遅延素子を示し、
P″″形シリコン基板5の表面には、一対の転送ゲート
電極とその内の一方の転送ゲート電極の下側に形成され
たP4″形の転送バリヤー6で1単位セルが構成され、
この単位セルが転送方向に所定数直列に設けられること
で遅延段X、が形成されている。クロック発振器(図示
せず)からのクロック信号φ、が印加される単位セルと
クロック信号φ2が印加される単位セルが転送方向に交
互に配列されるように配線が行なわれ、又、基準となる
遅延時間Td、が得られる段数の単位セルが形成されて
いる。
P″″形シリコン基板5の表面には、一対の転送ゲート
電極とその内の一方の転送ゲート電極の下側に形成され
たP4″形の転送バリヤー6で1単位セルが構成され、
この単位セルが転送方向に所定数直列に設けられること
で遅延段X、が形成されている。クロック発振器(図示
せず)からのクロック信号φ、が印加される単位セルと
クロック信号φ2が印加される単位セルが転送方向に交
互に配列されるように配線が行なわれ、又、基準となる
遅延時間Td、が得られる段数の単位セルが形成されて
いる。
更に、遅延段X、に続いて、該遅延段X、の単位セルと
同じ構造の単位セルが2個直列に形成され、これら2個
の単位セルが調整段x2となっている。
同じ構造の単位セルが2個直列に形成され、これら2個
の単位セルが調整段x2となっている。
遅延段X、と調整段X、の両端には、入力ゲートG及び
出力ゲートOTGを介して、P4″形の領域からなる入
力ダイオード7及び出力ダイオード8が形成され、各ダ
イオード7.8は入力端子INと出力端子OUTが接続
されている。
出力ゲートOTGを介して、P4″形の領域からなる入
力ダイオード7及び出力ダイオード8が形成され、各ダ
イオード7.8は入力端子INと出力端子OUTが接続
されている。
次にかかるCCD遅延素子の作動を説明する。
2相クロック信号φ1.φ2は第4図に示すのと同様の
波形信号であり、遅延段x1の各単位セルに生じる表面
ポテンシャルのポテンシャルプロフィールは第5図と同
様となる6 まず、遅延段X、で設定される遅延時間Td、を調整す
る必要がない場合は、調整段X2の単位セルの転送ゲー
ト電極ch、 、 ch、を共に所定の電位に固定する
ことにより、遅延段x1の最終段にある電位セルから出
力ゲートOTGへ常に電荷が移動し得るチャンネルを形
成する。そして、入力ゲートG及び出力ゲートOTGを
オン状態にし、転送されるべき41号を入力端子INに
印加すると、遅延段X、と2相クロック信号φ1.φ、
の周期によって決まる遅延時間Td、の経過後に出力端
子OUTより信号が出力される。
波形信号であり、遅延段x1の各単位セルに生じる表面
ポテンシャルのポテンシャルプロフィールは第5図と同
様となる6 まず、遅延段X、で設定される遅延時間Td、を調整す
る必要がない場合は、調整段X2の単位セルの転送ゲー
ト電極ch、 、 ch、を共に所定の電位に固定する
ことにより、遅延段x1の最終段にある電位セルから出
力ゲートOTGへ常に電荷が移動し得るチャンネルを形
成する。そして、入力ゲートG及び出力ゲートOTGを
オン状態にし、転送されるべき41号を入力端子INに
印加すると、遅延段X、と2相クロック信号φ1.φ、
の周期によって決まる遅延時間Td、の経過後に出力端
子OUTより信号が出力される。
次に遅延段X、により設定される遅延時間Td、を長く
するための調整を行なう場合は、調整段ス2の単位セル
の転送ゲート電極ch、 、 ch、を適宜に2相クロ
ック信号φ1.φ2の信号線に接続する。
するための調整を行なう場合は、調整段ス2の単位セル
の転送ゲート電極ch、 、 ch、を適宜に2相クロ
ック信号φ1.φ2の信号線に接続する。
即ち、転送ゲート電極Ch、にクロック信号φ1を印加
するように配線し、転送ゲート電極Ch2は所定の電位
に固定して単に電荷を移動するだけのチャネルを形成す
るようにすれば、転送ゲート電極Ch1に印加されるク
ロック信号φ、による時間遅れΔτ1が得られ、遅延時
間をTd1+Δτ1に長くすることができる。
するように配線し、転送ゲート電極Ch2は所定の電位
に固定して単に電荷を移動するだけのチャネルを形成す
るようにすれば、転送ゲート電極Ch1に印加されるク
ロック信号φ、による時間遅れΔτ1が得られ、遅延時
間をTd1+Δτ1に長くすることができる。
また、転送ゲート電極ch、を所定の電位に固定して単
に電荷を移動するだけのチャネルを形成させ、転送ゲー
ト電極Ch2にクロック信号φ、を印加するための配線
を行なうと、転送ゲート電極Ch2に印加されるクロッ
ク信号φ、による時間遅れΔで、が得られるので、遅延
時間をTd、+Δτ2とすることができる。
に電荷を移動するだけのチャネルを形成させ、転送ゲー
ト電極Ch2にクロック信号φ、を印加するための配線
を行なうと、転送ゲート電極Ch2に印加されるクロッ
ク信号φ、による時間遅れΔで、が得られるので、遅延
時間をTd、+Δτ2とすることができる。
更に、転送ゲート電極Ch、にクロック信号φ、を、転
送ゲート電Vic h 2にクロック信号φ、を印加す
るように配線すれば、クロック信号φ1が印加された単
位セルによる時間遅れΔτ、とクロック信号φ、が印加
された電位セルによる時間遅れΔτ、が得られるので、
遅延時間をTd、+Δτ、+Δτ、とすることができる
。
送ゲート電Vic h 2にクロック信号φ、を印加す
るように配線すれば、クロック信号φ1が印加された単
位セルによる時間遅れΔτ、とクロック信号φ、が印加
された電位セルによる時間遅れΔτ、が得られるので、
遅延時間をTd、+Δτ、+Δτ、とすることができる
。
尚、ここで注意すべき点は、2相クロック信号φ1.φ
2が印加される調整段x2の単位セルの配列が遅延段x
1の各電位セルの配列と等しくなるように各転送ゲート
電極ch、 、 ch2を2相クロック信号φ1.φ2
の特定の信号線に接続する必要がある。
2が印加される調整段x2の単位セルの配列が遅延段x
1の各電位セルの配列と等しくなるように各転送ゲート
電極ch、 、 ch2を2相クロック信号φ1.φ2
の特定の信号線に接続する必要がある。
この実施例は、遅延時間を増加するものに関して説明し
ているが、変形例として例えば、第1図の転送ゲート電
極Ch、にクロック信号φ1を印加することで予め基準
となる遅延時間T’d、が得られるように配線しておき
、転送ゲート電極Ch1をクロック信号φ、の信号線か
ら切りはなして所定の固定電位に接続することで単に電
荷を通過させるだけのチャネルを形成するようにすれば
、遅延時間を短縮させるための調整も可能となる。
ているが、変形例として例えば、第1図の転送ゲート電
極Ch、にクロック信号φ1を印加することで予め基準
となる遅延時間T’d、が得られるように配線しておき
、転送ゲート電極Ch1をクロック信号φ、の信号線か
ら切りはなして所定の固定電位に接続することで単に電
荷を通過させるだけのチャネルを形成するようにすれば
、遅延時間を短縮させるための調整も可能となる。
更に、第1図の実施例では、調整段X、を出力端子OU
T側の最終段に設けているが、これに限定されるもので
はなく、入力ゲートGに続いて形成しても良いし、又、
遅延段x1の途中に設けてもよい。
T側の最終段に設けているが、これに限定されるもので
はなく、入力ゲートGに続いて形成しても良いし、又、
遅延段x1の途中に設けてもよい。
更に又、調整段X、を1箇所とする必要もなく、遅延段
x1の途中等に散在させても良い、ただし、この場合に
も、2相クロック信号φ1.φ2が印加される単位セル
の配列を、遅延段及び調整段を含めて必ず転送方向に対
して交互とする必要がある。
x1の途中等に散在させても良い、ただし、この場合に
も、2相クロック信号φ1.φ2が印加される単位セル
の配列を、遅延段及び調整段を含めて必ず転送方向に対
して交互とする必要がある。
第2図は他の実施例を示す要部縦断面図であり。
4相クロック転送方式のCCD遅延素子を示す。
まず構造を説明すると、P−形シリコン基板9の表面に
は、4個の転送ゲート電極を1組としてm位セルを構成
し、この電位セルが転送方向に複数個直列に配列される
ことにより基準の遅延時間Td、を生じる遅延段y、が
形成されている。各jIt位セルの第1転送ゲート電極
a1にはクロック信号φい第2@送ゲート電極a2には
クロック信号φ2、第3転送ゲート電極a、にはクロッ
ク信号φ1、第4転送ゲート電極a4にはクロック信号
φ4が印加される。
は、4個の転送ゲート電極を1組としてm位セルを構成
し、この電位セルが転送方向に複数個直列に配列される
ことにより基準の遅延時間Td、を生じる遅延段y、が
形成されている。各jIt位セルの第1転送ゲート電極
a1にはクロック信号φい第2@送ゲート電極a2には
クロック信号φ2、第3転送ゲート電極a、にはクロッ
ク信号φ1、第4転送ゲート電極a4にはクロック信号
φ4が印加される。
遅延段y、に続いて該遅延段y、の単位セルと同じ構造
の4個の転送ゲート電極φ^〜φ0からなる調整段y2
が形成されている。
の4個の転送ゲート電極φ^〜φ0からなる調整段y2
が形成されている。
遅延段y、と調整段y2の両端には、入力ゲートG及び
出力ゲートOTGを介して、P+形の領域からなる入力
ダイオード10と出力ダイオード11が形成され、各ダ
イオード10.11には入力端子INと出力端端子OU
Tが接続されている。
出力ゲートOTGを介して、P+形の領域からなる入力
ダイオード10と出力ダイオード11が形成され、各ダ
イオード10.11には入力端子INと出力端端子OU
Tが接続されている。
かかる構成のCCD遅延素子における4相クロック信号
φ、〜φ、による作動は従来より知られているので詳述
せず、本発明の主要技術である遅延時間の調整に関して
次に説明する。
φ、〜φ、による作動は従来より知られているので詳述
せず、本発明の主要技術である遅延時間の調整に関して
次に説明する。
まず、調整段y、、の転送ゲート電極φ^〜φDを特定
の電位に固定して遅延段y、と出力グー50フ0間に電
荷が移動できるチャネルを形成し、入出力ゲートG、
OTGをオン状態にして入力端子INに信号を印加する
と、遅延段y、と4相クロック信号φ、〜φ4にて決ま
る遅延時間Td、の後に出力端子OUTから信号が出力
される。
の電位に固定して遅延段y、と出力グー50フ0間に電
荷が移動できるチャネルを形成し、入出力ゲートG、
OTGをオン状態にして入力端子INに信号を印加する
と、遅延段y、と4相クロック信号φ、〜φ4にて決ま
る遅延時間Td、の後に出力端子OUTから信号が出力
される。
調整段y2の各転送ゲート電極φ^〜φDに遅延段y1
の各単位セルと同じ順番即ち電極φ^〜φDの並び順に
対してクロック信号φ、〜φ4の順で印加するように配
線を行なうと、調整段y2の転送動作による時間遅れΔ
τ4が得られ、遅延時間をTd、 +Δτ4に延ばすこ
とができる。
の各単位セルと同じ順番即ち電極φ^〜φDの並び順に
対してクロック信号φ、〜φ4の順で印加するように配
線を行なうと、調整段y2の転送動作による時間遅れΔ
τ4が得られ、遅延時間をTd、 +Δτ4に延ばすこ
とができる。
この実施例も、第1図に示した第1の実施例と同じく、
調整段y2は遅延段y1の適宜の部分に設けてもよく、
又、調整段y、の単位セルを複数個設けてもよい。
調整段y2は遅延段y1の適宜の部分に設けてもよく、
又、調整段y、の単位セルを複数個設けてもよい。
以上説明したように、予め基準の遅延時間を設定するた
めに形成される遅延段と直列に該遅延段を構成する単位
セルと同じ構造の少なくとも1個以上のm位セルからな
る調整段を予め形成しておくことで、クロック発振器の
クロック信号の周期を調整することなく、容易に遅延時
間の調整が可能となる。
めに形成される遅延段と直列に該遅延段を構成する単位
セルと同じ構造の少なくとも1個以上のm位セルからな
る調整段を予め形成しておくことで、クロック発振器の
クロック信号の周期を調整することなく、容易に遅延時
間の調整が可能となる。
尚、この調整を半馬体集積回路技術による製造工程にお
いて行なわれる特性試験の際に行なえば、最終的に最適
な遅延時間が得られる配線パターンのみの設計変更で済
むので製造コストの低減又は製造期間の短縮化が可能と
なる。また、調整段の各転送ゲート電極だけ特定のポン
ディングパッドに接続し、外部から調整段を制御するよ
うにしてもよい。
いて行なわれる特性試験の際に行なえば、最終的に最適
な遅延時間が得られる配線パターンのみの設計変更で済
むので製造コストの低減又は製造期間の短縮化が可能と
なる。また、調整段の各転送ゲート電極だけ特定のポン
ディングパッドに接続し、外部から調整段を制御するよ
うにしてもよい。
更に1本願発明は、2相及び4相クロック転送方式のC
CD遅延素子にのみ適用されるものではなく、3相転逆
方式その他各種方式のCCD遅延素子に対しても、それ
ぞれの単位セルと同じ構造の単位セルを調整段として形
成することで実現することができる。
CD遅延素子にのみ適用されるものではなく、3相転逆
方式その他各種方式のCCD遅延素子に対しても、それ
ぞれの単位セルと同じ構造の単位セルを調整段として形
成することで実現することができる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によるCCD遅延素子によ
れば、転送方向に形成された単位セル群の適宜の場所に
少なくとも1個以上の他の単位セルを直列に形成してこ
れを調整段とし、該調整段に転送クロック信号を印加し
て転送動作させることにより遅延時間を延ばし、一方、
該調整段の転送ゲート電極所定電位に固定することで電
荷を通すチャネルを形成することで遅延時間を短縮する
ことができるようにしたので、遅延時間の調整が極めて
容易となった。
れば、転送方向に形成された単位セル群の適宜の場所に
少なくとも1個以上の他の単位セルを直列に形成してこ
れを調整段とし、該調整段に転送クロック信号を印加し
て転送動作させることにより遅延時間を延ばし、一方、
該調整段の転送ゲート電極所定電位に固定することで電
荷を通すチャネルを形成することで遅延時間を短縮する
ことができるようにしたので、遅延時間の調整が極めて
容易となった。
第1図は本発明による遅延素子の一実施例の構造を示す
要部縦断面図、第2図は他の実施例の構造を示す要部縦
断面図、第3図は従来のCCD遅延素子の構造を示す要
部縦断面図、第4図及び第5図は第3図に示したCCD
遅延素子の作動を説明するためのクロック信号及び表面
ポテンシャルを示す説明図である。 1.5,9:基板 2.6;転送バリヤー 3、7.10 :入力ダイオード 4、8.11 :出力ダイオード G、、G、、G:入カゲート OTG :出力ゲート エN:入力端子 OUT :出力端子 φ、〜φ4 ;転送クロック信号 Ch、 y Ch2 + 8(””a4* φ^〜φ0
:転送ゲート電極”t * V* :遅延段 )hwy* :調整段 代理人 弁理士(8107) 佐々木清隆 “−゛、
′、゛1、・) (ほか3名) −7i;呂。
要部縦断面図、第2図は他の実施例の構造を示す要部縦
断面図、第3図は従来のCCD遅延素子の構造を示す要
部縦断面図、第4図及び第5図は第3図に示したCCD
遅延素子の作動を説明するためのクロック信号及び表面
ポテンシャルを示す説明図である。 1.5,9:基板 2.6;転送バリヤー 3、7.10 :入力ダイオード 4、8.11 :出力ダイオード G、、G、、G:入カゲート OTG :出力ゲート エN:入力端子 OUT :出力端子 φ、〜φ4 ;転送クロック信号 Ch、 y Ch2 + 8(””a4* φ^〜φ0
:転送ゲート電極”t * V* :遅延段 )hwy* :調整段 代理人 弁理士(8107) 佐々木清隆 “−゛、
′、゛1、・) (ほか3名) −7i;呂。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 転送方向に配列された単位セル群からなる遅延段を有す
る電荷結合素子を用いた遅延素子において、 前記遅延段の前記単位セル群の適宜の場所に少なくとも
1個以上の該単位セルと同様構造の単位セルからなる調
整段を形成し、 該調整段の単位セルを所定の転送クロック信号にて転送
動作させ又は特定電位に固定することを特徴とする電荷
結合素子を用いた遅延素子。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61159546A JPS6316670A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | 電荷結合素子を用いた遅延素子 |
| US07/071,682 US4803706A (en) | 1986-07-09 | 1987-07-09 | Variable delay charge coupled device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61159546A JPS6316670A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | 電荷結合素子を用いた遅延素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6316670A true JPS6316670A (ja) | 1988-01-23 |
Family
ID=15696113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61159546A Pending JPS6316670A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | 電荷結合素子を用いた遅延素子 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4803706A (ja) |
| JP (1) | JPS6316670A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5198996A (en) * | 1988-05-16 | 1993-03-30 | Matsushita Electronics Corporation | Semiconductor non-volatile memory device |
| DE68916855T2 (de) * | 1988-05-16 | 1995-01-19 | Matsushita Electronics Corp | Nichtflüchtige Halbleiterspeicheranordnung. |
| US5051832A (en) * | 1990-02-12 | 1991-09-24 | Eastman Kodak Company | Selective operation in interlaced and non-interlaced modes of interline transfer CCD image sensing device |
| US7199409B2 (en) * | 2004-08-26 | 2007-04-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Device for subtracting or adding charge in a charge-coupled device |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3819954A (en) * | 1973-02-01 | 1974-06-25 | Gen Electric | Signal level shift compensation in chargetransfer delay line circuits |
| NL179426C (nl) * | 1973-09-17 | 1986-09-01 | Hitachi Ltd | Ladingoverdrachtinrichting. |
| US4001861A (en) * | 1973-10-12 | 1977-01-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Double-layer, polysilicon, two-phase, charge coupled device |
| US3989956A (en) * | 1974-05-16 | 1976-11-02 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Charge transfer binary counter |
| CA1023050A (en) * | 1974-05-16 | 1977-12-20 | Western Electric Company, Incorporated | Charge transfer delay line filters |
| US4080581A (en) * | 1975-04-30 | 1978-03-21 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | Charge transfer transversal filter |
| NL7610351A (nl) * | 1976-09-17 | 1978-03-21 | Philips Nv | Ladingsoverdrachtinrichting. |
| NL7702452A (nl) * | 1977-03-08 | 1977-05-31 | Philips Nv | Ladderinrichting met weegfactorinstelmiddelen. |
| US4158209A (en) * | 1977-08-02 | 1979-06-12 | Rca Corporation | CCD comb filters |
| NL186666C (nl) * | 1977-10-13 | 1992-03-16 | Philips Nv | Ladingsoverdrachtinrichting. |
| FR2427009A1 (fr) * | 1978-05-26 | 1979-12-21 | Thomson Csf | Dispositif differentiel utilisant le transfert de charges electriques dans un semi-conducteur, et filtre et ligne a retard comportant un tel dispositif |
| US4280066A (en) * | 1978-11-16 | 1981-07-21 | General Electric Company | Charge transfer apparatus |
| US4315164A (en) * | 1980-04-08 | 1982-02-09 | Westinghouse Electric Corp. | Bidirectional charge control circuit |
| JPS5848464A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Nec Corp | 電荷転送装置 |
| US4661788A (en) * | 1985-05-10 | 1987-04-28 | Rca Corporation | Tapped CCD delay line with non-destructive charge sensing using floating diffusions |
-
1986
- 1986-07-09 JP JP61159546A patent/JPS6316670A/ja active Pending
-
1987
- 1987-07-09 US US07/071,682 patent/US4803706A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4803706A (en) | 1989-02-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4805026A (en) | Method for driving a CCD area image sensor in a non-interlace scanning and a structure of the CCD area image sensor for driving in the same method | |
| JP3254865B2 (ja) | カメラ装置 | |
| JP2736121B2 (ja) | 電荷転送装置及び固体撮像装置 | |
| US7046283B1 (en) | Arrangements of clock line drivers | |
| US20030038890A1 (en) | Solid state image pickup apparatus of low power consumption and its driving method | |
| JP2871185B2 (ja) | 電荷結合装置 | |
| US5483283A (en) | Three level high speed clock driver for an image sensor | |
| JPH09191101A (ja) | 電荷転送装置およびこれを用いた固体撮像装置 | |
| US4803706A (en) | Variable delay charge coupled device | |
| JP3747845B2 (ja) | 固体撮像素子の駆動方法 | |
| JPS62242363A (ja) | 電荷転送装置 | |
| US20050206768A1 (en) | Charge transfer device and drive method for same | |
| JP3338472B2 (ja) | 電荷転送装置 | |
| JPH0693766B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
| JPH02192371A (ja) | 電荷結合型固体撮像装置 | |
| JP3122562B2 (ja) | 電荷転送素子の駆動用回路 | |
| KR920000574B1 (ko) | 고체촬상장치 | |
| JPS6161588B2 (ja) | ||
| JPH0291954A (ja) | 電荷転送装置 | |
| JPH04369187A (ja) | Ccd固体撮像素子 | |
| JP2988377B2 (ja) | 磁気検出装置 | |
| JPS6192078A (ja) | 固体撮像素子 | |
| JPS63219277A (ja) | 固体撮像素子 | |
| JP2000152091A (ja) | 固体撮像素子およびその駆動方法 | |
| JPS60189966A (ja) | 電荷転送装置およびその駆動方法 |