JPS63175876U - - Google Patents

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JPS63175876U
JPS63175876U JP6733087U JP6733087U JPS63175876U JP S63175876 U JPS63175876 U JP S63175876U JP 6733087 U JP6733087 U JP 6733087U JP 6733087 U JP6733087 U JP 6733087U JP S63175876 U JPS63175876 U JP S63175876U
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semiconductor device
tip surfaces
center conductor
pair
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JP6733087U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本考案半導体装置の測定装
置の一つの実施例を説明するためのもので、第1
図は測定装置の斜視図、第2図は測定装置の測定
状態のときの断面図、第3図は被測定半導体装置
の集合体の斜視図、第4図は従来例の斜視図であ
る。 符号の説明、26a,26b…測定子、27a
,27b…中心導体、28a,28b…絶縁物、
29a,29b…静電シールド導体、35…被測
定半導体装置。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 中心導体とこれを被覆する絶縁物と該絶縁物の
    外面に形成された静電シールド導体とからなる一
    対の測定子が、その先端面にて対向しその間の距
    離が変化できるように軸方向に相対的に移動可能
    に設けられ、 上記一対の測定子が互いに接近してその先端面
    がどうしが密着したとき中心導体どうしが互いに
    接触しないように一対の測定子の中心導体の測定
    子先端面への露出位置が互いにずらされており、 そして、上記測定子の先端面間に被測定半導体
    装置を挾んだとき一方の測定子の中心導体が上記
    被測定半導体装置の一つのリードに接触し他方の
    測定子の中心導体が上記被測定半導体装置の別の
    一つのリードに接触するようにされてなる ことを特徴とする半導体装置の測定装置。
JP6733087U 1987-05-04 1987-05-04 Pending JPS63175876U (ja)

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JP6733087U JPS63175876U (ja) 1987-05-04 1987-05-04

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JPS63175876U true JPS63175876U (ja) 1988-11-15

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