JPS6318150B2 - - Google Patents

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JPS6318150B2
JPS6318150B2 JP13732387A JP13732387A JPS6318150B2 JP S6318150 B2 JPS6318150 B2 JP S6318150B2 JP 13732387 A JP13732387 A JP 13732387A JP 13732387 A JP13732387 A JP 13732387A JP S6318150 B2 JPS6318150 B2 JP S6318150B2
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JP
Japan
Prior art keywords
gate
terminal
output
signal
input terminal
Prior art date
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Expired
Application number
JP13732387A
Other languages
English (en)
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JPS631990A (ja
Inventor
Juji Sato
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zeni Lite Buoy Co Ltd
Original Assignee
Zeni Lite Buoy Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zeni Lite Buoy Co Ltd filed Critical Zeni Lite Buoy Co Ltd
Priority to JP13732387A priority Critical patent/JPS631990A/ja
Publication of JPS631990A publication Critical patent/JPS631990A/ja
Publication of JPS6318150B2 publication Critical patent/JPS6318150B2/ja
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  • Alarm Systems (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は灯浮標や標識灯等の灯火の灯質を制御
する点滅装置から発するパルス信号を群周期を含
めて正確に測定するフラツシヤーテスターに関す
る。
例えば航路標識や危険区域表示等に使用される
各種の灯浮標あるいは標識灯等の灯火の灯質は認
知性を高めるために単閃光、急閃光、群閃光ある
いはモールス符号光等多様化している。このよう
な灯火の灯質はデジタル信号によつて与えられて
おり、近年これら灯火の灯質に対する単周期、群
周期あるいは明時間、休止時間などは精度の高い
ものが要求されつつある。従つてそれらの単周
期、群周期あるいは明時間、休止時間を正確に検
出し測定して規格に適合させるように調整するこ
とが必要である。
従来これらの時間測定方法としては機械的ある
いは電子式ストツプウオツチ等を用いて行なわれ
ているが、いずれも正確さ等において充分でない
ばかりか任意の群周期を測定する装置はなかつ
た。
本発明は論理回路素子を利用し明時間、休止時
間、単周期、群周期のおのおのの測定を可能とす
る装置を提供するものであり、さらに煩雑とにな
るこれらの測定モードの切換回路を僅かの回路素
子により構成した明時間、休止時間、単周期、群
周期の計測器に関するものであり一般のパルス信
号測定にも使用できることは勿論である。
以下本発明の1実施例を図面に示すプロツク図
およびタイミングチヤートに従つて詳述する。
一般にデジタル信号のパルス巾、周期を測定す
るには、被測定パルス信号のパルス巾または周期
時間に相当するゲート制御信号を作りこれで精度
の高いクロツクパルスCPoを遮断、通過させその
通過したクロツクパルスCPoのパルス数をカウン
タで計数し、そのカウント内容をLED等の数字
表示器で表示すればよい。
第1図は本発明の基本構成を示すブロツク図
で、図示するように波形整形部と入力パルスの
巾または周期時間に相当したゲート制御信号を発
生するゲート制御部およびクロツクパルス発生
回路(例えば水晶発振回路)′とゲート回路
3″とを備えて計数表示する計数部とで構成さ
れる。
波形整形回路は例えば入力信号のレベル判定
回路により入力信号が所定のレベルに達したとき
これに適確に反応し、また、入力信号に含まれる
不要なスパイクや符号合成時のハザード等の影響
を取り除くCRによる濾波回路あるいは不要パル
ス除去回路などからなり、整形された矩形波とし
てこれをゲート制御部に送る役目をする。
ゲート制御部は第2図の回路図に示すように
一致論理ゲート4、NORゲート5、ANDゲート
6、データ入力端子つきフリツプフロツプ(以下
D−FFと略称する)7およびカウンタ(以下
CNTと略称する)8とによりなる。
一致論理ゲート4の2入力端子のうちの1方は
周期測定接点Pと休止時間測定接点Sおよび明時
間測定接点Mを備えたプログラムスイツチSW1
aのMとPを介して電源のプラス端子9に接続さ
れ、他方の入力端子は波形整形部の出力端子に
接続されてその出力信号aが供給されるようにな
つている。
一致論理ゲート4の出力端子はD−FF7のク
ロツクパルス入力端子CPに接続されて、ゲート
4の出力信号bがD−FF7の端子CPに供給され
る。
NORゲート5の2入力端子のうち1方の入力
端子には周期測定接点P′、休止時間測定接点S′お
よび明時間測定接点M′を備え、プログラムスイ
ツチSW1b(SW1aと連動)のP′を介して電源
のプラス端子9に接続される。他方の入力端子は
一致論理ゲート4の出力端子に接続され信号bが
供給されるようになつている。
NORゲート5の出力端子はD−FF7のリセツ
ト端子R1に接続されてゲート5の出力信号dが
D−FF7のリセツト信号となる。
また、ANDゲート6の2入力端子のうちの1
方の入力端子は一致論理ゲート4の出力端子に接
続されて、その出力信号bが供給されるようにな
つており、他方の入力端子はプログラムスイツチ
SW1bの接点S′,M′に接続されている。
ANDゲート6の出力端子はD−FF7のセツト
端子S1に接続されてセツト信号eを供給するよ
うになつている。
CNT8のクロツク入力端子CLは一致論理ゲー
ト4の出力端子が接続されて信号bが供給されて
おり、またリセツト端子R2にはD−FF7の出
力端子が接続されて、その信号Mが供給されて
いる。
CNT8の出力端子Q1,Q2…Qnはプリセツ
トスイツチSW2を介してD−FF7のデータ入力
端子Dに接続されて信号NがD−FF7に供給さ
れる。D−FF7のもう一つの出力端子Qからは
信号Kがゲート制御信号となり計数部に送られ
る。
一致論理ゲート4、NORゲート5、ANDゲー
ト6は入力端子に電源電圧が印加されているとき
“H”入力として動作し、また、入力が開放され
ているとき“L”入力と判定する。
計数部はゲート制御信号Kによつて通過したク
ロツクパルスCPoを形数し表示するものである。
以上の構成において、いま、群周期を測定する
場合灯火信号は人によつて点灯数を認知すること
ができるのでプリセツトスイツチSW2を操作し
てその点灯数に設定する。n回(例えば3回とす
る)の点灯を1群とした群周期を測定する場合は
プリセツトスイツチSW2をQn=3に設定し、ま
た、プログラムスイツチSW1a,SW1bをP,
P′接点に設定する。
このようにすると一致論理ゲート4とNORゲ
ート5のそれぞれの1方の入力端子は“H”の状
態に設定され、ANDゲート6の1方の入力端子
は“L”の状態に設定されたこととなる。この結
果ゲート4はバツフアーゲートと等価となりその
出力信号bは他方の入力信号aのままを出力す
る。
NORゲート5は他方の入力信号にかかわらず
“L”を出力し、また、ANDゲート6も他方の入
力信号にかかわらず“L”を出力し、それぞれD
−FF7のリセツト端子R1およびセツト端子S
1を電源のマイナス端子に接続したことと等価と
なる。従つてプログラムスイツチSW1a,SW
1bを周期測定接点P,P′に接続したときは第2
図に示すゲート制御信号発生部は第3図に示す
回路と等価となり、D−FF7の端子CPとCNT
8の端子CLに入力信号aがそのまま供給されD
−FF7の端子S1,R1はともに“L”の状態
で保持されているのでD−FFとして動作する。
この場合論理の説明上D−FF7はクロツクパル
ス入力端子CPの信号の立上りでデータ入力端子
Dの信号を取り入れてそのままゲート制御信号K
として送り出し、出力Mは出力Kと反転関係にあ
る。
また、CNT8はリセツト端子R2の“H”信
号ですべての出力Q1,Q2…Qnは“Hとなり、
リセツト端子R2の“L”信号のときクロツク入
力端子CLの信号の立下りでカウント動作をし、
クロツク信号の1個目イの入力でQ1の出力が
“L”となり3個目ハの入力でQ3の出力が“L”
となる。第8図cにこのときのタイミングチヤー
トを示す。
まず初め、CNT8はカウントをしていないか
ら出力信号Nは“H”である。ゲート制御信号K
およびMは最初の信号aのイの立上りで信号Nの
“H”を読みこみ、そのまま端子Qに送り出す。
従つてゲート制御信号Kは“H”となり信号M
は“L”となる。そのタイミングでCNT8のリ
セツトが解除される。この結果CNT8の出力信
号Nは端子CLに加えられた信号aのパルスイか
ら3個目のパルスハの立下りエツジまでの間
“H”の状態を保持する。従つてD−FF7の出力
端子Qのゲート制御信号Kは入力信号aの最初の
パルスイの立上りエツジで“L”の状態から
“H”の状態となり4個目のパルスイ′の立上りエ
ツジで“L”の状態にもどる。このゲート制御信
号Kが“H”の状態を持続した期間は点灯数を指
示して測定を予定した3個のパルスを1群とした
群の周期T3に相当し、その間計数部はクロツ
クパルスCPoを計数し、かつ表示することとな
る。
4個目のパルスイ′の立上りエツジでゲート制
御信号Kが“L”の状態となると出力端子の出
力信号Mは“H”となりCNT8はリセツトされ、
出力信号Nは“H”となる。以下前記動作を繰り
返す。
パルス2個を1群としてその周期を測定する場
合は、プリセツトスイツチSW2のQnを2とすれ
ば上記と同様の順序で第8図Bに示すタイミング
チヤートのように2個のパルスを1群とした周期
T2を測定することができる。
単周期を測定する場合は、Qnを1とすればよ
く、タイミングチヤートを第8図Aに示す。
明時間を測定する場合は、プログラムスイツチ
SW1a,SW1bをM,M′に設定することによ
つて、D−FF7はD−FFとしての機能を失ない
R−Sフリツプフロツプ(以下R−S−FFと略
称する)7として動作する。また、このスイツチ
の操作により、一致論理ゲート4の1入力端子に
“H”、NORゲート5の1入力端子に“L”、
ANDゲート6の1入力端子に“H”が常時与え
られることとなる。従つて、一致論理ゲート4は
その論理によつてバツフアゲートと等価となり出
力信号bは他方の入力信号aのままを出力する。
NORゲート5は論理によつてインバータゲー
ト5と等価となり、出力信号dは他方の入力信号
bが“H”の場合は“L”を、また、入力信号b
が“L”の場合は“H”を出力する。ANDゲー
ト6は論理によつてバツフアゲートと等価となり
出力信号eは他方の入力信号b従つてこの場合は
入力信号aのままを出力する。この結果、この場
合は第2図のゲート制御信号発生部は第4図に
示す回路と等価となりD−FF7はCNT8の出力
Nと無関係なR−S−FF7として動作すること
となる。第4図に示す回路は、これをさらに第5
図に示す等価回路におき替えることができ、その
タイミングチヤートは第9図に示すようになる。
即ち、入力信号aが“L”のときはR−S−
FF7のリセツト端子R1に加えられる信号dは
“H”でR−S−FF7をリセツトし、セツト端子
S1に加えられる信号eは信号aそのものである
ため、“L”であり従つてR−S−FF7の出力端
子Qの出力ゲート制御信号Kは“L”で計数部
は動作しないが、入力信号aが“H”の状態にな
ると、信号dは反転し“L”となりR−S−FF
7はリセツトを解かれ且つセツト端子S1は信号
aの“H”が加えられるので出力信号Kは“H”
となり、その信号がゲート制御信号Kとなつてこ
のゲート制御信号Kが計数部に送られて、計数
はクロツクパルスCPoにもとずき計数し表示
する。
入力信号aが1パルスの時間t1を経過したのち
“L”にもどると、信号dは反転し“H”となり
ゲート制御信号Kは“L”となるので計数部
カウントを休止する。
以後この経過を繰り返すが、ゲート制御信号K
の“H”の状態のt1時間は灯火の明時間を示すも
ので、これにより灯火の明時間を正確に測定する
ことができる。
休止時間(暗時間)を測定する場合はプログラ
ムスイツチSW1a,SW1bをS,S′に設定す
ることによつて、D−FF7はD−FFとしての機
能を失ないR−S−FF7として動作する。即ち
このスイツチ操作によつて、一致論理ゲート4の
1入力端子に“L”、NORゲート5の1入力端子
にL、ANDゲート6の1入力端子に“H”が常
時保持される。従つて、一致論理ゲート4は論理
によつてインバーターゲートと等価となり、その
出力信号bは他方の入力信号aが“H”であれば
“L”を、また、入力信号aが“L”であれば
“H”を出力する。
NORゲート5は論理によつてインバーターゲ
ートと等価となり、その出力信号dは、他方の入
力信号bが“H”の場合は“L”を、また、入力
信号bが“L”の場合は“H”を出力する。
ANDゲート6は論理によつて、バツフアゲート
と等価となり出力信号eは他方の入力信号bのま
まを出力する。従つて、この場合は第2図のゲー
ト制御信号発生部は第6図に示す回路と等価と
なり、D−FF7はR−S−FF7として動作す
る。第6図に示す回路はさらに第7図に示す等価
回路におき替えることができ、そのタイミングチ
ヤートは第10図に示すようになる。
即ち入力信号aが“H”の状態から“L”の状
態に転じたときR−S−FF7のリセツト端子R
1に加えられる信号dは“L”となり、セツト端
子S1に加えられる信号eは“H”となるため、
出力端子Qのゲート制御信号Kは“H”となり、
その信号が計数部に送られて計数部はクロツ
クパルスCPoにもとずき計数し表示する。
t2時間経過して入力信号aが“L”の状態から
“H”の状態に転じると、信号dは“H”、信号e
は“L”従つてゲート制御信号Kは“L”となつ
て計数部は計数を停止する。
このことは入力信号aが“L”即ち灯火が消え
ている暗の状態即ち休止時間を計数部で計数し
表示することを示すものである。
このように本発明によれば、測定の必要性にせ
まられながらも、従来のカウンタ装置では測定が
困難であつた群周期特にモールス符号光等のよう
な長短の複数の点滅符号光で構成された、即ちパ
ルス巾の異なる複数のパルス信号を一つの群とし
たような群周期の測定を、回路素子の論理を利用
した最小の回路構成によつて簡単で正確に測定す
ることができるが、そればかりでなく単周期、明
時間、休止時間等の測定についても一つの装置に
よつて、その測定モードの切換回路を論理を利用
した僅かな回路構成によつてこれを可能としたも
のである。
以上により、灯火信号の群周期、単周期あるい
は1群の任意の信号までの時間もしくは明時間、
休止時間等いずれであつてもスイツチの切替えに
より容易に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の基本的な回路構成を示すブロ
ツク図、第2図はゲート制御信号発生回路図、第
3図は第2図に示すゲート制御信号発生回路にお
いてプログラムスイツチSW1a,SW1bを周
期測定用接点P,P′に設定した場合の等価回路
図、第4,5図はプログラムスイツチSW1a,
SW1bを明時間測定用接点M,M′に設定した場
合の等価回路図、第6,7図はプログラムスイツ
チSW1a,SW1bを休止時間測定用接点S,
S′に設定した場合の休止時間測定等価回路図、第
8〜10図はタイミングチヤート図である。 ……波形整形部、……ゲート制御部、
…計数部、4……一致論理ゲート、5……NOR
ゲート、6……ANDゲート、7……D−FF(R
−S−FF)、8……CNT、9……電源のプラス
端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 入力端子に加えられた被測定パルス信号を整
    形する波形整形部と、その出力をそれぞれクロツ
    クパルス入力とする、プリセツトスイツチを持つ
    たカウンタおよびカウンタ出力をデータ入力とす
    るフリツプフロツプとを有し、該フリツプフロツ
    プのリセツト端子およびセツト端子はL状態と
    し、出力をカウンタのリセツト端子に接続し、
    被測定パルス信号の1周期中のパルス数をプリセ
    ツトすることにより被測定信号の周期を時間巾と
    したパルス信号をQ出力として出力するゲート制
    御部と、 ゲート制御信号の時間巾を基準パルス信号の数
    で計数表示する計数部とにより構成されたフラツ
    シヤーテスターにおいて、 前記ゲート制御部を、一致論理ゲートの1方の
    入力端子に整形信号を入力し、該ゲートの出力端
    子をフリツプフロツプのクロツク入力端子、カウ
    ンタのクロツク入力端子、NORゲートの1方の
    入力端子およびANDゲートの1方の入力端子に
    接続し、NORゲートおよびANDゲートのそれぞ
    れの出力端子を前記フリツプフロツプのリセツト
    入力端子およびセツト入力端子に接続し、また、
    前記フリツプフロツプの1方の出力端子をカウン
    タのリセツト入力端子に接続し、カウンタの出力
    をプリセツトスイツチを介して前記フリツプフロ
    ツプのデータ入力端子に接続し、一致論理ゲート
    とNORゲートおよびANDゲートのそれぞれの他
    方の入力端子をプログラムスイツチに接続し、前
    記フリツプフロツプの他方の出力端子からゲート
    制御信号を出力するように構成したフラツシヤー
    テスター。
JP13732387A 1987-05-29 1987-05-29 フラツシヤ−テスタ− Granted JPS631990A (ja)

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JPS631990A JPS631990A (ja) 1988-01-06
JPS6318150B2 true JPS6318150B2 (ja) 1988-04-16

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ID=15195993

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JPS631990A (ja) 1988-01-06

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