JPS6318542A - インキ膜厚計測装置 - Google Patents
インキ膜厚計測装置Info
- Publication number
- JPS6318542A JPS6318542A JP16149286A JP16149286A JPS6318542A JP S6318542 A JPS6318542 A JP S6318542A JP 16149286 A JP16149286 A JP 16149286A JP 16149286 A JP16149286 A JP 16149286A JP S6318542 A JPS6318542 A JP S6318542A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser beam
- ink
- ink film
- film thickness
- brightness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 3
- 241001474791 Proboscis Species 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
この発明は、レーザー光を使用して印刷機におけるイン
キ膜厚を計測するインキ膜厚計測装置に関する。
キ膜厚を計測するインキ膜厚計測装置に関する。
（従来の技術）
従来、印刷機におけるインキ膜厚を測定するものとして
は、赤外線吸収法（三菱重工技報ｖｏｌ。
は、赤外線吸収法（三菱重工技報ｖｏｌ。
２１、特開昭５０−２９０５６号公報）、螢光Ｘ線法（
特開昭５７−１１３３１２号公報、特開昭５７−１９０
２０５号公報）、測色法（特開昭５７−５２８０６号公
報）２時間計測法（特開昭５０−３９１５７号公報）等
の方法が開発されている。
特開昭５７−１１３３１２号公報、特開昭５７−１９０
２０５号公報）、測色法（特開昭５７−５２８０６号公
報）２時間計測法（特開昭５０−３９１５７号公報）等
の方法が開発されている。
（発明が解決すべき問題点）
しかし、前記従来の測定方法は、インキ量、水景、ロー
ラ材質などのインキ膜厚に影響を及ぼす要因に依在しす
ぎているため、実際の測定においては使用が困難であり
、実用化には至っていない。
ラ材質などのインキ膜厚に影響を及ぼす要因に依在しす
ぎているため、実際の測定においては使用が困難であり
、実用化には至っていない。
この発明は以下の問題点に鑑み創案されたもので、印刷
機【おけるインキ膜厚を容易に計測することができ、印
刷機の性能向上および省力化を達成できるインキ膜厚測
定装置を提供することを目的とする。
機【おけるインキ膜厚を容易に計測することができ、印
刷機の性能向上および省力化を達成できるインキ膜厚測
定装置を提供することを目的とする。
（問題点を解決するだめの手段）
この発明は、ローラ表面のインキ面にローラ軸に対して
ほぼ直角方向よりレーザー光を当てるレーザー光発射装
置と、そのレーザー光によるインキ面のスポット点を見
るために配置されてレーザー光を収束するレンズと、該
レンズてよシ収束されたレーザー光がつくる像を受光す
る検出器と、該検出器から送られたデータにより像の広
がシ、輝度分布の形状、輝度勾配を測定し、その値て基
いてインキ膜厚を算出する演算器とからなることを特徴
とする。
ほぼ直角方向よりレーザー光を当てるレーザー光発射装
置と、そのレーザー光によるインキ面のスポット点を見
るために配置されてレーザー光を収束するレンズと、該
レンズてよシ収束されたレーザー光がつくる像を受光す
る検出器と、該検出器から送られたデータにより像の広
がシ、輝度分布の形状、輝度勾配を測定し、その値て基
いてインキ膜厚を算出する演算器とからなることを特徴
とする。
（実 施 例）
以下、この発明を図面に示す実施例に基いて説明する。
第１図に示すように、この発明のインキ膜厚計測装置は
レーザー光発射装置２と、レンズ４と、検出器５および
演算器６とから構成されている。
レーザー光発射装置２と、レンズ４と、検出器５および
演算器６とから構成されている。
レーザー光発射装置２は、図においてローラ１の直上に
取付けられており、ローラ１表面のインキ面てローラ軸
て対して直角てレーザー光３を当てる。レンズ４はロー
ラ１表面のインキ面に当たるレーザー光３のスポットを
収束する。検出器５は前記反射光路の延長線上に配置さ
れており、前記レンズ４により収束されたレーザー光３
がつくる像を受光する。演算器６は前記検出器５から送
られたデータを処理してロー２１表面のインキ膜厚を算
出する。
取付けられており、ローラ１表面のインキ面てローラ軸
て対して直角てレーザー光３を当てる。レンズ４はロー
ラ１表面のインキ面に当たるレーザー光３のスポットを
収束する。検出器５は前記反射光路の延長線上に配置さ
れており、前記レンズ４により収束されたレーザー光３
がつくる像を受光する。演算器６は前記検出器５から送
られたデータを処理してロー２１表面のインキ膜厚を算
出する。
次てこの発明の作用について説明する。前述したように
レーザー光発射装置２よシローラＩＫ対して直角にレー
ザー光３を当てる。これＫよりインキ面上にできたスポ
ット径を、入射レーザー光３からローラ１軸方向に角度
ψだけ傾いた方向から測る。角度ψはインキにより最適
な値を選ぶものとする。受光の仕方はレンズ４によりイ
ンキ面上のスポットに焦点を合わせ、その像をＣＣＤ等
の検出器５で受光し、像の広がシ、輝度分布の形状を測
定する。そしてそのデータは演算器６により処理され、
インキ膜厚が算出される。
レーザー光発射装置２よシローラＩＫ対して直角にレー
ザー光３を当てる。これＫよりインキ面上にできたスポ
ット径を、入射レーザー光３からローラ１軸方向に角度
ψだけ傾いた方向から測る。角度ψはインキにより最適
な値を選ぶものとする。受光の仕方はレンズ４によりイ
ンキ面上のスポットに焦点を合わせ、その像をＣＣＤ等
の検出器５で受光し、像の広がシ、輝度分布の形状を測
定する。そしてそのデータは演算器６により処理され、
インキ膜厚が算出される。
次にこの発明の原理について説明する。第２図に示すよ
うにインキ面に入射したレーザー光３はインキの材質て
より決まるθという角度（輝度勾配）をもって散乱する
。従ってインキ膜厚をｄ。
うにインキ面に入射したレーザー光３はインキの材質て
より決まるθという角度（輝度勾配）をもって散乱する
。従ってインキ膜厚をｄ。
レーザー光の径をψとすると、スポット径りはＤ＝２・
ｄｔａｎθ＋ψ となる。従ってインキ膜厚ｄは ｄ＝ （Ｄ−ψ）／２・ｔａｎθ となり、スポット径りの大きさからインキ膜厚ｄを求め
ることができる。
ｄｔａｎθ＋ψ となる。従ってインキ膜厚ｄは ｄ＝ （Ｄ−ψ）／２・ｔａｎθ となり、スポット径りの大きさからインキ膜厚ｄを求め
ることができる。
（発明の効果）
この発明は以上の構成からなり、この発明によれば印刷
機知おけるインキ膜厚を容易て計測することができ、印
刷機の性能向上および省力化を達成することができる。
機知おけるインキ膜厚を容易て計測することができ、印
刷機の性能向上および省力化を達成することができる。
第１図はこの発明のインキ膜厚計測装置の概念図、第２
図は入射レーザー光の強度とインキ表面における輝度分
布を示すグラフである。 １・・ローラ、２・・レーザー光発射装置３・・レーザ
ー光、４φ・レンズ ５・・検出器、６・・演算機 拳傾 手続補正書 昭和６１年１０月３０日 特許庁長官 黒 １） 明 雄 殿 り１
、 １に牛の耘 吻６１年特願第１６１４９２号 ２、 発明の名称 インキ膜厚計測装置 ３、 補正をする者 羽生との隔 特許出願人 名 称 （２１０） 住友重機械工業株式
会社４、代理人 （１１明細書の特許請求の範囲の欄を次のとおり補正す
る。 「 ローラ表面のインキ面にレーザー光を当てるレーザ
ー光発射装置と、そのレーザー光によりインキ面に生じ
る像を受光する検出器と、該検出器から送られたデータ
により像の広がり、または輝度分布の形状、または輝度
勾配を測定し、その値に基いてインキ膜厚を算出する演
算器とからなることを特徴とするインキ膜厚計測装置、
」 （２） 同書第２頁第１２行目の「依在しすぎている
ため、」を「依存しすぎているため、」と補正する。 （３） 同書第２頁第１７行目の「インキ膜厚測定装
置」を「インキ膜厚計測装置」と補正する。 （４）同書第２頁第１２行目から第３頁第９行目までの
「この発明は、・・・・・・特徴とする。」を次のとお
り補正する。 「 この発明はローラ表面のインキ面にレーザー光を当
てるレーザー光発射装置と、そのレーザ−光によりイン
キ面に生じる像を受光する検出器と、該検出器から送ら
れたデータにより像の広がり、または輝度分布の形状、
または輝度勾配を測定し、その値に基いてインキ膜厚を
算出する演算器とからなることを特徴とする。」（５）
同書第４頁第１４行目の「像の広がり、輝度分布の形状
」を「像の広がり、または輝度分布の形状、または輝度
勾配」と補正する。
図は入射レーザー光の強度とインキ表面における輝度分
布を示すグラフである。 １・・ローラ、２・・レーザー光発射装置３・・レーザ
ー光、４φ・レンズ ５・・検出器、６・・演算機 拳傾 手続補正書 昭和６１年１０月３０日 特許庁長官 黒 １） 明 雄 殿 り１
、 １に牛の耘 吻６１年特願第１６１４９２号 ２、 発明の名称 インキ膜厚計測装置 ３、 補正をする者 羽生との隔 特許出願人 名 称 （２１０） 住友重機械工業株式
会社４、代理人 （１１明細書の特許請求の範囲の欄を次のとおり補正す
る。 「 ローラ表面のインキ面にレーザー光を当てるレーザ
ー光発射装置と、そのレーザー光によりインキ面に生じ
る像を受光する検出器と、該検出器から送られたデータ
により像の広がり、または輝度分布の形状、または輝度
勾配を測定し、その値に基いてインキ膜厚を算出する演
算器とからなることを特徴とするインキ膜厚計測装置、
」 （２） 同書第２頁第１２行目の「依在しすぎている
ため、」を「依存しすぎているため、」と補正する。 （３） 同書第２頁第１７行目の「インキ膜厚測定装
置」を「インキ膜厚計測装置」と補正する。 （４）同書第２頁第１２行目から第３頁第９行目までの
「この発明は、・・・・・・特徴とする。」を次のとお
り補正する。 「 この発明はローラ表面のインキ面にレーザー光を当
てるレーザー光発射装置と、そのレーザ−光によりイン
キ面に生じる像を受光する検出器と、該検出器から送ら
れたデータにより像の広がり、または輝度分布の形状、
または輝度勾配を測定し、その値に基いてインキ膜厚を
算出する演算器とからなることを特徴とする。」（５）
同書第４頁第１４行目の「像の広がり、輝度分布の形状
」を「像の広がり、または輝度分布の形状、または輝度
勾配」と補正する。
Claims (1)
- ローラ表面のインキ面にローラ軸に対してほぼ直角方向
よりレーザー光を当てるレーザー光発射装置と、そのレ
ーザー光によるインキ面のスポット点を見るために配置
されてレーザー光を収束するレンズと、該レンズにより
収束されたレーザー光がつくる像を受光する検出器と、
該検出器から送られたデータにより像の広がり、輝度分
布の形状、輝度勾配を測定し、その値に基いてインキ膜
厚を算出する演算器とからなることを特徴とするインキ
膜厚計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16149286A JPS6318542A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | インキ膜厚計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16149286A JPS6318542A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | インキ膜厚計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6318542A true JPS6318542A (ja) | 1988-01-26 |
| JPH058965B2 JPH058965B2 (ja) | 1993-02-03 |
Family
ID=15736099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16149286A Granted JPS6318542A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | インキ膜厚計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6318542A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02162150A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-06-21 | Komatsu Zenoah Co | 索誘導搬送装置 |
| JPH02175374A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-06 | Komatsu Zenoah Co | 索誘導搬送装置 |
-
1986
- 1986-07-09 JP JP16149286A patent/JPS6318542A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02162150A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-06-21 | Komatsu Zenoah Co | 索誘導搬送装置 |
| JPH02175374A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-06 | Komatsu Zenoah Co | 索誘導搬送装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH058965B2 (ja) | 1993-02-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0126613B1 (en) | Method of an apparatus for measuring dampening water for printing machine | |
| US20140250679A1 (en) | Optical inspection apparatus and optical inspection system | |
| JPH05280943A (ja) | 形状測定用光源装置 | |
| JPH058965B2 (ja) | ||
| JP4081700B2 (ja) | 電子線分析装置 | |
| JP2003106816A (ja) | 膜厚測定方法及び装置 | |
| JP2005202217A (ja) | 画像記録装置及び画像記録方法 | |
| JPS63118602A (ja) | インキ膜厚測定装置 | |
| JP3665176B2 (ja) | 拡散反射のｍｔｆを測定する方法 | |
| JPS5928608A (ja) | 溶接線検出装置 | |
| TW200933286A (en) | Color sensing device | |
| JPH0235666B2 (ja) | ||
| JP3040882B2 (ja) | ビーム径検査装置 | |
| JPS60222756A (ja) | 異物検査装置 | |
| JPH0619249B2 (ja) | インキ膜厚計測装置 | |
| JPS5876711A (ja) | 回転体の表面粗さ測定方法およびその装置 | |
| JPH0511009U (ja) | 坪量計 | |
| JPS63284409A (ja) | 路面性状計測装置 | |
| JP2527939B2 (ja) | 印刷版の絵柄面積率測定方法 | |
| JPS63118604A (ja) | インキ膜厚計測装置 | |
| JPH06202026A (ja) | 光ビーム走査光学装置 | |
| JPS6177184U (ja) | ||
| JPH06300539A (ja) | 三次元形状計測装置 | |
| JP2000346811A (ja) | 表面検査装置 | |
| JPS60235007A (ja) | 円筒状パタ−ン検出装置 |