JPS63187257A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS63187257A JPS63187257A JP1989687A JP1989687A JPS63187257A JP S63187257 A JPS63187257 A JP S63187257A JP 1989687 A JP1989687 A JP 1989687A JP 1989687 A JP1989687 A JP 1989687A JP S63187257 A JPS63187257 A JP S63187257A
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- Japan
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- layer
- surface layer
- electrophotographic photoreceptor
- films
- gaseous
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/043—Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure
- G03G5/0433—Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure all layers being inorganic
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08264—Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐環
境性等が優れた電子写真感光体に関する。
境性等が優れた電子写真感光体に関する。
[従来の技術]
水素(H)を含有するアモルファスシリコン(以下、a
−3i:)(と略す)は、近年、光電変換材料として注
目されており、太陽電池、薄膜トランジスタ、及びイメ
ージセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体に応用
されている。
−3i:)(と略す)は、近年、光電変換材料として注
目されており、太陽電池、薄膜トランジスタ、及びイメ
ージセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体に応用
されている。
従来、電子写真感光体の光導電層を構成する材料として
、CdS、ZnO1Se、若しくは5e−Te等の無機
材料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(、P V C
Z ”)若しくはトリニトロフルオレノン(TNF)等
の有機材料が使用されていた。
、CdS、ZnO1Se、若しくは5e−Te等の無機
材料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(、P V C
Z ”)若しくはトリニトロフルオレノン(TNF)等
の有機材料が使用されていた。
しかしながら、a−8i:)−1はこれらの無機材料又
は有機材料に比して、無公害物質であるため回収処理の
必要がないこと、可視光領域で高い分光感度を有するこ
と、並びに表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優れ
ていること等の利点を有している。このため、a−8i
:Hは電子写真プロセスの感光体材料として注目されて
いる。
は有機材料に比して、無公害物質であるため回収処理の
必要がないこと、可視光領域で高い分光感度を有するこ
と、並びに表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優れ
ていること等の利点を有している。このため、a−8i
:Hは電子写真プロセスの感光体材料として注目されて
いる。
このa、3i:)lは、カールソン方式に基づく感光体
の材料として検討が進められているが、この場合、感光
体特性として抵抗及び光感度が高いことが要求される。
の材料として検討が進められているが、この場合、感光
体特性として抵抗及び光感度が高いことが要求される。
しかしながら、この両特性を単一の感光体層で満足させ
ることが困難であるため、光導電層と導電性支持体との
間に障壁層を設け、かつ表面保護、反射防止および表面
電位の向上等の目的のために、光導電層上に表面層を設
けた積層型の構造にすることにより、このような要求を
満足させている。
ることが困難であるため、光導電層と導電性支持体との
間に障壁層を設け、かつ表面保護、反射防止および表面
電位の向上等の目的のために、光導電層上に表面層を設
けた積層型の構造にすることにより、このような要求を
満足させている。
〔発明が解決しようとする問題点]
ところで、従来、表面層としてはa−8iQ。
a−8i N、 a−8i O等からなる絶縁性単一層
が用いられているが、このような表面層にはダングリン
グボンドヤポイド等の構造欠陥が多く存在しているため
、感光体特性に好ましくない影響を与えている。例えば
、感光体を帯電し、光照射をした場合、光導電層で光キ
ャリアが発生する。光キャリアのうち正孔は導電性支持
体に向かって走行し、電子は表面層に向かって走行する
。この場合、電子は表面層をトンネル効果で通過し、感
光体表面の電荷を中和する。従って、表面層の膜厚が厚
い場合には、キャリアは表面層を通過できず、感度が悪
くなり、画像メモリを生じてしまう。また、上述のよう
に表面層は多くの欠陥を含んでいるため、キャリアが欠
陥にトラップされ、残留電位の上昇を招いてしまう。更
に、次サイクルで光照射を行なうと、表面層にトラップ
されたキャリアの一部が感光体表面に向かって走行し、
表面電荷を中和するため、帯電能の低下を生じてしまう
。
が用いられているが、このような表面層にはダングリン
グボンドヤポイド等の構造欠陥が多く存在しているため
、感光体特性に好ましくない影響を与えている。例えば
、感光体を帯電し、光照射をした場合、光導電層で光キ
ャリアが発生する。光キャリアのうち正孔は導電性支持
体に向かって走行し、電子は表面層に向かって走行する
。この場合、電子は表面層をトンネル効果で通過し、感
光体表面の電荷を中和する。従って、表面層の膜厚が厚
い場合には、キャリアは表面層を通過できず、感度が悪
くなり、画像メモリを生じてしまう。また、上述のよう
に表面層は多くの欠陥を含んでいるため、キャリアが欠
陥にトラップされ、残留電位の上昇を招いてしまう。更
に、次サイクルで光照射を行なうと、表面層にトラップ
されたキャリアの一部が感光体表面に向かって走行し、
表面電荷を中和するため、帯電能の低下を生じてしまう
。
逆に、表面層が薄い場合には、感光体の表面電位が低下
し、複写機やプリンタ等のプロセス設計に負担を生じて
しまう。
し、複写機やプリンタ等のプロセス設計に負担を生じて
しまう。
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、かつ高感度の
電子写真感光体を提供することを目的とする。
、帯電能が優れており、残留電位が低く、かつ高感度の
電子写真感光体を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明者らは、種々研究を屋ねた結果、電子写真感光体
の表面層として超格子構造を用いることにより、上記目
的を達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至っ
た。
の表面層として超格子構造を用いることにより、上記目
的を達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至っ
た。
即ち、本発明の電子写真感光体は、導電性支持体、光導
電層および表面層を有する電子写真感光体において、前
記表面層は、非晶質シリコン11膜と主として硼素と窒
素からなる半導体薄膜とを交互に積層して構成され、か
つそれぞれの薄膜の膜厚が30〜500人であることを
特徴とする。
電層および表面層を有する電子写真感光体において、前
記表面層は、非晶質シリコン11膜と主として硼素と窒
素からなる半導体薄膜とを交互に積層して構成され、か
つそれぞれの薄膜の膜厚が30〜500人であることを
特徴とする。
(作 用)
本発明の電子写真感光体では、表面層が超格子構造を有
しており、超格子構造を構成する1llllでは量子効
果によりキャリアの寿命はバルク層より5〜10倍長い
。また、それぞれの薄膜は膜厚が薄いため、キャリアは
トンネル効果によって容易に薄膜中を通り抜けることが
できるので、キャリアの実効移動度はバルク層における
移動度に等しく、即ち、キャリアの走行性に優れている
。
しており、超格子構造を構成する1llllでは量子効
果によりキャリアの寿命はバルク層より5〜10倍長い
。また、それぞれの薄膜は膜厚が薄いため、キャリアは
トンネル効果によって容易に薄膜中を通り抜けることが
できるので、キャリアの実効移動度はバルク層における
移動度に等しく、即ち、キャリアの走行性に優れている
。
このように、表面層におけるキャリアの寿命が長(、か
つキャリアの走行性が優れているため、電子写真感光体
の感度は著しく向上することになる。
つキャリアの走行性が優れているため、電子写真感光体
の感度は著しく向上することになる。
(実施例)
第1図は、本発明の一実施例になる電子写真感光体の断
面構造を示す図である。同図において、1は導電性支持
体である。該導電性支持体の上には障壁層2が形成され
、その上には光導電層3が形成されている。更に、光導
電層3の上には表面層4が形成されている。
面構造を示す図である。同図において、1は導電性支持
体である。該導電性支持体の上には障壁層2が形成され
、その上には光導電層3が形成されている。更に、光導
電層3の上には表面層4が形成されている。
以下、第1図に示す電子写真感光体の構成について、よ
り詳細に説明する。
り詳細に説明する。
導電性支持体1は、通常はアルミニウム類のドラムで構
成される。
成される。
障壁層2はμc−3i(微結晶シリコン)やa−8i:
)−1を用いて形成してもよく、またa−BN:H(窒
素および水素を添加したアモルファス硼素)を使用して
もよい。更に、絶縁性の躾を用いてもよい。例えば、μ
c−8i:H又はa −8i:Hに炭素C1窒素N及び
酸素Oから選択された元素の一種以上を含有させること
により、^抵抗の絶縁性障壁層を形成することができる
。障壁層2の膜厚は100人〜10μ腸が好ましい。
)−1を用いて形成してもよく、またa−BN:H(窒
素および水素を添加したアモルファス硼素)を使用して
もよい。更に、絶縁性の躾を用いてもよい。例えば、μ
c−8i:H又はa −8i:Hに炭素C1窒素N及び
酸素Oから選択された元素の一種以上を含有させること
により、^抵抗の絶縁性障壁層を形成することができる
。障壁層2の膜厚は100人〜10μ腸が好ましい。
μc−8iは、粒径が約数十オングストロームの微結晶
のシリコンと非晶質シリコンとの混合層により形成され
ているものと考えられ、以下のような物性上の特徴を有
している。第一に、X線回折測定では2θが28〜28
.5”付近にある結晶回折パターンを示し、ハローのみ
が現れる無定形のa−8iから明確に区別される。第二
に、μc−3iの暗抵抗は10”Ω・α以上に調整する
ことができ、暗抵抗が10!10・1のポリクリスタリ
ンシリコンからも明確に区別される。
のシリコンと非晶質シリコンとの混合層により形成され
ているものと考えられ、以下のような物性上の特徴を有
している。第一に、X線回折測定では2θが28〜28
.5”付近にある結晶回折パターンを示し、ハローのみ
が現れる無定形のa−8iから明確に区別される。第二
に、μc−3iの暗抵抗は10”Ω・α以上に調整する
ことができ、暗抵抗が10!10・1のポリクリスタリ
ンシリコンからも明確に区別される。
上記障壁層2は、導電性支持体1と光導電層3との間の
電荷の流れを抑制することにより感光体表面の電荷保持
機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成される
ものである。従って、半導体層を障壁層に用いてカール
ソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電させ
た電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2をP
型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電させる
場合には障壁層2をP型とし、表面電荷を中和すに表面
を負帯電させる場合には障壁112をN型とし、表面電
荷を中和するホールが光導電層へ注入されるのを防止す
る。障壁層2から注入されるキャリアは光の入射で光導
電層3内に発生するキャリアに対してノイズとなるから
、上記のようにしてキャリアの注入を防止することは感
度の向上をもたらす。なお、uc−sr:Hやa−3i
:HをP型にするためには、周期律表の第■族に属する
元素、例えば硼素B1アルミニウムA1、ガリウムGa
、インジウムln、及びタリウムTJL等をドーピング
することが好ましい。また、μC−8i:Hやa−8i
:HをN型にするためには周期律表の第V族に属する元
素、例えば窒素、燐P1砒素As、アンチモン3b、及
びビスマス3i等をドーピングすることが好ましい。
電荷の流れを抑制することにより感光体表面の電荷保持
機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成される
ものである。従って、半導体層を障壁層に用いてカール
ソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電させ
た電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2をP
型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電させる
場合には障壁層2をP型とし、表面電荷を中和すに表面
を負帯電させる場合には障壁112をN型とし、表面電
荷を中和するホールが光導電層へ注入されるのを防止す
る。障壁層2から注入されるキャリアは光の入射で光導
電層3内に発生するキャリアに対してノイズとなるから
、上記のようにしてキャリアの注入を防止することは感
度の向上をもたらす。なお、uc−sr:Hやa−3i
:HをP型にするためには、周期律表の第■族に属する
元素、例えば硼素B1アルミニウムA1、ガリウムGa
、インジウムln、及びタリウムTJL等をドーピング
することが好ましい。また、μC−8i:Hやa−8i
:HをN型にするためには周期律表の第V族に属する元
素、例えば窒素、燐P1砒素As、アンチモン3b、及
びビスマス3i等をドーピングすることが好ましい。
障壁層2の上に形成される光導電層3は、a−8+:H
又はμc−8i:Hにより構成することができる。
又はμc−8i:Hにより構成することができる。
光導電層3に光が入射するとキャリアが発生し、このキ
ャリアのうち一方の極性のものは感光体表面の帯電電荷
と中和し、他方の極性のものは光導電層3を走行して導
電性支持体に到達する。
ャリアのうち一方の極性のものは感光体表面の帯電電荷
と中和し、他方の極性のものは光導電層3を走行して導
電性支持体に到達する。
光導電層の上に表面層4が形成されている。表面層4は
、a−8i:@薄膜およびa−BN薄膜を交互に積層し
てなる超格子構造を有している。
、a−8i:@薄膜およびa−BN薄膜を交互に積層し
てなる超格子構造を有している。
光導電層3を構成するa−8i:H等は、その屈折率が
3乃至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起
きやすい。このような光反射が生じると、光導電113
に吸収される光量の割合いが低下し、光損失が大きくな
る。このため、表面層4を設けて反射を防止することと
している。また、表面層4を設けることにより、光導電
層3が損傷から保護される。さらに、表面層を形成する
ことにより、帯電能が向上し、表面に電荷がよくのるよ
うになる。
3乃至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起
きやすい。このような光反射が生じると、光導電113
に吸収される光量の割合いが低下し、光損失が大きくな
る。このため、表面層4を設けて反射を防止することと
している。また、表面層4を設けることにより、光導電
層3が損傷から保護される。さらに、表面層を形成する
ことにより、帯電能が向上し、表面に電荷がよくのるよ
うになる。
障壁層2、光導電層3および表面層4を構成するa−8
I : HオよUtlc−8t : Hニ#Gtル水素
の含有量は、0.01〜30原子%が好ましく、1〜2
5原子%がより好ましい。このような水素の含有量によ
り、シリコンのダングリングボンドが補償され、暗抵抗
と明抵抗とが調和のとれたものとなり、光導電特性が向
上する。
I : HオよUtlc−8t : Hニ#Gtル水素
の含有量は、0.01〜30原子%が好ましく、1〜2
5原子%がより好ましい。このような水素の含有量によ
り、シリコンのダングリングボンドが補償され、暗抵抗
と明抵抗とが調和のとれたものとなり、光導電特性が向
上する。
a−3i:H層をグロー放電分解法により成膜するには
、原料としてSiH+及び5i2Hs等のシラン類ガス
を反応室に導入し、高周波によりグロー放電することに
より薄層中にHを添加することができる。必要に応じて
、シラン類のキャリアガスとして水素又はヘリウムガス
を使用することができる。一方、S i F4ガス及び
S i CJL4ガス等のハロゲン化ケイ素を原料ガス
として使用することができる。また、シラン類ガスとハ
ロゲン化ケイ素ガスとの混合ガスで反応させても、同様
にHを含有するa−8i:)(を成膜することができる
。なお、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッタ
リング等の物理的な方法によってもこれ等の*mを形成
することができる。
、原料としてSiH+及び5i2Hs等のシラン類ガス
を反応室に導入し、高周波によりグロー放電することに
より薄層中にHを添加することができる。必要に応じて
、シラン類のキャリアガスとして水素又はヘリウムガス
を使用することができる。一方、S i F4ガス及び
S i CJL4ガス等のハロゲン化ケイ素を原料ガス
として使用することができる。また、シラン類ガスとハ
ロゲン化ケイ素ガスとの混合ガスで反応させても、同様
にHを含有するa−8i:)(を成膜することができる
。なお、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッタ
リング等の物理的な方法によってもこれ等の*mを形成
することができる。
μc−3i層も、a−8i:Hと同様に、高周波グロー
放電分解法により、シランガスを原料として、成膜する
ことができる。この場合に、支持体の温度をa−8i:
Hを形成する場合よりも高く設定し、高周波電力もa−
8i:Hの場合よりも高く設定すると、μc−8t:H
を形成しやすくなる。また、支持体温度及び高周波電力
を高くすることにより、シランガスなどの原料ガスの流
量を増大させることができ、その結果、成膜速度を早く
することができる。また、原料ガスのSiH+及び5i
2Hs等の高次のシランガスを水素で希釈したガスを使
用することにより、μC−8i:)lを一層高効率で形
成することができる。
放電分解法により、シランガスを原料として、成膜する
ことができる。この場合に、支持体の温度をa−8i:
Hを形成する場合よりも高く設定し、高周波電力もa−
8i:Hの場合よりも高く設定すると、μc−8t:H
を形成しやすくなる。また、支持体温度及び高周波電力
を高くすることにより、シランガスなどの原料ガスの流
量を増大させることができ、その結果、成膜速度を早く
することができる。また、原料ガスのSiH+及び5i
2Hs等の高次のシランガスを水素で希釈したガスを使
用することにより、μC−8i:)lを一層高効率で形
成することができる。
このように構成される電子写真感光体の表面を、コロナ
放電により約500Vの正電圧で帯電させた状態で光(
hν)が入射すると、光導電層3において電子と正孔の
キャリアが発生する。この伝導帯の電子は、感光体内の
電界により表面層4側に向けて加速され、正孔は導電性
支持体1側に向けて加速される。この場合、従来の高抵
抗の絶縁性単一層からなる表面層を用いると、前述のよ
うに、膜厚が厚いと光導電層から表面へ流れるキャリア
が表面層を通過できず、その結果、感度が悪くなり、ま
たダングリングボンド等の欠陥にキャリアがトラップさ
れ、残留電位の上昇を招いてしまう。一方、膜厚が薄い
と感光体の表面電位が低下し、複写−やプリント等のプ
ロセス設計に負担を生じてしまう。これに対し、本発明
の感光体のように、表面層を超格子構造とするとポテン
シャル井戸層においては、量子効果のために、超格子構
造でない単一層の場合に比して、キャリアの寿命が5乃
至10倍と長い。また、超格子構造においては、バンド
ギャップの不連続性により、周期的なバリア層が形成さ
れるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層を
通り抜けるので、キャリアの実効移動度はバルクにおけ
る移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れている
。以上のごとく、薄層を積層した超格子構造によれば、
高光導電特性を得ることができ、従来の感光体よりも鮮
明な画像を得ることができる。
放電により約500Vの正電圧で帯電させた状態で光(
hν)が入射すると、光導電層3において電子と正孔の
キャリアが発生する。この伝導帯の電子は、感光体内の
電界により表面層4側に向けて加速され、正孔は導電性
支持体1側に向けて加速される。この場合、従来の高抵
抗の絶縁性単一層からなる表面層を用いると、前述のよ
うに、膜厚が厚いと光導電層から表面へ流れるキャリア
が表面層を通過できず、その結果、感度が悪くなり、ま
たダングリングボンド等の欠陥にキャリアがトラップさ
れ、残留電位の上昇を招いてしまう。一方、膜厚が薄い
と感光体の表面電位が低下し、複写−やプリント等のプ
ロセス設計に負担を生じてしまう。これに対し、本発明
の感光体のように、表面層を超格子構造とするとポテン
シャル井戸層においては、量子効果のために、超格子構
造でない単一層の場合に比して、キャリアの寿命が5乃
至10倍と長い。また、超格子構造においては、バンド
ギャップの不連続性により、周期的なバリア層が形成さ
れるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層を
通り抜けるので、キャリアの実効移動度はバルクにおけ
る移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れている
。以上のごとく、薄層を積層した超格子構造によれば、
高光導電特性を得ることができ、従来の感光体よりも鮮
明な画像を得ることができる。
以下に第3図を参照し、上記実施例の電子写真感光体を
グロー放電法により製造する装置、並びに製造方法を説
明する。同図において、ガスボンベ21.22.23.
24には、例えば夫々S i H4,82H6、H2、
CH4等の原料ガスが収容されている。これらガスボン
ベ内のガスは、流量調整用のバルブ26及び配管27を
介して混合器28に供給されるようになっている。各ボ
ンベには圧力計25が設置されており、該圧力計25を
監視しつつバルブ26を調整することにより混合器28
に供給する各原料ガスの流量及び混合比を調節できる。
グロー放電法により製造する装置、並びに製造方法を説
明する。同図において、ガスボンベ21.22.23.
24には、例えば夫々S i H4,82H6、H2、
CH4等の原料ガスが収容されている。これらガスボン
ベ内のガスは、流量調整用のバルブ26及び配管27を
介して混合器28に供給されるようになっている。各ボ
ンベには圧力計25が設置されており、該圧力計25を
監視しつつバルブ26を調整することにより混合器28
に供給する各原料ガスの流量及び混合比を調節できる。
混合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給さ
れる。反応容器29の底部31には、回転軸30が鉛直
方向の回りに回転可能に取付けられている。該回転軸3
0の上端に、円板状の支持台32がその面を回転軸30
に垂直にして固定されている。反応容器29内には、円
筒状の電極33がその軸中心を回転軸3oの軸中心と一
致させて底部31上に設置されている。
れる。反応容器29の底部31には、回転軸30が鉛直
方向の回りに回転可能に取付けられている。該回転軸3
0の上端に、円板状の支持台32がその面を回転軸30
に垂直にして固定されている。反応容器29内には、円
筒状の電極33がその軸中心を回転軸3oの軸中心と一
致させて底部31上に設置されている。
感光体のドラム基体34が支持台32上にその軸中心を
回転軸30の軸中心と一致させて載置されており、この
ドラム基体34の内側にはドラム基体加熱用のヒータ3
5が配設されている。電極33とドラム基体34との間
には高周波電源36が接続されており、電極33および
ドラム基体34間に高周波′R流が供給されるようにな
っている。回転軸30はモータ38により回転駆動され
る。反応容器29内の圧力は圧力計37により監視され
、反応容器29はゲートパルプ38を介して真空ポンプ
等の適宜の排気手段に連結されている。
回転軸30の軸中心と一致させて載置されており、この
ドラム基体34の内側にはドラム基体加熱用のヒータ3
5が配設されている。電極33とドラム基体34との間
には高周波電源36が接続されており、電極33および
ドラム基体34間に高周波′R流が供給されるようにな
っている。回転軸30はモータ38により回転駆動され
る。反応容器29内の圧力は圧力計37により監視され
、反応容器29はゲートパルプ38を介して真空ポンプ
等の適宜の排気手段に連結されている。
上記製造装置により感光体を製造する場合には、反応容
器29内にドラム基体34を設置した後、ゲートバルブ
39を開にして反応容器29内を約0.1Torrの圧
力以下に排気する。次いで、ボンベ21,22.23.
24から所要の反応ガスを所定の混合比で混合して反応
容器29内に導入する。この場合に、反応容器29内に
導入するガス流量は反応容器29内の圧力が0.1乃至
1.OT orrになるように設定する。次いで、モー
タ38を作動させてドラム基体34を回転させ、ヒータ
35によりドラム基体34を一定温度に加熱すると共に
、高周波電源36により電極33とドラム基体34との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体34上にμc−8i :
H?a−3+ : Hが堆積する。なお、原料ガス中
にN20.NH3、NO2、N2 、CH4、C2H4
,02nス等を使用することにより、窒素、炭素、酸素
をμC−8i :Hやa−8t:H中に含有させること
ができる。
器29内にドラム基体34を設置した後、ゲートバルブ
39を開にして反応容器29内を約0.1Torrの圧
力以下に排気する。次いで、ボンベ21,22.23.
24から所要の反応ガスを所定の混合比で混合して反応
容器29内に導入する。この場合に、反応容器29内に
導入するガス流量は反応容器29内の圧力が0.1乃至
1.OT orrになるように設定する。次いで、モー
タ38を作動させてドラム基体34を回転させ、ヒータ
35によりドラム基体34を一定温度に加熱すると共に
、高周波電源36により電極33とドラム基体34との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体34上にμc−8i :
H?a−3+ : Hが堆積する。なお、原料ガス中
にN20.NH3、NO2、N2 、CH4、C2H4
,02nス等を使用することにより、窒素、炭素、酸素
をμC−8i :Hやa−8t:H中に含有させること
ができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。
次に、この発明に係る電子写真感光体を成膜し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。
真特性を試験した結果について説明する。
試験例
必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80m1幅が
350履のアルミニウム製ドラム基体を反応容器内に装
着し、反応容器を約10″5トルの真空度に排気した。
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80m1幅が
350履のアルミニウム製ドラム基体を反応容器内に装
着し、反応容器を約10″5トルの真空度に排気した。
ドラム基体を250℃に加熱し、10rp■で自転させ
つつ、5I84ガスを500SCCM、82 Hsガス
をS i H4ガスに対する流量比で10°3という流
層で反応器内に導入し、反応器内の圧力を1TOrrに
調節し、13.56MHzの高周波電力を印加してプラ
ズマを発生させ、ドラム基体上にP型a−8t:Hから
なる障壁層を形成した。
つつ、5I84ガスを500SCCM、82 Hsガス
をS i H4ガスに対する流量比で10°3という流
層で反応器内に導入し、反応器内の圧力を1TOrrに
調節し、13.56MHzの高周波電力を印加してプラ
ズマを発生させ、ドラム基体上にP型a−8t:Hから
なる障壁層を形成した。
次いで、SiH+ガスを500SCCM1H2ガスを2
00SCCM、B2 HsガスをS+H4ガスとの流量
比10−8で反応室内に導入し、500Wの高周波電力
を加えて30μmの1型a−8i:@からなる光導電層
を形成した。
00SCCM、B2 HsガスをS+H4ガスとの流量
比10−8で反応室内に導入し、500Wの高周波電力
を加えて30μmの1型a−8i:@からなる光導電層
を形成した。
次に、SiH*ガスを150SCCM、H2ガスを15
0SCCM導入し、反応室内の圧力を0.7Torrと
し、200W(7)高周波電力ヲ印加して50人のa−
3i:Hilglを形成した。次いで、SiH+ガスを
Oとし、N2で希釈された5%B28sガスを2503
CCMSH2ガスを11005CC,N2ガスを150
8CCM導入し、400Wの高周波電力を印加して50
人のa−BNilillを形成した。このような操作を
繰返し、15層のa−8i:Hlllと15層のa−B
N薄膜からなる1500人の表面層を形成した。
0SCCM導入し、反応室内の圧力を0.7Torrと
し、200W(7)高周波電力ヲ印加して50人のa−
3i:Hilglを形成した。次いで、SiH+ガスを
Oとし、N2で希釈された5%B28sガスを2503
CCMSH2ガスを11005CC,N2ガスを150
8CCM導入し、400Wの高周波電力を印加して50
人のa−BNilillを形成した。このような操作を
繰返し、15層のa−8i:Hlllと15層のa−B
N薄膜からなる1500人の表面層を形成した。
このようにして形成した感光体表面を約500■で正帯
電し、白色光をを露光すると、この光は光導電層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿命が
高く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品
質の画像が得られた。また、この試験例で製造された感
光体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性及
び安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、耐湿
性及び耐摩耗性等の耐久性が優れていることが実証され
た。
電し、白色光をを露光すると、この光は光導電層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿命が
高く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品
質の画像が得られた。また、この試験例で製造された感
光体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性及
び安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、耐湿
性及び耐摩耗性等の耐久性が優れていることが実証され
た。
なお、薄層の種類は、上記試験例のように2種類に限ら
ず、3種類以上の薄層を綴返し積層してもよい。要する
に、a−3i薄層とBNI層の境界が形成されれば良い
。
ず、3種類以上の薄層を綴返し積層してもよい。要する
に、a−3i薄層とBNI層の境界が形成されれば良い
。
[発明の効果]
本発明によれば、表面層に超格子構造を用いているため
、表面層におけるキャリアの走行性が良好であるととも
にキャリアの寿命が長く、かつ帯電特性の優れた電子写
真感光体を得ることができる。
、表面層におけるキャリアの走行性が良好であるととも
にキャリアの寿命が長く、かつ帯電特性の優れた電子写
真感光体を得ることができる。
第1図は本発明の実施例に係る電子写真感光体を示す断
面図、第か図は本発明の実施例に係る電子写真感光体の
製造装置を示す図である。 1・・・導電性支持体、2・・・障壁層、3・・・光導
電層、4・・・表面層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 1 凶 第2図 手続補正書 昭和 ±2.1忍25B
面図、第か図は本発明の実施例に係る電子写真感光体の
製造装置を示す図である。 1・・・導電性支持体、2・・・障壁層、3・・・光導
電層、4・・・表面層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 1 凶 第2図 手続補正書 昭和 ±2.1忍25B
Claims (8)
- (1)導電性支持体、光導電層および表面層を有する電
子写真感光体において、前記表面層は、非晶質シリコン
薄膜と主として硼素と窒素からなる半導体薄膜とを交互
に積層して構成され、かつそれぞれの薄膜の膜厚が30
〜500Åであることを特徴とする電子写真感光体。 - (2)前記表面層は、周期律表第III族又は第V族に属
する元素から選択された少なくとも一種の元素を含むこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感
光体。 - (3)前記光導電層は、周期律表第III族又は第V族に
属する元素から選択された少なくとも一種の元素を含む
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真
感光体。 - (4)前記光導電層は、炭素、酸素および窒素のうちの
少なくとも一種を含むことを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の電子写真感光体。 - (5)前記光導電層の少なくとも一部は、非晶質半導体
又は少なくとも一部が微結晶化した半導体からなること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光
体。 - (6)前記導電性支持体と光導電層との間に、非晶質半
導体又は少なくとも一部が微結晶化した半導体からなる
障壁層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の電子写真感光体。 - (7)前記障壁層は、周期律表第III族又は第V族に属
する元素から選択された少なくとも一種の元素を含むこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感
光体。 - (8)前記障壁層は、炭素、酸素および窒素のうちの少
なくとも一種を含むことを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989687A JPS63187257A (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989687A JPS63187257A (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63187257A true JPS63187257A (ja) | 1988-08-02 |
Family
ID=12011959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989687A Pending JPS63187257A (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63187257A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0743376A3 (en) * | 1995-04-26 | 1998-10-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Light-receiving member, process for its production and its use in electrophotographic apparatus and method |
-
1987
- 1987-01-30 JP JP1989687A patent/JPS63187257A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0743376A3 (en) * | 1995-04-26 | 1998-10-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Light-receiving member, process for its production and its use in electrophotographic apparatus and method |
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