JPS63187250A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

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JPS63187250A
JPS63187250A JP1990087A JP1990087A JPS63187250A JP S63187250 A JPS63187250 A JP S63187250A JP 1990087 A JP1990087 A JP 1990087A JP 1990087 A JP1990087 A JP 1990087A JP S63187250 A JPS63187250 A JP S63187250A
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JP
Japan
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layer
barrier layer
electrophotographic photoreceptor
films
thin
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Pending
Application number
JP1990087A
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English (en)
Inventor
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS63187250A publication Critical patent/JPS63187250A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08264Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐環
境性等が優れ、しかも正負両帯電が可能な電子写真感光
体に関する。
[従来の技術] 水素()I)を含有するアモルファスシリコン(以下、
a −Si:Hと略す)は、近年、光電変換材料として
注目されておシ、太陽電池、薄膜トランジスタ、及びイ
メージセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体に応
用されている。
従来、電子写真感光体の光導電層を構成する材料として
、CdS 、 ZnO、Ss 、若しくは5e−To等
の無機材料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(pvc
z)若しくはトリニトロンルオレノン(TNF)等の有
機材料が使用されていた。しかしながら、m−81:H
はこれらの無機材料又は有機材料に比して、無公害物質
であるため回収処理の必要がないこと、可視光領域で高
い分光感度を有すること、並びに表面硬度が高く耐摩耗
性及び耐衝撃性が優れていること等の利点を有している
。この九め、a−8t:Hは電子写真プロセスの感光体
材料として注目されている。
とのa−8l:Hは、カールソン方式に基づく感光体の
材料として検討が進めらnているが、この場合、感光体
特性として抵抗及び光感度が高いことが要求さnる。し
かしながら、この両特性を単一の感光体で満足させるこ
とが困難であるため、光導電層と導電性支持体との間に
障壁層を設け、かつ光導電層上に表面電荷保持層を設け
た積層型の構造にすることによシ、このような要求を満
足させている。
[発明が解決しようとする問題点コ ところで、従来、障壁層としては高抵抗の絶縁性単一層
が用いられているが、このような障壁層では、膜厚が厚
いと光導電層から支持体へ流れる中ヤリアが障壁層を通
過できず、その結果、残留電位が高くなってしまう。一
方、膜厚が薄いと現像バイアスにより絶縁破壊を生じて
しまう。また、障壁層としてp型又はn型の半導体を用
いた場合には、膜厚が厚いとダングリングプント等の構
造欠陥にキャリアがトラップされ、残留電位が高くなり
、一方、膜厚が薄い場合には支持体からのキャリアを1
0ツクできず、帯電能が低下してしまう。
一方、二色カラーコピーや、プリンタとコピーとの兼用
使用等の目的のため、正負両帯電が可能な感光体が望ま
れている。このような感光体を非晶質シリコンで形成す
る場合、非晶質シリコンに酸素を添加することや、光導
電層と支持体との間に絶縁層を設けることが考えられる
。しかし、前者の場合には、酸素の添加によル膜の欠陥
が増大し、感度、残留電位等が悪化してしまう・また、
後者の場合には、絶縁層が厚いとキャリアがトラップさ
れて残留電位が上昇してしまい、逆に薄いと画像の現像
時に絶縁破壊を生じ、好ましくない。
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって、
帯電能が優れておシ、残留電位が低く、近赤外領域まで
の広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性が
良く、耐環境性が優れ、かつ正負両帯電ともに良好な帯
電能を有する電・子写真感光体を提供することを目的と
する。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明者らは、種々研究を重ねた結果、電子写真感光体
の障壁層として超格子構造を用いることにより、上記目
的を達成°し得ることを見出し、本発明を完成するに至
っ九。
即ち、本発明は、導電性支持体、障壁層および光導電層
を有する電子写真感光体において、前記障壁層は、炭素
、酸素および窒素から選ばれた少なくとも1種を含む非
晶質シリコン薄膜と、非晶質シリコン薄膜と、ゲルマニ
ウムを含む非晶質シリコン薄膜とを交互に積層して構成
されることを特徴とする両帯電可能な電子写真感光体を
提供するものである。
非晶質シリコン(a−81)薄膜中の炭素、酸素および
窒素から選ばれた少なくとも1種の濃度は、好ましくは
1〜30原子チ、よシ好ましくは5〜15原子チである
また、非晶質シリコン(a−81)中のゲルマニウムの
濃度は好ましくは5〜40原子チ、より好ましくは10
〜20原子チである。
(実施例) 第1図は、本発明の一実施例になる電子写真感光体の断
面構造を示す図である。同図において、1は導電性支持
体である。該導電性支持体の上には障壁層2が形成され
、その上には光導電層3が形成されている。更に、光導
電層3の上には表面層4が形成されている。
以下、第1図に示す電子写真感光体の構成について、よ
シ詳細に説明する。
以下、第1図に示す電子写真感光体の構成について、よ
り詳細に説明する。
導電性支持体1は、通常はアルミニウム製のドラムで構
成される。
障壁層2は、炭素、酸素および窒素から選ばれた少なく
ともlaiを含むa−8t薄膜と、a−81薄膜と、r
ルマニウムを含むa−8i薄膜とを交互に積積した超格
子構造を有している。これらa−8i薄膜は、水素が添
加されたもの(a−8i:H)とすることができる。
上記障壁層2は、導電性支持体1と電荷発生層4との間
の電荷の流れを抑制することによシ感光体表面の電荷保
持機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成され
るものである。従って、半導体層を障壁層に用いてカー
ルソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電さ
せ次電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2t
p5J1またはn型とすることができる。即ち、感光体
表面を正帯電させる場合には障壁層2をp型とし、表面
電荷を中和する電子が電荷発生層に注入されるのを防止
する。逆に表面を負帯電させる場合に障壁層2をn型と
し、表面電荷を中和するホールが電荷発生層へ注入され
るのを防止する。障壁層2から注入されるキャリアは光
の入射で電荷発生層オ内に発生するキャリアに対してノ
イズとなるから、上記のようにしてキャリアの注入を防
止することは感度の向上をもたらす。なお、a−81を
p型にする念めには、周期律表の第■族に属する元素、
例えば硼素B、アルミニウムAL、ガリウムGa 。
インジウムIn、及びタリウムTt等をドーピングする
ことが好ましい。また、a−Stをn型にするためには
周期律表の第■族に属する元素、例えば窒素、燐P1砒
素As、アンチモンSb1及びビスマスBi等をドーピ
ングすることが好ましい。
障壁層2の厚みは、1OOX〜10μmが好ましい。
障壁層2の上に形成される光導電層3は、a−8t:H
又は微結晶シリコン(μc−8l:T()により構成す
ることができる。
微結晶シリコン(μe−81)は、粒径が約数十オンゲ
ストロムの微結晶讐し九シリコンと非晶質シリコンとの
混合層により形成されているものと考えられ、以下のよ
うな物性上の特徴を有している。
第一に、X線回折測定では2θが28〜28.5°付近
にある結晶回折パターンを示し、ハローのみが現れる無
定形のa−8iから明確に区別される。第二に、μc−
81の暗抵抗は10 Ω・二以上に調整することができ
、暗抵抗が10 Ω・二のポリクリスタリンシリコンか
らも明確に区別される。
光導電層3に光が入射するとキャリアが発生し、このキ
ャリアのうち一方の極性のものは感光体表面の帯電電荷
と中和し、他方の極性のものは光導電層3を走行して導
電性支持体に到達する。
障壁層2および光導電層3を構成する。a−81:Hお
よびμc−8t:Hにおける水素の含有量は、0.01
〜30原子チが好ましく、1〜25原子チがよシ好まし
い。このような水素の含有量によシ、シリコンのダング
リングプントが補償され、暗抵抗と明抵抗とが調和のと
れたものとなり、光導電特性が向上する。
a−8l:H層をグロー放電分解法にょシ成膜するには
、原料としてSiH,及びs1□H6等のシラン類ガス
を反応室に導入し、高周波によりグロー放電することに
よフ薄層中にHを添加することができる。
必要に応じて、シラン類のキャリアガスとして水素又は
ヘリウムをガスを使用することができる。
一方、SiF、ガス及び5ICt、f!ス等のハロゲン
化ケイ素を原料ガスとして使用することができる。また
、シラン類ガスとハロゲン化ケイ素ガスとの混合ガスで
反応させても、同様にHを含有するa−8t:Hを成膜
することができる。なお、グロー放電分解法によらず、
例えば、スパッタリング等の物理的な方法によってもこ
れ等の薄層を形成することができる。
μc−8i層も、a−81:Hと同様に、高周波グロー
放電分解法により、シランガスを原料として、成膜する
ことができる。この場合に、支持体の温度をa−81:
Hf:形成する場合よシも高く設定し、高周波電力もa
−8l:Hの場合よりも高く設定すると、μc−81:
Hを形成しやすくなる。1次、支持体温度及び高周波電
力を高くすることにより、7ランガスなどの原料ガスの
流量を増大させることができ、その結果、成膜速度を早
くすることができる。また、原料ガスのSiH,及びS
1□H6等の高次のシランガスを水素で希釈したガスを
使用することにより、μc−81:Hを一層高効率で形
成することができる。
光導電層3の上に表面層4が設けられている。
光導電層3を構成するa−8i:H等は、その屈折率が
3乃至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起
きやすい。このような光反射が生じると、光導電層に吸
収される光量の割合いが低下し、光損失が大きくなる。
このため、表面層4を設けて反射を防止することが好ま
しい。また、表面層4を設けることにより、洋導電層3
が損傷から保護される。さらに、表面層を形成すること
によシ、帯電能が向上し、表面に電荷がよくのるように
なる。
表面積を形成する材料としては、a−S iN : H
5a−8iO:Hl及びa−8iC:H等の無機化合物
並びにポリ塩化ビニル及びポリアミド等の有機材料があ
る。
このように構成される電子写真感光体の表面を、コロナ
放電によシ約500Vの正電圧で帯電させた状態で光(
hν)が入射すると、光導電層3において電子と正孔の
キャリアが発生する。この伝導帯の電子は、感光体内の
電界によシ表面層4側に向けて加速され、正孔は導電性
支持体1側に向けて加速される。この場合、従来の高抵
抗の絶縁性単一層からなる障壁層を用いると、前述のよ
うに、膜厚が厚いと光導電層から支持体へ流れるキャリ
アが障壁層を通過できず、その結果、残留電位が高くな
ってしまう。一方、膜厚が薄いと現像バイアスによシ絶
縁破壊を生じてしまう。また、障壁層としてp型又はn
型の半導体を用いた場合には、膜厚が厚いとダングリン
グ?ンド等の構造欠陥にキャリアがトラップされ、残留
電位が高くなり、一方、膜厚が薄い場合には支持体から
のキャリアを10ツクできず、帯電能が低下してしまう
。これに対し、本発明の感光体のように、障壁層を超格
子構造とすると、?テンシャル井戸層においては、量子
効果のために、超格子構造でない単一層の場合に比して
、中ヤリアの寿命が5乃至10倍と長い。また、超格子
構造においては、バンドギャップの不連続性により、周
期的なバリア層が形成されるが、中ヤリアはトンネル効
果で容易にバイアス層を通力抜けるので、キャリアの実
効移動度はバルクにおける移動度と同等であ)、キャリ
アの走行性が優れている。以上のごとく、薄層を積層し
た超格子構造によれば、高光導電特性を得ることができ
、従来の感光体よシも鮮明な画像を得ることができる。
また、このよう表超格子構造の障壁層を有する感光体は
、障壁層の膜厚を厚くしてもキャリアの“移動度や寿命
が落ちることがなく、正負両帯電共に良好な帯電能を有
している。
以下に第2図を参照し、上記実施例の電子写真感光体を
グロー放電法によシ製造する装置、並びに製造方法を説
明する。同図において、ガスざンペ21,22,23.
24には、例えば夫々SIH□B2H6,H2,CH,
等の原料ガスが収容されている。
これらガスデンベ内のガスは、流量調整用のパルプ26
及び配管27を介して混合器28に供給されるようにな
っている。各?ンペには圧力計25が設置されており、
該圧力計25を監視しつつパルプ26を調整することに
より混合器28に供給する各原料ガスの流量及び混合比
1c調節できる。
混合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給さ
れる。反応容器29の底部3Iには、回転軸30が鉛直
方向の回りに回転可能に取付けられている。該回転軸3
0の上端に、円板状の支持台32がその面を回転軸30
に垂直にして固定されている。反応容器29内には、円
筒状の電極33がその軸中心を回転軸30の軸中心と一
致させて底部31上に設置されている。感光体のドラム
基体34が支持台32上にその軸中心を回転軸30の軸
中心と一致させて載置されておシ、このドラム基体34
の内側にはドラム基体加熱用のヒータ35が配設されて
いる。電極33とドラム基体34との間には高周波電源
36が接続されておシ、電極33およびドラム基体34
間に高周波電流が供給されるようになっている。回転軸
30はモータ38により回転駆動される。反応容器29
内の圧力は圧力計37によシ監視され、反応容器29は
ケートパルプ38を介して真空ポンプ等の適宜の排気手
段に連結されている〇 上記製造装置によシ感光体を製造する場合には、反応容
器29内にドラム基体34を設置した後、f−)パルプ
39を開にして反応容器29内を約0、 I Torr
の圧力以下に排気する。次いで、デンベ21.22,2
3.24から所要の反応ガスを所定の混合比で混合して
反応容器29内に導入する。
この場合に、反応容器29内に導入するガス流量は反応
容器29内の圧力が0.1乃至1. OTorrになる
ように設定する。次いで、モータ38を作動させてドラ
ム基体34を回転させ、ヒータ35によりドラム基体3
4を一定温度に加熱すると共に、高周波電源36によシ
ミ極33とドラム基体34との間に高周波電流を供給し
て、両者間にグロー放′電を形成する。これにより、ド
ラム基体34上にμe−81:H+a−8i :Hが堆
積する。なお、原料ガス中にN20 + NH5m N
O2m N2 * CH4* C2H4* O□ガス等
を使用することによシ、窒素、炭素、酸素をμc−3i
:Hやa−81:H中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。
次に、この発明に係る電子写真感光体を成膜し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。
試験例1 必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドゲラスト処理を施した直径が89m、幅が
350111のアルミニウム製ドラム基体を反応容器内
に装着し、反応容器を約10−5トルの真空度に排気し
た。ドラム基体を250℃に加熱し、10 rpmで自
転させつつ、SiH,ガスを25 SCCM、 CH4
ガスを500800M導入し、反応容器内の圧力を0.
8 Torrとし、100Wの高周波電力を印加して5
0Xのa−8iC薄膜を形成した。
次いで5in4がスを300800M導入し、反応容器
内の圧力を0.6 Torrとして200Wの高周波を
力を印加し、50Xのa−81薄膜を形成した。次にG
eH4ガスをl OO800M導入し、40()Wの高
周波電力を印加して50Xのa−8IGeH膜を形成し
た。
このような操作を繰返して7500Xの超格子構造の障
壁層を形成した。
次に、5tH4ガスを500 SCCM、  B2H6
ガスをSiH4がスに対する流量比がlOとなるような
流量で反応容器内に導入し、反応容器内を1トルとし、
300Wの高周波電力を印加して15μmの1型a−3
t:H光導電層を形成した。
最後に、0.5μmの厚さの6−810:Hからなる表
面層を形成した。
このようにして形成した感光体に+6.5 kVの電圧
を印加すると、500Vの表面電位が得られ、5秒後の
保持率は70チであった。次に、−6,5Vの電圧を印
加したところ、 −400Vの表面電位が得られ、5秒
後の保持率は50%であった。
更に、この感光体を複写機に装着して画像を形成させ友
ところ、正負両帯電いずれの場合にも、鮮明で良好な画
像が得られた。
試験例2 障壁層の講成層の1つであるa−8i C薄層の代わフ
に1−8IN薄層を形成したことを除いて、試験例1と
同様にして電子写真感光体を製造した。
なお、a−8IN薄層は、SiH4がスを20 SCC
M。
N2ガスを6008CCMに設定し、反応室内の圧力t
 1. OTorrとして200Wの高周波電力を印加
することにより得られ九。
この感光体を試験例1と同様に複写機に装着して画像を
形成させたところ、正負両帯電いずれの場合にも、鮮明
で良好な画像が得られた。
薄層の種類は、上記試験例のように3種類に限らず、4
種類以上の薄層を積層してもよく、要するに、所定の3
種類のa−81薄層の組合せを含んでいればよい。
[発明の効果コ 本発明によれば、障壁層に3種類の薄膜の超格子構造を
用いているため、キャリアの走行性が高く、膜厚を厚く
してもキャリアの移動度や寿命が落ちることがない、正
負両帯電ともに良好な帯電能を有する感光体が得られる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の災施例に係る電子写真感光体を示す断
面図、第2図は本発明の実施例に係る電子写真感光体の
製造装置を示す図である。 1:導電性支持体、2:障穂層、3:光導電層、4:表
面層。 出願人代理人 弁理士  鈴 江 武 彦第 1因 第 2ryJ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性支持体、障壁層および光導電層を有する電
    子写真感光体において、前記障壁層は、炭素、酸素およ
    び窒素から選ばれた少なくとも1種を含む非晶質シリコ
    ン薄膜と、非晶質シリコン薄膜と、ゲルマニウムを含む
    非晶質シリコン薄膜とを交互に積層して構成されること
    を特徴とする両帯電可能な電子写真感光体。
  2. (2)前記障壁層を構成する各薄膜の膜厚は30〜50
    0Åであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の電子写真感光体。
  3. (3)前記障壁層は、周期律表第III族又は第V族に属
    する元素から選択された少なくとも一種の元素を含むこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感
    光体。
  4. (4)前記障壁層の光導電性を有する領域は、炭素、酸
    素および窒素のうちの少なくとも一種を含むことを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。
  5. (5)前記光導電層は、その少なくとも一部が微結晶化
    していることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    電子写真感光体。
  6. (6)前記光導電層の上に表面層が形成されていること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光
    体。
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