JPS63187260A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS63187260A JPS63187260A JP1989987A JP1989987A JPS63187260A JP S63187260 A JPS63187260 A JP S63187260A JP 1989987 A JP1989987 A JP 1989987A JP 1989987 A JP1989987 A JP 1989987A JP S63187260 A JPS63187260 A JP S63187260A
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- JP
- Japan
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- layer
- electrophotographic photoreceptor
- photoconductive layer
- gas
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08264—Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐環
境性等が優れた電子写真感光体に関する。
境性等が優れた電子写真感光体に関する。
[従来の技術]
水素(H)を含有するアモルファスシリコン(以下、a
−8i:Hと略す)は、近年、光電変換材料として注目
されており、太陽電池、薄膜トランジスタ、及びイメー
ジセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体に応用さ
れている。
−8i:Hと略す)は、近年、光電変換材料として注目
されており、太陽電池、薄膜トランジスタ、及びイメー
ジセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体に応用さ
れている。
従来、電子写真感光体の光導電層を構成する材料として
、CdS′、ZnO,Se、若しくは5e−Te等の無
機材料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(PVCZ)
若しくはトリニトロフルオレノン(TNF)等の有機材
料が使用されていた。
、CdS′、ZnO,Se、若しくは5e−Te等の無
機材料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(PVCZ)
若しくはトリニトロフルオレノン(TNF)等の有機材
料が使用されていた。
しかしながら、a−3’i:l−1はこれらの無機材料
又は有機材料に比して、無公害物質であるため回収処理
の必要がないこと、可視光領域で高い分光感度を有する
こと、並びに表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優
れていること等の利点を有している。このため、a−3
i:)−1は電子写真プロセスの感光体材料として注目
されている。
又は有機材料に比して、無公害物質であるため回収処理
の必要がないこと、可視光領域で高い分光感度を有する
こと、並びに表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優
れていること等の利点を有している。このため、a−3
i:)−1は電子写真プロセスの感光体材料として注目
されている。
このa−8i:Hは、カールソン方式に基づく感光体の
材料として検討が進められているが、この場合、感光体
特性として抵抗及び光感度が高いことが要求される。し
かしながら、この両特性を単一の感光体層で満足させる
ことが困難であるため、光導電層と導電性支持体との間
に障壁層を設け、かつ表面保護、反射防止および表面電
位の向上等の目的のために、光導電層上に表面層を設け
た積層型の構造にすることにより、このような要求を満
足させている。
材料として検討が進められているが、この場合、感光体
特性として抵抗及び光感度が高いことが要求される。し
かしながら、この両特性を単一の感光体層で満足させる
ことが困難であるため、光導電層と導電性支持体との間
に障壁層を設け、かつ表面保護、反射防止および表面電
位の向上等の目的のために、光導電層上に表面層を設け
た積層型の構造にすることにより、このような要求を満
足させている。
[発明が解決しようとする問題点]
ところで、従来、表面層としてはa−8iC1a−8I
N、 a−8i O等からなる絶縁性単一層が用いら
れているが、このような表面層にはダングリングボンド
やボイド等の構造欠陥が多く存在しているため、感光体
特性に好ましくない影響を与えている。例えば、感光体
を帯電し、光照射をした場合、光導電層で光キャリアが
発生す、る。光キャリアのうち正孔は導電性支持体に向
かって走行し、電子は表面層に向かって走行する。この
場合、電子は表面層をトンネル効果で通過し、感光体表
面の電荷を中和する。従って、表面層の膜厚が厚い場合
には、キャリアは表面層を通過できず、感度が悪くなり
、画像メモリを生じてしまう。また、上述のように表面
層は多くの欠陥を含んでいるため、キャリアが欠陥にト
ラップされ、残留電位の上昇を招いてしまう。更に、次
サイクルで光照射を行なうと、表面層にトラップされた
キャリアの一部が感光体表面に向かって走行し、表面電
荷を中和するため、帯電能の低下を生じてしまう。
N、 a−8i O等からなる絶縁性単一層が用いら
れているが、このような表面層にはダングリングボンド
やボイド等の構造欠陥が多く存在しているため、感光体
特性に好ましくない影響を与えている。例えば、感光体
を帯電し、光照射をした場合、光導電層で光キャリアが
発生す、る。光キャリアのうち正孔は導電性支持体に向
かって走行し、電子は表面層に向かって走行する。この
場合、電子は表面層をトンネル効果で通過し、感光体表
面の電荷を中和する。従って、表面層の膜厚が厚い場合
には、キャリアは表面層を通過できず、感度が悪くなり
、画像メモリを生じてしまう。また、上述のように表面
層は多くの欠陥を含んでいるため、キャリアが欠陥にト
ラップされ、残留電位の上昇を招いてしまう。更に、次
サイクルで光照射を行なうと、表面層にトラップされた
キャリアの一部が感光体表面に向かって走行し、表面電
荷を中和するため、帯電能の低下を生じてしまう。
逆に、表面層が薄い場合には、感光体の表面電位が低下
し、複写機やプリンタ等のプロセス設計に負担を生じて
しまう。
し、複写機やプリンタ等のプロセス設計に負担を生じて
しまう。
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、かつ高感度の
電子写真感光体を提供することを目的とする。
、帯電能が優れており、残留電位が低く、かつ高感度の
電子写真感光体を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明者らは、種々研究を重ねた結果、電子写真感光体
の表面層として超格子構造を用いることにより、上記目
的を達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至っ
た。
の表面層として超格子構造を用いることにより、上記目
的を達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至っ
た。
即ち、本発明の電子写真感光体は、導電性支持体、光導
電層および表面層を有する電子写真感光体であって、前
記表面層は、炭素濃度が異なる複数の炭素を含む非晶質
シリコン薄膜が交互に積層して構成され、かつそれぞれ
の薄膜の膜厚が30〜500人であることを特徴とする
。
電層および表面層を有する電子写真感光体であって、前
記表面層は、炭素濃度が異なる複数の炭素を含む非晶質
シリコン薄膜が交互に積層して構成され、かつそれぞれ
の薄膜の膜厚が30〜500人であることを特徴とする
。
炭素を含む非晶質シリコン(a−8i C) *膜中の
炭素濃度は、好ましくは1〜30@子%、より好ましく
は5〜15原子%である。
炭素濃度は、好ましくは1〜30@子%、より好ましく
は5〜15原子%である。
(作 用)
本発明の電子写真感光体では、表面層が超格子構造を有
しており、超格子構造を構成するa−8IC薄膜では量
子効果によりキャリアの寿命はバルク層より5〜10倍
長い。また、それぞれのa−8iCi1mlは膜厚が薄
いため、キャリアはトンネル効果によって容易にa−s
+ ce腹膜中通り抜けることができるので、キャリ
アの実効移動度はバルク層における移動度に等しく、即
ち、キャリアの走行性に優れている。
しており、超格子構造を構成するa−8IC薄膜では量
子効果によりキャリアの寿命はバルク層より5〜10倍
長い。また、それぞれのa−8iCi1mlは膜厚が薄
いため、キャリアはトンネル効果によって容易にa−s
+ ce腹膜中通り抜けることができるので、キャリ
アの実効移動度はバルク層における移動度に等しく、即
ち、キャリアの走行性に優れている。
このように、表面層におけるキャリアの寿命が長く、か
つキャリアの走行性が優れているため、電子写真感光体
の感度は著しく向上することになる。
つキャリアの走行性が優れているため、電子写真感光体
の感度は著しく向上することになる。
(実施例)
第1図は、本発明の一実施例になる電子写真感光体の断
面構造を示す図である。同図において、1は導電性支持
体である。該導電性支持体の上には障壁!2が形成され
、その上には光導電113が形成されている。更に、光
導電[13の上には表面層4が形成されている。
面構造を示す図である。同図において、1は導電性支持
体である。該導電性支持体の上には障壁!2が形成され
、その上には光導電113が形成されている。更に、光
導電[13の上には表面層4が形成されている。
以下、第1図に示す電子写真感光体の構成について、よ
り詳細に説明する。
り詳細に説明する。
導電性支持体1は、通常はアルミニウム製のドラムで構
成される。
成される。
障壁層2はμc−!9i(微結晶シリコン)やa−3i
:)lを用いて形成してもよく、またa−BN:H(窒
素および水素を添加したアモルファス硼素)を使用して
もよい。更に、絶縁性の躾を用いてもよい。例えば、μ
c−8i:H又はa −8i:Hに炭素C1窒素N及び
酸素Oから選択された元素の一種以上を含有させること
により、高抵抗の絶縁性障壁層を形成することができる
。障壁層2の膜厚は100人〜10μ冒が好ましい。
:)lを用いて形成してもよく、またa−BN:H(窒
素および水素を添加したアモルファス硼素)を使用して
もよい。更に、絶縁性の躾を用いてもよい。例えば、μ
c−8i:H又はa −8i:Hに炭素C1窒素N及び
酸素Oから選択された元素の一種以上を含有させること
により、高抵抗の絶縁性障壁層を形成することができる
。障壁層2の膜厚は100人〜10μ冒が好ましい。
μc−8(は、粒径が約数十オングストロームの微結晶
のシリコンと非晶質シリコンとの混合層により形成され
ているものと考えられ、以下のような物性上の特徴を有
している。第一に、X線回折測定では2θが28〜28
.5°付近にある結晶回折パターンを示し、ハローのみ
が現れる無定形のa−8iから明確に区別される。第二
に、μc−5fの暗抵抗は101Ω・12+以上に調整
することができ、暗抵抗が10!1Ω・1のポリクリス
タリンシリコンからも明確に区別される。
のシリコンと非晶質シリコンとの混合層により形成され
ているものと考えられ、以下のような物性上の特徴を有
している。第一に、X線回折測定では2θが28〜28
.5°付近にある結晶回折パターンを示し、ハローのみ
が現れる無定形のa−8iから明確に区別される。第二
に、μc−5fの暗抵抗は101Ω・12+以上に調整
することができ、暗抵抗が10!1Ω・1のポリクリス
タリンシリコンからも明確に区別される。
上記障壁層2は、導電性支持体1と光導電層3との間の
電荷の流れを抑制することにより感光体表面の電荷保持
機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成される
ものである。従って、半導体層を障壁層に用いてカール
ソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電させ
た電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2をP
型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電させる
に表面を負帯電させる場合には障壁層2をN型とし、表
面電荷を中和するホールが光導電層へ注入されるのを防
止する。障壁層2から注入されるキャリアは光の入射で
光導電層3内に発生するキャリアに対してノイズとなる
から、上記のようにしてキャリアの注入を防止すること
は感度の向上をもたらす。なお、μc−3i:Hやa−
8i:HをP型にするためには、周期律表の第■族に属
する元素、例えば硼素B1アルミニウムA、!、ガリウ
ムGa、インジウムIn1及びタリウムTJ1等をドー
ピングすることが好ましい。また、μC−8i:Hヤa
−8I : )(fN型にするためには周゛期律表の第
V族に属する元素、例えば窒素、燐P、砒素AS、アン
チモンSb1及びビスマス3i等をドーピングすること
が好ましい。
電荷の流れを抑制することにより感光体表面の電荷保持
機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成される
ものである。従って、半導体層を障壁層に用いてカール
ソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電させ
た電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2をP
型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電させる
に表面を負帯電させる場合には障壁層2をN型とし、表
面電荷を中和するホールが光導電層へ注入されるのを防
止する。障壁層2から注入されるキャリアは光の入射で
光導電層3内に発生するキャリアに対してノイズとなる
から、上記のようにしてキャリアの注入を防止すること
は感度の向上をもたらす。なお、μc−3i:Hやa−
8i:HをP型にするためには、周期律表の第■族に属
する元素、例えば硼素B1アルミニウムA、!、ガリウ
ムGa、インジウムIn1及びタリウムTJ1等をドー
ピングすることが好ましい。また、μC−8i:Hヤa
−8I : )(fN型にするためには周゛期律表の第
V族に属する元素、例えば窒素、燐P、砒素AS、アン
チモンSb1及びビスマス3i等をドーピングすること
が好ましい。
障壁層2の上に形成される光導電層3は、a−8i:H
又はμc−8i:)−1により構成することができる。
又はμc−8i:)−1により構成することができる。
光導電層3に光が入射するとキャリアが発生し、このキ
ャリアのうち一方の極性のものは感光体表面の帯電電荷
と中和し、他方の極性のものは光導電層3を走行して導
電性支持体に到達する。
ャリアのうち一方の極性のものは感光体表面の帯電電荷
と中和し、他方の極性のものは光導電層3を走行して導
電性支持体に到達する。
光導電層の上に表面層4が形成されている。表面層4は
、炭素濃度の異なる複数のa−8iC:Hを積層してな
る超格子構造を有している。光導電層3を構成するa−
3i:)1等は、その屈折率が3乃至3.4と比較的大
きいため、表面での光反射が起きやすい。このような光
反射が生じると、光導電層3に吸収される光量の割合い
が低下し、光損失が大きくなる。このため、表面M4を
設けて反射を防止することとしている。また、表面層4
を設けることにより、光導電層3が損傷から保護される
。さらに、表面層を形成することにより、帯電能が向上
し、表面に電荷がよくのるようになる。
、炭素濃度の異なる複数のa−8iC:Hを積層してな
る超格子構造を有している。光導電層3を構成するa−
3i:)1等は、その屈折率が3乃至3.4と比較的大
きいため、表面での光反射が起きやすい。このような光
反射が生じると、光導電層3に吸収される光量の割合い
が低下し、光損失が大きくなる。このため、表面M4を
設けて反射を防止することとしている。また、表面層4
を設けることにより、光導電層3が損傷から保護される
。さらに、表面層を形成することにより、帯電能が向上
し、表面に電荷がよくのるようになる。
障壁層2、光導電層3および表面層4を構成するa−8
i :H,a−8iC:HおよびμC−8i:Hにおけ
る水素の含有量は、0.01〜30原子%が好ましく、
1〜25原子%がより好ましい。このような水素の含有
量により、シリコンのダングリングボンドが補償され、
暗抵抗と明抵抗とが調和のとれたものとなり、光導電特
性が向上する。
i :H,a−8iC:HおよびμC−8i:Hにおけ
る水素の含有量は、0.01〜30原子%が好ましく、
1〜25原子%がより好ましい。このような水素の含有
量により、シリコンのダングリングボンドが補償され、
暗抵抗と明抵抗とが調和のとれたものとなり、光導電特
性が向上する。
a−8i:8層をグロー放電分解法により成膜するには
、原料としてSiH+及び5i2Hs等のシラン類ガス
を反応室に導入し、高周波によりグロー放電することに
より薄層中にHを添加することができる。必要に応じて
、シラン類のキャリアガスとして水素又はヘリウムガス
を使用することができる。一方、SiF+ガス及びS
i CJL+ガス等のハロゲン化ケイ素を原料ガスとし
て使用することができる。また、シラン類ガスとハロゲ
ン化ケイ素ガスとの混合ガスで反応させても、同様にH
を含有するa−S+:+を成膜することができる。なお
、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッタリング
等の物理的な方法によってもこれ等の薄層を形成するこ
とができる。
、原料としてSiH+及び5i2Hs等のシラン類ガス
を反応室に導入し、高周波によりグロー放電することに
より薄層中にHを添加することができる。必要に応じて
、シラン類のキャリアガスとして水素又はヘリウムガス
を使用することができる。一方、SiF+ガス及びS
i CJL+ガス等のハロゲン化ケイ素を原料ガスとし
て使用することができる。また、シラン類ガスとハロゲ
ン化ケイ素ガスとの混合ガスで反応させても、同様にH
を含有するa−S+:+を成膜することができる。なお
、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッタリング
等の物理的な方法によってもこれ等の薄層を形成するこ
とができる。
表面層4を構成するa−8I C: Hを形成するには
、上述の方法において、原料ガス中にCH4、C2H4
等を添加すればよい。
、上述の方法において、原料ガス中にCH4、C2H4
等を添加すればよい。
μc−3i層も、a−3i:Hと同様に、高周波グロー
放電分解法により、シランガスを原料として、成膜する
ことができる。この場合に、支持体の温度をa−8i
:Hを形成する場合よりもAく設定し、高周波電力も
a−8t:Hの場合よりも高く設定すると、μc−8t
:Hを形成しやすくなる。また、支持体温度及び高周波
電力を高くすることにより、シランガスなどの原料ガス
の流量を増大させることができ、その結果、成膜速度を
早くすることができる。□また、原料ガスのS i H
4及び5i2Hs等の高次のシランガスを水素で希釈し
たガスを使用することにより、μC−3t:Hを一層高
効率で形成することができる。
放電分解法により、シランガスを原料として、成膜する
ことができる。この場合に、支持体の温度をa−8i
:Hを形成する場合よりもAく設定し、高周波電力も
a−8t:Hの場合よりも高く設定すると、μc−8t
:Hを形成しやすくなる。また、支持体温度及び高周波
電力を高くすることにより、シランガスなどの原料ガス
の流量を増大させることができ、その結果、成膜速度を
早くすることができる。□また、原料ガスのS i H
4及び5i2Hs等の高次のシランガスを水素で希釈し
たガスを使用することにより、μC−3t:Hを一層高
効率で形成することができる。
このように構成される電子写真感光体の表面を、コロナ
放電により約500■の正電圧で帯電させた状態で光(
hν)が入射すると、光導電層3において電子と正孔の
キャリアが発生する。この伝導帯の電子は、感光体内の
電界により表面層4側に向けて加速され、正孔は導電性
支持体1側に向けて加速される。この場合、従来の高抵
抗の絶縁性単一層からなる表面層を用いると、前述のよ
うに、膜厚が厚いと光導電層から表面へ流れるキャリア
が表面層を通過できず、その結果、感度が悪くなり、ま
たダングリングボンド等の欠陥にキャリアがトラップさ
れ、残留電位の上昇を招いてしまう。一方、膜厚が薄い
と感光体の表面電位が低下し、複写機やプリント等のプ
ロセス設計に負担を生じてしまう。°これに対し、本発
明の感光体のように、表面層を超格子構造とするとポテ
ンシャル井戸層においては、量子効果のために、超格子
構造でない単一層の場合に比して、キャリアの寿命が5
乃至10倍と長い。また、超格子構造においては、バン
ドギャップの不連続性により、周期的なバリア層が形成
されるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層
を通り扱けるので、キャリアの実効移動度はバルクにお
ける移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れてい
る。以上のごとく、薄層を積層した超格子構造によれば
、高光導電特性を得ることができ、従来の感光体よりも
鮮明な画像を得ることができる。
放電により約500■の正電圧で帯電させた状態で光(
hν)が入射すると、光導電層3において電子と正孔の
キャリアが発生する。この伝導帯の電子は、感光体内の
電界により表面層4側に向けて加速され、正孔は導電性
支持体1側に向けて加速される。この場合、従来の高抵
抗の絶縁性単一層からなる表面層を用いると、前述のよ
うに、膜厚が厚いと光導電層から表面へ流れるキャリア
が表面層を通過できず、その結果、感度が悪くなり、ま
たダングリングボンド等の欠陥にキャリアがトラップさ
れ、残留電位の上昇を招いてしまう。一方、膜厚が薄い
と感光体の表面電位が低下し、複写機やプリント等のプ
ロセス設計に負担を生じてしまう。°これに対し、本発
明の感光体のように、表面層を超格子構造とするとポテ
ンシャル井戸層においては、量子効果のために、超格子
構造でない単一層の場合に比して、キャリアの寿命が5
乃至10倍と長い。また、超格子構造においては、バン
ドギャップの不連続性により、周期的なバリア層が形成
されるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層
を通り扱けるので、キャリアの実効移動度はバルクにお
ける移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れてい
る。以上のごとく、薄層を積層した超格子構造によれば
、高光導電特性を得ることができ、従来の感光体よりも
鮮明な画像を得ることができる。
以下に第3図を参照し、上記実施例の電子写真感光体を
グロー放電法により製造する装置、並びに製造方法を説
明する。同図において、ガスボンベ21.22,23.
24には、例えば夫々S i H4、B2 H6、H2
、CH4等の原料ガスが収容されている。これらガスボ
ンベ内のガスは、流量調整用のバルブ26及び配管27
を介して混合器28に供給されるようになっている。各
ボンベには圧力計25が設置されており、該圧力計25
を監視しつつパルプ26を調整することにより混合器2
8に供給する各原料ガスの流量及び混合比を調節できる
。混合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給
される。反応容器29の底部31には、回転軸30が鉛
直方向の回りに回転可能に取付けられている。該回転軸
30の上端に、円板状の支持台32がその面を回転軸3
0に垂直にして固定されている。反応容器29内には、
円筒状の電極33がその軸中心を回転軸30の軸中心と
一致させて底部31上に設置されている。
グロー放電法により製造する装置、並びに製造方法を説
明する。同図において、ガスボンベ21.22,23.
24には、例えば夫々S i H4、B2 H6、H2
、CH4等の原料ガスが収容されている。これらガスボ
ンベ内のガスは、流量調整用のバルブ26及び配管27
を介して混合器28に供給されるようになっている。各
ボンベには圧力計25が設置されており、該圧力計25
を監視しつつパルプ26を調整することにより混合器2
8に供給する各原料ガスの流量及び混合比を調節できる
。混合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給
される。反応容器29の底部31には、回転軸30が鉛
直方向の回りに回転可能に取付けられている。該回転軸
30の上端に、円板状の支持台32がその面を回転軸3
0に垂直にして固定されている。反応容器29内には、
円筒状の電極33がその軸中心を回転軸30の軸中心と
一致させて底部31上に設置されている。
感光体のドラム基体34が支持台32上にその軸中心を
回転軸30の軸中心と一致させて載置されており、この
ドラム基体34の内側にはドラム基体加熱用のヒータ3
5が配設されている。電極33とドラム基体34との間
には高周波′R源36が接続されており、電極33およ
びドラム基体34間に高周波電流が供給されるようにな
っている。回転軸30はモータ38により回転駆動され
る。反応容器29内の圧力は圧力計37により監視され
、反応容器29はゲートバルブ38を介して真空ポンプ
等の適宜の排気手段に連結されている。
回転軸30の軸中心と一致させて載置されており、この
ドラム基体34の内側にはドラム基体加熱用のヒータ3
5が配設されている。電極33とドラム基体34との間
には高周波′R源36が接続されており、電極33およ
びドラム基体34間に高周波電流が供給されるようにな
っている。回転軸30はモータ38により回転駆動され
る。反応容器29内の圧力は圧力計37により監視され
、反応容器29はゲートバルブ38を介して真空ポンプ
等の適宜の排気手段に連結されている。
上記製造装置により感光体を製造する場合には、反応容
器29内にドラム基体34を設置した後、ゲートバルブ
39を開にして反応容器29内を約0.1TOrrの圧
力以下に排気する。次いで、ボンベ21.22,23.
24から所要の反応ガスを所定の混合比で混合して反応
容器29内に導入する。この場合に、反応容器29内に
導入するガス流量は反応容器29内の圧力が0.1乃至
1.0T orrになるように設定する。次いで、モー
タ38を作動させてドラム基体34を回転させ、ヒータ
35によりドラム基体34を一定温度に加熱すると共に
、高周波電源36により電極33とドラム基体34との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体34上にμc−8t:H
やa−8i:Hが堆積する。なお、原料ガス中にN20
、NH3、NO2、N2 、CH4,02H4、Ozガ
ス等を使用することにより、窒素、炭素、酸素をμC−
8i:Hやa−8i:H中に含有させることができる。
器29内にドラム基体34を設置した後、ゲートバルブ
39を開にして反応容器29内を約0.1TOrrの圧
力以下に排気する。次いで、ボンベ21.22,23.
24から所要の反応ガスを所定の混合比で混合して反応
容器29内に導入する。この場合に、反応容器29内に
導入するガス流量は反応容器29内の圧力が0.1乃至
1.0T orrになるように設定する。次いで、モー
タ38を作動させてドラム基体34を回転させ、ヒータ
35によりドラム基体34を一定温度に加熱すると共に
、高周波電源36により電極33とドラム基体34との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体34上にμc−8t:H
やa−8i:Hが堆積する。なお、原料ガス中にN20
、NH3、NO2、N2 、CH4,02H4、Ozガ
ス等を使用することにより、窒素、炭素、酸素をμC−
8i:Hやa−8i:H中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。
次に、この発明に係る電子写真感光体を成模し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。
真特性を試験した結果について説明する。
試験例
必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80層g+、
幅が350mのアルミニウム製ドラム基体を反応容器内
に装着し、反応容器を約104トルの真空度に排気した
。ドラム基体を250”Cに加熱し、10rp層で自転
させつつ、S I 84ガスを500SCCM、82
H6ガスをSiH+ガスに対する流量比で10°3とい
う流量で反応器内に導入し、反応器内の圧力を1TOr
rに調節し、13.56MH2の高周波電力を印加して
プラズマを発生させ、ドラム基体上にP型a−8i:H
かうなる障壁層を形成した。
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80層g+、
幅が350mのアルミニウム製ドラム基体を反応容器内
に装着し、反応容器を約104トルの真空度に排気した
。ドラム基体を250”Cに加熱し、10rp層で自転
させつつ、S I 84ガスを500SCCM、82
H6ガスをSiH+ガスに対する流量比で10°3とい
う流量で反応器内に導入し、反応器内の圧力を1TOr
rに調節し、13.56MH2の高周波電力を印加して
プラズマを発生させ、ドラム基体上にP型a−8i:H
かうなる障壁層を形成した。
次いで、SiH+ガスを500SCGMSH2ガスを2
0O8CGMS82 HSガスをS i H4ガスとの
流量比10−6で反応室内に導入し、500Wの高周波
電力を加えて30μ■のi型a−8i:Hからなる光導
電層を形成した。
0O8CGMS82 HSガスをS i H4ガスとの
流量比10−6で反応室内に導入し、500Wの高周波
電力を加えて30μ■のi型a−8i:Hからなる光導
電層を形成した。
次に、S i H4jfガスFr:100SCCM%H
2ガスを2008CCM、CH4ガスを181M導入し
て反応室内の圧力を0.8Torrとし、200Wの高
周波電力を印加して50人のa−8iC:H薄II(炭
素濃度:313i子%)を形成した。次いでCH4ガス
を150SCCM導入し、50人のa−8IC:H薄膜
(炭素濃度15原子%)を形成した。このような操作を
繰返し、炭素濃度が異なる15層づつのa−8i C:
Htillllからなる1500人の表面層を形成し
た。
2ガスを2008CCM、CH4ガスを181M導入し
て反応室内の圧力を0.8Torrとし、200Wの高
周波電力を印加して50人のa−8iC:H薄II(炭
素濃度:313i子%)を形成した。次いでCH4ガス
を150SCCM導入し、50人のa−8IC:H薄膜
(炭素濃度15原子%)を形成した。このような操作を
繰返し、炭素濃度が異なる15層づつのa−8i C:
Htillllからなる1500人の表面層を形成し
た。
このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
電し、白色光をを露光すると、この光は光導電層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿命が
高く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品
質の画像が得られた。また、この試験例で製造された感
光体を、繰返し帯電させたところ、転写iiI像の再現
性及び安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、
耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が優れていることが実証
された。
電し、白色光をを露光すると、この光は光導電層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿命が
高く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品
質の画像が得られた。また、この試験例で製造された感
光体を、繰返し帯電させたところ、転写iiI像の再現
性及び安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、
耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が優れていることが実証
された。
なお、薄層の種類は、上記試験例のように2種類に限ら
ず、3種類以上の薄層を繰返し積層してもよい。要する
に、炭素濃度が相違するa−8i薄層の境界が形成され
れば良い。
ず、3種類以上の薄層を繰返し積層してもよい。要する
に、炭素濃度が相違するa−8i薄層の境界が形成され
れば良い。
[発明の効果〕
本発明によれば、表面層に超格子構造を用いているため
、表面層におけるキャリアの走行性が良好であるととも
にキャリアの寿命が長く、かつ帯電特性の優れた電子写
真感光体を得ることができる。
、表面層におけるキャリアの走行性が良好であるととも
にキャリアの寿命が長く、かつ帯電特性の優れた電子写
真感光体を得ることができる。
第1図は本発明の実施例に係る電子写真感光体を示す断
面図、第オ図は本発明の実施例に係る電子写真感光体の
製造装置を示す図である。 1・・・導電性支持体、2・・・障壁層、3・・・光導
電層、4・・・表面層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 iA 1 凶 第2図 手続補正書 昭和 祁2.1月、25日
面図、第オ図は本発明の実施例に係る電子写真感光体の
製造装置を示す図である。 1・・・導電性支持体、2・・・障壁層、3・・・光導
電層、4・・・表面層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 iA 1 凶 第2図 手続補正書 昭和 祁2.1月、25日
Claims (8)
- (1)導電性支持体、光導電層および表面層を有する電
子写真感光体において、前記表面層は、炭素濃度が異な
る複数の炭素を含む非晶質シリコン薄膜を交互に積層し
て構成され、かつそれぞれの薄膜の膜厚が30〜500
Åであることを特徴とする電子写真感光体。 - (2)前記表面層は、周期律表第III族又は第V族に属
する元素から選択された少なくとも一種の元素を含むこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感
光体。 - (3)前記光導電層は、周期律表第III族又は第V族に
属する元素から選択された少なくとも一種の元素を含む
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真
感光体。 - (4)前記光導電層は、炭素、酸素および窒素のうちの
少なくとも一種を含むことを、特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の電子写真感光体。 - (5)前記光導電層の少なくとも一部は、非晶質半導体
又は少なくとも一部が微結晶化した半導体からなること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光
体。 - (6)前記導電性支持体と光導電層との間に、非晶質半
導体又は少なくとも一部が微結晶化した半導体からなる
障壁層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の電子写真感光体。 - (7)前記障壁層は、周期律表第III族又は第V族に属
する元素から選択された少なくとも一種の元素を含むこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感
光体。 - (8)前記障壁層は、炭素、酸素および窒素のうちの少
なくとも一種を含むことを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989987A JPS63187260A (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989987A JPS63187260A (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63187260A true JPS63187260A (ja) | 1988-08-02 |
Family
ID=12012046
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989987A Pending JPS63187260A (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63187260A (ja) |
-
1987
- 1987-01-30 JP JP1989987A patent/JPS63187260A/ja active Pending
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