JPS63191202A - バツチプロセス制御方式 - Google Patents
バツチプロセス制御方式Info
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- JPS63191202A JPS63191202A JP2231187A JP2231187A JPS63191202A JP S63191202 A JPS63191202 A JP S63191202A JP 2231187 A JP2231187 A JP 2231187A JP 2231187 A JP2231187 A JP 2231187A JP S63191202 A JPS63191202 A JP S63191202A
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- previous
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、プロセス制御のオートチューニング方式に係
り、特に、同一処理を繰り返すバッチプロセスの制御方
式に関する。
り、特に、同一処理を繰り返すバッチプロセスの制御方
式に関する。
従来、プロセス制御のオートチューニング方式は、連続
プロセス又はバッチプロセスでも1回の処理を対象に考
えたものであり、バッチプロセスのバッチごとに同じ処
理を繰り返し行うという点を利用して、前回処理による
情報を使って行う方法はなかった。
プロセス又はバッチプロセスでも1回の処理を対象に考
えたものであり、バッチプロセスのバッチごとに同じ処
理を繰り返し行うという点を利用して、前回処理による
情報を使って行う方法はなかった。
従来のオートチューニング方式において、操作量・制御
量の入出力情報によりプロセスを逐次同定しながら制御
する方式がある。これは、プロセスの特性が非線形・時
変系であり、たえずプロセスの状態変化が予想されるも
のに有効な方式である。しかしこの方式においては、プ
ロセス同定開始直後やプロセス特性が急変するところで
、どうしてもプロセス同定にある程度時間がかかるため
。
量の入出力情報によりプロセスを逐次同定しながら制御
する方式がある。これは、プロセスの特性が非線形・時
変系であり、たえずプロセスの状態変化が予想されるも
のに有効な方式である。しかしこの方式においては、プ
ロセス同定開始直後やプロセス特性が急変するところで
、どうしてもプロセス同定にある程度時間がかかるため
。
制御性能が劣化するなどの問題があった。
本発明の目的は、バッチプロセスを対象としオートチュ
ーニング方式により制御する揚台2において、同定開始
時やプロセス特性が急変する部分における制御性の劣化
を、バッチプロセスの特徴である同一処理を繰り返すこ
とに注目して、前回処理のときの情報を利用することに
より制御性が劣化する部分の制御性能向上を計ることで
ある。
ーニング方式により制御する揚台2において、同定開始
時やプロセス特性が急変する部分における制御性の劣化
を、バッチプロセスの特徴である同一処理を繰り返すこ
とに注目して、前回処理のときの情報を利用することに
より制御性が劣化する部分の制御性能向上を計ることで
ある。
上記目的を達成するため、前回処理の情報の蓄積と、活
用をつぎのようにおこなう。
用をつぎのようにおこなう。
まず、同定部で逐次推定され操作量演算部に送△
られる推定パラメータ0を推定する方法としては一般に
最小二乗法などが用いられ、そのアルゴリ・・・(2) Δ ここで0は、対象プロセスが i=1 で記述できたときの未知パラメータの推定値を、・・・
(4) Zは(5)式で表わされる観測ベクトルである。
最小二乗法などが用いられ、そのアルゴリ・・・(2) Δ ここで0は、対象プロセスが i=1 で記述できたときの未知パラメータの推定値を、・・・
(4) Zは(5)式で表わされる観測ベクトルである。
z”(t)= (y(t−t)ty(t−2で)t−w
y(t−n τ)tu(t−d t)、u(t−t −
d t)、−、u(t−ms −d t))・・・(5
) またρは、過去の入出力情報が推定値へ寄与する割合を
表わす忘れ係数で、Pは入出力情報の関係を示す適応ゲ
インと呼ばれるものである。
y(t−n τ)tu(t−d t)、u(t−t −
d t)、−、u(t−ms −d t))・・・(5
) またρは、過去の入出力情報が推定値へ寄与する割合を
表わす忘れ係数で、Pは入出力情報の関係を示す適応ゲ
インと呼ばれるものである。
一方、操作量演算部では、プロセスの遅れ時間dを考慮
して制御量y(t+dτ)が目標値r(t+dτ)と一
致するように、すなわち r(t+d t) y(t+d t)=O”(6)八 が満されるように、同定部で推定したθを用いて操作M
u (t)を決定する。式で具体化すると、(3)式よ
りy(t+dτ)は、 y(t+d t)=−aly(t+d t−v)−az
y(t+d τ−2τ)−−−−−any(t+dx−
nt)+bou(t;)+btu(t−τ)十・・・+
b、u(t−mτ) −(7)で
あり、 (6)式と(7)式よりu (k)を求める式
は次式となる。
して制御量y(t+dτ)が目標値r(t+dτ)と一
致するように、すなわち r(t+d t) y(t+d t)=O”(6)八 が満されるように、同定部で推定したθを用いて操作M
u (t)を決定する。式で具体化すると、(3)式よ
りy(t+dτ)は、 y(t+d t)=−aly(t+d t−v)−az
y(t+d τ−2τ)−−−−−any(t+dx−
nt)+bou(t;)+btu(t−τ)十・・・+
b、u(t−mτ) −(7)で
あり、 (6)式と(7)式よりu (k)を求める式
は次式となる。
■
u(t)= (r(t+d τ)+a1y(t
+d v−t)+−・−b。
+d v−t)+−・−b。
+an3’(t+d f−n y)−btu(t−y)
−−bmu(t−mτ))・・・(8) さて、ここで注目すべきことは、同定部と操作量演算部
における入出力情報の違いである。操作量演算部では、
u (k)を決定するために用いる入出力情報は、(8
)式から (y(を十dt)、−、y(t+d τ−nt)、u(
t+t)、−u(t−mτ))・・・(9) 八 であるから、ここで用いる推定パラメータ0は、(9)
式にu (t)を加えて、 (y(t+cl ? )+・−・ty(t+df−n
t)* u (t)、 −u (t−m で)) =(
t0)により推定されるべきである。しかし実際に同定
Δ 部より送られてくる0は (y(t)+”’ty(t−n t)、u(t−d t
)+ ・・’u(t−dt−mτ))・・・(t1) 使っていることになる。そこで1本発明ではこの八 ような0の時間のずれをなくすために、前回処理へ で各時刻ごとに推定した0をデータとして保存し、次の
処理においてt時刻の操作量u (t)の計算式 に前回の時刻t+dτの(?(t+dτ)を用いるよう
にした。これにより、前回と次の処理の間に、時間軸に
対して、プロセスの状態が同じであれば△ 0の時間ずれが解消され制御性能が向上する。
−−bmu(t−mτ))・・・(8) さて、ここで注目すべきことは、同定部と操作量演算部
における入出力情報の違いである。操作量演算部では、
u (k)を決定するために用いる入出力情報は、(8
)式から (y(を十dt)、−、y(t+d τ−nt)、u(
t+t)、−u(t−mτ))・・・(9) 八 であるから、ここで用いる推定パラメータ0は、(9)
式にu (t)を加えて、 (y(t+cl ? )+・−・ty(t+df−n
t)* u (t)、 −u (t−m で)) =(
t0)により推定されるべきである。しかし実際に同定
Δ 部より送られてくる0は (y(t)+”’ty(t−n t)、u(t−d t
)+ ・・’u(t−dt−mτ))・・・(t1) 使っていることになる。そこで1本発明ではこの八 ような0の時間のずれをなくすために、前回処理へ で各時刻ごとに推定した0をデータとして保存し、次の
処理においてt時刻の操作量u (t)の計算式 に前回の時刻t+dτの(?(t+dτ)を用いるよう
にした。これにより、前回と次の処理の間に、時間軸に
対して、プロセスの状態が同じであれば△ 0の時間ずれが解消され制御性能が向上する。
この場合、時刻tにおける操作量u (t)は前回とそ
の次の処理では値が変り、当然制御量y(t)も変わる
。したがって、プロセスの状態が前回と次では時間軸に
対し同じではなく時間的にずれることが考えられるので
、上記処理により望Δ ましい0を持ってくるためにも、この時間のずれを補正
する必要がある。そのために、後の実施例であげるよう
に、制御bty (t)の大きさによりプロセスの状態
が変化する速度が変わることが経験によってわかってい
るから、前回と今回の制御Ity (t)の差を求め、
その差により経験に基づいて作ったテーブルから時間の
補正量を読み出し、時間軸を補正する。
の次の処理では値が変り、当然制御量y(t)も変わる
。したがって、プロセスの状態が前回と次では時間軸に
対し同じではなく時間的にずれることが考えられるので
、上記処理により望Δ ましい0を持ってくるためにも、この時間のずれを補正
する必要がある。そのために、後の実施例であげるよう
に、制御bty (t)の大きさによりプロセスの状態
が変化する速度が変わることが経験によってわかってい
るから、前回と今回の制御Ity (t)の差を求め、
その差により経験に基づいて作ったテーブルから時間の
補正量を読み出し、時間軸を補正する。
次に、従来の方式で同定が不完全な部分で起りつる制御
量の振動を抑制する処理について述べる。
量の振動を抑制する処理について述べる。
まず、前回処理時の操作量u (k)を蓄積し、それに
フィルタをかけたuf(k)を作り、これを今回の操作
量の基準値としておく、そこに、基準値uf(t)に対
しての今回操作量u (t)の許容範囲Δuを設定し、
uf(t)±Δuの範囲内に今△ 回の操作量がはいるように上記の前回の0(t+dτ)
を用いて計算した操作′Itu (t)を修正する。操
作量の許容範囲Δuは、今回の制御量y (t)と目標
値r (t)の偏差の大きさにより変化するようにし、
偏差が小さいほど許容範囲が小さくなるようにした。こ
れにより、操作量u (t)の振動を抑えることができ
、それにより制御量y (t)の振動を抑えることがで
きる。
フィルタをかけたuf(k)を作り、これを今回の操作
量の基準値としておく、そこに、基準値uf(t)に対
しての今回操作量u (t)の許容範囲Δuを設定し、
uf(t)±Δuの範囲内に今△ 回の操作量がはいるように上記の前回の0(t+dτ)
を用いて計算した操作′Itu (t)を修正する。操
作量の許容範囲Δuは、今回の制御量y (t)と目標
値r (t)の偏差の大きさにより変化するようにし、
偏差が小さいほど許容範囲が小さくなるようにした。こ
れにより、操作量u (t)の振動を抑えることができ
、それにより制御量y (t)の振動を抑えることがで
きる。
以上述べた処理によれば、処理回数を重ねるにつれて制
御性能が向上する。
御性能が向上する。
(作用〕
八
まず、操作量u (t)の決定に前回処理のθ(t+d
τ)を用いる方法においては、前回と今回の処理におけ
るプロセス状態が時間軸に対して同じ八 であれば、操作Jtu(t)の決定に望ましい0が使用
される。それにより前回の処理時よりも制御性能が向上
するはずで、劣下することはない。
τ)を用いる方法においては、前回と今回の処理におけ
るプロセス状態が時間軸に対して同じ八 であれば、操作Jtu(t)の決定に望ましい0が使用
される。それにより前回の処理時よりも制御性能が向上
するはずで、劣下することはない。
また、前回と今回とでプロセス状態に時間軸のずれが生
じた場合に時間軸を補正する方法においでは、経験的な
処理であるので正確に時間軸を一致させることはできな
いが、時間軸のずれをある程度改善できる。
じた場合に時間軸を補正する方法においでは、経験的な
処理であるので正確に時間軸を一致させることはできな
いが、時間軸のずれをある程度改善できる。
制御量y (t)の振動を抑制する方法においては、制
御量y (t)の振動をその原因である操作量u (t
)の振動を抑えることによっておこなっており、また操
作量の基準値として前回の操作量をフィルタリングした
ものを使っているので、極端に制御を乱すような操作M
u (t)をプロセスに加えられることはない。
御量y (t)の振動をその原因である操作量u (t
)の振動を抑えることによっておこなっており、また操
作量の基準値として前回の操作量をフィルタリングした
ものを使っているので、極端に制御を乱すような操作M
u (t)をプロセスに加えられることはない。
以下、本発明の一実施例を説明する。
第1図は1本発明を適用する制御装置のブロック構成図
である。第1図において、制御装置5は、制御信号y
(t)と操作信号u (t)の各時系列データよりプロ
セス1のパルス伝達関数を同定する同定部3と制御目標
値r (t)と制御信号y (t)との偏差e (t)
と同定部3で同定した八 係数0(t)から操作信号u (t)を発生する操作量
演算部2と、バッチプロセス用の前回処理を行ったとき
の各種情報を蓄え、?#積した情報を処理して、それに
より次のパッチ処理の制御を援助する学習部4により構
成される。
である。第1図において、制御装置5は、制御信号y
(t)と操作信号u (t)の各時系列データよりプロ
セス1のパルス伝達関数を同定する同定部3と制御目標
値r (t)と制御信号y (t)との偏差e (t)
と同定部3で同定した八 係数0(t)から操作信号u (t)を発生する操作量
演算部2と、バッチプロセス用の前回処理を行ったとき
の各種情報を蓄え、?#積した情報を処理して、それに
より次のパッチ処理の制御を援助する学習部4により構
成される。
本実施例における制御対象のプロセス1は第2図に示す
ポリビニル塩化物重合反応(pvc)プロセスを用いた
。このプロセスは、初めに昇温していき、ある温度に達
すると急激な自己発熱をおこす。その後、反応が終りに
近づくと急激に発熱が低下するというように、高い非線
形性・時変特性を持っている。
ポリビニル塩化物重合反応(pvc)プロセスを用いた
。このプロセスは、初めに昇温していき、ある温度に達
すると急激な自己発熱をおこす。その後、反応が終りに
近づくと急激に発熱が低下するというように、高い非線
形性・時変特性を持っている。
第2図は、反応缶内19のモノマーを重塔反応させてポ
リビニール塩化物(上下水のパイプ、窓枠等に使用され
ているもの)を生成すプロセスを示すものである。モノ
マーは常温では反応を開始せず、反応の初期段階ではジ
ャケット14から熱を収吸して反応が開始される。ジャ
ケット14には、熱水あるいは冷水が第21gの反応缶
右上から流れ込み、左下に流れ出るようになっている。
リビニール塩化物(上下水のパイプ、窓枠等に使用され
ているもの)を生成すプロセスを示すものである。モノ
マーは常温では反応を開始せず、反応の初期段階ではジ
ャケット14から熱を収吸して反応が開始される。ジャ
ケット14には、熱水あるいは冷水が第21gの反応缶
右上から流れ込み、左下に流れ出るようになっている。
モノマーが反応を開始すると今度は、自己発熱し、反応
が急速に進んでしまうため、ジャケットには、冷水を流
し込まなければならない、つまり1反處の温度を一定値
に保持するようジャケットへの流入水の温度および量を
調節することが必要となる。
が急速に進んでしまうため、ジャケットには、冷水を流
し込まなければならない、つまり1反處の温度を一定値
に保持するようジャケットへの流入水の温度および量を
調節することが必要となる。
反応湿度を一定値にすると茜品質のポリビニールが生成
されるため、このような制御が不可欠となる。また、生
成物の均一性を確保するためモーター11で反応物を攪
拌する。
されるため、このような制御が不可欠となる。また、生
成物の均一性を確保するためモーター11で反応物を攪
拌する。
ミキシクグタンク15では、熱水17と冷水18を混合
し、ジャケットに流入させることができる。熱水の量を
調節するバルブ16を操作することにより、ジャケット
流入温度と量を調節できる。
し、ジャケットに流入させることができる。熱水の量を
調節するバルブ16を操作することにより、ジャケット
流入温度と量を調節できる。
制御装置5は、温度センサ13より得られる反応缶内温
度y (t)を計測し、バルブ16を操作して熱水fi
ku (t)を調節することにより、反応缶内温度を一
定に保持するよう制御する。
度y (t)を計測し、バルブ16を操作して熱水fi
ku (t)を調節することにより、反応缶内温度を一
定に保持するよう制御する。
制御装置5の中の同定部3.学習部4.操作量演算部2
について動作手順に沿って説明する。
について動作手順に沿って説明する。
バッチ反応処理によって生成されたポリマーは別の工程
に移され1次にはまた、同じようにモノマーを反応缶に
入れて反応させるという繰り返しが行われる。このくり
返しの回数を0回目というようにここでは表現し、バッ
チ処理1サイクルの処理中の時間を一般的にt時刻とい
うように表すす。
に移され1次にはまた、同じようにモノマーを反応缶に
入れて反応させるという繰り返しが行われる。このくり
返しの回数を0回目というようにここでは表現し、バッ
チ処理1サイクルの処理中の時間を一般的にt時刻とい
うように表すす。
1サイクル中のバッチ反応処理の手順について説明する
。同定部は、第7図のブロック71に示すようにまず、
観測ベクトルzT(t)を作る(前記(5)式にも表わ
した)。ここで、yはプロセスからの出力であり、Uは
、操作量である。次に、適応ゲインP (t)を(2)
式のように求める(第7図のブロック72)、更に、推
定パラターΔ タベクトル0(t)は、1回目のバッチ処理の場合には
、第7図の73のように求める。但し、211回目以降
ときは、後述するように、第8図のブロック81か、あ
るいは、第9図のブロック91のように推定パラメータ
を演算する。ここで、学習部には、前回(Q−1)のバ
ッチを推定されたΔ パラメータθm−x(t )が、1サイクルの全時刻t
について記憶されている。
。同定部は、第7図のブロック71に示すようにまず、
観測ベクトルzT(t)を作る(前記(5)式にも表わ
した)。ここで、yはプロセスからの出力であり、Uは
、操作量である。次に、適応ゲインP (t)を(2)
式のように求める(第7図のブロック72)、更に、推
定パラターΔ タベクトル0(t)は、1回目のバッチ処理の場合には
、第7図の73のように求める。但し、211回目以降
ときは、後述するように、第8図のブロック81か、あ
るいは、第9図のブロック91のように推定パラメータ
を演算する。ここで、学習部には、前回(Q−1)のバ
ッチを推定されたΔ パラメータθm−x(t )が、1サイクルの全時刻t
について記憶されている。
次に、操作量演算部においては、前記(8)式のように
操作量u (t)を求める。1回目のバッチでは、(8
)式を一般化して表わすと5次のようになる。
操作量u (t)を求める。1回目のバッチでは、(8
)式を一般化して表わすと5次のようになる。
Δ
ux(t)=f (0t(tL y(t)、Ll(t)
)−・(t3)ここでuz(t)は、1回目のバッチの
七時刻の操作量、関数fは(8)式の形式、y(t)は
、時刻を十dτ−nτからt+dτ−τまでの観測値、
ul(t)は時刻t−mτからt−τまでの操作量であ
る。
)−・(t3)ここでuz(t)は、1回目のバッチの
七時刻の操作量、関数fは(8)式の形式、y(t)は
、時刻を十dτ−nτからt+dτ−τまでの観測値、
ul(t)は時刻t−mτからt−τまでの操作量であ
る。
2回目以降のバッチ処理の場合には、後述するように、
操作tuD)の決定に前回処理時のΔ 0□−、(t+dτ)を用いる方法では、次のようにな
る。
操作tuD)の決定に前回処理時のΔ 0□−、(t+dτ)を用いる方法では、次のようにな
る。
八
ua(j)= f (On−z(t +d’tL y
m(t)、un(t))・・・(t4) また、2回目以降の場合に、プロセス状態の時間軸のず
れを補正する方法では5次のようになる。
m(t)、un(t))・・・(t4) また、2回目以降の場合に、プロセス状態の時間軸のず
れを補正する方法では5次のようになる。
八
us(t)=f(θm−t(t + d τ十d τ)
、ym(t )+um(t ))・・・(t5) ここでαについては後述する。
、ym(t )+um(t ))・・・(t5) ここでαについては後述する。
このプロセス1に対して上記制御装置5を用い。
本発明により制御した場合の効果を以下に示す。
まず、操作量u (t)の決定に前回処理時の八
〇 a−t(t + dτ)を用いる方法について説明
する。
する。
1回目の処理のときの操作量ur(t)の計算は、従来
の方式により同定部3で推定された(Is(t)により
行う。これは第7図の手順で行う、2回目へ 以降は、学習部4にVI積された前回のθm−t(t+
dで)を用いる。また同定部3において、(t)八 式によるθ處(t)の計算に2回目以降は、τ時刻へ 前のa m−s (を−τ)を用いるのではなく1代り
に学習部4に蓄積された前回処理のときのθm、−n(
t )を用いる。第7図のブロック73を第8図のブロ
ック81に置き換え実行すること毒こ相当する。この方
法を用いて制御を行った結果を第3図に示す。
の方式により同定部3で推定された(Is(t)により
行う。これは第7図の手順で行う、2回目へ 以降は、学習部4にVI積された前回のθm−t(t+
dで)を用いる。また同定部3において、(t)八 式によるθ處(t)の計算に2回目以降は、τ時刻へ 前のa m−s (を−τ)を用いるのではなく1代り
に学習部4に蓄積された前回処理のときのθm、−n(
t )を用いる。第7図のブロック73を第8図のブロ
ック81に置き換え実行すること毒こ相当する。この方
法を用いて制御を行った結果を第3図に示す。
本実施例では、立上りの制御性能の向上が顕著であるの
で第3図では、全処理工程のうち、始めの昇温から発熱
プロセスの部分を示す、つまり、PVCプロセスの温度
を一定に維持するように制御したときの制御性能を示す
、(a)は処理回数1回目、(b)は2回目、(c)は
5回目のときである。それぞれを比較してわかるように
、従来方式による1回目より本発明による方式を用いた
2回目のほうが立上りが良くなっており、さらに2回目
より5回目の哄うが良く、制御性能が向上されたことが
わかる。
で第3図では、全処理工程のうち、始めの昇温から発熱
プロセスの部分を示す、つまり、PVCプロセスの温度
を一定に維持するように制御したときの制御性能を示す
、(a)は処理回数1回目、(b)は2回目、(c)は
5回目のときである。それぞれを比較してわかるように
、従来方式による1回目より本発明による方式を用いた
2回目のほうが立上りが良くなっており、さらに2回目
より5回目の哄うが良く、制御性能が向上されたことが
わかる。
次に、前回と今回のブロス状態の時間軸のずれを補iE
する方法について説明する。本実施例のPvCプロセス
の場合、制御量である反応物の温度が高ければプロセス
状態の変化が速くなり、逆に低いと変化は遅くなること
がわかっている。そこで、前回と今回の時刻tにおける
制御ftky (t)の差を求め、第6図のようなテー
ブルを用意しておき、それによって今回のほうが高けれ
ば時間軸を進ませ、低くければ遅らせるようにし、また
制御量の差の大きさによりその補正する量を決めるよう
にした。
する方法について説明する。本実施例のPvCプロセス
の場合、制御量である反応物の温度が高ければプロセス
状態の変化が速くなり、逆に低いと変化は遅くなること
がわかっている。そこで、前回と今回の時刻tにおける
制御ftky (t)の差を求め、第6図のようなテー
ブルを用意しておき、それによって今回のほうが高けれ
ば時間軸を進ませ、低くければ遅らせるようにし、また
制御量の差の大きさによりその補正する量を決めるよう
にした。
前回と次の制御量y !(t ) 、 y z(t )
を比較する場合に、それらが振動的である場合を考えて
いるので、次のような観測値にフィルタをかけたものを
比較する。
を比較する場合に、それらが振動的である場合を考えて
いるので、次のような観測値にフィルタをかけたものを
比較する。
yz(t)=hly(t)+(hz−hx)y(t−τ
)+()ta−hl)y(t−2τ)+ (t,0−h
a) y (t −3τ) ・・・(t
6)ここでhl”haは、1以下の定数 法のようにフィルタをかけたものの差を求める。
)+()ta−hl)y(t−2τ)+ (t,0−h
a) y (t −3τ) ・・・(t
6)ここでhl”haは、1以下の定数 法のようにフィルタをかけたものの差を求める。
yzt(t) yz(t) ”’
(t7)この値が、温度差であり、第6図の第1カラム
に相当する。第6図の表に基づき、第9図の91、およ
び(t5)式のαを次のように求める。ここで。
(t7)この値が、温度差であり、第6図の第1カラム
に相当する。第6図の表に基づき、第9図の91、およ
び(t5)式のαを次のように求める。ここで。
yzl(t)−yz*(t)が、正がまたは負が連続し
て続いたときに、第6図の数値を加算して°“1”以上
になったならば1時刻tをτ時叩進めるかまたは、1時
間遅らせる0例えば、v an(t) y xz(t
)の値が正で2°にである場合が連続して2回起った場
合は、 0.67+0.67=1.34 ・・・(t
8)となり、1時刻が前記したαとして求められる。
て続いたときに、第6図の数値を加算して°“1”以上
になったならば1時刻tをτ時叩進めるかまたは、1時
間遅らせる0例えば、v an(t) y xz(t
)の値が正で2°にである場合が連続して2回起った場
合は、 0.67+0.67=1.34 ・・・(t
8)となり、1時刻が前記したαとして求められる。
この方法を用いた結果を第4図に示す、第4図は第:3
図と同じく昇温から発熱プロセスの部分で。
図と同じく昇温から発熱プロセスの部分で。
前回と今回のプロセス状態の時間軸のずれを補正する方
法を用いたときの制御性能を示す図である。
法を用いたときの制御性能を示す図である。
(a)は処理回数2回目、(b)は5回目のときである
。第3図の時間軸の補正を行なわなかった場合と比べ、
2回目、5回目とも制御性能が向上し、効果があること
がわかる。
。第3図の時間軸の補正を行なわなかった場合と比べ、
2回目、5回目とも制御性能が向上し、効果があること
がわかる。
最後に、制御量が振動的習ある場合にその振動を抑制す
る方法について説明する。今回の操作域の基準値となる
uz(t)は、学習部に蓄積した前回の操作量より、次
式のようにして求める。
る方法について説明する。今回の操作域の基準値となる
uz(t)は、学習部に蓄積した前回の操作量より、次
式のようにして求める。
un(t)=htu(t)+(ha−ht)X(u (
t −τ)+ u (t + τ))/ 2+・=”・
+(t,0−hn)X(u(t −n t)+u(t+
n で))/2.0・・・(t9) 操作量の許容範囲Δuは、今回のt時刻の制御量y (
t)と目標値r (t)より(t3)式で求めるように
した。
t −τ)+ u (t + τ))/ 2+・=”・
+(t,0−hn)X(u(t −n t)+u(t+
n で))/2.0・・・(t9) 操作量の許容範囲Δuは、今回のt時刻の制御量y (
t)と目標値r (t)より(t3)式で求めるように
した。
Δu= I r(t)−y(tN Xβ ・・・
(20)(βは変換係数) (t6)式で求めたuj(t)とと記で求めた△ Δuにより、前に述べた前回処理の0 (t + dτ
)を用いて計算したu (t)を次に示すように修止す
ることとした。(t9)式のuz(t)と(20)式の
Δuを用いて、 ut(t)−Δu<:u(t)≦u、(t)+Δuであ
ればu(t)=u1(t)u(t)<un(t)−Δu
であればu(t)=uz(t)−Δuu(t)>uf(
t)+Δuであれば−u(t)=ut(t)+Δuとす
る。このように、操作量の許容範囲を設け。
(20)(βは変換係数) (t6)式で求めたuj(t)とと記で求めた△ Δuにより、前に述べた前回処理の0 (t + dτ
)を用いて計算したu (t)を次に示すように修止す
ることとした。(t9)式のuz(t)と(20)式の
Δuを用いて、 ut(t)−Δu<:u(t)≦u、(t)+Δuであ
ればu(t)=u1(t)u(t)<un(t)−Δu
であればu(t)=uz(t)−Δuu(t)>uf(
t)+Δuであれば−u(t)=ut(t)+Δuとす
る。このように、操作量の許容範囲を設け。
その範囲内で、操作量を決定する。この方法を用いた結
果を第5図に示す、第5図は第3図と同じく昇温から発
熱プロセスの部分であり、縦軸の温度について拡大した
ものである。(a)は処理回数1回目、(b)は2回目
、(C)は5回目のときである。1回目で起きている振
動は、本方式を用いたことにより2回目では抑制されて
おり、5回目においても振動は抑えられ効果があること
がわかる。
果を第5図に示す、第5図は第3図と同じく昇温から発
熱プロセスの部分であり、縦軸の温度について拡大した
ものである。(a)は処理回数1回目、(b)は2回目
、(C)は5回目のときである。1回目で起きている振
動は、本方式を用いたことにより2回目では抑制されて
おり、5回目においても振動は抑えられ効果があること
がわかる。
本発明によれば、バッチプロセスを対象にオートチュー
ニング方式により制御する場合において、バッチごとに
同じ処理を繰り返す点に着目し前回の処理の情報を前記
手段により次の処理に反映させることで、従来の方式に
おいて制御が不完全であった部分を改善することができ
、処理回数を重ねるごとに制御性能が向上していくとい
う効果がある。
ニング方式により制御する場合において、バッチごとに
同じ処理を繰り返す点に着目し前回の処理の情報を前記
手段により次の処理に反映させることで、従来の方式に
おいて制御が不完全であった部分を改善することができ
、処理回数を重ねるごとに制御性能が向上していくとい
う効果がある。
第1図は本発明を適用する制御装置のブロック構成図、
第2図は本発明の実施例に用いたポリビニル塩化物重合
反応プロセスの概略図、第3〜5図は第1図の制御装置
により第2図のプロセスを制御したときの結果で、第3
図は前回処理の八 0 m−5c t + dτ)により操作量u (t)
を計算する方法を用いたときの制御xi(温度)の時間
変化を示す図、第4図は、制御量y (t)により時間
軸を補正する方法を用いたときの制御性能を示すv4.
第5図は、制御量y (t)の振動を抑制する方法を用
いたときの制御性能を示す回、第3図。 第5図における各(a)は処理回数1回目、(b)は2
回目、(C)は5回目であり、第4図における各(a)
は処理回数2回目、(b)は5回目である。第6図は時
間軸補正に用いるテーブルの一例である。第7図は、1
回目の制御を行うときの同定部の動作手順を示すフロー
チャート、第8図へ は、前回処理のOm−z(t+dτ)より今回の推定パ
ラメータを求める図、第9図は1時間軸を補正する場合
の推定パラメータを求める図である。
第2図は本発明の実施例に用いたポリビニル塩化物重合
反応プロセスの概略図、第3〜5図は第1図の制御装置
により第2図のプロセスを制御したときの結果で、第3
図は前回処理の八 0 m−5c t + dτ)により操作量u (t)
を計算する方法を用いたときの制御xi(温度)の時間
変化を示す図、第4図は、制御量y (t)により時間
軸を補正する方法を用いたときの制御性能を示すv4.
第5図は、制御量y (t)の振動を抑制する方法を用
いたときの制御性能を示す回、第3図。 第5図における各(a)は処理回数1回目、(b)は2
回目、(C)は5回目であり、第4図における各(a)
は処理回数2回目、(b)は5回目である。第6図は時
間軸補正に用いるテーブルの一例である。第7図は、1
回目の制御を行うときの同定部の動作手順を示すフロー
チャート、第8図へ は、前回処理のOm−z(t+dτ)より今回の推定パ
ラメータを求める図、第9図は1時間軸を補正する場合
の推定パラメータを求める図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、制御対象となるプロセスの操作量u(t)と制御量
y(t)の入出力情報によりプロセスパラメータの推定
値■(t)を得る同定部と、上記制御量y(t)とプロ
セスの目標値r(t)との偏差e(t)および上記推定
されたパラメータ■(t)を用いて操作量u(t)を演
算する操作量演算部を具備するオートチューニング方式
のプロセス制御装置において、前回処理を行ったときの
制御情報を蓄え、該制御情報を次回処理に利用できるか
たちに変換する学習部を設け、変換された情報を基に次
回処理を行うことを特徴とするバッチプロセス制御方式
。 2、処理回数2回目以降の次回処理において、上記操作
量u(t)の計算には、現時刻tよりプロセスの遅れ時
間dτだけ後の時刻(t+dτ)に前回処理で推定した
プロセスパラメータ ■(t+dτ)を用いることを特徴とする第1項のバッ
チプロセス制御方式。 3、前回処理と今回処理のプロセス状態の時間に対する
ずれを、前回処理と今回処理の上記制御量y(t)の偏
差の大きさから、あらかじめ与えられたテーブルを用い
て補正することを特徴とする第1項のバッチプロセス制
御方式。 4、前回処理時の操作量u(t)にフィルタをかけた量
u_f(t)を今回処理の操作量の基準値とし、また今
回処理の制御量y(t)と目標値r(t)の偏差から今
回処理の操作量の基準値u(t)からの許容範囲Δuを
算出して、 u_f(t)±Δu内に操作量u(t)がおさまるよう
に、上記プロセスパラメータ■(t+dτ)により求め
た操作量を修正することを特徴とする第2項のバッチプ
ロセス制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2231187A JPS63191202A (ja) | 1987-02-04 | 1987-02-04 | バツチプロセス制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2231187A JPS63191202A (ja) | 1987-02-04 | 1987-02-04 | バツチプロセス制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63191202A true JPS63191202A (ja) | 1988-08-08 |
Family
ID=12079193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2231187A Pending JPS63191202A (ja) | 1987-02-04 | 1987-02-04 | バツチプロセス制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63191202A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03148714A (ja) * | 1989-11-04 | 1991-06-25 | Katsuhisa Furuta | 調整入力による炉温制御装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58208801A (ja) * | 1982-05-29 | 1983-12-05 | Toshiba Corp | プロセス制御装置 |
| JPS61256405A (ja) * | 1985-05-10 | 1986-11-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 適応制御装置 |
| JPS62105617A (ja) * | 1985-11-05 | 1987-05-16 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 射出成形機の速度・圧力制御装置 |
-
1987
- 1987-02-04 JP JP2231187A patent/JPS63191202A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58208801A (ja) * | 1982-05-29 | 1983-12-05 | Toshiba Corp | プロセス制御装置 |
| JPS61256405A (ja) * | 1985-05-10 | 1986-11-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 適応制御装置 |
| JPS62105617A (ja) * | 1985-11-05 | 1987-05-16 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 射出成形機の速度・圧力制御装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03148714A (ja) * | 1989-11-04 | 1991-06-25 | Katsuhisa Furuta | 調整入力による炉温制御装置 |
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