JPS63193068A - 自動ピーク振幅測定方法 - Google Patents
自動ピーク振幅測定方法Info
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- JPS63193068A JPS63193068A JP63012439A JP1243988A JPS63193068A JP S63193068 A JPS63193068 A JP S63193068A JP 63012439 A JP63012439 A JP 63012439A JP 1243988 A JP1243988 A JP 1243988A JP S63193068 A JPS63193068 A JP S63193068A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/04—Measuring peak values or amplitude or envelope of AC or of pulses
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/32—Circuits for displaying non-recurrent functions such as transients; Circuits for triggering; Circuits for synchronisation; Circuits for time-base expansion
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、トリガ回路を具えるオシロスコープに好適な
自動ピーク振幅測定方法に関する。
自動ピーク振幅測定方法に関する。
[従来技術及び発明が解決しようとする課題]オシロス
コープの重要な用途には、電気信号の振幅測定がある。
コープの重要な用途には、電気信号の振幅測定がある。
振動する信号については、その信号の最大値から最小値
までの振幅(以下、ピーク振幅と記す)が特に測定対象
になる。オペレータがこの情報を得るには単にオシロス
コープのスクリーン上に表示された波形を直読すれば良
い。
までの振幅(以下、ピーク振幅と記す)が特に測定対象
になる。オペレータがこの情報を得るには単にオシロス
コープのスクリーン上に表示された波形を直読すれば良
い。
しかし、オシロスコープで種々の測定をする際に、例え
ば、スクリーン上の予め定めた部分に信号振幅全体を表
示するように電圧目盛りを設定する場合、この信号のピ
ーク振幅をオシロスコープの内部情報として人力しなけ
ればならない。
ば、スクリーン上の予め定めた部分に信号振幅全体を表
示するように電圧目盛りを設定する場合、この信号のピ
ーク振幅をオシロスコープの内部情報として人力しなけ
ればならない。
従来、この振幅を測定するには、オペレータは手動調整
してスクリーン上に少なくとも信号の1周期分を表示さ
せ、スクリーン上の目盛りと波形を視覚的に比較して振
幅測定をする必要があった。
してスクリーン上に少なくとも信号の1周期分を表示さ
せ、スクリーン上の目盛りと波形を視覚的に比較して振
幅測定をする必要があった。
しかし、この作業は測定の第1段階に過ぎない。
その後オペレータは、1目盛当たりの単位(ボルト/目
盛又はミリアンペア/目盛など)を設定し、それに振幅
の目盛数及び端数の和を乗算して実際の信号のピーク振
幅を求めねばならなかった。
盛又はミリアンペア/目盛など)を設定し、それに振幅
の目盛数及び端数の和を乗算して実際の信号のピーク振
幅を求めねばならなかった。
この手動による測定方法は安易な方法ではあるが、いく
つか欠点を有する。先ず第1に、この得られた情報がオ
シロスコープの内部に記憶されていないので、他の測定
を実行するのにこの情報を利用できない。第2に、オペ
レータは目盛を読み間違え易く、目盛の分解能にも限界
があるので、この測定情報は精度が悪い。第3に、測定
した目盛数及び端数の和にオペレータが目盛単位を乗算
する際に間違える虞がある。最後に、この測定方法では
、オペレータは波形の位置を適当に定め、目盛単位を設
定し、目盛を読み取り、そして乗算を行う必要があり、
その上、結果を確かめるにはこれらの作業を再度繰り返
す必要があるので、測定に極めて時間がかかる。
つか欠点を有する。先ず第1に、この得られた情報がオ
シロスコープの内部に記憶されていないので、他の測定
を実行するのにこの情報を利用できない。第2に、オペ
レータは目盛を読み間違え易く、目盛の分解能にも限界
があるので、この測定情報は精度が悪い。第3に、測定
した目盛数及び端数の和にオペレータが目盛単位を乗算
する際に間違える虞がある。最後に、この測定方法では
、オペレータは波形の位置を適当に定め、目盛単位を設
定し、目盛を読み取り、そして乗算を行う必要があり、
その上、結果を確かめるにはこれらの作業を再度繰り返
す必要があるので、測定に極めて時間がかかる。
この手動による測定方法を改善する試みとして、例えば
、本願出願人が製造及び販売している2465型リアル
タイム・オシロスコープ等で現在用いられている振幅自
動測定方法がある。この方法によれば、オシロスコープ
の1個のトリガ回路を用いてピーク振幅を測定する。こ
のトリガ回路のトリガレベルを入力信号にトリガがかか
らなくなるまで増加し、その値を信号の最大値とする。
、本願出願人が製造及び販売している2465型リアル
タイム・オシロスコープ等で現在用いられている振幅自
動測定方法がある。この方法によれば、オシロスコープ
の1個のトリガ回路を用いてピーク振幅を測定する。こ
のトリガ回路のトリガレベルを入力信号にトリガがかか
らなくなるまで増加し、その値を信号の最大値とする。
その後、トリガレベルをトリガがかからなくなるまで減
少させ、その値を信号の最小値とする。次に、第1の値
(最大値)から第2の値(最小値〉を減算してピーク振
幅を得る。
少させ、その値を信号の最小値とする。次に、第1の値
(最大値)から第2の値(最小値〉を減算してピーク振
幅を得る。
従来の手動測定方法を改善したとは言え、この自動測定
方法はまだ比較的時間がかかる。ボルト/目盛を自動的
に調整してスクリーン上の予め定めた領域に波形全体を
表示する際等には、この測定の遅延は無視出来なくなる
。この振幅測定はオシロスコープの他のあらゆる測定動
作の基本となるので、この測定時間の遅延はオシロスコ
ープ全体の性能に大きな影響を与える。
方法はまだ比較的時間がかかる。ボルト/目盛を自動的
に調整してスクリーン上の予め定めた領域に波形全体を
表示する際等には、この測定の遅延は無視出来なくなる
。この振幅測定はオシロスコープの他のあらゆる測定動
作の基本となるので、この測定時間の遅延はオシロスコ
ープ全体の性能に大きな影響を与える。
従って、本発明の目的は、オシロスコープの入力信号の
ピーク振幅を自動的に測定する改良された方法を提供す
ることである。
ピーク振幅を自動的に測定する改良された方法を提供す
ることである。
本発明の他の目的は、ピーク振幅測定に依存しているオ
シロスコープの測定性能を改善することである。
シロスコープの測定性能を改善することである。
本発明の他の目的は、現在のオシロスコープの自動ピー
ク振幅測定に要する時間を大幅に低減することである。
ク振幅測定に要する時間を大幅に低減することである。
[課題を解決するための手段及び作用]本発明の目的を
達成する為に、本発明の自動ピーク振幅測定方法は二重
トリガ型オシロスコープの2個のトリガ回路を両方共用
いる。この方法は次の2つの手順を有する。即ち、第1
トリガ回路のトリガレベルが入力信号の最大値に等しく
なるまで自動的にレベル調整することと、他方、第2ト
リガ回路のトリガレベルが入力信号の最小値に等しくな
るまで自動的にレベル調整することである。それから、
第2レベルを第ルベルから減算してピーク振幅を計算す
る。これに要する時間を最小にする為に、この方法では
、予め選択した周波数より速い信号と遅い信号を区別し
、より高速の信号に対してはより高速に振幅を算出する
。入力信号の2つのピーク値を求める為に2つのトリガ
レベルを夫々増加及び減少させ、各トリガレベルの2つ
のヒステリシスレベルを調整し、且つ、各トリガレベル
の電圧に応じてセ)IJソング間を調整することにより
、更に測定時間を減少させている。
達成する為に、本発明の自動ピーク振幅測定方法は二重
トリガ型オシロスコープの2個のトリガ回路を両方共用
いる。この方法は次の2つの手順を有する。即ち、第1
トリガ回路のトリガレベルが入力信号の最大値に等しく
なるまで自動的にレベル調整することと、他方、第2ト
リガ回路のトリガレベルが入力信号の最小値に等しくな
るまで自動的にレベル調整することである。それから、
第2レベルを第ルベルから減算してピーク振幅を計算す
る。これに要する時間を最小にする為に、この方法では
、予め選択した周波数より速い信号と遅い信号を区別し
、より高速の信号に対してはより高速に振幅を算出する
。入力信号の2つのピーク値を求める為に2つのトリガ
レベルを夫々増加及び減少させ、各トリガレベルの2つ
のヒステリシスレベルを調整し、且つ、各トリガレベル
の電圧に応じてセ)IJソング間を調整することにより
、更に測定時間を減少させている。
[実施例]
第4図は、例えば、本出願人が製造及び販売している2
465型リアルタイム・オシロスコープ等のトリガ回路
のブロック図である。この回路を以後、測定システム(
10〉と呼ぶ。図の左側の4チャンネル前置増幅器(1
2)はCHIからCH4までの入力信号を増幅する。こ
の4チャンネル前置増幅器(12)は夫々Aトリガ回路
(14)とBトリガ回路(16)に接続され、各増幅器
の出力信号を各トリガ回路に人力する。このトリガ回路
は当該分野では周知であり、従来のマイクロプロセッサ
(MPU)及び周辺回路からなる制御回路(18)によ
って制御される。この制御回路(18)と各トリガ回路
との間には4つの信号路がある。各チャンネル選択線路
を介して、制御回路(18)は4チャンネル前置増幅器
(12)から増幅器を1つずつ選択する。トリガレベル
線路は制御回路(18)から各トリガ回路にアナログ電
圧を供給し、各トリガレベルを設定する。データ線路及
びデータクロック線路はトリガモードを設定するのに用
いられ、エツジトリガ、或いはレベル) IJガのモー
ドにしたり、入力信号の正スロープ或いは負スロープで
トリガをかけるように設定したりする。Aトリガ回路(
14)とBトリガ回路(16)は交互に各トリガステー
タス線路を介してラッチ(20)に接続される。各トリ
ガステータス線路はトリガイベントが発生したか否かを
示す論理信号を伝える。これらの論理信号はラッチ(2
0)に格納された後、ラッチ(20)が制御回路(18
)からのデータクロック線路の信号に応じてクロック駆
動されて、直列データ線路上にこれらのデータを出力し
、制御回路(18)へ供給する。
465型リアルタイム・オシロスコープ等のトリガ回路
のブロック図である。この回路を以後、測定システム(
10〉と呼ぶ。図の左側の4チャンネル前置増幅器(1
2)はCHIからCH4までの入力信号を増幅する。こ
の4チャンネル前置増幅器(12)は夫々Aトリガ回路
(14)とBトリガ回路(16)に接続され、各増幅器
の出力信号を各トリガ回路に人力する。このトリガ回路
は当該分野では周知であり、従来のマイクロプロセッサ
(MPU)及び周辺回路からなる制御回路(18)によ
って制御される。この制御回路(18)と各トリガ回路
との間には4つの信号路がある。各チャンネル選択線路
を介して、制御回路(18)は4チャンネル前置増幅器
(12)から増幅器を1つずつ選択する。トリガレベル
線路は制御回路(18)から各トリガ回路にアナログ電
圧を供給し、各トリガレベルを設定する。データ線路及
びデータクロック線路はトリガモードを設定するのに用
いられ、エツジトリガ、或いはレベル) IJガのモー
ドにしたり、入力信号の正スロープ或いは負スロープで
トリガをかけるように設定したりする。Aトリガ回路(
14)とBトリガ回路(16)は交互に各トリガステー
タス線路を介してラッチ(20)に接続される。各トリ
ガステータス線路はトリガイベントが発生したか否かを
示す論理信号を伝える。これらの論理信号はラッチ(2
0)に格納された後、ラッチ(20)が制御回路(18
)からのデータクロック線路の信号に応じてクロック駆
動されて、直列データ線路上にこれらのデータを出力し
、制御回路(18)へ供給する。
第5図は、トリガ回路(14)及び(16)のトリガス
テータスが論理信号によりどのように表されているか示
している。図の上側部分には、入力信号の波形にトリガ
回路のトリガレベルを重ねて示している。このトリガレ
ベルの上方には正のヒステリシスレベルがあり、下方に
は負のヒステリシスレベルがある。一般に、ヒステリシ
スがトリガ回路に用いられるのは、入力信号に含まれる
雑音によるトリガ回路の誤動作を防止するためである。
テータスが論理信号によりどのように表されているか示
している。図の上側部分には、入力信号の波形にトリガ
回路のトリガレベルを重ねて示している。このトリガレ
ベルの上方には正のヒステリシスレベルがあり、下方に
は負のヒステリシスレベルがある。一般に、ヒステリシ
スがトリガ回路に用いられるのは、入力信号に含まれる
雑音によるトリガ回路の誤動作を防止するためである。
図の下側部分には、トリガステータスを示す論理信号を
入力信号波形のすぐ下に示している。
入力信号波形のすぐ下に示している。
入力信号が正のヒステリシスレベルと交差するとトリガ
ステータス信号は「真(高論理状態)」になり、トリガ
イベントの発生を示す。入力信号が負のヒステリシスレ
ベルと交差すると、トリガステータス信号は「偽(低論
理状態)」になる。その後のトリガイベントを検出する
為には、入力信号が負のヒステリシスレベル以下に降下
して、先ずトリガ回路をリセットしなくてはならない。
ステータス信号は「真(高論理状態)」になり、トリガ
イベントの発生を示す。入力信号が負のヒステリシスレ
ベルと交差すると、トリガステータス信号は「偽(低論
理状態)」になる。その後のトリガイベントを検出する
為には、入力信号が負のヒステリシスレベル以下に降下
して、先ずトリガ回路をリセットしなくてはならない。
上述の例では、トリガ回路はリセットされる。しかし、
もし入力信号の値が負のヒステリシスレベル以下に・降
下しなければ、トリガ回路は自動的にリセットされるこ
とはない。その代わり、トリガレベル(及びこれに付随
するヒステリシスレベル)が増加され、負のヒステリシ
スレベルが入力信号の最小値を超えるまでトリガレベル
が増加される。
もし入力信号の値が負のヒステリシスレベル以下に・降
下しなければ、トリガ回路は自動的にリセットされるこ
とはない。その代わり、トリガレベル(及びこれに付随
するヒステリシスレベル)が増加され、負のヒステリシ
スレベルが入力信号の最小値を超えるまでトリガレベル
が増加される。
トリガステータス線路を介してラッチ(20)に入力す
る各論理信号は、このラッチ内の1対のトリガステータ
ス・ビット (ステータスセット・ビット及びステータ
スクリア・ビット)を定める。
る各論理信号は、このラッチ内の1対のトリガステータ
ス・ビット (ステータスセット・ビット及びステータ
スクリア・ビット)を定める。
ラッチ(20)のこれらのビットは、制御回路(18)
によりクロック信号に応じて周期的に読み出される。こ
れらのビットは読み出された後でクリア(「偽」に設定
)される。ラッチ(20)が読み出された後(即ち、ク
リアされた後)に入力信号の電圧が正のヒステリシスレ
ベルを超えると、ステータスセット・ビットは「真」に
なる。
によりクロック信号に応じて周期的に読み出される。こ
れらのビットは読み出された後でクリア(「偽」に設定
)される。ラッチ(20)が読み出された後(即ち、ク
リアされた後)に入力信号の電圧が正のヒステリシスレ
ベルを超えると、ステータスセット・ビットは「真」に
なる。
それ以外の場合には、ステータスセット・ビットは「偽
」のままである。ラッチ(20)がクリアされた後に入
力信号の電圧が負のヒステリシスレベルより降下すると
、ステータスクリア・ビットは「真」になる。それ以外
の場合には、ステータスクリア・ビットは「偽」のまま
である。第5図の例では、サンプル周期Tの終了時点で
ラッチ(20)から両ビットが読み出されるとき、両ビ
ットの状態は「真」である。しかし、正のヒステリシス
レベルを超える直流電圧の入力に対しては、ステータス
セット・ビットのみが「真」になる。
」のままである。ラッチ(20)がクリアされた後に入
力信号の電圧が負のヒステリシスレベルより降下すると
、ステータスクリア・ビットは「真」になる。それ以外
の場合には、ステータスクリア・ビットは「偽」のまま
である。第5図の例では、サンプル周期Tの終了時点で
ラッチ(20)から両ビットが読み出されるとき、両ビ
ットの状態は「真」である。しかし、正のヒステリシス
レベルを超える直流電圧の入力に対しては、ステータス
セット・ビットのみが「真」になる。
両トリガ回路(14)及び(16)によって定まる4つ
のステータス・ビットが、データクロック線路の信号に
応じてラッチ(20)から読み出され、制御回路(18
)に送られる。
のステータス・ビットが、データクロック線路の信号に
応じてラッチ(20)から読み出され、制御回路(18
)に送られる。
測定方法
第1図乃至第3図の流れ図は、入力信号のピーク振幅を
自動的に測定する方法を示している。この方法は、次に
説明するように従来の測定方法とは極めて異なるもので
ある。
自動的に測定する方法を示している。この方法は、次に
説明するように従来の測定方法とは極めて異なるもので
ある。
1、この方法では、入力信号が予め選択した周波数より
高いか或いは低いかを区別する。これにより、より高周
波の入力信号のピーク振幅測定が迅速に出来るので、測
定に要する時間を短縮し得る。入力信号が予め選択した
周波数より低い場合のみ、追加手順が実行される。従っ
て、この測定方法は、入力信号の周波数に適応し得る。
高いか或いは低いかを区別する。これにより、より高周
波の入力信号のピーク振幅測定が迅速に出来るので、測
定に要する時間を短縮し得る。入力信号が予め選択した
周波数より低い場合のみ、追加手順が実行される。従っ
て、この測定方法は、入力信号の周波数に適応し得る。
予め選択される周波数は、入力信号の予想周波数範囲に
基づいて選択される。
基づいて選択される。
2、この方法は、Aトリガ回路(14)とBトリガ回路
(16)の両方の回路で用いられる。Aトリガ回路は最
大値を測定するのに用い、Bトリガ回路は最小値を測定
するのに用いる。このように、2つのトリガ回路を用い
ることにより、1つのトリガ回路しか使わない場合より
測定が高速に行える。
(16)の両方の回路で用いられる。Aトリガ回路は最
大値を測定するのに用い、Bトリガ回路は最小値を測定
するのに用いる。このように、2つのトリガ回路を用い
ることにより、1つのトリガ回路しか使わない場合より
測定が高速に行える。
3、この方法では、第1図乃至第3図の流れ図で開示さ
れているように、トリガ回路(14)及び(16)の各
トリガレベルは測定中に異なるレベルに調整されている
。トリガ回路の電圧レベルが変更される度に、手順の進
行を一旦遅らせ、その電圧レベルに安定する時間を与え
てから、電圧の探索を続行しなければならない。この遅
延時間を可変にすることにより、変更した電圧レベルに
安定するのに要する時間を最小に出来る。この遅延時間
Tは、電圧レベルの変化量に応じて変化し、以下の式に
基づいて計算される。
れているように、トリガ回路(14)及び(16)の各
トリガレベルは測定中に異なるレベルに調整されている
。トリガ回路の電圧レベルが変更される度に、手順の進
行を一旦遅らせ、その電圧レベルに安定する時間を与え
てから、電圧の探索を続行しなければならない。この遅
延時間を可変にすることにより、変更した電圧レベルに
安定するのに要する時間を最小に出来る。この遅延時間
Tは、電圧レベルの変化量に応じて変化し、以下の式に
基づいて計算される。
及び
R= l o g2 [Vmax/Emax] −(2
)ここで、τはトリガ回路内の電圧発生器の時定数、V
max は最大可変電圧、Emax は最大許容セトリ
ング誤差、nは異なる可変遅延時間の数(例えば10)
である。
)ここで、τはトリガ回路内の電圧発生器の時定数、V
max は最大可変電圧、Emax は最大許容セトリ
ング誤差、nは異なる可変遅延時間の数(例えば10)
である。
4、トリガレベルを反復変更する際に、入力信号が2つ
のヒステリシスレベルと交差せず、トリガ回路をトリガ
出来なくなった場合には、トリガレベルを異なる値に変
更して測定を行う前に、先ず、トリガ回路をトリガする
ようにトリガレベルを調整しなくてはならなC)。この
方法により、トリガ回路をトリガするのに必要なトリガ
レベルの調整量を最少にし得る。
のヒステリシスレベルと交差せず、トリガ回路をトリガ
出来なくなった場合には、トリガレベルを異なる値に変
更して測定を行う前に、先ず、トリガ回路をトリガする
ようにトリガレベルを調整しなくてはならなC)。この
方法により、トリガ回路をトリガするのに必要なトリガ
レベルの調整量を最少にし得る。
第1図はこの測定方法の手順を示している。以下の説明
では、各手順を括弧内の数字により参照する。オシロス
コープの操作パネル上のボタン等により、この測定モー
ドが選択されると、ブロック(100)からこの方法が
開始される。開始後、A及びBのトリガ回路(14)、
(16)は入力信号の正スロープでトリガするように設
定される。
では、各手順を括弧内の数字により参照する。オシロス
コープの操作パネル上のボタン等により、この測定モー
ドが選択されると、ブロック(100)からこの方法が
開始される。開始後、A及びBのトリガ回路(14)、
(16)は入力信号の正スロープでトリガするように設
定される。
最初、入力信号はブロック(102)で予め選択された
周波数より高いと仮定されるが、それは、ピーク振幅の
測定に要する手順を出来るだけ少なくするためである。
周波数より高いと仮定されるが、それは、ピーク振幅の
測定に要する手順を出来るだけ少なくするためである。
この実施例では、予め選択された周波数は300Hzで
あって、この周波数は入力信号が高周波信号か低周波信
号かを区別する基準となる。しかし、サンプル周期Tの
時間幅(ここでは約3.3ミ!J秒)を変更すれば、別
の周波数を選択することも出来る。
あって、この周波数は入力信号が高周波信号か低周波信
号かを区別する基準となる。しかし、サンプル周期Tの
時間幅(ここでは約3.3ミ!J秒)を変更すれば、別
の周波数を選択することも出来る。
最初、高周波信号と仮定し、ブロック(104)でCH
I乃至CH4から1チヤンネルが選択され、ブロック(
106)では、Aトリガレベル及びBトリガレベルを中
央値に設定する。ブロック(108)では、可変遅延時
間は上記(1)式に従って設定されるが、この遅延時間
はトリガレベルの中央値からの変化量に応じて決まる。
I乃至CH4から1チヤンネルが選択され、ブロック(
106)では、Aトリガレベル及びBトリガレベルを中
央値に設定する。ブロック(108)では、可変遅延時
間は上記(1)式に従って設定されるが、この遅延時間
はトリガレベルの中央値からの変化量に応じて決まる。
この遅延時間が設定される度に、ステータス・ビットは
リセットされるが、これはトリガレベルの変更中のトリ
ガ回路の誤動作を防ぐためである。ブロック (110
)では、Aトリガ回路(14)に関する変数A DE
LTA及びBトリガ回路(16)に関する変数B D
ELTAが、トリガレベルの半分の値に設定される。変
数A DELTA及びB DELTAは、2分探索
により各トリガレベルに対し、加算及び減算される。即
ち、両変数はlより小さくなる(0とみなされる)まで
、処理される度に半分の値に設定される。従って、この
2分探索法により、各トリガレベルは入力信号の最大値
及び最小値に出来る限り近似される。ブロック(112
)では、他の2つの変数、即ち、Aトリガ回路(14〉
に関する変数A HYST及びB ) IJガ回路(
16)に関する変数B HYSTも初期値に設定され
る。これら2つの変数は、最も近い電圧レベルに設定さ
れるが、これは、トリガ回路のトリガ動作を確実に行わ
せるようにトリガレベルを調整する必要があるからであ
る。へトリガ回路(14)では、トリガレベルをAHY
STに調整し、ステータスセット・ビットを確実にセッ
トする。Bトリガ回路(16)では、トリガレベルをB
HYSTに設定し、ステータスクリア・ビットを確
実にセットする。変数AHYSTは、初期状態では最小
トリガレベルの値(即ち、0)に設定され、変数B
HYSTは、初期状態では最大トリガレベルの値に設定
される。
リセットされるが、これはトリガレベルの変更中のトリ
ガ回路の誤動作を防ぐためである。ブロック (110
)では、Aトリガ回路(14)に関する変数A DE
LTA及びBトリガ回路(16)に関する変数B D
ELTAが、トリガレベルの半分の値に設定される。変
数A DELTA及びB DELTAは、2分探索
により各トリガレベルに対し、加算及び減算される。即
ち、両変数はlより小さくなる(0とみなされる)まで
、処理される度に半分の値に設定される。従って、この
2分探索法により、各トリガレベルは入力信号の最大値
及び最小値に出来る限り近似される。ブロック(112
)では、他の2つの変数、即ち、Aトリガ回路(14〉
に関する変数A HYST及びB ) IJガ回路(
16)に関する変数B HYSTも初期値に設定され
る。これら2つの変数は、最も近い電圧レベルに設定さ
れるが、これは、トリガ回路のトリガ動作を確実に行わ
せるようにトリガレベルを調整する必要があるからであ
る。へトリガ回路(14)では、トリガレベルをAHY
STに調整し、ステータスセット・ビットを確実にセッ
トする。Bトリガ回路(16)では、トリガレベルをB
HYSTに設定し、ステータスクリア・ビットを確
実にセットする。変数AHYSTは、初期状態では最小
トリガレベルの値(即ち、0)に設定され、変数B
HYSTは、初期状態では最大トリガレベルの値に設定
される。
その後ブロック(114)では、ラッチ(20)がクロ
ック駆動されてデータが読み出されると、これら両方の
トリガステータス・ビットはクリアされる。ブロック(
116)では、制御回路(18)の中にある、A及びB
のトリガ回路用の2つのピークタイマーの計数値を0に
設定する(これらのピークタイマーは低周波入力信号の
振幅測定の手順で使用される)。ブロック(104)か
ら(116)により各変数の初期値が設定されると、へ
トリガレベルを入力信号の最大値に調整する為に、処理
はブロック(11g)に進む(第1図及び2図参照)。
ック駆動されてデータが読み出されると、これら両方の
トリガステータス・ビットはクリアされる。ブロック(
116)では、制御回路(18)の中にある、A及びB
のトリガ回路用の2つのピークタイマーの計数値を0に
設定する(これらのピークタイマーは低周波入力信号の
振幅測定の手順で使用される)。ブロック(104)か
ら(116)により各変数の初期値が設定されると、へ
トリガレベルを入力信号の最大値に調整する為に、処理
はブロック(11g)に進む(第1図及び2図参照)。
第2図は、A ) IJガ回路(14)のトリガレベル
を調整する、本発明の測定方法の一部を示す流れ図であ
る。先ず、ブロック(120)では、変数A DEL
TA及びB DELTAの値が0か否か(即ち、lよ
り小さいか否か)を判断する。
を調整する、本発明の測定方法の一部を示す流れ図であ
る。先ず、ブロック(120)では、変数A DEL
TA及びB DELTAの値が0か否か(即ち、lよ
り小さいか否か)を判断する。
これらの値が0ならば、2分探索が完了し、トリガレベ
ルが夫々最終値に達していることになる。
ルが夫々最終値に達していることになる。
勿論、最初のパス(ルーチンの1回の実行)では、これ
らの変数は0にはならない。ブロック(122)の待ち
サイクルに処理が進み、その後、ブロック(124)で
、ラッチ(20)をクロック駆動してA及びBのトリガ
回路(14)、(16)のトリガステータスを設定する
。ブロック(126)で、変数A DELTAが別個
に0に等しいか否かが判断される。この探索の最初のパ
スでは、この値は0ではなく、ブロック (128)で
Aトリガ回路(14)のステータスセット・ビットが「
真」か否かが判断される。このステータスセット・ビッ
トが「真」になるのは、入力信号がトリガレベルを超え
て正のヒステリシスレベルと交差した場合のみであるこ
とを思いだしていただきたい。このステータスセット・
ビットが「真」ならば、Aトリガレベルは入力信号の最
大値にまだ達していないので、Aトリガレベルを増加し
なければならない。ブロック(130)で、最初に変数
A HYSTが入力信号の最大値より小さい現在のA
トリガレベルに設定される。その後、プロツり (13
2)では、AトリガレベルはA DELTAだけ増加
される。初期状態では、A DELTAはAトリガレ
ベルと最大トリガレベル間の中央値に等しい。ブロック
(134)で、このAトリガレベルが安定するのに適
した遅延時間が(1)式に従って設定される。A D
ELTAの値はブロック(136)で以前の値の1/2
に減少し、以後に繰り返される探索の範囲を狭める。ブ
ロック(138)では、この探索が低周波信号に対して
実行された場合、Aのピークタイマーの計数値が0に設
定され、探索処理はブロック(140)に進み、Bトリ
ガ回路(16)の最小値の探索を実行する。
らの変数は0にはならない。ブロック(122)の待ち
サイクルに処理が進み、その後、ブロック(124)で
、ラッチ(20)をクロック駆動してA及びBのトリガ
回路(14)、(16)のトリガステータスを設定する
。ブロック(126)で、変数A DELTAが別個
に0に等しいか否かが判断される。この探索の最初のパ
スでは、この値は0ではなく、ブロック (128)で
Aトリガ回路(14)のステータスセット・ビットが「
真」か否かが判断される。このステータスセット・ビッ
トが「真」になるのは、入力信号がトリガレベルを超え
て正のヒステリシスレベルと交差した場合のみであるこ
とを思いだしていただきたい。このステータスセット・
ビットが「真」ならば、Aトリガレベルは入力信号の最
大値にまだ達していないので、Aトリガレベルを増加し
なければならない。ブロック(130)で、最初に変数
A HYSTが入力信号の最大値より小さい現在のA
トリガレベルに設定される。その後、プロツり (13
2)では、AトリガレベルはA DELTAだけ増加
される。初期状態では、A DELTAはAトリガレ
ベルと最大トリガレベル間の中央値に等しい。ブロック
(134)で、このAトリガレベルが安定するのに適
した遅延時間が(1)式に従って設定される。A D
ELTAの値はブロック(136)で以前の値の1/2
に減少し、以後に繰り返される探索の範囲を狭める。ブ
ロック(138)では、この探索が低周波信号に対して
実行された場合、Aのピークタイマーの計数値が0に設
定され、探索処理はブロック(140)に進み、Bトリ
ガ回路(16)の最小値の探索を実行する。
第2図のブロック(128)では、トリガレベルが入力
信号の最大値を超えていれば、ステータスセット・ビッ
トは「真」にならない。もし、入力信号の最大値がトリ
ガーレベルの初期値より小さければ、この、探索処理の
最初のバスでこの状態が発生する。或いは、トリガレベ
ルの調整に応じて、その後のパスでもこの状態は発生し
得る。ブロック (128)でノーと判断されると、ブ
ロック(142)で測定信号が高周波信号か否かを判断
する。イエスの場合、ブロック(144)でAトリガレ
ベルの値を記憶(変数5AVEをA ) +Jガレベル
の値に設定)する。ブロック(146)では、へトリガ
レベルをA HYSTの値に設定する。ブロック(1
48)で、このAトリガレベルに好適な時間だけ遅延さ
れ、ブロック(150)で記憶されたトリガレベル(S
AVE)の値からA DELTAの値を減算した値に
Aトリガレベルを調整する。ブロック(152)では、
再び新しいトリガレベルに安定するのに好適な時間だけ
遅延させる。その後、ブロック(154)では、変数A
DELTAの値が以前の値の1/2に設定され、以
後の探索の範囲を狭める。ブロック(138)で、ピー
クタイマーの値が0にリセットされ、その後、ブロック
(140)以下のBトリガ回路(16)による入力信号
の最小値探索ルーチンに処理が進む。
信号の最大値を超えていれば、ステータスセット・ビッ
トは「真」にならない。もし、入力信号の最大値がトリ
ガーレベルの初期値より小さければ、この、探索処理の
最初のバスでこの状態が発生する。或いは、トリガレベ
ルの調整に応じて、その後のパスでもこの状態は発生し
得る。ブロック (128)でノーと判断されると、ブ
ロック(142)で測定信号が高周波信号か否かを判断
する。イエスの場合、ブロック(144)でAトリガレ
ベルの値を記憶(変数5AVEをA ) +Jガレベル
の値に設定)する。ブロック(146)では、へトリガ
レベルをA HYSTの値に設定する。ブロック(1
48)で、このAトリガレベルに好適な時間だけ遅延さ
れ、ブロック(150)で記憶されたトリガレベル(S
AVE)の値からA DELTAの値を減算した値に
Aトリガレベルを調整する。ブロック(152)では、
再び新しいトリガレベルに安定するのに好適な時間だけ
遅延させる。その後、ブロック(154)では、変数A
DELTAの値が以前の値の1/2に設定され、以
後の探索の範囲を狭める。ブロック(138)で、ピー
クタイマーの値が0にリセットされ、その後、ブロック
(140)以下のBトリガ回路(16)による入力信号
の最小値探索ルーチンに処理が進む。
第3図は、入力信号の最小値を繰り返し探索する場合の
手順を示す流れ図であって、最大値を探索する場合と手
順は類似している。ブロック(155)で、先ず、探索
変数B DELTAの値が0か否かを判断する。この
値がまだ0でなければ、ブロック(156)でBトリガ
のステータスクリア・ビットが「真」か否かが判断され
る。
手順を示す流れ図であって、最大値を探索する場合と手
順は類似している。ブロック(155)で、先ず、探索
変数B DELTAの値が0か否かを判断する。この
値がまだ0でなければ、ブロック(156)でBトリガ
のステータスクリア・ビットが「真」か否かが判断され
る。
これが「真」ならば、ブロック(157)で、変数B
HYSTの値を現在のBトリガレベルに設定する。A
トリガ回路(14)の場合と同様に、この方法では、B
トリガレベルが入力信号の最小値より小さい場合、後
の処理でBトリガ回路をリセットするのに要するトリガ
レベルの変化量を最小にしている。その後、ブロック(
158)では、B ) IJガレベルを変数B DE
LTAの値だけ減少させる。ブロック (159)で、
このトリガレベルに安定する遅延時間が与えられる。そ
の後、ブロック(160)で、以後の反復探索の準備の
為に変数B DELTAの値を半分に減少する。
HYSTの値を現在のBトリガレベルに設定する。A
トリガ回路(14)の場合と同様に、この方法では、B
トリガレベルが入力信号の最小値より小さい場合、後
の処理でBトリガ回路をリセットするのに要するトリガ
レベルの変化量を最小にしている。その後、ブロック(
158)では、B ) IJガレベルを変数B DE
LTAの値だけ減少させる。ブロック (159)で、
このトリガレベルに安定する遅延時間が与えられる。そ
の後、ブロック(160)で、以後の反復探索の準備の
為に変数B DELTAの値を半分に減少する。
もし、Bトリガレベルが入力信号の最小値より小さい場
合には、ステータスクリア・ビットは「真」にならない
。ブロック(156)でノーと判断されると、ブロック
(161’)で、高周波信号についての測定か否かが判
断される。高周波信号の測定の場合、ブロック(162
)で、変数5AVEにB ) Uガレベルの値を記憶し
、ブロック(163)で、Bトリガ回路(16)をリセ
ットする為にB ) UガレベルをB HYSTO値
に設定する。その後、そのトリガレベルに応じてブロッ
ク(164)でBトリガが遅延される。ブロック(16
5)では、記憶された値(SAVE)とB DELT
Aの値とを加算した値にBトリガレベルを設定後、ブロ
ック(166)で再びBトリガが遅延される。その後、
ブロック(167)でB DELTAの値を半分に減
少して、後の反復探索の範囲を狭める。
合には、ステータスクリア・ビットは「真」にならない
。ブロック(156)でノーと判断されると、ブロック
(161’)で、高周波信号についての測定か否かが判
断される。高周波信号の測定の場合、ブロック(162
)で、変数5AVEにB ) Uガレベルの値を記憶し
、ブロック(163)で、Bトリガ回路(16)をリセ
ットする為にB ) UガレベルをB HYSTO値
に設定する。その後、そのトリガレベルに応じてブロッ
ク(164)でBトリガが遅延される。ブロック(16
5)では、記憶された値(SAVE)とB DELT
Aの値とを加算した値にBトリガレベルを設定後、ブロ
ック(166)で再びBトリガが遅延される。その後、
ブロック(167)でB DELTAの値を半分に減
少して、後の反復探索の範囲を狭める。
ブロック(156)から分岐した最後のブロック(16
8)で、Bのピークタイマーを0に設定した後、入力信
号の最大値の探索に続いているブロック(1’18)に
処理が進む。以上の手順、即ち、入力信号の最大値探索
及び最小値探索の手順が交互に繰り返し実行され、変数
A DELTA及びB DELTAの値が1より小
さくなる(ブロック(120)で0と判断される)まで
処理が継続する。この処理が終わった時点で、2分探索
によるA及びBトリガレベルの調整が完了する。
8)で、Bのピークタイマーを0に設定した後、入力信
号の最大値の探索に続いているブロック(1’18)に
処理が進む。以上の手順、即ち、入力信号の最大値探索
及び最小値探索の手順が交互に繰り返し実行され、変数
A DELTA及びB DELTAの値が1より小
さくなる(ブロック(120)で0と判断される)まで
処理が継続する。この処理が終わった時点で、2分探索
によるA及びBトリガレベルの調整が完了する。
この時、A及びBのトリガレベルは入力信号の最大値及
び最小値に可能な限り近似され、処理はブロック(16
9)に進み、入力信号が予め選択された周波数より高速
か或いは低速かを決める手順が次に実行される。
び最小値に可能な限り近似され、処理はブロック(16
9)に進み、入力信号が予め選択された周波数より高速
か或いは低速かを決める手順が次に実行される。
この手順では、先ず、ブロック(170)で、測定が高
周波信号について実行されてきたか否かが判断される。
周波信号について実行されてきたか否かが判断される。
高周波信号の場合、ブロック(171)で、Aトリガレ
ベル及びBトリガレベルは夫々予め選択された追加補正
値だけ増加及び減少される。これは、入力信号が予め選
択した周波数より実際には低速だった為に、最大値或い
は最小値の測定に失敗したか否かを試す為に行う。
ベル及びBトリガレベルは夫々予め選択された追加補正
値だけ増加及び減少される。これは、入力信号が予め選
択した周波数より実際には低速だった為に、最大値或い
は最小値の測定に失敗したか否かを試す為に行う。
ブロック(172)で各トリガレベルに適した遅延時間
が与えられ、ブロック(173)で信号タイマーの計数
が開始される。この信号タイマーの計時期間は20ms
なので、入力信号が50ヘルツを超える場合には1周期
の変化がタイマーの計時期間内に入るので、その入力信
号の最大及び最小値は検出される。この最小検出周波数
は、信号タイマーの計時期間を変化させれば増減出来る
。
が与えられ、ブロック(173)で信号タイマーの計数
が開始される。この信号タイマーの計時期間は20ms
なので、入力信号が50ヘルツを超える場合には1周期
の変化がタイマーの計時期間内に入るので、その入力信
号の最大及び最小値は検出される。この最小検出周波数
は、信号タイマーの計時期間を変化させれば増減出来る
。
その後、ブロック(174)で、制御回路(18)がラ
ッチ(20)からAトリガ回路のステータスセット・ビ
ットとBトリガ回路のステータスクリア・ビットを読み
出して状態を判断する。もし、どちらかのビットが「真
」ならば、入力信号の最大値或いは最小値がまだ検出さ
れていないことになり、ブロック(176)で入力信号
を低周波信号と仮定する。ブロック(178)で信号タ
イマーの計時が終了したと判断されるまで、ブロック(
177)の待ちサイクルにより3.3ms毎に −同じ
トリガレベルを検査し、50Hzの信号まで検査される
。トリガイベントが検出されずに信号タイマーの計時が
終了すると、入力信号が予め選択した周波数(300H
z)より高く (或いは50Hzより低く)、正確な最
大値及び最小値が得られたと判断して、測定結果を計算
する為にブロック(179)に処理が進む。
ッチ(20)からAトリガ回路のステータスセット・ビ
ットとBトリガ回路のステータスクリア・ビットを読み
出して状態を判断する。もし、どちらかのビットが「真
」ならば、入力信号の最大値或いは最小値がまだ検出さ
れていないことになり、ブロック(176)で入力信号
を低周波信号と仮定する。ブロック(178)で信号タ
イマーの計時が終了したと判断されるまで、ブロック(
177)の待ちサイクルにより3.3ms毎に −同じ
トリガレベルを検査し、50Hzの信号まで検査される
。トリガイベントが検出されずに信号タイマーの計時が
終了すると、入力信号が予め選択した周波数(300H
z)より高く (或いは50Hzより低く)、正確な最
大値及び最小値が得られたと判断して、測定結果を計算
する為にブロック(179)に処理が進む。
ブロック(175)でどちらかのステータス・ビットが
「真」ならば、ブロック(176)で入力信号が低周波
信号と判断され、上述の手順が以下の追加手順と共に繰
り返される。本発明の測定方法によれば、低周波信号の
場合、総ての入力信号を(少なくとも50Hzを超える
信号ならば)確実に検出するように、同じトリガレベル
について何度もトリガステータスを検査する。この実施
例では、第2図に示すようにピークタイマーを有する。
「真」ならば、ブロック(176)で入力信号が低周波
信号と判断され、上述の手順が以下の追加手順と共に繰
り返される。本発明の測定方法によれば、低周波信号の
場合、総ての入力信号を(少なくとも50Hzを超える
信号ならば)確実に検出するように、同じトリガレベル
について何度もトリガステータスを検査する。この実施
例では、第2図に示すようにピークタイマーを有する。
第2図のブロック(142)で、入力信号が低周波信号
と判断されると、ブロック(180)で、ピークタイマ
ーの計数値が6に達したか否かが判断される。ピークタ
イマーの1計数は、20m5の計時期間中に3.3ms
毎にラッチ(20)からトリガステータスが読み出され
ることに対応している。計数値が6でない場合には、ブ
ロック(181)でAピークタイマーの計数値を1増加
し、最小値の探索の為にブロック(140)に処理が進
むが、Aトリガレベルは変更されない。Aピークタイマ
ーの計数値が最大値(即ち、6)に達した場合には、入
力信号の最大値はAトリガレベルより小さいとみなされ
、ブロック(144)から(154)の手順によりAト
リガレベルが低い方へ調整される。その後、ブロック(
138)でAビークタイマーの値が0にリセットされ、
最小値の探索手順に処理が継続する。
と判断されると、ブロック(180)で、ピークタイマ
ーの計数値が6に達したか否かが判断される。ピークタ
イマーの1計数は、20m5の計時期間中に3.3ms
毎にラッチ(20)からトリガステータスが読み出され
ることに対応している。計数値が6でない場合には、ブ
ロック(181)でAピークタイマーの計数値を1増加
し、最小値の探索の為にブロック(140)に処理が進
むが、Aトリガレベルは変更されない。Aピークタイマ
ーの計数値が最大値(即ち、6)に達した場合には、入
力信号の最大値はAトリガレベルより小さいとみなされ
、ブロック(144)から(154)の手順によりAト
リガレベルが低い方へ調整される。その後、ブロック(
138)でAビークタイマーの値が0にリセットされ、
最小値の探索手順に処理が継続する。
同様に第3図に於いても、50ヘルツの低周波信号を測
定するのに同じトリガレベルでB ) IJガレベルが
6回検査される。ブロック(182)でBピークタイマ
ーが検査され、最大計数値の6に達していなければ、ブ
ロック(183)で計数値を1増加後、処理は最大値探
索手順に戻る。Bピークタイマーの計数値が最大値に達
するまで、Bトリガレベルは変化しない。Bピークタイ
マーが最大計数値に達すると、Bトリガ回路を1ノセツ
トする為にBトリガレベルを増加調整すべきであると判
断してブロック(,162)から(167)が実行され
る。その後、ブロック(168)で、新しいトリガレベ
ルで別の探索を実行する為にピークタイマーが0にリセ
ットされる。 最終的にトリガレベルが求まると、ピー
ク振幅を計算する為にブロック(179)では、次の式
を直接用いて処理する。
定するのに同じトリガレベルでB ) IJガレベルが
6回検査される。ブロック(182)でBピークタイマ
ーが検査され、最大計数値の6に達していなければ、ブ
ロック(183)で計数値を1増加後、処理は最大値探
索手順に戻る。Bピークタイマーの計数値が最大値に達
するまで、Bトリガレベルは変化しない。Bピークタイ
マーが最大計数値に達すると、Bトリガ回路を1ノセツ
トする為にBトリガレベルを増加調整すべきであると判
断してブロック(,162)から(167)が実行され
る。その後、ブロック(168)で、新しいトリガレベ
ルで別の探索を実行する為にピークタイマーが0にリセ
ットされる。 最終的にトリガレベルが求まると、ピー
ク振幅を計算する為にブロック(179)では、次の式
を直接用いて処理する。
Vp−p= l (ATL−AZ)/AV−(BTL
−BZ)/BV l ・・・・(3)ここで、
ATL及びBTLはAトリガレベル及びBトリガレベル
で、16進数で表される。AZ及びBZは、A及びBト
リガ回路(14)、(16)の0ボルトに対する校正さ
れた計数値、AV及びBVは、両トリガ回路の1ボルト
当たりの校正された計数値である。
−BZ)/BV l ・・・・(3)ここで、
ATL及びBTLはAトリガレベル及びBトリガレベル
で、16進数で表される。AZ及びBZは、A及びBト
リガ回路(14)、(16)の0ボルトに対する校正さ
れた計数値、AV及びBVは、両トリガ回路の1ボルト
当たりの校正された計数値である。
以上本発明の好適実施例について説明したが、本発明は
ここに説明した実施例のみに限定されるものではな(、
本発明の要旨を逸脱する事なく必要に応じて種々の変形
及び変更を実施し得る事は当業者には明らかである。
ここに説明した実施例のみに限定されるものではな(、
本発明の要旨を逸脱する事なく必要に応じて種々の変形
及び変更を実施し得る事は当業者には明らかである。
[発明の効果]
本発明によれば、2つのトリガ回路の各トリガレベルを
別々に調整し、夫々入力信号の最大値及び最小値を求め
るようにしたので、測定効率を格段に向上した自動ピー
ク振幅測定方法を実現している。また、各トリガレベル
を変化させる毎にその変化量に応じて決まる最適な時間
だけ処理を遅延させることにより、一定の処理遅延をす
る場合と比較して無駄な時間を排除出来、測定効率をよ
り改善している。更に、予め選択した周波数より高い信
号と仮定して測定を行い、低周波信号に対する測定は必
要なときのみ行うので、測定時間を更に短縮出来る確率
を高めている。
別々に調整し、夫々入力信号の最大値及び最小値を求め
るようにしたので、測定効率を格段に向上した自動ピー
ク振幅測定方法を実現している。また、各トリガレベル
を変化させる毎にその変化量に応じて決まる最適な時間
だけ処理を遅延させることにより、一定の処理遅延をす
る場合と比較して無駄な時間を排除出来、測定効率をよ
り改善している。更に、予め選択した周波数より高い信
号と仮定して測定を行い、低周波信号に対する測定は必
要なときのみ行うので、測定時間を更に短縮出来る確率
を高めている。
第1図、第2図及び第3図は、本発明による自動ピーク
振幅測定方法を示す流れ図、第4図は、従来の双トリガ
回路型オシロスコープのトリガ匣路を示すブロック図、
第5図は、トリガ信号を発生する際の関係を示す人力波
形、トリガレベル及びトリガステータス信号の図である
。 (14〉はAトリガ回路(第1トリガ回路)。 (16)はBトリガ回路(第2トリガ回路)。 A DELTAは第1変数、B DELTAは第2
変数である。
振幅測定方法を示す流れ図、第4図は、従来の双トリガ
回路型オシロスコープのトリガ匣路を示すブロック図、
第5図は、トリガ信号を発生する際の関係を示す人力波
形、トリガレベル及びトリガステータス信号の図である
。 (14〉はAトリガ回路(第1トリガ回路)。 (16)はBトリガ回路(第2トリガ回路)。 A DELTAは第1変数、B DELTAは第2
変数である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、第1及び第2トリガ回路を具備するオシロスコープ
において、 入力信号に応じて上記第1トリガ回路の第1トリガレベ
ルを自動的に上記入力信号の最大値に等しく調整し、 上記入力信号に応じて上記第2トリガ回路の第2トリガ
レベルを自動的に上記入力信号の最小値に等しく調整し
、 上記第1トリガレベルから上記第2トリガレベルを減算
して上記入力信号のピーク振幅を求めることを特徴とす
る自動ピーク振幅測定方法。 2、第1及び第2トリガ回路を具備するオシロスコープ
において、 上記第1及び第2トリガ回路の第1及び第2トリガレベ
ルを予め選択した初期値に夫々設定し、 上記第1トリガ回路の第1変数を予め選択した値に設定
すると共に上記第2トリガ回路の第2変数を予め選択し
た値に設定し、 入力信号が上記第1トリガ回路をトリガしたか否かを検
査し、 上記入力信号が上記第1トリガ回路をトリガしていれば
、上記第1トリガレベルを上記第1変数の値だけ増加し
、 上記入力信号が上記第1トリガ回路をトリガしていなけ
れば、上記第1トリガレベルを上記第1変数の値だけ減
少し、 上記第1変数の値を半分にし、 上記入力信号が上記第2トリガ回路をトリガしたか否か
を検査し、 上記入力信号が上記第2トリガ回路をトリガしていれば
、上記第2トリガレベルを上記第2変数の値だけ減少し
、上記入力信号が上記第2トリガ回路をトリガしていな
ければ、上記第2トリガレベルを上記第2変数の値だけ
増加し、上記第2変数の値を半分にし、 上記第1及び第2変数の値が1より小さくなるまで上記
トリガレベル及び変数の調整を上記手順に従って反復実
行し、 上記第1トリガレベルから上記第2トリガレベルを減算
して上記入力信号のピーク振幅を求めることを特徴とす
る自動ピーク振幅測定方法。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| US07/008,516 US4779045A (en) | 1987-01-29 | 1987-01-29 | Automatic peak-to-peak amplitude measurement system |
| US8,516 | 1987-01-29 |
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|---|---|
| JPS63193068A true JPS63193068A (ja) | 1988-08-10 |
Family
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Family Applications (1)
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| JP63012439A Pending JPS63193068A (ja) | 1987-01-29 | 1988-01-22 | 自動ピーク振幅測定方法 |
Country Status (4)
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- 1988-01-27 EP EP88300693A patent/EP0278637A3/en not_active Withdrawn
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| EP0278637A3 (en) | 1990-03-07 |
| EP0278637A2 (en) | 1988-08-17 |
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