JPS63196826A - 半導体圧力検出装置 - Google Patents

半導体圧力検出装置

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Publication number
JPS63196826A
JPS63196826A JP3002787A JP3002787A JPS63196826A JP S63196826 A JPS63196826 A JP S63196826A JP 3002787 A JP3002787 A JP 3002787A JP 3002787 A JP3002787 A JP 3002787A JP S63196826 A JPS63196826 A JP S63196826A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pressure detection
silicon
detection device
pedestal
semiconductor pressure
Prior art date
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Pending
Application number
JP3002787A
Other languages
English (en)
Inventor
Takanobu Takeuchi
孝信 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS63196826A publication Critical patent/JPS63196826A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、圧力を検出する半導体圧力検出装置に関し
、さらに詳しくは、半導体圧力検出装置における外部応
力、および熱応力を低減させるための圧力検出素子組立
体の取付は構造の改良に係るものである。
〔従来の技術〕
従来例によるこの種の半導体圧力検出装置、いわゆる半
導体圧力検出素子を用いた圧力センサの概要構成を第2
図に示す。
すなわち、この第2図従来例において、符号lはよく知
られている圧力検出素子としてのシリコンダイヤフラム
、2はこのシリコンダイヤフラムlの基部を歪のないよ
うに一体的に固定支持し、内部に被圧力検出部に連通さ
せるための連通穴2aを形成したシリコン台座であって
、これらにより圧力検出素子組立体3を構成する。また
、4は前記シリコン台座2を接合固定し、同様に内部に
被圧力検出部に連通させるための連通穴4aを形成した
センサステムであり、さらに、5,5は前記シリコンダ
イヤフラム1の各端子にワイヤ8を用いて接続され、図
示しない外部回路との間で、検出圧力の出力信号、およ
び基準電圧などの授受を行なうそれぞれに端子杆である
しかして、この従来例構成による半導体圧力検出装置で
は、センサステム4を被圧力検出部に臨ませて装着させ
、各連通穴4a、2aを通して加えられる被圧力検出部
の圧力を、シリコンダイヤフラムlに受圧させ、このシ
リコンダイヤフラムlに生ずる受圧歪の程度によって、
加えられた圧力値を検出するようにしており、従って、
この種の半導体圧力検出装置の場合、被圧力検出部の圧
力を正確に検出するのには、圧力検出素子組立体3に対
して、被検出圧力で生ずる受圧歪以外の歪が加えられな
いようにするための十分な構造的配慮を必要とする。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、前記のように構成された従来例による半
導体圧力検出装置においては、圧力検出素子組立体3の
シリコン台座2とセンサステム4との接合部にあって、
このセンサステム3に外部応力が加えられたときの歪と
か、これらのシリコン台座2とセンサステム3との両者
の熱膨張係数の差に基いた熱応力による歪などが伝わり
易く、このようにして接合部に伝えられる歪が、圧力検
出素子としてのシリコンダイヤフラムlの特性に少なか
らず影響を及ぼして、その圧力検出性能を低下させたり
、あるいはまた、シリコン台座2に欠損を生じさせて、
使用不能になる惧れもあるなどの問題点があった。
この発明は従来のこのような問題点を解消するためにな
されたものであって、その目的とするところは、シリコ
ンダイヤフラムの圧力検出特性を良好に保持させ、かつ
シリコン台座に欠けなどを生ずることのない、この種の
半導体圧力検出装置を提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
前記目的を達成するために、この発明に係る半導体圧力
検出装置は、圧力検出素子としてのシリコンダイヤフラ
ム、およびこのシリコンダイヤフラムの基部を一体的に
支持するシリコン台座からなる圧力検出素子組立体と、
この圧力検出素子組立体のシリコン台座を接合固定する
センサステムとの構成において、圧力検出素子組立体の
シリコン台座とセンサステムとの間に応力緩和部を介在
させたものである。
〔作   用〕
すなわち、この発明装置においては、圧力検出素子組立
体のシリコン台座とセンサステムとの間に応力緩和部を
介在させであるために、センサステム側から加えられる
外部応力、およびシリコン台座とセンサステムとの熱膨
張差による熱応力などを十分に低減させ得て、シリコン
ダイヤフラム対するこれらの応力歪の影響を良好に改善
できるのである。
〔実 施 例〕
以下、この発明に係る圧力検出素子を用いた半導体圧力
検出装置の一実施例につき、第1図を参照して詳細に説
明する。
第1図はこの実施例装置の概要構成を示す縦断面図であ
り、この第1図実施例において、前記第2図従来例と同
一符号は同一または相当部分を示している。
すなわち、この第1図実施例においても、符号lは圧力
検出素子としての公知態様のシリコンダイヤフラム、2
はこのシリコンダイヤフラムlの基部を歪のないように
一体的に固定支持して、その内部に被圧力検出部に連通
させるための連通穴2aを形成したシリコン台座であり
、これらによって圧力検出素子組立体3を構成している
。また、4は前記シリコン台座2を接合固定し、同様に
内部に被圧力検出部に連通させるための連通穴4aを形
成したセンサステムであって、シリコン台座2との間に
凸形状に突出させた応力緩和部4bを設けると共に、こ
の応力緩和部4bでの接合面4Cの面積を、シリコン台
座2での接合面2bの面積よりも小さくしである、さら
に、5,5は前記シリコンダイヤフラム1の端子にワイ
ヤ6により接続されて、図示しない外部回路との間で、
検出圧力の出力信号、および基準電圧などの授受を行な
うそれぞれ端子杆である。
従って、この実施例による装置構成の場合においても、
前記従来例での装置構成の場合と同様にセンサステム4
を被圧力検出部に臨ませて装着させ、各連通穴4a 、
 2aを通して加えられる被圧力検出部の圧力を、圧力
検出素子組立体3のシリコンダイヤフラム1に受圧させ
、このシリコンダイヤフラムlに生ずる受圧歪の程度に
よって、加えられる圧力値を検出することができるが、
この実施例装置では、センサステム4から凸形状に突出
させた応力緩和部4bに対して、圧力検出素子組立体3
のシリコン台座2を接合固定させであるため、このセン
サステム3に外部応力が加えられたときの歪とか、シリ
コン台座2とセンサステム3との両者の熱膨張係数差に
よる熱応力の歪などが、この応力緩和部4bの存在によ
って十分に緩和、低減されて、これらの応力歪を圧力検
出素子組立体3のシリコンダイヤフラム1に伝え難くし
得るのであり、この結果、シリコンダイヤフラム1の圧
力検出特性を良好に改善でき、また併せて、応力緩和部
4bの接合面4cの面積を、シリコン台座2の接合面2
Cの面積よりも小さくして、接合範囲をせばめであるた
めに、前記応力歪を一層、効果的に伝え難くし得るので
ある。
〔発明の効果〕
以上詳述したようにこの発明によれば、圧力検出素子と
してのシリコンダイヤフラム、およびこのシリコンダイ
ヤフラムの基部を一体的に固定支持するシリコン台座か
らなる圧力検出素子組立体と、この圧力検出素子組立体
のシリコン台座を接合するセンサステムとによって構成
する半導体圧力検出装置において、圧力検出素子組立体
のシリコン台座とセンサステムとの間に応力緩和部を介
在させたので、センサステム側から加えられる外部応力
、およびシリコン台座とセンサステムとの熱膨張差によ
る熱応力などを十分に低減し得て、装置の品質、および
性能を格段に向上でき、しかも構造的にも比較的簡単で
容易に実施可能であるなどの優れた特長を有するもので
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を適用した半導体圧力検出
装置の概要構成を示す縦断面図であり、また、第2図は
従来例による同上半導体圧力検出装置の概要構成を示す
縦断面図である。 l・・・・シリコンダイヤフラム、2・・・・シリコン
台座、2a・・・・連通穴、2b・・・・接合面、3・
・・・圧力検出素子組立体、4・・・・センサステム、
4a・・・・連通穴、4b・・・・応力緩和部、4c・
・・・接合面。 代理人  大  岩  増  雄 第1図 第2図 手続補正書(自発) 1.事件の表示   特願昭 62−30027号2、
発明の名称 半導体圧力検出装置 3、補正をする者 代表者志岐守哉 4、代理人 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 (1)明細書3頁8行の「それぞれに端子杆」を「外部
接続用リード」と補正する。 (2)同5頁17行の「シリコンダイヤフラム」の次に
「に」を挿入する。 (3)同7頁5行の「端子杆」を「外部接続用リード」
と補正する。 以   上

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)圧力検出素子として用いられるシリコンダイヤフ
    ラム、およびこのシリコンダイヤフラムの基部を一体的
    に支持するシリコン台座からなる圧力検出素子組立体と
    、この圧力検出素子組立体のシリコン台座を接合するセ
    ンサステムとによつて構成する半導体圧力検出装置にお
    いて、前記シリコン台座とセンサステムとの間に、外部
    応力、および熱応力を低減させるための応力緩和部を介
    在させたことを特徴とする半導体圧力検出装置。
  2. (2)シリコン台座に対するセンサステムの接合面を、
    凸形状に突出させて応力緩和部としたことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項に記載の半導体圧力検出装置。
  3. (3)シリコン台座に対するセンサステムの接合面を、
    凸形状に突出させて応力緩和部とし、かつこの応力緩和
    部の接合面々積を、前記シリコン台座の接合面々積より
    も小さくしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項に
    記載の半導体圧力検出装置。
JP3002787A 1987-02-12 1987-02-12 半導体圧力検出装置 Pending JPS63196826A (ja)

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JP3002787A JPS63196826A (ja) 1987-02-12 1987-02-12 半導体圧力検出装置

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JP3002787A JPS63196826A (ja) 1987-02-12 1987-02-12 半導体圧力検出装置

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JPS63196826A true JPS63196826A (ja) 1988-08-15

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ID=12292343

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JP3002787A Pending JPS63196826A (ja) 1987-02-12 1987-02-12 半導体圧力検出装置

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JP (1) JPS63196826A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6066882A (en) * 1998-01-12 2000-05-23 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor pressure detecting device
JP2004184355A (ja) * 2002-12-06 2004-07-02 Fuji Koki Corp 圧力センサ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6066882A (en) * 1998-01-12 2000-05-23 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor pressure detecting device
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