JPS63199619A - 半導体装置のためのトランスファ成形方法 - Google Patents

半導体装置のためのトランスファ成形方法

Info

Publication number
JPS63199619A
JPS63199619A JP3145387A JP3145387A JPS63199619A JP S63199619 A JPS63199619 A JP S63199619A JP 3145387 A JP3145387 A JP 3145387A JP 3145387 A JP3145387 A JP 3145387A JP S63199619 A JPS63199619 A JP S63199619A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cavity
gate
molding
resin
mold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3145387A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0811409B2 (ja
Inventor
Katsuo Arai
克夫 新井
Isao Araki
荒木 勲
Sakae Kikuchi
栄 菊池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP62031453A priority Critical patent/JPH0811409B2/ja
Publication of JPS63199619A publication Critical patent/JPS63199619A/ja
Publication of JPH0811409B2 publication Critical patent/JPH0811409B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、成形技術、特に、成形型におけるゲートにつ
いての改良に関し、例えば、半導体装置の製造工程にお
いて、半導体装置の樹脂封止型パンケージを成形するト
ランスファ成形技術に利用して有効なものに関する。
〔従来の技術〕
半導体装置の製造工程において、半導体装置の樹脂封止
型パンケージを成形するトランスファ成形装置として、
成形型の上型と下型との間にリードフレームをペレット
が牛中ビティー内に収まるように挟み込み、下型のキャ
ビティーの一側壁における端部に開設されているゲート
から成形材料としての樹脂(以下、レジンという、)を
注入してパッケージを成形するように構成されているも
のがある。
なお、トランスファ成形技術を述べである例としては、
株式会社工業調査会発行「電子材料1981年11月号
別冊」昭和56年11月10日発行 P170〜P17
5、がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、このようなトランスファ成形装置においては、
ゲートが下型におけるキャビティーの一側壁に配設され
ているので、フラット・パック・パッケージ(以下、P
PPという、)等のように、薄形で、しかも厚さが上下
で相異するパッケージや、大きいサイズのペレットを封
止するためのパンケージの場合には、キャビティーにお
ける上型空間と、下型空間とに対するレジンの充填に時
的差が発生し、エアの巻き込み、未充填等が発生すると
いう、また、タブ吊りリードが長い場合や、タブが大き
い場合には、レジンによって上方向の力がタブおよびペ
レットに加わり、タブおよびタブ吊りリードが不規則に
ずれるという問題点があることが、本発明者によって明
らかにされた。
本発明の目的は、あらゆる条件のパッケージについて適
正な成形状況を確保することができる成形技術を提供す
ることにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、次の通りである。
すなわち、成形型の上型および下型の両方にゲートをキ
ャビティーにそれぞれ連通するように開設したものであ
る。
〔作用〕
前記した手段によれば、ゲートを上型と下型との両方に
開設することにより、レジンが上型空間と下型空間とに
同時進行的に充填されて行くように設定することができ
るため、上型空間と下型空間との厚さが大きく相異する
場合等においても、エアの巻き込みや、未充填等のよう
な不適正な成形状況が発生するのを防止することができ
る。また、上型空間と下型空間とにレジンが同時に充填
されて行くことにより、タブおよびペレットはレジンに
よる力を上下方向から均等に付勢されることになるため
、タブ吊りリードが長い場合や、タブが大きい場合等に
おいても、それらが不測のずれを起こすことはない。
〔実施例1〕 第1図は本発明の一実施例であるトランスファ成形装置
を示す分解斜視図、第2図はその成形途中を示す平面図
、第3図は同じく縦断面図、第4図および第5図はその
作用を説明するための各縦断面図である。
本実施例において、この成形装置はPPPを備えている
半導体集積回路装置(以下、ICという。
)における樹脂封止型、パッケージを成形するものとし
て構成されており、成形型としての上型1と下型2とを
備えている。上型1と下型2とは型締め装置(図示せず
)により型合わせされるように構成されており、その合
わせ面には平面略正方形形状の凹所3aおよび3bがキ
ャビティー3を上下型において協働的に構成するように
それぞれ没設されている。下型2の合わせ面にはポット
(図示せず)に連通ずるメインランナ4が凹所3bの近
傍において凹所3bの一辺に平行に沿うように配されて
没設されており、凹所3bのメインランナ4と対向する
端辺には下側ゲート5がその端辺の略中央部における開
口縁に配されて開設されている。下側ゲート5とメイン
ランナ4との間にはサブランナ6が両者を連通させるよ
うに没設されており、下側ゲート5はサブランナ6側か
ら凹所3b側へ向けてその高さが次第に低くなるように
その底面を傾斜されている。
他方、上型Iの凹所3aにおける開口縁には上側ゲート
7が下側ゲート5に対向する位置に配されて開設されて
おり、上型lの合わせ面には上側サブランナ8が上側ゲ
ート7を下型2のメインランナ4に連通させるように没
設されている。上側ゲート7はサブランナ8側から凹所
3a側に向けてその高さが次第に低くなるように、その
天井面を傾斜されている。
そして、下側ゲート5と上側ゲート7とは、底面および
天井面の傾斜角、開口間口および開口高さの寸法比、流
路断面積比等々を適宜選定されることにより、凹所3b
と凹所3aとに対するレジンの充填速度の相関関係が互
いに略等しくなるように構成されている。
また、下型2の合わせ面には下側エアベント9が、凹所
3bにおける下側ゲート5が配された端辺に対向する端
辺の略中央部における開口縁に配されて、凹所3b内部
と外気とを連通させるように開設されており、上型1の
合わせ面には上側エアベント10が下側エアベント9と
整合するように配されて、凹所3a内部と外気とを連通
させるように開設されている。
一方、被パフケージ物20はプレス打ち抜き加工等によ
り一枚板形状に形成されているリードフレーム11を備
えており、リードフレーム11は略正方形枠形状に形成
されている外枠12と、外枠12にタブ吊りリード13
により吊持されているタブ14と、タブI4を取り囲む
ように四辺において放射状に配設されている複数本のイ
ンナリード15と、各インナリード15にそれぞれ一体
的に連設されているアウタリード16と、隣り合うアウ
タリード16.16間に架設されているダム17とを備
えている。そして、タブ14上には集積回路が作り込ま
れているペレット18がボンディングされており、ペレ
ット18の各電極パッド(図示せず)はインナリード1
5のそれぞれにボンディングワイヤ19により電気的に
接続されている。
次に、前記構成にかかる成形装置を使用した本発明の一
実施例であるトランスフプ成形方法を説明する。
被パンケージング物20は下型2上にペレット18、イ
ンナリード15匈よびボンディングワイヤ19がキャビ
ティー凹所3bに整合するようにセットされる。続いて
、上型1が下型2に相対的に合わせられて、キャビティ
ー3が形成されるとともに、リードフレーム11の外枠
12、ダム17およびアウタリード16が上下型1.2
の合わせ面間に挟み込まれる。
続いて、レジン21がメインランナ4およびサブランナ
6.8を通じて下側ゲート5および上側ゲート7からキ
ャビティー3に注入される。レジン21が注入されると
、キャビティー3内の空気はエアベント9.10から外
部へ押し出され、レジン21がキャビティー3内に充填
されることによりパッケージが成形される。このパッケ
ージにより、ペレット18、インナリード15およびボ
ンディングワイヤ19が非気密封止される。
ところで、第4図に示されているように、ゲート5°が
キャビティーの一側壁における下型2のみに開設されて
いる場合、このゲート5“からキャビティー内に注入さ
れたレジンは下型2の凹所3bからリードフレームの隙
間を通って上型1の凹所3aに拡散して行くため、タブ
14およびペレット18に上方向の力Fが加わり、タブ
吊りリード13の不測のずれが発生することになる。そ
の結果、ボンディングワイヤ19の断線や短絡不良、タ
ブ14とインナリード15との短絡不良が発生する。
また、この場合、レジン21は下型凹所3bを通ってか
ら上型凹所3bに充填されて行くため、キャビティー3
の上下において充填速度に差が発生し、その結果、エア
の巻き込み現象や、局所的未充填現象等のような成形不
良が発生する。
しかし、本実施例においては、キャビティー3の一側壁
において上側ゲート7と下側ゲート5とが上型1の凹所
3aと下型2の凹所3bとの両方に開設されているため
、キャビティー3に注入されるレジン21は、第5図に
示されているように上下対称形に充填されて行くことに
より、上型lの凹所3aと下型2の凹所3bとのレジン
充填速度は互いに略等しくなる。このとき、キャビティ
ー3には上側エアベント10および下側エアベント9が
上型凹所3aおよび下型凹所3bにそれぞれ開設されて
いるため、レジン充填に伴うキャビティー3内のエアは
上下において略均等に排出されて行くことになる。
その結果、エアの巻き込み現象や、レジンの局所的未充
填現象等のような不良が発生することは防止される。ま
た、レジンが上下で均等に充填されて行くため、タブ1
4およびペレット1Bに不均衡な力が加わることはなく
、タブ吊りリード13の不測のずれが発生することはな
い、したがって、ボンディングワイヤの断線や短絡不良
、タブとインナリードとの短絡不良等の発生が防止され
ることになる。
前記実施例によれば次の効果が得られる。
(リ キャビティーにおける上型凹所と下型凹所とに上
側ゲートと下側ゲートとをそれぞれ開設することにより
、キャビティーに対するレジンの充填速度を上型空間と
下型空間とにおいて互いに略等しくさせることができる
ため、エアの巻き込み現象、レジンの局所的未充填現象
や、タブおよびペレットの不測の移動現象等のような不
適正な成形状況の発生を防止することができる。
(2)エアの巻き込み現象やレジンの局所的未充填現象
の発生を防止することにより、パッケージの内部にボイ
ドが発生するのを抑制することができるため、耐湿性を
高めることができる。
(3) タブ吊りリード、タブ、ペレットの不測の移動
を防止することにより、ボンディングワイヤの断線や短
絡不良、タブとインナリードとの短絡不良等の発生を抑
制することができる。
(4)  前記(2)、(3)により、製造歩留り、並
びに製品の品質および信頼性を高めることができる。
(5)  上側ゲートと下側ゲートとの流路断面積比等
を適当に選定することにより、キャビティーにおける上
型凹所と下型凹所との容積比が相異する場合等において
も、上下のレジン充填速度を略等しくさせることができ
るため、パッケージやペレットについてあらゆる成形条
件に対応して適正な成形状況を作り出すことができる。
(6)前記(5)により、パンケージの薄形化、長大化
、または、ペレットの大形化等々を通じて、電子装置の
高集積化、高密度化促進させることができ、また、生産
性を高めることができる。
〔実施例2〕 第6図は本発明の他の実施例である成形装置を示す第2
図に相当する平面図、第7図はその部分縦断面図である
本実施例2において、この成形装置はデュアル・イン・
ライン・パッケージ(以下、DIPという、)を備えて
いるICにおける樹脂封止型パッケージを成形するもの
として構成されており、前記実施例1と異なる点は、隣
り合うキャビティーを通じてレジンを順次充填させて行
く成形方法(以下、スルーモールド法という、)を、効
果的に実現するように構成されている点にある。
すなわち、下型32の合わせ面にはランナ34がキャビ
ティーが並んでいる方向に配されて没設されており、第
1番目のキャビティー凹所33bのランナ34と対向す
る端辺には下側ゲート35が開口縁に配されるとともに
、ランナ34に接続するように開設されている。他方、
上型31のキャビティー凹所33aにおける開口縁には
上側ゲート37が下側ゲート35に対向する位置に配さ
れて開設されており、上型31の合わせ面には上側サブ
ランナ38が上側ゲート37を下型32のランナ34に
連通させるように没設されている。
また、下型32における第1番目の凹所33b−には連
絡路39が、下側ゲー・ト35に対向する位置に配され
て、キャビティーからレジンを効果的に導出し得るよう
に開設されており、連絡路39は第2番目の凹所33b
における対向端辺に接続されている。第2番目の凹所3
3bに接続された連絡路39における凹所33bとの接
続部には、下側ゲート35が連絡路39を送られて来た
レジンをキャビティー33に効果的に注入し得るように
形成されている。
第2番目の凹所33bにおけるそのゲート35との対向
位置には連絡路39がキャビティーからレジンを効果的
に導出し得るように開設されており、連絡路39は第3
番目の凹所(図示省略)における対向位置に接続されて
いる。以降、これが絡り返されて行くように構成されて
いる。
他方、上型31における第1番目の凹所33aには連絡
路40が下側連絡路39に整合するように配されてキャ
ビティーからレジンを効果的に導出し得るように開設さ
れており、連絡路40は第2番目の凹所33aにおける
対向端辺に接続されている。第2番目の凹所338に接
続された連絡路40における凹所33aとの接続部には
上側ゲート37が下型32の凹所33bにおける下側ゲ
ート35に対向する位置に配されて、キャビティーに連
通し得るように開設されており、第3番目以降の凹所に
も上側ゲートが同様に開設されている。
スルーモールド法においては、レジンが第1番目のキャ
ビティー、第2番目のキャビティー、・・・を順次通過
して充填されて行くため、各キャビティーに大量のレジ
ンを注入させる必要があると考えられる。
本実施例においては1、各キャビティーの上型凹所33
aおよび下型凹所33bに上側ゲート37および下側ゲ
ート35がそれぞれ開設されているため、各キャビティ
ーに対して大量のレジンを大量に通過させることができ
るとともに、キャビティーのそれぞれにおいてレジンを
上下均等に充填させて行くことができる。これにより、
各キャビティーにレジンが適正な成形状況で充填される
ため、スルーモールド法が効果的に実現されることにな
り、スルーモールド法の採用により、生産性を大幅に高
めることができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、上側ゲートと下側ゲートとは互いに正対するよ
うに配設するに限らず、互いにずれるように配設しても
よい。
上側ゲートと下側ゲートとでランナを共用するように構
成するに限らず、上側ゲートと下側ゲートとに専用のラ
ンナをそれぞれ接続させるように構成してもよい。
上側?−トと下側ゲートとのレジン充填速度を均等にさ
せる手段としては、両ゲートの流路断面積比等を調整す
る手段を使用するに限らず、両ゲートの流路抵抗比を調
整する手段、両ゲートに接続されたランナの長さ比を調
整する手段、両ゲートに対するレジンの供給量比を調整
する手段等々を使用することが考えられる。
両ゲートの流路断面積比等の調整による充填の上下均等
化は、コンピュータシュミレーションや実験等のような
経験的手法を用いて、具体的な成形条件の諸例毎に実行
することが望ましい。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるFPp−rcの樹脂
封止パフケージの成形技術、およびスルーモールド法に
よるDIP・ICの樹脂封止パッケージの成形技術に通
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、その他の電子装置における樹脂封止パッケー
ジの成形技術全般に通用することができる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
キャビティーにおける上型凹所と下型凹所とに上側ゲー
トと下側ゲートとをそれぞれ開設することにより、キャ
ビティーに対するレジンの充填速度を上下において互い
に略等しくさせることができるため、エアの巻き込み現
象、レジンの局所的未充填現象や、タブおよびペレット
の不測の移動現象等のような不適正な成形状況の発生を
防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例であるトランスファ成形装置
を示す分解斜視図、 第2図はその成形途中を示す平面図、 第3図は同じく縦断面図、 第4図および第5図はその作用を説明するための各縦断
面図である。 第6図は本発明の他の実施例である成形装置を示す第2
図に相当する平面図、 第7図はその部分縦断面図である。 l、31・・・上型、2.32・・・下型、3.33・
・・キャビティー、3a、33a・・・上型凹所、3b
、33b・・・下型凹所、4.34・・・メインランナ
、5.35・・・下側ゲート、6・・・サブランナ、7
.37・・・上側ゲート、8.38・・・サブランナ、
9、lO・・・エアベント、11・・・リードフレーム
、12・・・外枠、13・・・タブ吊りリード、14・
・・タブ、15・・・インナリード、16・・・アウタ
リード、17・・・ダム、18・・・ペレット、19・
・・ボンディングワイヤ、20・・・被パンケージング
物、21・・・レジン、39,40・・・連絡路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、成形型の上型および下型に上側ゲートおよび下側ゲ
    ートがキャビティーに連通するようにそれぞれ開設され
    ていることを特徴とする成形装置。 2、上側ゲートおよび下側ゲートが、互いに正対するよ
    うに配設されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の成形装置。 3、上側ゲートおよび下側ゲートが、ランナを共用する
    ように構成されていることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の成形装置。 4、上型および下型が、上側エアベントおよび下側エア
    ベントをキャビティーに連通するようにそれぞれ開設さ
    れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    成形装置。5、キャビティーが複数、成形型に配設され
    ているとともに、前方のキャビティーに後方のキャビテ
    ィーが連絡路により連通されており、これら連絡路の後
    端部に上側ゲートおよび下側ゲートが配設されているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の成形装置。 6、成形型の上型および下型に上側ゲートおよび下側ゲ
    ートがキャビティーに連通するようにそれぞれ開設され
    ている成形装置を用いるとともに、成形材料の充填をキ
    ャビティーの上型空間および下型空間において略同時に
    進行させることを特徴とする成形方法。 7、上側ゲートおよび下側ゲートが、その充填速度が互
    いに略均等になるように構成されていることを特徴とす
    る特許請求の範囲第6項記載の成形方法。
JP62031453A 1987-02-16 1987-02-16 半導体装置のためのトランスファ成形方法 Expired - Fee Related JPH0811409B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62031453A JPH0811409B2 (ja) 1987-02-16 1987-02-16 半導体装置のためのトランスファ成形方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62031453A JPH0811409B2 (ja) 1987-02-16 1987-02-16 半導体装置のためのトランスファ成形方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63199619A true JPS63199619A (ja) 1988-08-18
JPH0811409B2 JPH0811409B2 (ja) 1996-02-07

Family

ID=12331672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62031453A Expired - Fee Related JPH0811409B2 (ja) 1987-02-16 1987-02-16 半導体装置のためのトランスファ成形方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0811409B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02186647A (ja) * 1989-01-12 1990-07-20 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法
JPH03110848U (ja) * 1990-02-28 1991-11-13

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6063122A (ja) * 1983-09-16 1985-04-11 Michio Osada 半導体素子の樹脂封入成形方法及びその金型装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6063122A (ja) * 1983-09-16 1985-04-11 Michio Osada 半導体素子の樹脂封入成形方法及びその金型装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02186647A (ja) * 1989-01-12 1990-07-20 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法
JPH03110848U (ja) * 1990-02-28 1991-11-13

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0811409B2 (ja) 1996-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5381042A (en) Packaged integrated circuit including heat slug having an exposed surface
US8399966B2 (en) Inserts for directing molding compound flow and semiconductor die assemblies
KR200309906Y1 (ko) 반도체 패키지 제조용 리드프레임
US6863516B2 (en) Transfer molding and underfilling apparatus
CN208385398U (zh) 窗口型球栅阵列封装组件
US5932923A (en) Semiconductor device packages having dummy block leads and tie bars with extended portions to prevent formation of air traps in the encapsulate
US5723156A (en) Mold for molding a semiconductor package
CN223273274U (zh) 封装结构
JPS63199619A (ja) 半導体装置のためのトランスファ成形方法
US6428731B1 (en) Mould part, mould and method for encapsulating electronic components mounted on a carrier
JPH0637130A (ja) 半導体装置の製造方法
US5897883A (en) Mold having projections for inhibiting the formation of air pockets
JP2631520B2 (ja) 樹脂封止パッケージの成形方法
CN207800551U (zh) 半导体封装模具
EP0980305B1 (en) Apparatus for molding plastic packages
JP2834257B2 (ja) 半導体装置の製造方法およびモールド装置
JPS6353006A (ja) 成形装置
JP2675644B2 (ja) 半導体装置用樹脂モールド金型装置
JP2587585B2 (ja) 半導体装置樹脂封止金型
JPH071496A (ja) 成形方法および装置
JPS6063122A (ja) 半導体素子の樹脂封入成形方法及びその金型装置
JP4376254B2 (ja) 半導体搭載用基板と半導体装置および製造方法
JPS5967031A (ja) 成形機
JPS63162208A (ja) 成形装置
JPH1154685A (ja) 半導体装置およびそれに使用されるリードフレーム

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees