JPS63200459A - 超高分解能タンデム型質量分析装置 - Google Patents
超高分解能タンデム型質量分析装置Info
- Publication number
- JPS63200459A JPS63200459A JP62032895A JP3289587A JPS63200459A JP S63200459 A JPS63200459 A JP S63200459A JP 62032895 A JP62032895 A JP 62032895A JP 3289587 A JP3289587 A JP 3289587A JP S63200459 A JPS63200459 A JP S63200459A
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- JP
- Japan
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- slit
- mass spectrometer
- double
- electrostatic lens
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、第１の二重収束質量分析計（以下ＭＳ１と言
う）と第２の二重収束質量分析計（以下ＭＳ２と言う）
をシリーズに接続したタンデム型質量分析装置に係り、
特に該接続部に衝突室を配置し、単一の超高分解能二重
収束質量分析装置として機能させると共に、第１の二重
収束質量分析装置により選択されたイオン（プリカーサ
イオン）を衝突室に導入して得た解離イオン（娘イオン
）を第２の二重収束質量分析装置により高い分解能で分
析するようにした超高分解能タンデム型質量分析装置に
関する。
う）と第２の二重収束質量分析計（以下ＭＳ２と言う）
をシリーズに接続したタンデム型質量分析装置に係り、
特に該接続部に衝突室を配置し、単一の超高分解能二重
収束質量分析装置として機能させると共に、第１の二重
収束質量分析装置により選択されたイオン（プリカーサ
イオン）を衝突室に導入して得た解離イオン（娘イオン
）を第２の二重収束質量分析装置により高い分解能で分
析するようにした超高分解能タンデム型質量分析装置に
関する。
一般に、質量分析においては、イオン源から出射される
イオンの方向の違い、イオン化した位置での電位の相違
等によるエネルギの違いにより、分解能の低下が生ずる
が、イオンビームの方向やエネルギが相違しても同一質
量のものは同一場所に収束するように二重収束させるよ
うにした質量分析がおこなわれており、さらに二重収束
質量分析計ＭＳＩ とＭＳ２をシリーズに接続して分解
能を上げるようにした超高分解能タンデム型二重収束質
量分析装置も提案されている。
イオンの方向の違い、イオン化した位置での電位の相違
等によるエネルギの違いにより、分解能の低下が生ずる
が、イオンビームの方向やエネルギが相違しても同一質
量のものは同一場所に収束するように二重収束させるよ
うにした質量分析がおこなわれており、さらに二重収束
質量分析計ＭＳＩ とＭＳ２をシリーズに接続して分解
能を上げるようにした超高分解能タンデム型二重収束質
量分析装置も提案されている。
また二重収束１１量分析計ＭＳＩとＭＳ２の接続部に衝
突室を配置し、ＭＳＩで特定のプリカーサイオンを取り
出し、衝突室中でこのプリカーサイオンを解離させて娘
イオンに変換し、この娘イオンをＭＳ２で分析するＭＳ
／ＭＳ質量分析（Ｍ ｕ １ｔｉ−５ｔａｇｅ Ｍａ
ｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ ）も行われている。
突室を配置し、ＭＳＩで特定のプリカーサイオンを取り
出し、衝突室中でこのプリカーサイオンを解離させて娘
イオンに変換し、この娘イオンをＭＳ２で分析するＭＳ
／ＭＳ質量分析（Ｍ ｕ １ｔｉ−５ｔａｇｅ Ｍａ
ｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ ）も行われている。
第２図はこのような従来の超高分解能タンデム型二重収
束質量分析装置の一例を示す図で、１はイオン源、２は
主スリット、３．９は円筒電極、４．１０は四極静電レ
ンズ、５．１１は磁石、６は検出スリット、７は衝突室
、８はソーススリット、１２は検出スリット、１３はイ
オン検出器である。
束質量分析装置の一例を示す図で、１はイオン源、２は
主スリット、３．９は円筒電極、４．１０は四極静電レ
ンズ、５．１１は磁石、６は検出スリット、７は衝突室
、８はソーススリット、１２は検出スリット、１３はイ
オン検出器である。
図において、単一の質量分析装置として使用する場合は
、円筒電極３による電場、四極静電レンズ４、磁石５か
らなるＭＳｌ側でイオンビームを検出スリット６の点に
収束させ、更に検出スリットの位置を、円筒電極９、四
極静電レンズ１０、磁石１１からなるＭＳ２側のソース
スリットの位置とすることにより、全体を超高分解能を
有する単一の質量分析装置として機能させている。
、円筒電極３による電場、四極静電レンズ４、磁石５か
らなるＭＳｌ側でイオンビームを検出スリット６の点に
収束させ、更に検出スリットの位置を、円筒電極９、四
極静電レンズ１０、磁石１１からなるＭＳ２側のソース
スリットの位置とすることにより、全体を超高分解能を
有する単一の質量分析装置として機能させている。
次に、ＭＳ／ＭＳ質量分析を行う場合には、検出スリッ
ト６の点でＭＳＩによりプリカーサイオンの選択を行い
、更に衝突室７で生じた娘イオンを、スリット８の位置
をソーススリットの位置としてＭＳ２側で分析を行って
いる。
ト６の点でＭＳＩによりプリカーサイオンの選択を行い
、更に衝突室７で生じた娘イオンを、スリット８の位置
をソーススリットの位置としてＭＳ２側で分析を行って
いる。
ところで、第２図に示す二重収束質量分析装置において
、単一の質量分析装置として機能させる場合には、ＭＳ
ｌの収束点、即ち検出スリット６の位置がＭＳ２のソー
ススリットの位置になるようにしてＭＳ２側における二
重収束を確保しており、これをＭＳ／ＭＳ質量分析装置
として使用する場合には、ソーススリットの位置が図の
スリット８の位置にずれることになり、ここで生じた娘
イオンをＭＳ２で分析することになるため、ＭＳ２側に
とっては収束点がずれてしまい、その結果二重収束が得
られず、分解能の高いＭＳ／ＭＳ質量分析を行うことが
できなかった。
、単一の質量分析装置として機能させる場合には、ＭＳ
ｌの収束点、即ち検出スリット６の位置がＭＳ２のソー
ススリットの位置になるようにしてＭＳ２側における二
重収束を確保しており、これをＭＳ／ＭＳ質量分析装置
として使用する場合には、ソーススリットの位置が図の
スリット８の位置にずれることになり、ここで生じた娘
イオンをＭＳ２で分析することになるため、ＭＳ２側に
とっては収束点がずれてしまい、その結果二重収束が得
られず、分解能の高いＭＳ／ＭＳ質量分析を行うことが
できなかった。
本発明は上記問題点を解決するためのもので、二重収束
質量分析計ＭＳＩとＭＳ２をシリーズに接続して該接続
部に衝突室を配置し、単一の質量分析計として使用する
場合は勿論のこと、ＭＳ／ＭＳ質量分析においても二重
収束が得られ、その結果高分解能の分析が行えるように
した超高分解能タンデム型二重収束質量分析装置を提供
することを目的とする。
質量分析計ＭＳＩとＭＳ２をシリーズに接続して該接続
部に衝突室を配置し、単一の質量分析計として使用する
場合は勿論のこと、ＭＳ／ＭＳ質量分析においても二重
収束が得られ、その結果高分解能の分析が行えるように
した超高分解能タンデム型二重収束質量分析装置を提供
することを目的とする。
そのために本発明の超高分解能タンデム型二重収束質量
分析装置は、第１の二重収束質量分析計と第２の二重収
束’ｆｆｆｆ１分析計をシリーズに接続し、第１の二重
収束質量分析計の検出スリットの後段に静電レンズ系、
衝突室、ソーススリットを配にすると共に、更に前記ソ
ーススリットの後段に多極静電レンズを配置し、単一の
二重収束質量分析装置として機能させる場合は、前記多
極静電レンズをオフにし、第１の二重収束質量分析計に
よる分析と共に、衝突室で発生したイオンを第２の二重
収束質量分析計で分析する場合は、前記静電レンズ系に
より前記ソーススリットの位置に形成された収束点の虚
像位置が、前記検出スリットの位置にくるように前記多
極静電レンズを駆動することを特徴とする。
分析装置は、第１の二重収束質量分析計と第２の二重収
束’ｆｆｆｆ１分析計をシリーズに接続し、第１の二重
収束質量分析計の検出スリットの後段に静電レンズ系、
衝突室、ソーススリットを配にすると共に、更に前記ソ
ーススリットの後段に多極静電レンズを配置し、単一の
二重収束質量分析装置として機能させる場合は、前記多
極静電レンズをオフにし、第１の二重収束質量分析計に
よる分析と共に、衝突室で発生したイオンを第２の二重
収束質量分析計で分析する場合は、前記静電レンズ系に
より前記ソーススリットの位置に形成された収束点の虚
像位置が、前記検出スリットの位置にくるように前記多
極静電レンズを駆動することを特徴とする。
本発明の超高分解能タンデム型二重収束ｙｉ量分析装置
は、第１の二重収束質量分析計と第２の二重収束質量分
析計をシリーズに接続し、第１の二重収束質量分析計の
検出スリットの後段に静電レンズ系、衝突室、ソースス
リットを配置すると共に、更に前記ソーススリットの後
段に多極静電レンズを配置し、単一の二重収束質■分析
装置として機能させる場合は、前記多極静電レンズをオ
フにし、第１の二重収束質量分析計による分析を行うと
共に、衝突室で発生したイオンを第２の二重収束質量分
析計で分析する場合は、前記静電レンズ系によりソース
スリットの位置に形成された収束点の虚像位置が、前記
検出スリットの位置にくるように前記多極静電レンズを
駆動することにより、単一の質量分析装置としてだけで
なく、ＭＳ／ＭＳ質量分析においても、二重収束による
高分解能を維持することができる。
は、第１の二重収束質量分析計と第２の二重収束質量分
析計をシリーズに接続し、第１の二重収束質量分析計の
検出スリットの後段に静電レンズ系、衝突室、ソースス
リットを配置すると共に、更に前記ソーススリットの後
段に多極静電レンズを配置し、単一の二重収束質■分析
装置として機能させる場合は、前記多極静電レンズをオ
フにし、第１の二重収束質量分析計による分析を行うと
共に、衝突室で発生したイオンを第２の二重収束質量分
析計で分析する場合は、前記静電レンズ系によりソース
スリットの位置に形成された収束点の虚像位置が、前記
検出スリットの位置にくるように前記多極静電レンズを
駆動することにより、単一の質量分析装置としてだけで
なく、ＭＳ／ＭＳ質量分析においても、二重収束による
高分解能を維持することができる。
以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
第１図は本発明による超高分解能タンデム型二重収束質
量分析装置のＭＳＩの検出部とＭＳ２のソーススリット
部近傍を示す図で、同図（Ａ）は単一の二重収束質量分
析装置として使用した場合の説明図、同図（Ｂ）はＭＳ
／ＭＳ質量分析装置として使用した場合の説明図である
。図中、２０は検出スリット、２１は多極静電レンズ、
２２は静電レンズ系、２３は衝突室、２４はスリットで
ある。
量分析装置のＭＳＩの検出部とＭＳ２のソーススリット
部近傍を示す図で、同図（Ａ）は単一の二重収束質量分
析装置として使用した場合の説明図、同図（Ｂ）はＭＳ
／ＭＳ質量分析装置として使用した場合の説明図である
。図中、２０は検出スリット、２１は多極静電レンズ、
２２は静電レンズ系、２３は衝突室、２４はスリットで
ある。
図において、単一の質量分析装置として機能させる場合
には、図（Ａ）に示すように多極静電レンズはオフにし
、検出スリット２０の位置をＭ３２例のソーススリット
の位置として、ＭＳＩの二重収束、更にＭＳ２の二重収
束による超高分解能の質量分析を行う。
には、図（Ａ）に示すように多極静電レンズはオフにし
、検出スリット２０の位置をＭ３２例のソーススリット
の位置として、ＭＳＩの二重収束、更にＭＳ２の二重収
束による超高分解能の質量分析を行う。
次に、ＭＳ／ＭＳ質量分析を行う場合には、レンズ系２
２により衝突室２３からの発生イオンをスリット２４の
位置に収束させる。その結果ＭＳ２側にとっては、単一
の質量分析の場合に比し収束点の位置が、検出スリット
２０の点からスリット２４の点にずれてしまう。そこで
、四極静電レンズのような多極静電レンズ２１を駆動し
、前記スリット２４における収束点の虚像位置が、検出
スリット２０の位置にくるようにさせる。したがってＭ
Ｓ２側にとっては、検出スリット２０の位置に収束点が
あり、そこにソーススリットがあるのと同様に動作させ
ることができるので、単一の質量分析の場合と同様に二
重収束を確保することができ、高分解能を維持すること
ができる。
２により衝突室２３からの発生イオンをスリット２４の
位置に収束させる。その結果ＭＳ２側にとっては、単一
の質量分析の場合に比し収束点の位置が、検出スリット
２０の点からスリット２４の点にずれてしまう。そこで
、四極静電レンズのような多極静電レンズ２１を駆動し
、前記スリット２４における収束点の虚像位置が、検出
スリット２０の位置にくるようにさせる。したがってＭ
Ｓ２側にとっては、検出スリット２０の位置に収束点が
あり、そこにソーススリットがあるのと同様に動作させ
ることができるので、単一の質量分析の場合と同様に二
重収束を確保することができ、高分解能を維持すること
ができる。
なお、超高分解能タンデム型二重収束ｆ！分析装置とし
ては、電場をＥ２磁場をＢとしたとき、ＥＢＦ、Ｂ型、
ＢＥＢＥ型等いろいろな組み合わせがあるが、本発明は
いかなる組み合わせのものにも適用できることは言うま
でもない。
ては、電場をＥ２磁場をＢとしたとき、ＥＢＦ、Ｂ型、
ＢＥＢＥ型等いろいろな組み合わせがあるが、本発明は
いかなる組み合わせのものにも適用できることは言うま
でもない。
以上のように本発明によれば、単一の二重収束質量分析
装置として超高分解能を得ることができると共に、ＭＳ
／ＭＳ質量分析を行う場合にも、Ｍ３２例にとって二重
収束のための収束点の位置のずれが生ぜず、高分解能を
維持することが可能となる。
装置として超高分解能を得ることができると共に、ＭＳ
／ＭＳ質量分析を行う場合にも、Ｍ３２例にとって二重
収束のための収束点の位置のずれが生ぜず、高分解能を
維持することが可能となる。
第１図は本発明による超高分解能タンデム型二重収束質
量分析装置のＭＳＩの検出部とＭＳ２のソーススリット
部近傍を示す図で、同１２１（Ａ）は単一の二重収束質
量分析装置として使用した場合の説明図、同図（Ｂ）は
ＭＳ／ＭＳ質量分析装置として使用した場合の説明図、
第２図は従来の超高分解能タンデム型二重収束質量分析
装置の概略構成を示す図である。
量分析装置のＭＳＩの検出部とＭＳ２のソーススリット
部近傍を示す図で、同１２１（Ａ）は単一の二重収束質
量分析装置として使用した場合の説明図、同図（Ｂ）は
ＭＳ／ＭＳ質量分析装置として使用した場合の説明図、
第２図は従来の超高分解能タンデム型二重収束質量分析
装置の概略構成を示す図である。
Claims (1)
- 第１の二重収束質量分析計と第２の二重収束質量分析計
をシリーズに接続し、第１の二重収束質量分析計の検出
スリットの後段に静電レンズ系、衝突室、ソーススリッ
トを配置すると共に、更に前記ソーススリットの後段に
多極静電レンズを配置し、単一の二重収束質量分析装置
として機能させる場合は、第１の二重収束質量分析計の
検出スリットを出射したイオンが、第２の二重収束質量
分析計の検出スリット位置で二重収束されるように前記
多極静電レンズを第１の状態で駆動し、第１の二重収束
質量分析計により分離されたイオンを衝突室へ導入して
得た解離イオンを第２の二重収束質量分析計で分析する
場合は、前記静電レンズ系により前記ソーススリットの
位置に形成された収束点を出射したイオンが、第２の二
重収束質量分析計の検出スリット位置で二重収束される
ように前記多極静電レンズを前記第１の状態と異なる第
２の状態で駆動することを特徴とする超高分解能タンデ
ム型二重収束質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62032895A JPS63200459A (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 超高分解能タンデム型質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62032895A JPS63200459A (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 超高分解能タンデム型質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63200459A true JPS63200459A (ja) | 1988-08-18 |
| JPH0379818B2 JPH0379818B2 (ja) | 1991-12-20 |
Family
ID=12371624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62032895A Granted JPS63200459A (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 超高分解能タンデム型質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63200459A (ja) |
-
1987
- 1987-02-16 JP JP62032895A patent/JPS63200459A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0379818B2 (ja) | 1991-12-20 |
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