JPH049728Y2 - - Google Patents
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- JPH049728Y2 JPH049728Y2 JP10666486U JP10666486U JPH049728Y2 JP H049728 Y2 JPH049728 Y2 JP H049728Y2 JP 10666486 U JP10666486 U JP 10666486U JP 10666486 U JP10666486 U JP 10666486U JP H049728 Y2 JPH049728 Y2 JP H049728Y2
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- detector
- mass spectrometer
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 26
- 238000004885 tandem mass spectrometry Methods 0.000 description 23
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 8
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 8
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 5
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 3
- 102100025490 Slit homolog 1 protein Human genes 0.000 description 2
- 101710123186 Slit homolog 1 protein Proteins 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、第１の質量分析計（以下MS1と言
う）と第２の質量分析計（以下MS2と言う）を
シリーズに接続し、第１の質量分析計で特定のイ
オン（プリカーサイオン）を取り出して検出する
と共に、衝突室中で衝突ガスによりプリカーサイ
オンの解離イオン（娘イオン）を発生させ、この
娘イオンを第２の質量分析計で分析し得るように
した質量分析装置に係り、特に第１と第２の質量
分析計の接続部における狭いスペースに衝突室と
検出器を配置し得るようにした質量分析装置に関
する。
う）と第２の質量分析計（以下MS2と言う）を
シリーズに接続し、第１の質量分析計で特定のイ
オン（プリカーサイオン）を取り出して検出する
と共に、衝突室中で衝突ガスによりプリカーサイ
オンの解離イオン（娘イオン）を発生させ、この
娘イオンを第２の質量分析計で分析し得るように
した質量分析装置に係り、特に第１と第２の質量
分析計の接続部における狭いスペースに衝突室と
検出器を配置し得るようにした質量分析装置に関
する。
一般に、MS1とMS2をシリーズに接続し、
MS1でプリカーサイオンを取り出し、衝突室中
でこのプリカーサイオンを解離して娘イオンに変
換し、この娘イオンをMS2で分析するMS／MS
質量分析が行われている。
MS1でプリカーサイオンを取り出し、衝突室中
でこのプリカーサイオンを解離して娘イオンに変
換し、この娘イオンをMS2で分析するMS／MS
質量分析が行われている。
このようなMS／MS質量分析においては、測
定の第１ステツプとしてMS1を通過したプリカ
ーサイオンを検出する使い方も行われる。その場
合、プリカーサイオンの検出は、MS2の検出器
側でも行うことができるが、MS2をプリカーサ
イオンが通過するようにするためにはいろいろな
面倒な条件設定が必要であるため、一般には
MS1の検出器を独自に設け、それに伴つて衝突
室も、MS1の検出器の近くに配置している。
定の第１ステツプとしてMS1を通過したプリカ
ーサイオンを検出する使い方も行われる。その場
合、プリカーサイオンの検出は、MS2の検出器
側でも行うことができるが、MS2をプリカーサ
イオンが通過するようにするためにはいろいろな
面倒な条件設定が必要であるため、一般には
MS1の検出器を独自に設け、それに伴つて衝突
室も、MS1の検出器の近くに配置している。
第３図は、例えばMS1として磁場Ｂを、MS2
として電場Ｅを用いた、所謂BE型のMS／MS質
量分析装置におけるMS1用の検出器と衝突室の
配置を示す図で、１はMS1のコレクタスリツト、
２はコンバージヨンダイノード、３は検出器、４
は衝突室である。
として電場Ｅを用いた、所謂BE型のMS／MS質
量分析装置におけるMS1用の検出器と衝突室の
配置を示す図で、１はMS1のコレクタスリツト、
２はコンバージヨンダイノード、３は検出器、４
は衝突室である。
図において、MS1のコレクタスリツト１を通
過したイオンビームは、コンバージヨンダイノー
ド２の電位に引かれて衝突し、その結果発生する
２次電子あるいは２次イオンが検出器３で検出さ
れ、MS1の分析が行われる。またMS2側では、
コンバージヨンダイノード２及び検出器３を共に
働かせずイオンビームが衝突室４の衝突ガスと衝
突して生じた娘イオンのエネルギスペクトルをと
ることにより質量分析を行う。一方二重収束質量
分析の場合には、検出器３も衝突室４も共に働か
せず、磁界と電場を同時に用いて単一の質量分析
装置として機能させ、高分解能の分析が行われ
る。
過したイオンビームは、コンバージヨンダイノー
ド２の電位に引かれて衝突し、その結果発生する
２次電子あるいは２次イオンが検出器３で検出さ
れ、MS1の分析が行われる。またMS2側では、
コンバージヨンダイノード２及び検出器３を共に
働かせずイオンビームが衝突室４の衝突ガスと衝
突して生じた娘イオンのエネルギスペクトルをと
ることにより質量分析を行う。一方二重収束質量
分析の場合には、検出器３も衝突室４も共に働か
せず、磁界と電場を同時に用いて単一の質量分析
装置として機能させ、高分解能の分析が行われ
る。
ところで、かかる質量分析装置は、前述したよ
うに、磁界と電場を同時に用いて二重収束質量分
析も行うが、そのため偏向磁場と電場の中間部に
はスペース上の制約があり、特に高分解能分析の
ための四極静電レンズを配置した質量分析装置等
の場合には、衝突室と検出器を同時に配置できる
ような空間的余裕がないという欠点があつた。
うに、磁界と電場を同時に用いて二重収束質量分
析も行うが、そのため偏向磁場と電場の中間部に
はスペース上の制約があり、特に高分解能分析の
ための四極静電レンズを配置した質量分析装置等
の場合には、衝突室と検出器を同時に配置できる
ような空間的余裕がないという欠点があつた。
本考案は上記問題点を解決するためのもので、
スペース上の制約がある場合でも、MS1とMS2
の間に検出器と衝突室を容易に配置し得るように
した質量分析装置を提供することを目的とする。
スペース上の制約がある場合でも、MS1とMS2
の間に検出器と衝突室を容易に配置し得るように
した質量分析装置を提供することを目的とする。
そのために本考案の質量分析装置は、第１の質
量分析計と第２の質量分析計をシリーズに接続
し、該接続部に衝突室及び検出器を設ける質量分
析装置において、オフアクシス型検出器のコンバ
ージヨンダイノードを中空にし、内部に衝突ガス
を導入して衝突室として兼用すると共に、該コン
バージヨンダイノードを光軸と交差する方向に移
動可能にしたことを特徴とする。
量分析計と第２の質量分析計をシリーズに接続
し、該接続部に衝突室及び検出器を設ける質量分
析装置において、オフアクシス型検出器のコンバ
ージヨンダイノードを中空にし、内部に衝突ガス
を導入して衝突室として兼用すると共に、該コン
バージヨンダイノードを光軸と交差する方向に移
動可能にしたことを特徴とする。
本考案の質量分析装置は、第１の質量分析計と
第２の質量分析計をシリーズに接続し、該接続部
に衝突室及び検出器を設ける質量分析装置におい
て、オフアクシス型検出器のコンバージヨンダイ
ノードを衝突室として兼用すると共に、該コンバ
ージヨンダイノードを光軸と交差する方向に移動
可能に構成することにより、スペース上の制約が
あつても衝突室と検出器を容易に配置できるよう
にしている。
第２の質量分析計をシリーズに接続し、該接続部
に衝突室及び検出器を設ける質量分析装置におい
て、オフアクシス型検出器のコンバージヨンダイ
ノードを衝突室として兼用すると共に、該コンバ
ージヨンダイノードを光軸と交差する方向に移動
可能に構成することにより、スペース上の制約が
あつても衝突室と検出器を容易に配置できるよう
にしている。
以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
第１図は本考案による衝突室と検出器の一実施
例を示す図で、同図Ａは検出器として機能した場
合を示す図、同図Ｂは衝突室として機能した場合
を示す図である。図中、１０はMS1側のコレク
タスリツト、１１はコンバージヨンダイノード、
１２は検出器、１３は衝突室、１４は細孔であ
る。
例を示す図で、同図Ａは検出器として機能した場
合を示す図、同図Ｂは衝突室として機能した場合
を示す図である。図中、１０はMS1側のコレク
タスリツト、１１はコンバージヨンダイノード、
１２は検出器、１３は衝突室、１４は細孔であ
る。
図において、MS1の検出器としてオフアクシ
ス型検出器を用い、これをコンバージヨンダイノ
ード１１と検出器１２とで構成し、イオンビーム
軌道の両側に配置する。このコンバージヨンダイ
ノード１１は中空とし、衝突ガスを導入できる構
造として衝突室１３を形成し、その側面にイオン
通過用の細孔１４を設ける。さらにこのダイノー
ドはイオン軌道に垂直に移動できる構造とし、図
Ａに示すコンバージヨンダイノードとしての位置
と、図Ｂに示す衝突室としての位置の２点に設定
できる。またコンバージヨンダイノード１１と検
出器１２とは連動して移動し得るように構成され
ている。
ス型検出器を用い、これをコンバージヨンダイノ
ード１１と検出器１２とで構成し、イオンビーム
軌道の両側に配置する。このコンバージヨンダイ
ノード１１は中空とし、衝突ガスを導入できる構
造として衝突室１３を形成し、その側面にイオン
通過用の細孔１４を設ける。さらにこのダイノー
ドはイオン軌道に垂直に移動できる構造とし、図
Ａに示すコンバージヨンダイノードとしての位置
と、図Ｂに示す衝突室としての位置の２点に設定
できる。またコンバージヨンダイノード１１と検
出器１２とは連動して移動し得るように構成され
ている。
図Ａの位置にある場合には、コレクタスリツト
１０を通過したイオンビームはコンバージヨンダ
イノード１１に引かれて衝突し、そのとき発生し
た２次電子あるいは２次イオンが検出器１２によ
り検出されてMS1の分析が行われる。また図Ｂ
の位置では、コンバージヨンダイノード１１の中
央部の孔が光軸上にきて、イオンビームが衝突室
１３に照射され、衝突ガスとの衝突により発生し
た娘イオンが後段の検出器で検出されてMS2の
分析が行われる。このとき検出器１２は光軸から
外れた位置に移動されている。
１０を通過したイオンビームはコンバージヨンダ
イノード１１に引かれて衝突し、そのとき発生し
た２次電子あるいは２次イオンが検出器１２によ
り検出されてMS1の分析が行われる。また図Ｂ
の位置では、コンバージヨンダイノード１１の中
央部の孔が光軸上にきて、イオンビームが衝突室
１３に照射され、衝突ガスとの衝突により発生し
た娘イオンが後段の検出器で検出されてMS2の
分析が行われる。このとき検出器１２は光軸から
外れた位置に移動されている。
このように、コンバージヨンダイノード１１を
衝突室として兼用し、コンバージヨンダイノード
１１と検出器１２をイオン軌道に垂直に移動可能
にすることにより、限られたスペース中にも検出
器と衝突室を有効に配置することができ、MS1
の分析とMS2の分析を選択的に行うことができ
る。なお、コンバージヨンダイノードと検出器
は、イオン軌道に垂直に一体に移動する構成とし
て説明したが、このことは必ずしも必要ではな
く、周囲の状況により、ダイノードの移動の方向
や、一体に移動させるか、或いは独立に移動させ
るか等は適宜決めればよいし、検出器は第１図Ａ
の位置に固定しておき、ダイノードのみ移動する
ようにしてもよい。
衝突室として兼用し、コンバージヨンダイノード
１１と検出器１２をイオン軌道に垂直に移動可能
にすることにより、限られたスペース中にも検出
器と衝突室を有効に配置することができ、MS1
の分析とMS2の分析を選択的に行うことができ
る。なお、コンバージヨンダイノードと検出器
は、イオン軌道に垂直に一体に移動する構成とし
て説明したが、このことは必ずしも必要ではな
く、周囲の状況により、ダイノードの移動の方向
や、一体に移動させるか、或いは独立に移動させ
るか等は適宜決めればよいし、検出器は第１図Ａ
の位置に固定しておき、ダイノードのみ移動する
ようにしてもよい。
第２図は第１図で示したコンバージヨンダイノ
ードと検出器を用いたMS／MS質量分析装置の
一実施例を示す図である。図中、第１図と同一番
号は同一内容を示し、２１はイオン源、２２はソ
ーススリツト、２３は磁石、２４はスリツト、２
５は電極、２６はスリツト、２７は磁石、２８は
検出スリツト、２９はイオン検出器である。
ードと検出器を用いたMS／MS質量分析装置の
一実施例を示す図である。図中、第１図と同一番
号は同一内容を示し、２１はイオン源、２２はソ
ーススリツト、２３は磁石、２４はスリツト、２
５は電極、２６はスリツト、２７は磁石、２８は
検出スリツト、２９はイオン検出器である。
図示の質量分析装置は、偏向磁場B1、電場Ｅ、
偏向磁場B2からなる所謂BEB型であり、B1を
MS1、EB2をMS2とする場合、B1ＥをMS1、B2
をMS2とする場合の２種類の組み合わせがあり、
B1とＥおよびＥとB2の間に衝突室と検出器を配
置する必要がある。そしてそれぞれの位置でスペ
ースの問題が発生するので、それに応じてコンバ
ージヨンダイノード１１と検出器１２を図示のよ
うにスリツト２４の直後、或いはスリツト２６の
直後に配置する。
偏向磁場B2からなる所謂BEB型であり、B1を
MS1、EB2をMS2とする場合、B1ＥをMS1、B2
をMS2とする場合の２種類の組み合わせがあり、
B1とＥおよびＥとB2の間に衝突室と検出器を配
置する必要がある。そしてそれぞれの位置でスペ
ースの問題が発生するので、それに応じてコンバ
ージヨンダイノード１１と検出器１２を図示のよ
うにスリツト２４の直後、或いはスリツト２６の
直後に配置する。
この他にもMS／MS質量分析装置としては、
電場をＥ、磁場をＢ、四重極マスフイルタをＱと
したとき、BE，EBE，BEBE（EBEB），EBQ
（BEQ），QQQ等の組み合わせが存在し、それぞ
れに特徴を有しており、本考案によるコンバージ
ヨンダイノードと検出器は、これらあらゆる組み
合わせに適用できることは言うまでもない。な
お、BEBE（EBEB）型の場合は通常B1E1とB2E2
の中間部に衝突室と検出器から成る独立した接続
部を配置することが多く、この場合はスペースの
問題は大きな限定要因とはならないが、この場合
にも接続部中のイオン通過率向上のため、MS1
（B1E1）とMS2（B2E2）の距離はできるだけ小さ
くしたいので、本考案の適用は極めて有効であ
る。
電場をＥ、磁場をＢ、四重極マスフイルタをＱと
したとき、BE，EBE，BEBE（EBEB），EBQ
（BEQ），QQQ等の組み合わせが存在し、それぞ
れに特徴を有しており、本考案によるコンバージ
ヨンダイノードと検出器は、これらあらゆる組み
合わせに適用できることは言うまでもない。な
お、BEBE（EBEB）型の場合は通常B1E1とB2E2
の中間部に衝突室と検出器から成る独立した接続
部を配置することが多く、この場合はスペースの
問題は大きな限定要因とはならないが、この場合
にも接続部中のイオン通過率向上のため、MS1
（B1E1）とMS2（B2E2）の距離はできるだけ小さ
くしたいので、本考案の適用は極めて有効であ
る。
〔考案の効果〕
以上のように本考案によれば、オフアクシス型
検出器のコンバージヨンダイノードを衝突室とし
て兼用することにより、あらゆる型のMS／MS
質量分析において、狭いスペースでも衝突室と検
出器を容易に配置することができる。また特に
BEBE（EBEB）型に適用した場合には、MS1と
MS2の距離を短くでき通過率を向上させること
が可能となる。
検出器のコンバージヨンダイノードを衝突室とし
て兼用することにより、あらゆる型のMS／MS
質量分析において、狭いスペースでも衝突室と検
出器を容易に配置することができる。また特に
BEBE（EBEB）型に適用した場合には、MS1と
MS2の距離を短くでき通過率を向上させること
が可能となる。
第１図は本考案による衝突室と検出器の一実施
例を示す図で、同図Ａは検出器として機能した場
合を示す図、同図Ｂは衝突室として機能した場合
を示す図、第２図は第１図で示したコンバージヨ
ンダイノードと検出器を用いたMS／MS質量分
析装置の一実施例を示す図、第３図は従来の
MS／MS質量分析装置の検出器と衝突室の配置
を示す図である。 １０……コレクタスリツト、１１……コンバー
ジヨンダイノード、１２……検出器、１３……衝
突室、１４……細孔、２１……イオン源、２２…
…ソーススリツト、２３……磁石、２４……スリ
ツト、２５……電極、２６……スリツト、２７…
…磁石、２８……検出スリツト、２９……イオン
検出器。
例を示す図で、同図Ａは検出器として機能した場
合を示す図、同図Ｂは衝突室として機能した場合
を示す図、第２図は第１図で示したコンバージヨ
ンダイノードと検出器を用いたMS／MS質量分
析装置の一実施例を示す図、第３図は従来の
MS／MS質量分析装置の検出器と衝突室の配置
を示す図である。 １０……コレクタスリツト、１１……コンバー
ジヨンダイノード、１２……検出器、１３……衝
突室、１４……細孔、２１……イオン源、２２…
…ソーススリツト、２３……磁石、２４……スリ
ツト、２５……電極、２６……スリツト、２７…
…磁石、２８……検出スリツト、２９……イオン
検出器。
Claims (1)
- 第１の質量分析計と第２の質量分析計をシリー
ズに接続し、該接続部に衝突室及び検出器を設け
る質量分析装置において、オフアクシス型検出器
のコンバージヨンダイノードを中空にし、内部に
衝突ガスを導入して衝突室として兼用すると共
に、該コンバージヨンダイノードを光軸と交差す
る方向に移動可能にしたことを特徴とする質量分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10666486U JPH049728Y2 (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10666486U JPH049728Y2 (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6314359U JPS6314359U (ja) | 1988-01-30 |
| JPH049728Y2 true JPH049728Y2 (ja) | 1992-03-11 |
Family
ID=30982228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10666486U Expired JPH049728Y2 (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH049728Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-07-11 JP JP10666486U patent/JPH049728Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6314359U (ja) | 1988-01-30 |
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