JPS63211448A

JPS63211448A - メモリカ−トリツジ

Info

Publication number: JPS63211448A
Application number: JP62045872A
Authority: JP
Inventors: Osamu Miyoshi; 三好　理
Original assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Current assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Priority date: 1987-02-27
Filing date: 1987-02-27
Publication date: 1988-09-02

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（イ）産業上の利用分野本発明は、情報処理装置に対して着脱可能であって、該
情報処理装置のメモリマツプ上でメモリバンクとして配
置されるメモリカートリッジに関する。

（口〉従来の技術実公昭５９−３７８８８号公報に開示されているように
、電子辞書等の情報処理装置では、着脱可能なメモリカ
ートリッジを使用し、各メモリカートリッジに各々異な
る辞書内容を記憶しておき、メモリカートリッジを交換
することにより、複数種類の言語に対応できるようにし
ている。

このような装置では、１つの辞書容量が大きくなると、
装置のメモリマツプ上ＣＰＵが直接アクセス可能なアド
レス空間には、メモリカートリッジのメモリを割り付け
ることが不可能となるので、メモリカートリッジのメモ
リをメモリバンクとして配置せざるを得なくなる。この
ようなメモリバンク切換の一例は、特開昭６０−３３６
４４号公報に開示きれている。

（ハ）発明が解決しようとする問題点メモリカートリッジ内で使用するメモリバンクの数や各
メモリバンクのメモリ容量が固定であるときは、情報処
理装置は、メモリカートリッジのメモリ不良テストを容
易に実行することができる。

ところが、各メモリカートリッジには、通常、異なる内
容を記憶するため、あるメモリカートリッジではメモリ
バンクを最大限の５バンクまで使用する必要もあれば、
他のメモリカートリッジではわずか２つのメモリバンク
までしか使用する必要のない場合もある。又、例えば、
ＲＯＭカードにプログラムと辞書とをメモリバンクを分
けて記憶する場合、プログラムを記憶するのに必要なメ
モリ容量は、辞書の容量に比べかなり少なくて済むので
、プログラムを記憶するメモリバンクには小容量のＲＯ
Ｍチップを採用したいという要求もある。

これら必要性や要求を満足するために、メモリカートリ
ッジ内で使用可能なメモリバンクの数や、各メモリバン
クのメモリ容量を可変とした場合、メモリカートリッジ
が装着される情報処理装置では、その状況が把握できな
いので、固定の場合と同様の処理でメモリ内容を読出し
に行くと、物理的にメモリがないこともあり、このよう
なときにはデータは不定となって、メモリの不良テスト
は行なえなくなってしまう。

（ニ）問題点を解決するための手段本発明は、メモリバンクの使用状況を示すバンク情報と
、使用している各メモリバンクのメモリ容量とを、メモ
リカートリッジの予め定められた所定の記憶領域に記憶
することにより、上記問題点を解決するものである。

（＊）作用本発明に依れば、情報処理装置に装着きれるメモリカー
トリッジの所定の記憶領域に、メモリバンクの使用状況
を示すバンク情報と、各メモリバンクのメモリ容量が記
憶されているので、使用状況やメモリ容量が各メモリカ
ートリッジ毎に異なっていても、これら情報に基づいて
バンク切換及びアドレス指定を行なうことができ、従っ
て、メモリ不良テストを実行できるようになる。

（へ）実施例第２図は、本発明の実施例としてのＲＯＭカード（１）
が着脱可能な電子辞書の全体構成を示すブタバス、（５
）はシステムプログラムを記憶したシステムＲＯＭ、（
６）は各種フォントを記憶したフォントＲＯＭ、（７）
はＲＡＭ、（８）は内部の辞書ＲＯＭ、（９）はデータ
バス（４）を介して３ビツトのバンク選択情報ＢＫＯ，
ＢＫ１．ＢＫ２が設定きれるバンクレジスタ、（１０）
はバンクレジスタ（９）の出力をデコードし、バンク選
択情報に応じた選択信号Ｙ、〜Ｙ、を出力するデコーダ
、（１１〉〜（１６）はＣＰＵ（２）が読出信号ＲＤを
出力したときのみ選択信号を導出するＡＮＤゲートであ
り、選択信号Ｙ、を入力するＡＮＤゲート（１１）の出
力は、内部の辞書ＲＯＭ（８）のチップイネーブル端子
ＧＥに接続されており、選択信号Ｙ、〜Ｙ、を各々入力
するＡＮＤゲート（１２）〜（１６）の出力は、ＲＯＭ
カード（１）を結合するためのコネクタ（１７）に接続
されている。尚、このコネクタには、アドレスバス（３
）及びデータバス（４）も接続されている。

又、デコーダ（１０）は、入力端子Ａ、Ｂ、Ｃに、「Ｏ
ＯＯ」が入力されたとき選択信号Ｙ０が「１」、’１０
０Ｊが入力されたとき選択信号Ｙ１がｒｌ、、・・・・
・・ｒｉｌｌ、が入力されたとき選択信号Ｙ、が「１」
というように、順次出力を発生する構成であって、これ
らの選択信号はＧ端子にｒｌ、の信号が入力されている
期間のみ出力され、実施例では、アドレスの最上位ビッ
トＡ３．が入力されている。

従って、本実施例では、第１図のメモリマツプに示すよ
うに、内部の辞書ＲＯＭ（８）は、ＣＰＵ（２）のアド
レス空間８００００Ｈ〜ＦＦＦＦＦＨに割り付けられ、
ＲＯＭカード（１）内の辞書ＲＯＭは、この同一のアド
レス空間にメモリバンクとして割り付けられ、そのメモ
リバンクの最大数はメモリバンク１〜５の５バンクであ
って、１つのメモリバンクのメモリ容量は、最大５１２
ＫＢである。そして、第１図の斜線で示すように、ＲＯ
Ｍカード（１）の各メモリバンクには、アドレス８００
００Ｈから所定容量の共通フォーマットエリアが定めら
れており、このエリアに、メモリバンクの使用状況を示
すバンク情報、各メモリバンクのメモリ容量、更には、
ＲＯＭ不良テストのためのチェックサム補正値を書込む
ように観、定している。

第２図に示すＲＯＭカード（１〉は、例えば、５つ、Ｒ
ＯＭカードク１）のコネクタ（２１）を、本体側のコネ
クタ（１７）に結合することにより、辞書ＲＯＭ　（１
８）、　（１９）、　（２０）のチップイネーブル端子
ＧＥは、各々、本体側のＡＮＤゲート（１２）、　（１
３）、　（１４）に接続されるように構成されている。

つまり、この例では、第３図に示すように、辞書ＲＯＭ
（１８）、　（１９）、　（２０）が順にメモリバンク
１．２．３に割り付けられる構成であり、従って、辞書
ＲＯＭ（１Ｂ）の共通フォーマットエリアには、バンク
情報として’　１．２　＋　３　Ｊ、メモリ容量として
’５１２ＫＪが書込まれており、同様に、辞書ＲＯＭ（
１９）には、バンク情報ｒ　１，２．３　、及びメモリ
容量「１２８Ｋ」、辞書ＲＯＭ　（２０）には、バンク
情報’　１，２．３　」及びメモ’）容’ｋ”　２５６
Ｋｕが書込まれている。

システムＲＯＭ（５）には、第４図のフローチへ一トで
示すようなＲＯＭ不良テストプログラムが格納されてお
り、このプログラムを実行することで、ＲＯＭカード内
に記憶きれたバンク情報及びメモリ容量に基づいて、Ｒ
ＯＭが不良か否かがテストされる。尚、このプログラム
は、第５図のチェックルーチンを含んでいる。

具体的に説明すれば、先ず、バンクレジスタ（９）に、
選択情報ＢＫＯ，ＢＫＩ、ＢＫ２として’１００Ｊを設
定してメモリバンク１即ち辞書ＲＯＭ（１８）を選択し
、第５図に示すチェックルーチンを実行する。ここでは
、最初に、記憶きれているメモリ容量をカウンタＣＮＴ
にセットし、先頭アドレス８００００Ｈから順にアドレ
スをインクリメントして行き、その間者アドレスのデー
タ加算と、カウンタＣＮＴのディクリメントを実行する
。そして、カウンタＣＮＴが「Ｏ」になれば、データ加
算を停止し、得られたチェックサムが「Ｏ」か否か判定
する。本実施例では、上述した如く、各辞書ＲＯＭのチ
ェックサムが常に１０」になるように、チェックサム補
正値を入れているので、この判定でｒ　ＯＪでなければ
そのＲＯＭは不良と判断される。

メモリバンク１についてのチェックが終了したら、バン
ク情報を読出して、ＲＯＭカード（１）がバンク２を使
用しているか判定し、使用していればバンクレジスタ（
９〉へ’ｏｉｏ、の選択情報を設定してメモリバンク２
、即ち、辞書ＲＯＭ（１９）を選択する。以下、同様に
チェックサムの判定を行なうが、この場合は、メモリ容
量として「１２８に、が記憶されているので、第５図の
チェックルーチンでは、この容量分のアドレスインクリ
メントが行なわれるだけで、ＲＯＭが実装されていない
アドレス空間ＡＯ０００Ｈ−ＦＦＦＦＦＨでは、データ
の読出しが行なわれない。第３図に示す例では、使用バ
ンクは１″３」までなので、メモリバンク３即ち辞書Ｒ
ＯＭ（２０）のテストが実行された後、処理を終了する
。言うまでもないが、辞書ＲＯＭ（２０）においても、
実装空間８００００Ｈ〜９ＦＦＦＦＨのみでチェックサ
ムの判定が行なわれる。

以上説明したように、ＲＯＭカードの使用バンクの数及
び各メモリバンクのメモリ容量が可変であっても、確実
にＲＯＭ不良テストが実行できる。

尚、辞書の検索においては、各辞書ＲＯＭ内のデータの
終りにＥＮＤマークを入れておくことにより一応対処で
きるが、このような検索においても、記憶したバンク情
報やメモリ容量を利用することができる。

（ト）発明の効果本発明に依れば、メモリカートリッジ内のメモリバンク
の数及び各メモリバンクのメモリ容量を、ある限度内で
可変としても、情報処理装置が非実装領域をアクセスす
ることを未然に防止できるので、確実なメモリ不良テス
トが実行できる。

従って、メモリカートリッジの設計の自由度が増し、種
々の情報処理に適用できるようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例におけるメモリマツプとＲＯＭ
カードの記憶内容を示す説明図、第２図は実施例として
のＲＯＭカードを含む電子辞書全体の構成を示すブロッ
ク図、第３図は具体例のメモリマツプとＲＯＭカードの
記憶内容を示す説明図、第４図はＲＯＭ不良テストプロ
グラムの処理内容を示すフローチャート、第５図はチェ
ックルーチンの処理内容を示すフローチャートである。（１）・・・ＲＯＭカード、　　（２）・・・ＣＰＵ、
　　（３）・・・アドレスバス、　（４〉・・・データ
バス、　　（８）（１Ｂ）（１９）（２０）・・・辞書
ＲＯＭ、　　（９）・・・バンクレジスタ、（１０）・
・・デコーダ。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）情報処理装置に対して着脱可能であって、該情報
処理装置のメモリマップ上でメモリバンクとして配置さ
れるメモリカートリッジにおいて、メモリバンクの使用
状況を示すバンク情報と、使用している各メモリバンク
のメモリ容量とを、予め定められた所定の記憶領域に記
憶したことを特徴とするメモリカートリッジ。