JPS6322108B2 - - Google Patents
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- JPS6322108B2 JPS6322108B2 JP54151232A JP15123279A JPS6322108B2 JP S6322108 B2 JPS6322108 B2 JP S6322108B2 JP 54151232 A JP54151232 A JP 54151232A JP 15123279 A JP15123279 A JP 15123279A JP S6322108 B2 JPS6322108 B2 JP S6322108B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- error
- data
- supplied
- flop
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/20—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、データ伝送系におけるデータ伝送品
質の評価を行うためのエラー信号処理装置に関す
る。
質の評価を行うためのエラー信号処理装置に関す
る。
例えば、デジタル・データすなわち符号化され
た情報の品質は最終的に誤り率で評価されるの
で、上記デジタル・データの伝送を行うデジタ
ル・データ伝送系の伝送特性も誤り率にて規定さ
れている。従来、デジタル・データ伝送系の誤り
率を測定するには、所定の測定時間中に伝送され
たデータについて、エラーの発生長さの長短にか
かわらず１ビツトのデータ毎に正誤を判定して、
そのエラーの発生回数を積算することにより、エ
ラーの発生長さの累積長さを求め、上記測定時間
中に伝送されたデータの総ビツト数に対する上記
累積エラー発生長さの割合すなわち平均のビツト
誤り率を算出するような、誤り率測定装置が用い
られている。
た情報の品質は最終的に誤り率で評価されるの
で、上記デジタル・データの伝送を行うデジタ
ル・データ伝送系の伝送特性も誤り率にて規定さ
れている。従来、デジタル・データ伝送系の誤り
率を測定するには、所定の測定時間中に伝送され
たデータについて、エラーの発生長さの長短にか
かわらず１ビツトのデータ毎に正誤を判定して、
そのエラーの発生回数を積算することにより、エ
ラーの発生長さの累積長さを求め、上記測定時間
中に伝送されたデータの総ビツト数に対する上記
累積エラー発生長さの割合すなわち平均のビツト
誤り率を算出するような、誤り率測定装置が用い
られている。
ところで、上述の如き従来の誤り率測定装置に
よる測定結果では、単一ビツトエラー等の比較的
に短い長さのランダム・エラーしか発生しない伝
送特性の良好なデジタル・データ伝送系について
の伝送特性の評価は行うことができるものの、磁
気記録再生装置等のように長いエラーも比較的に
多く発生するような伝送特性の悪いデジタル・デ
ータ伝送系の伝送特性について十分な評価を行う
ことができない。すなわち、従来の誤り率測定装
置では、所定の測定時間t1〜to中にどれだけのビ
ツトが誤つたかを単に測定しているだけなので、
例えば第１図に示すようにエラー発生回数ρ1（ｔ）
が略均一なデータ伝送系と、第２図に示すように
エラー発生回数ρ2（ｔ）がある時間に集中的に大
きくなつているようなデータ伝送系との各エラー
発生長さが to 〓t=t1 ρ1（ｔ）to 〓t=t1 ρ2（ｔ） にて求められ、本来異なる伝送特性であるにもか
かわらず、等しい誤り率を算出するような測定が
行われてしまう。
よる測定結果では、単一ビツトエラー等の比較的
に短い長さのランダム・エラーしか発生しない伝
送特性の良好なデジタル・データ伝送系について
の伝送特性の評価は行うことができるものの、磁
気記録再生装置等のように長いエラーも比較的に
多く発生するような伝送特性の悪いデジタル・デ
ータ伝送系の伝送特性について十分な評価を行う
ことができない。すなわち、従来の誤り率測定装
置では、所定の測定時間t1〜to中にどれだけのビ
ツトが誤つたかを単に測定しているだけなので、
例えば第１図に示すようにエラー発生回数ρ1（ｔ）
が略均一なデータ伝送系と、第２図に示すように
エラー発生回数ρ2（ｔ）がある時間に集中的に大
きくなつているようなデータ伝送系との各エラー
発生長さが to 〓t=t1 ρ1（ｔ）to 〓t=t1 ρ2（ｔ） にて求められ、本来異なる伝送特性であるにもか
かわらず、等しい誤り率を算出するような測定が
行われてしまう。
すなわち、磁気テープの損傷等によるデータの
ドロツプアウトを含み易い磁気記録再生系等のデ
ータ伝送系では、例えば、磁気テープに記録した
データ信号のドロツプアウトを該データ信号のエ
ンベロープから検出して第３図Ａに示すような長
さl0のドロツプアウト検出信号が得られるような
場合に、データ信号についてビツト毎に正誤の判
定を行うと、例えば、第３図Ｂに示すように上記
長さl0中の長さl1、長さl2、長さl3に分割された３
回のエラーが生じているようなことがあるが、３
回のエラーと判定するよりもl4なる長さのエラー
が１回発生したと判定する方が、より磁気テープ
の物理的性質を反映しているといえる。なお、ド
ロツプアウトとは再生信号のレベルの低下などを
示すものであり、その再生信号から得られるデジ
タル・データの欠落を意味するものではない。す
なわち、再生信号レベルが低下しても論理「０」
の２値データが得られる。しかし、このデータが
正しいか否かは別問題であり、上記データが誤つ
ている場合をエラーという。
ドロツプアウトを含み易い磁気記録再生系等のデ
ータ伝送系では、例えば、磁気テープに記録した
データ信号のドロツプアウトを該データ信号のエ
ンベロープから検出して第３図Ａに示すような長
さl0のドロツプアウト検出信号が得られるような
場合に、データ信号についてビツト毎に正誤の判
定を行うと、例えば、第３図Ｂに示すように上記
長さl0中の長さl1、長さl2、長さl3に分割された３
回のエラーが生じているようなことがあるが、３
回のエラーと判定するよりもl4なる長さのエラー
が１回発生したと判定する方が、より磁気テープ
の物理的性質を反映しているといえる。なお、ド
ロツプアウトとは再生信号のレベルの低下などを
示すものであり、その再生信号から得られるデジ
タル・データの欠落を意味するものではない。す
なわち、再生信号レベルが低下しても論理「０」
の２値データが得られる。しかし、このデータが
正しいか否かは別問題であり、上記データが誤つ
ている場合をエラーという。
そこで、本発明は、任意のＮビツトを１単位の
データとして扱い、そのＮビツト中に１ビツトで
もエラーが発生した場合にはそのｎビツト全てが
誤つていると判定することによつて、データ伝送
系におけるエラーの発生状況をより適確に評価し
得るようにしたエラー信号処理装置を提供するも
のである。
データとして扱い、そのＮビツト中に１ビツトで
もエラーが発生した場合にはそのｎビツト全てが
誤つていると判定することによつて、データ伝送
系におけるエラーの発生状況をより適確に評価し
得るようにしたエラー信号処理装置を提供するも
のである。
すなわち、本発明に係るエラー信号処理装置の
動作を原理的に説明すれば、例えば、第４図Ａに
示すように長さL0のドロツプアウトを含むよう
なデータ信号が伝送された場合に、該データ信号
について第４図Ｂに示すようなクロツク信号によ
りＮビツト（この例では３ビツト）を一単位とし
てエラー検出信号の判定を行い、例えば第４図Ｃ
に示すようなL1，L2のエラーの発生があつた場
合には、該エラーが発生されている各単位S1、
S2、S3、S4全体を長さL3の１個のエラーとして
判定する。なお、上記Ｎビツトを一単位とするエ
ラー信号処理を以下Ｎビツトのリゾリユーシヨン
処理という。
動作を原理的に説明すれば、例えば、第４図Ａに
示すように長さL0のドロツプアウトを含むよう
なデータ信号が伝送された場合に、該データ信号
について第４図Ｂに示すようなクロツク信号によ
りＮビツト（この例では３ビツト）を一単位とし
てエラー検出信号の判定を行い、例えば第４図Ｃ
に示すようなL1，L2のエラーの発生があつた場
合には、該エラーが発生されている各単位S1、
S2、S3、S4全体を長さL3の１個のエラーとして
判定する。なお、上記Ｎビツトを一単位とするエ
ラー信号処理を以下Ｎビツトのリゾリユーシヨン
処理という。
以下、本発明を適用した一実施例について図面
に従い詳細に説明する。
に従い詳細に説明する。
第５図は、データ伝送系としてデジタル磁気記
録再生システム１の伝送特性の評価を行うための
データ伝送特性測定装置１０に本発明を適用した
実施例のブロツク図を示している。この実施例に
おいて、デジタル磁気記録再生システム１は、第
６図に示すように記録媒体としての磁気テープ２
に傾斜をもつて並列的形成された記録トラツク３
に第７図Ａに示すようなテープフオーマツトに
て、疑似ランダム信号がデータ信号としてデジタ
ル記録されており、該磁気テープ２からデータ信
号を再生してデータ伝送特性測定装置１０のエラ
ー検出回路１１に供給している。なお、上記第７
図Ａに示すテープフオーマツトにおいては、デー
タブロツクDBLの最初と最後とにプリアンブル
部PRAとが設け、これらのプリアンブル部PRA
およびポストアンブル部PSAによつて、第７図
Ｂに示すような記録基本クロツク信号ORCKに
同期したデータの読出しを行うようにしてある。
また、上記プリアンブル部PRAに隣接してフレ
ームクロツク部FRAが設けられており、このフ
レームクロツク部FRAに第７図Ｃに示すような
フレームクロツク信号FRCKが記録される。さら
に、上記データブロツクDBLは、第７図Ｄに示
すようなブロツククロツク信号BLCKの記録され
るブロツククロツク部BLAにより例えば４分割
されて、４個のデータ部DTAが設けられている。
上記データ部DTAには、第７図Ｅに示すような
サンプリングクロツク信号SPCKにて、上述の疑
似ランダム信号が順次にデジタル記録される。
録再生システム１の伝送特性の評価を行うための
データ伝送特性測定装置１０に本発明を適用した
実施例のブロツク図を示している。この実施例に
おいて、デジタル磁気記録再生システム１は、第
６図に示すように記録媒体としての磁気テープ２
に傾斜をもつて並列的形成された記録トラツク３
に第７図Ａに示すようなテープフオーマツトに
て、疑似ランダム信号がデータ信号としてデジタ
ル記録されており、該磁気テープ２からデータ信
号を再生してデータ伝送特性測定装置１０のエラ
ー検出回路１１に供給している。なお、上記第７
図Ａに示すテープフオーマツトにおいては、デー
タブロツクDBLの最初と最後とにプリアンブル
部PRAとが設け、これらのプリアンブル部PRA
およびポストアンブル部PSAによつて、第７図
Ｂに示すような記録基本クロツク信号ORCKに
同期したデータの読出しを行うようにしてある。
また、上記プリアンブル部PRAに隣接してフレ
ームクロツク部FRAが設けられており、このフ
レームクロツク部FRAに第７図Ｃに示すような
フレームクロツク信号FRCKが記録される。さら
に、上記データブロツクDBLは、第７図Ｄに示
すようなブロツククロツク信号BLCKの記録され
るブロツククロツク部BLAにより例えば４分割
されて、４個のデータ部DTAが設けられている。
上記データ部DTAには、第７図Ｅに示すような
サンプリングクロツク信号SPCKにて、上述の疑
似ランダム信号が順次にデジタル記録される。
上述の如きテープフオーマツトにてデジタル記
録された疑似ランダム信号を再生して得られる再
生データ信号REDSは、上記フレームクロツク信
号FRCK、ブロツククロツク信号BLCK、サンプ
リングクロツク信号SPCKとともにエラー検出回
路１１に供給されている。
録された疑似ランダム信号を再生して得られる再
生データ信号REDSは、上記フレームクロツク信
号FRCK、ブロツククロツク信号BLCK、サンプ
リングクロツク信号SPCKとともにエラー検出回
路１１に供給されている。
この実施例のデータ伝送特性測定装置１０にお
いて、上記エラー検出回路１１は、リフアレンス
メモリ１２から上記再生データ信号REDSのクロ
ツクと同じ速さで１ビツトずつ順次に読出される
リアレンス信号INRFと上記再生データ信号
REDSとを１ビツト毎に比較して正誤の判定を行
つて、エラー検出信号ERDSを出力する。なお、
上記リフアレンスメモリ１２は、例えばランダム
アクセスメモリから成り、上記磁気テープ２にデ
ジタル記録したデータ信号と同一の情報内容のリ
アレンス信号INRFが予め書込まれている。上記
エラー検出回路１１からのエラー検出信号ERDS
は第１のカウンタ回路１３に供給されている。こ
の第１のカウンタ回路１３は、上述の第４図に示
したようなリゾリユーシヨン処理を行つて得られ
るエラー判定信号ERDTが連続して存在してい
る間中エラークロツク信号ERCKを加算計数して
エラー発生長さを求め該エラー判定信号ERDT
が中断される毎に、エラー発生長さのデータを示
す例えば16ビツトの計数出力信号を、アドレス信
号ADRSとしてグラフメモリ１４のアドレス入力
端子に供給する。なお、上記第１のカウント回路
１３は、エラー判定信号ERDTの出力が中断さ
れたときには、再び「０」から加算動作を行うよ
うになつているとともに、上記計数出力信号を第
２のカウンタ回路１５にも供給している。この第
２のカウンタ回路１５は、上記計数出力にて与え
られるエラー発生長さのデータを順次に積算して
累積エラー発生長さを算出するとともに、該計数
出力信号が供給される毎に１カウントの加算動作
を行うことによりエラー発生回数の総計を算出し
ている。
いて、上記エラー検出回路１１は、リフアレンス
メモリ１２から上記再生データ信号REDSのクロ
ツクと同じ速さで１ビツトずつ順次に読出される
リアレンス信号INRFと上記再生データ信号
REDSとを１ビツト毎に比較して正誤の判定を行
つて、エラー検出信号ERDSを出力する。なお、
上記リフアレンスメモリ１２は、例えばランダム
アクセスメモリから成り、上記磁気テープ２にデ
ジタル記録したデータ信号と同一の情報内容のリ
アレンス信号INRFが予め書込まれている。上記
エラー検出回路１１からのエラー検出信号ERDS
は第１のカウンタ回路１３に供給されている。こ
の第１のカウンタ回路１３は、上述の第４図に示
したようなリゾリユーシヨン処理を行つて得られ
るエラー判定信号ERDTが連続して存在してい
る間中エラークロツク信号ERCKを加算計数して
エラー発生長さを求め該エラー判定信号ERDT
が中断される毎に、エラー発生長さのデータを示
す例えば16ビツトの計数出力信号を、アドレス信
号ADRSとしてグラフメモリ１４のアドレス入力
端子に供給する。なお、上記第１のカウント回路
１３は、エラー判定信号ERDTの出力が中断さ
れたときには、再び「０」から加算動作を行うよ
うになつているとともに、上記計数出力信号を第
２のカウンタ回路１５にも供給している。この第
２のカウンタ回路１５は、上記計数出力にて与え
られるエラー発生長さのデータを順次に積算して
累積エラー発生長さを算出するとともに、該計数
出力信号が供給される毎に１カウントの加算動作
を行うことによりエラー発生回数の総計を算出し
ている。
また、上記第１のカウンタ回路１３からの計数
出力信号がアドレス信号ADRSとして供給されて
いるグラフメモリ１４は、上記アドレス信号が供
給される毎に、該アドレス信号にて指定される記
憶場所のデータ信号が読出されて１カウント加算
器１６にて該データ信号に１カウントだけ加算さ
れて、再び元の記憶場所に書込まれる。なお、こ
のグラフメモリ１４は、測定の開始時に全てのデ
ータがクリアされてから上記アドレス信号ADRS
にて指定される記憶場所のデータ信号について１
カウントずつの加算が行われる。すなわち、上記
グラフメモリ１４には、上記第１のカウンタ回路
１３からの計数出力信号にて示されるエラー発生
長さにて指定される記憶場所に、該エラー発生長
さのエラーの発生回数が書込まれるようになつて
いる。
出力信号がアドレス信号ADRSとして供給されて
いるグラフメモリ１４は、上記アドレス信号が供
給される毎に、該アドレス信号にて指定される記
憶場所のデータ信号が読出されて１カウント加算
器１６にて該データ信号に１カウントだけ加算さ
れて、再び元の記憶場所に書込まれる。なお、こ
のグラフメモリ１４は、測定の開始時に全てのデ
ータがクリアされてから上記アドレス信号ADRS
にて指定される記憶場所のデータ信号について１
カウントずつの加算が行われる。すなわち、上記
グラフメモリ１４には、上記第１のカウンタ回路
１３からの計数出力信号にて示されるエラー発生
長さにて指定される記憶場所に、該エラー発生長
さのエラーの発生回数が書込まれるようになつて
いる。
次に、上記エラー検出回路１１および第１のカ
ウンタ回路１３の具体的な回路構成例について、
その回路構成図を第８図に示すとともに、その動
作を示すタイムチヤートを第９図に示す。
ウンタ回路１３の具体的な回路構成例について、
その回路構成図を第８図に示すとともに、その動
作を示すタイムチヤートを第９図に示す。
この具体例において、再生データ信号REDSが
エラー検出回路１１を構成する排他的論理和回路
２１の一方の入力端子に第１の信号選択器２２を
介して供給されるとともに、リフアレンス信号
INRFが上記排他的論理和回路２１の他方の入力
端子に第２の信号選択器２３を介して供給され、
上記排他的論理和回路２１によつて再生データ信
号REDSとリフアレンス信号INRFとの比較を行
つてエラー検出信号ERDSを得る。上記第１およ
び第２の信号選択器２２，２３は、制御信号
INCTによつて切換制御され、上述のリフアレン
スメモリ１２からのリフアレンス信号INRFを用
いてエラー検出を行う場合に、上記リフアレンス
信号INRFおよび再生データ信号REDSを上記排
他的論理和回路２１に供給するようになつてい
る。なお、外部リフアレンス信号EXRFを用いる
場合には、上記再生データ信号REDSが遅延回路
２４で所定量だけ遅延されてから第１の信号選択
器２２を介して上記排他的論理和回路２１に供給
されるようになつている。また、このエラー検出
回路１１は、上記制御信号INCTにより上記第１
および第２の信号選択器２２，２３とともに切換
制御される第３および第４の信号選択器２５，２
６が設けられているとともに、被測定データ伝送
装置によつて伝送されるデータ信号がデジタル信
号であるかアナログ信号であるかによつて制御信
号DGCTにて切換制御される第５および第６の
信号選択器２７，２８が設けられている。フレー
ムクロツク信号FRCKが上記第３の信号選択器２
５を介して、第１のカウンタ回路１３の第１の
SRフリツプフロツプ３１のセツト入力端子に供
給される。また、サンプリングクロツク信号
SPCKが上記第４の信号選択器２６を介して上記
第５の信号選択器２７に供給され、内部サンプリ
ング信号INCKと上記サンプリング信号SPCKと
が、上記第５の信号選択器２７を介して、上記第
１のカウンタ回路１３の第１のＤ・フリツプフロ
ツプ３２および第１の計数器３３の各クロツク入
力端子に供給されるとともに第１のアンドゲート
３４を通じて上記第１のRSフリツプフロツプ３
１のリセツト入力端子に供給される。さらに、上
記第６の信号選択器２８は、上記排他的論理和回
路２１を介して得られるエラー検出信号EDRSあ
るいは再生データ信号がアナログ信号である場合
に供給される該再生データ信号のドロツプアウト
検出信号ANDSを選択的に第１のカウンタ回路
１３の第１のＤフリツプフロツプ３２に供給して
いる。
エラー検出回路１１を構成する排他的論理和回路
２１の一方の入力端子に第１の信号選択器２２を
介して供給されるとともに、リフアレンス信号
INRFが上記排他的論理和回路２１の他方の入力
端子に第２の信号選択器２３を介して供給され、
上記排他的論理和回路２１によつて再生データ信
号REDSとリフアレンス信号INRFとの比較を行
つてエラー検出信号ERDSを得る。上記第１およ
び第２の信号選択器２２，２３は、制御信号
INCTによつて切換制御され、上述のリフアレン
スメモリ１２からのリフアレンス信号INRFを用
いてエラー検出を行う場合に、上記リフアレンス
信号INRFおよび再生データ信号REDSを上記排
他的論理和回路２１に供給するようになつてい
る。なお、外部リフアレンス信号EXRFを用いる
場合には、上記再生データ信号REDSが遅延回路
２４で所定量だけ遅延されてから第１の信号選択
器２２を介して上記排他的論理和回路２１に供給
されるようになつている。また、このエラー検出
回路１１は、上記制御信号INCTにより上記第１
および第２の信号選択器２２，２３とともに切換
制御される第３および第４の信号選択器２５，２
６が設けられているとともに、被測定データ伝送
装置によつて伝送されるデータ信号がデジタル信
号であるかアナログ信号であるかによつて制御信
号DGCTにて切換制御される第５および第６の
信号選択器２７，２８が設けられている。フレー
ムクロツク信号FRCKが上記第３の信号選択器２
５を介して、第１のカウンタ回路１３の第１の
SRフリツプフロツプ３１のセツト入力端子に供
給される。また、サンプリングクロツク信号
SPCKが上記第４の信号選択器２６を介して上記
第５の信号選択器２７に供給され、内部サンプリ
ング信号INCKと上記サンプリング信号SPCKと
が、上記第５の信号選択器２７を介して、上記第
１のカウンタ回路１３の第１のＤ・フリツプフロ
ツプ３２および第１の計数器３３の各クロツク入
力端子に供給されるとともに第１のアンドゲート
３４を通じて上記第１のRSフリツプフロツプ３
１のリセツト入力端子に供給される。さらに、上
記第６の信号選択器２８は、上記排他的論理和回
路２１を介して得られるエラー検出信号EDRSあ
るいは再生データ信号がアナログ信号である場合
に供給される該再生データ信号のドロツプアウト
検出信号ANDSを選択的に第１のカウンタ回路
１３の第１のＤフリツプフロツプ３２に供給して
いる。
ここで、この具体例におけるエラー検出回路１
１では、被測定データ伝送系としての上述の如き
デジタル磁気記録再生装置１からの再生データ信
号REDSとリフアレンスメモリ１２からのリフア
レンス信号INRFとを排他的論理和回路２１にて
比較して得られるエラー検出信号ERDSが第６の
信号選択器２８を介して出力されるように動作設
定されているものとする。
１では、被測定データ伝送系としての上述の如き
デジタル磁気記録再生装置１からの再生データ信
号REDSとリフアレンスメモリ１２からのリフア
レンス信号INRFとを排他的論理和回路２１にて
比較して得られるエラー検出信号ERDSが第６の
信号選択器２８を介して出力されるように動作設
定されているものとする。
次に、この具体例において、第１のカウンタ回
路１３は、第１の計数器３３を備えＮビツトのリ
ゾリユーシヨン処理を行うリゾリユーシヨンブロ
ツク３０と、第２の計数器４１を備えエラー発生
長さを算出する演算ブロツク４０とから構成され
ている。
路１３は、第１の計数器３３を備えＮビツトのリ
ゾリユーシヨン処理を行うリゾリユーシヨンブロ
ツク３０と、第２の計数器４１を備えエラー発生
長さを算出する演算ブロツク４０とから構成され
ている。
上記リゾリユーシヨンブロツク３０の第１の計
数器３３は、リゾリユーシヨン処理における任意
のビツト数Ｎをプリセツト可能なプリセツトカウ
ンタから成り、上記ビツト数Ｎを示すビツトデー
タ信号RBDSが第９図Ａに示す上記フレームクロ
ツク信号FRCKに同期してロードされることによ
つて繰返し初期設定され、第９図Ｂに示す上記サ
ンプリングクロツク信号SPCKについてＮ進の計
数動作を行うようになつている。すなわち、上記
第１の計数器３３は、上記エラー検出回路１１か
らフレームクロツク信号FRCKがセツト入力端子
に供給されている第１のRSフリツプフロツプ３
１の否定出力信号1が、第２のアンドゲー
ト３５を介して、そのプリセツト制御端子に供給
されており、リゾリユーシヨン処理の任意のビツ
ト数Ｎを示すビツトデータ信号RBDSが上記第１
のRSフリツプフロツプ３１からの否定出力信号
RSFQ1によりロードされ、上記フレームクロツ
ク信号FRCK毎に同期してＮなる数値が初期設定
される。なお、この第１の計数器３３は、測定動
作中であることを示す制御信号EXCSによつて計
数動作期間が制御されている。また、上記第１の
RSフリツプフロツプ３１のリセツト入力端子側
に配設した第１のアンドゲート３４は該第１の
RSフリツプフロツプ３１の肯定出力信号RSFQ1
によりゲート制御されている。この第１のRSフ
リツプフロツプ３１は、上記フレームクロツク信
号FRCKの立上りのタイミングt1にてセツト動作
状態となり、その後第１のアンドゲート３４に供
給されるサンプリング信号SPCKの最初の立下り
のタイミングt2にリセツト動作状態となつて、第
９図Ｃに示すような否定出力信号1を出力
する。そして、上記第１の計数器３３は、上記フ
レームクロツク信号FRCKに同期したタイミング
t2毎に上記ビツトゲータ信号RBDSがロードされ
該ビツトデータRBDSにて与えられる数値Ｎ（Ｎ
＝４）が初期設定され、サンプリングクロツク信
号SPCKを４進計数することにより、第９図Ｄに
示すようなボロー否定出力信号を出力す
る。
数器３３は、リゾリユーシヨン処理における任意
のビツト数Ｎをプリセツト可能なプリセツトカウ
ンタから成り、上記ビツト数Ｎを示すビツトデー
タ信号RBDSが第９図Ａに示す上記フレームクロ
ツク信号FRCKに同期してロードされることによ
つて繰返し初期設定され、第９図Ｂに示す上記サ
ンプリングクロツク信号SPCKについてＮ進の計
数動作を行うようになつている。すなわち、上記
第１の計数器３３は、上記エラー検出回路１１か
らフレームクロツク信号FRCKがセツト入力端子
に供給されている第１のRSフリツプフロツプ３
１の否定出力信号1が、第２のアンドゲー
ト３５を介して、そのプリセツト制御端子に供給
されており、リゾリユーシヨン処理の任意のビツ
ト数Ｎを示すビツトデータ信号RBDSが上記第１
のRSフリツプフロツプ３１からの否定出力信号
RSFQ1によりロードされ、上記フレームクロツ
ク信号FRCK毎に同期してＮなる数値が初期設定
される。なお、この第１の計数器３３は、測定動
作中であることを示す制御信号EXCSによつて計
数動作期間が制御されている。また、上記第１の
RSフリツプフロツプ３１のリセツト入力端子側
に配設した第１のアンドゲート３４は該第１の
RSフリツプフロツプ３１の肯定出力信号RSFQ1
によりゲート制御されている。この第１のRSフ
リツプフロツプ３１は、上記フレームクロツク信
号FRCKの立上りのタイミングt1にてセツト動作
状態となり、その後第１のアンドゲート３４に供
給されるサンプリング信号SPCKの最初の立下り
のタイミングt2にリセツト動作状態となつて、第
９図Ｃに示すような否定出力信号1を出力
する。そして、上記第１の計数器３３は、上記フ
レームクロツク信号FRCKに同期したタイミング
t2毎に上記ビツトゲータ信号RBDSがロードされ
該ビツトデータRBDSにて与えられる数値Ｎ（Ｎ
＝４）が初期設定され、サンプリングクロツク信
号SPCKを４進計数することにより、第９図Ｄに
示すようなボロー否定出力信号を出力す
る。
なお、上記第１の計数器３３のプリセツト制御
端子側に設けた第２のアンドゲート３５は該第１
の計数器３３からのボロー否定出力信号に
よりゲート制御されている。
端子側に設けた第２のアンドゲート３５は該第１
の計数器３３からのボロー否定出力信号に
よりゲート制御されている。
そして、上記第１の計数器３３からのボロー否
定出力信号1は、第２のＤフリツプフロツ
プ３６のデータ入力端子に供給されるとともに、
ノアゲート３７を介して第３のＤフリツプフロツ
プ３８のクロツク入力端子に供給されている。上
記第２のＤフリツプフロツプ３６は、そのクロツ
ク入力端子に上記エラー検出回路１１からのサン
プリングクロツク信号SPCKが供給されており、
該サンプリングクロツク信号SPCKに同期して上
記第１の計数器３３からのボロー出力信号
BORS1の論理値に応じた反転動作を行う。この
第２のＤフリツプフロツプ３７から得られる第９
図Ｅに示すような否定出力信号2は、第２
のRSフリツプフロツプ３９のクロツク入力端子
に供給されている。上記第２のRSフリツプフロ
ツプ３９は、データ入力端子を備えるRSフリツ
プフロツプから成り、そのセツト入力端子には上
記第１のＤフリツプフロツプ３２からの肯定出力
信号DFFQ1が供給され、そのリセツト入力端子
には測定動作の停止状態を示すストツプ命令信号
STPSが供給されているとともに、上記データ入
力端子に論理「Ｌ」のデータ信号が常に供給され
ている。
定出力信号1は、第２のＤフリツプフロツ
プ３６のデータ入力端子に供給されるとともに、
ノアゲート３７を介して第３のＤフリツプフロツ
プ３８のクロツク入力端子に供給されている。上
記第２のＤフリツプフロツプ３６は、そのクロツ
ク入力端子に上記エラー検出回路１１からのサン
プリングクロツク信号SPCKが供給されており、
該サンプリングクロツク信号SPCKに同期して上
記第１の計数器３３からのボロー出力信号
BORS1の論理値に応じた反転動作を行う。この
第２のＤフリツプフロツプ３７から得られる第９
図Ｅに示すような否定出力信号2は、第２
のRSフリツプフロツプ３９のクロツク入力端子
に供給されている。上記第２のRSフリツプフロ
ツプ３９は、データ入力端子を備えるRSフリツ
プフロツプから成り、そのセツト入力端子には上
記第１のＤフリツプフロツプ３２からの肯定出力
信号DFFQ1が供給され、そのリセツト入力端子
には測定動作の停止状態を示すストツプ命令信号
STPSが供給されているとともに、上記データ入
力端子に論理「Ｌ」のデータ信号が常に供給され
ている。
ここで、上記第１のＤフリツプフロツプ３２
は、エラー検出回路１１からのエラー検出信号
ERDSをデータ信号としてサンプリングクロツク
信号SPCKに同期した反転動作により、例えば、
第９図Ｆに示すような、各期間T1、T2、T3、T4
中に論理「Ｈ」となる肯定出力信号DFFQ1を出
力しているものとする。すなわち、上記デジタル
磁気記録再生装置１により再生された再生データ
信号REDSには、第９図Ｂに示したサンプリング
クロツク信号SPCKのBaビツト、Bbビツト、Bc
ビツト、Bdビツト、Beビツト、Bfビツト、Bgビ
ツト目に対応する各ビツトのデータにエラーを生
じていたものとする。また、上記第２のRSフリ
ツプフロツプ３９は、論理「Ｌ」のデータ信号に
よる反転動作を上記第２のＤフリツプフロツプ３
６からの否定出力信号2をクロツク信号と
して行う機能を有しているとともに、該データ信
号による反転動作よりも、セツト入力端子および
リセツト入力端子に供給される各信号によるセツ
ト・リセツト動作を優先して行うような機能を有
している。この第２のRSフリツプフロツプ３９
は、上記第１のＤフリツプフロツプ３２の否定出
力信号1の立上りのタイミングta、tb、tc、
td毎にセツト動作状態にトリガーされ、該否定出
力信号1が立下つた後、第２のＤフリツプ
フロツプ３６の否定出力信号2の最初の立
上りのタイミングta′、tb′、tc′毎にリセツト動作
状態にトリガーされて、第９図Ｇに示すような肯
定出力信号RSFQ2を出力し、この肯定出力信号
RSFQ2を第３のＤフリツプフロツプ３８のデー
タ入力端子に供給する。この第３のＤフリツプフ
ロツプ３８は、上記第１の計数器３３からのボロ
ー否定出力信号をクロツク信号として、上
記第２のRSフリツプフロツプ３９からの肯定出
力信号RSFQ2の論理値に応じた反転動作を行な
い、４ビツトのリゾリユーシヨン処理を施した第
９図Ｈに示すようなエラー判定出力信号ERDT
を出力する。
は、エラー検出回路１１からのエラー検出信号
ERDSをデータ信号としてサンプリングクロツク
信号SPCKに同期した反転動作により、例えば、
第９図Ｆに示すような、各期間T1、T2、T3、T4
中に論理「Ｈ」となる肯定出力信号DFFQ1を出
力しているものとする。すなわち、上記デジタル
磁気記録再生装置１により再生された再生データ
信号REDSには、第９図Ｂに示したサンプリング
クロツク信号SPCKのBaビツト、Bbビツト、Bc
ビツト、Bdビツト、Beビツト、Bfビツト、Bgビ
ツト目に対応する各ビツトのデータにエラーを生
じていたものとする。また、上記第２のRSフリ
ツプフロツプ３９は、論理「Ｌ」のデータ信号に
よる反転動作を上記第２のＤフリツプフロツプ３
６からの否定出力信号2をクロツク信号と
して行う機能を有しているとともに、該データ信
号による反転動作よりも、セツト入力端子および
リセツト入力端子に供給される各信号によるセツ
ト・リセツト動作を優先して行うような機能を有
している。この第２のRSフリツプフロツプ３９
は、上記第１のＤフリツプフロツプ３２の否定出
力信号1の立上りのタイミングta、tb、tc、
td毎にセツト動作状態にトリガーされ、該否定出
力信号1が立下つた後、第２のＤフリツプ
フロツプ３６の否定出力信号2の最初の立
上りのタイミングta′、tb′、tc′毎にリセツト動作
状態にトリガーされて、第９図Ｇに示すような肯
定出力信号RSFQ2を出力し、この肯定出力信号
RSFQ2を第３のＤフリツプフロツプ３８のデー
タ入力端子に供給する。この第３のＤフリツプフ
ロツプ３８は、上記第１の計数器３３からのボロ
ー否定出力信号をクロツク信号として、上
記第２のRSフリツプフロツプ３９からの肯定出
力信号RSFQ2の論理値に応じた反転動作を行な
い、４ビツトのリゾリユーシヨン処理を施した第
９図Ｈに示すようなエラー判定出力信号ERDT
を出力する。
上記リゾリユーシヨンブロツク３０から得られ
るエラー判定出力信号ERDTは、再生データ信
号REDSを４ビツト毎に一単位として扱つて、第
２番の単位S2に対応する期間TA、第４および第
５番目の各単位S4、S5に対応する期間TB、およ
び第８および第９番目の各単位に対応する期間
TCに論理「Ｈ」となつて、上記再生データ信号
REDS中には一単位分の長さのエラーが１回、２
単位分の長さのエラーが２回含まれているとの判
定内容を示すことになる。
るエラー判定出力信号ERDTは、再生データ信
号REDSを４ビツト毎に一単位として扱つて、第
２番の単位S2に対応する期間TA、第４および第
５番目の各単位S4、S5に対応する期間TB、およ
び第８および第９番目の各単位に対応する期間
TCに論理「Ｈ」となつて、上記再生データ信号
REDS中には一単位分の長さのエラーが１回、２
単位分の長さのエラーが２回含まれているとの判
定内容を示すことになる。
このような構成のリゾリユーシヨンブロツク３
０は、第３のＤフリツプフロツプ３８から得られ
るエラー判定信号ERDTを第７の信号選択器３
９Ａを介して演算ブロツク４０を構成している第
２の計数器４１の動作制御入力端子に供給すると
ともに、第１の計数器３３からのボロー否定出力
信号を第８の信号選択器３９Ｂを介して該
第２の計数器４１のクロツク入力端子に供給す
る。
０は、第３のＤフリツプフロツプ３８から得られ
るエラー判定信号ERDTを第７の信号選択器３
９Ａを介して演算ブロツク４０を構成している第
２の計数器４１の動作制御入力端子に供給すると
ともに、第１の計数器３３からのボロー否定出力
信号を第８の信号選択器３９Ｂを介して該
第２の計数器４１のクロツク入力端子に供給す
る。
なお、上記リゾリユーシヨンブロツク３０の出
力側に配設されている第７および第８の信号選択
器３９Ａ，３９Ｂは、１ビツトのリゾリユーシヨ
ン処理動作時に、該第７の信号選択器３８Ａを介
して第１のＤフリツプフロツプ３２からの肯定出
力信号1をエラー判定信号ERDTとして出
力するとともに、第８の信号選択器３９Ｂを介し
て上記サンプリングクロツクSPCK信号を出力す
るように、制御信号ERCTによつて動作制御され
ている。
力側に配設されている第７および第８の信号選択
器３９Ａ，３９Ｂは、１ビツトのリゾリユーシヨ
ン処理動作時に、該第７の信号選択器３８Ａを介
して第１のＤフリツプフロツプ３２からの肯定出
力信号1をエラー判定信号ERDTとして出
力するとともに、第８の信号選択器３９Ｂを介し
て上記サンプリングクロツクSPCK信号を出力す
るように、制御信号ERCTによつて動作制御され
ている。
また、上記演算ブロツク４０には、制御信号
EXCSによつて測定動作期間中にのみ各ゲートの
開かれる各アンドゲート４２，４３が、第２の計
数器４１の各入力端子側に夫々配設されている。
上記第２の計数器４１は、その動作制御端子に上
記リゾリユーシヨンブロツク３０から供給される
エラー判定信号ERDTが論理「Ｈ」である期間
中に、クロツク信号としてのボロー否定出力信号
BORSの計数を行つて、第９図に示すように、
エラー発生長さを算出し、その計数出力信号をバ
ツフアアンプ４４を介して上述のグラフメモリ１
４にアドレス信号ADRSとして供給する。また、
上記第２の計数器４１に供給されるエラー判定信
号ERDTおよびボロー否定出力信号は、
各々ノアゲート４５，４６を介して上述の第２の
カウンタ回路１５に供給される。
EXCSによつて測定動作期間中にのみ各ゲートの
開かれる各アンドゲート４２，４３が、第２の計
数器４１の各入力端子側に夫々配設されている。
上記第２の計数器４１は、その動作制御端子に上
記リゾリユーシヨンブロツク３０から供給される
エラー判定信号ERDTが論理「Ｈ」である期間
中に、クロツク信号としてのボロー否定出力信号
BORSの計数を行つて、第９図に示すように、
エラー発生長さを算出し、その計数出力信号をバ
ツフアアンプ４４を介して上述のグラフメモリ１
４にアドレス信号ADRSとして供給する。また、
上記第２の計数器４１に供給されるエラー判定信
号ERDTおよびボロー否定出力信号は、
各々ノアゲート４５，４６を介して上述の第２の
カウンタ回路１５に供給される。
上述の如き実施例においては、リゾリユーシヨ
ン処理のビツト数Ｎを、伝送データのコード方式
やドロツプアウトの発生状況に応じて適宜に設定
しておくことにより、被測定データ伝送系の伝送
特性の物理的性質をエラー判定信号によつて適確
に表わすことができる。
ン処理のビツト数Ｎを、伝送データのコード方式
やドロツプアウトの発生状況に応じて適宜に設定
しておくことにより、被測定データ伝送系の伝送
特性の物理的性質をエラー判定信号によつて適確
に表わすことができる。
上述の実施例の説明から明らかなように、本発
明によれば、伝送データ信号中の所定数ビツト毎
にデータエラーを検出しエラー検出信号を出力す
るエラー検出回路と、上記所定数ビツトよりも大
なるＮビツト（Ｎは正の整数）を単位として上記
伝送データ信号中の上記単位毎に上記エラー検出
信号の有無を判定し上記エラー検出信号が存在す
る上記単位中の上記伝送データ信号は全てエラー
を含むものであるとして上記単位毎のエラー判定
信号を出力する判定回路とを有することを特徴と
することにより、バーストエラーの発生し易いデ
ータ伝送系に対して、バーストエラーを複数個の
ランダムエラーの集合としてとらえるのではなく
１個のバーストエラーとして示すエラー判定信号
を形成するようにして、１ビツト毎のエラー判定
ではデータ伝送系の伝送特性を正確に求めること
のできないような連続的なエラーを含むデータ伝
送系についても、その伝送特性の物理的性質を正
して反映するようなエラー判定信号を得ることが
でき、所期の目的を十分に達成できる。
明によれば、伝送データ信号中の所定数ビツト毎
にデータエラーを検出しエラー検出信号を出力す
るエラー検出回路と、上記所定数ビツトよりも大
なるＮビツト（Ｎは正の整数）を単位として上記
伝送データ信号中の上記単位毎に上記エラー検出
信号の有無を判定し上記エラー検出信号が存在す
る上記単位中の上記伝送データ信号は全てエラー
を含むものであるとして上記単位毎のエラー判定
信号を出力する判定回路とを有することを特徴と
することにより、バーストエラーの発生し易いデ
ータ伝送系に対して、バーストエラーを複数個の
ランダムエラーの集合としてとらえるのではなく
１個のバーストエラーとして示すエラー判定信号
を形成するようにして、１ビツト毎のエラー判定
ではデータ伝送系の伝送特性を正確に求めること
のできないような連続的なエラーを含むデータ伝
送系についても、その伝送特性の物理的性質を正
して反映するようなエラー判定信号を得ることが
でき、所期の目的を十分に達成できる。
第１図および第２図はデータ伝送系におけるエ
ラー発生状況を示す各特性線図であり、第１図は
エラーの発生が略均一な場合を示し、第２図はエ
ラーの発生が集中的である場合を示している。第
３図は上記第２図に示すような伝送特性を有する
データ伝送系における一般的なエラー判定方法を
示すタイムチヤートである。第４図は本発明の原
理的な動作を説明するためのタイムチヤートであ
る。第５図は本発明を適用して構成したデータ伝
送特性測定装置の実施例を示すブロツク図であ
る。第６図は上記実施例におけるデジタル磁気記
録再生装置に用いられる磁気テープに形成される
記録トラツクのパターンを示す模式図である。第
７図は上記実施例における磁気テープのテープフ
オーマツトを説明するための説明図である。第８
図は、上記実施例におけるエラー検出回路および
第１のカウンタ回路の具体的な構成を示す回路図
である。第９図は上記具体例の動作を説明するた
めのタイムチヤートである。 １……デジタル磁気記録再生装置、２……磁気
テープ、３……記録トラツク、１０……データ伝
送特性測定装置、１１……エラー検出回路、１２
……リフアレンスメモリ、１３，１５……カウン
タ回路、１４……グラフメモリ、２１……排他的
論理和回路、３０……リゾリユーシヨンブロツ
ク、３１，３９……RSフリツプフロツプ、３２，
３６，３８……Ｄフリツプフロツプ、３３，４１
……計数器、４０……演算ブロツク。
ラー発生状況を示す各特性線図であり、第１図は
エラーの発生が略均一な場合を示し、第２図はエ
ラーの発生が集中的である場合を示している。第
３図は上記第２図に示すような伝送特性を有する
データ伝送系における一般的なエラー判定方法を
示すタイムチヤートである。第４図は本発明の原
理的な動作を説明するためのタイムチヤートであ
る。第５図は本発明を適用して構成したデータ伝
送特性測定装置の実施例を示すブロツク図であ
る。第６図は上記実施例におけるデジタル磁気記
録再生装置に用いられる磁気テープに形成される
記録トラツクのパターンを示す模式図である。第
７図は上記実施例における磁気テープのテープフ
オーマツトを説明するための説明図である。第８
図は、上記実施例におけるエラー検出回路および
第１のカウンタ回路の具体的な構成を示す回路図
である。第９図は上記具体例の動作を説明するた
めのタイムチヤートである。 １……デジタル磁気記録再生装置、２……磁気
テープ、３……記録トラツク、１０……データ伝
送特性測定装置、１１……エラー検出回路、１２
……リフアレンスメモリ、１３，１５……カウン
タ回路、１４……グラフメモリ、２１……排他的
論理和回路、３０……リゾリユーシヨンブロツ
ク、３１，３９……RSフリツプフロツプ、３２，
３６，３８……Ｄフリツプフロツプ、３３，４１
……計数器、４０……演算ブロツク。
Claims (1)
- １ 伝送データ信号中の所定数ビツト毎にデータ
エラーを検出しエラー検出信号を出力するエラー
検出回路と、上記所定数ビツトよりも大なるＮビ
ツト（Ｎは正の整数）を単位として上記伝送デー
タ信号中の上記単位毎に上記エラー検出信号の有
無を判定し上記エラー検出信号が存在する上記単
位中の上記伝送データ信号は全てエラーを含むも
のであるとして上記単位毎のエラー判定信号を出
力する判定回路とを有することを特徴とするエラ
ー信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15123279A JPS5673939A (en) | 1979-11-21 | 1979-11-21 | Error signal processor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15123279A JPS5673939A (en) | 1979-11-21 | 1979-11-21 | Error signal processor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5673939A JPS5673939A (en) | 1981-06-19 |
| JPS6322108B2 true JPS6322108B2 (ja) | 1988-05-10 |
Family
ID=15514125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15123279A Granted JPS5673939A (en) | 1979-11-21 | 1979-11-21 | Error signal processor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5673939A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61104371A (ja) * | 1984-10-22 | 1986-05-22 | Sony Corp | 誤り率測定方法 |
| JPS6260327A (ja) * | 1985-09-10 | 1987-03-17 | Toshiba Corp | 伝送品質判定方式 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6019693B2 (ja) * | 1977-03-17 | 1985-05-17 | 日本電気株式会社 | ビツト誤り率測定器 |
-
1979
- 1979-11-21 JP JP15123279A patent/JPS5673939A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5673939A (en) | 1981-06-19 |
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