JPS6322241B2 - - Google Patents
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- JPS6322241B2 JPS6322241B2 JP9383881A JP9383881A JPS6322241B2 JP S6322241 B2 JPS6322241 B2 JP S6322241B2 JP 9383881 A JP9383881 A JP 9383881A JP 9383881 A JP9383881 A JP 9383881A JP S6322241 B2 JPS6322241 B2 JP S6322241B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 45
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 10
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 7
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
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- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、凸状の対象物の形状を光切断像から
正確に検出する形状検出装置に関するものであ
る。
正確に検出する形状検出装置に関するものであ
る。
光切断法による形状の自動測定、自動検査にお
いては、光学系により得られる光切断像をTVカ
メラ等の撮像器により検出し、検出された2次元
濃淡画像から光切断線を抽出することにより、入
力データを圧縮し、その後の処理を容易にする必
要がある。
いては、光学系により得られる光切断像をTVカ
メラ等の撮像器により検出し、検出された2次元
濃淡画像から光切断線を抽出することにより、入
力データを圧縮し、その後の処理を容易にする必
要がある。
第1図に例示する光切断法において、スリツト
投光器1からスリツト状の光束を被測定物2に投
光し、これを像検出器3により検出し、その検出
される2次元濃淡画像から光切断線を抽出する従
来技術としては、検出画像の縦方向の各走査線に
ついて最も明るい点を抽出することにより光切断
線を求める方法がある。第2図はこれを説明する
ための図であり、第2図aは光切断像すなわち2
次元濃淡画像を明るい部分を黒く表現している。
第2図bは、同図aの任意の縦方向の一本の走査
線iの映像信号を示している。この映像信号の明
るさVが最も明るい点の縦座標Ziを検出し、これ
を走査線iの出力値とする。これを縦方向の全走
査線について実施することにより第2図cの光切
断線、すなわち波形データを得ることができる。
投光器1からスリツト状の光束を被測定物2に投
光し、これを像検出器3により検出し、その検出
される2次元濃淡画像から光切断線を抽出する従
来技術としては、検出画像の縦方向の各走査線に
ついて最も明るい点を抽出することにより光切断
線を求める方法がある。第2図はこれを説明する
ための図であり、第2図aは光切断像すなわち2
次元濃淡画像を明るい部分を黒く表現している。
第2図bは、同図aの任意の縦方向の一本の走査
線iの映像信号を示している。この映像信号の明
るさVが最も明るい点の縦座標Ziを検出し、これ
を走査線iの出力値とする。これを縦方向の全走
査線について実施することにより第2図cの光切
断線、すなわち波形データを得ることができる。
このような従来技術は、第1図に例示したよう
なy軸方向に形状がほぼ一定な対象の形状を検出
するのには有効であるが、y軸方向の形状変化が
大きい対象物の形状を検出する場合、すなわち直
接スリツト光が当たつていない部分で異常反射に
より明るい部分を生じてしまう場合、その部分の
最も明るい点を光切断線と誤まつて検出してしま
うことがある。
なy軸方向に形状がほぼ一定な対象の形状を検出
するのには有効であるが、y軸方向の形状変化が
大きい対象物の形状を検出する場合、すなわち直
接スリツト光が当たつていない部分で異常反射に
より明るい部分を生じてしまう場合、その部分の
最も明るい点を光切断線と誤まつて検出してしま
うことがある。
第3図はその一例として被測定物がプリント配
線基板上に搭載された電気部品のはんだ付部であ
り、その形状を検出するための光切断法の構成を
示している。第3図において、スリツト投光器は
ランプ4、コンデンサレンズ5、スリツト6、投
光レンズ7で構成され、像検出器は結像レンズ
8、撮像器9で構成されている。スリツト状の光
は上方からレンズ7より被測定物であるはんだ付
部10に投光され、これを斜め横から検出する。
第4図は被測定物周辺の拡大図であるが、上方か
ら投光されたスリツト光は、はんだ付部10上に
スリツト輝線11を形成する。ところではんだ付
表面の点12ではその部分の面の傾き角の関係か
らレンズ8へ、レンズ7からの光が正反射して入
つてくる。レンズ7からの光の大半はスリツト輝
線11に集光しているが一部は散乱しており、そ
のため点12は明るく観察されることになる。第
5図aはその光切断像を例示したものであるが、
このような場合、従来方式により光切断線を抽出
すると、第5図bのように異常な光切断線を得る
こととなる。
線基板上に搭載された電気部品のはんだ付部であ
り、その形状を検出するための光切断法の構成を
示している。第3図において、スリツト投光器は
ランプ4、コンデンサレンズ5、スリツト6、投
光レンズ7で構成され、像検出器は結像レンズ
8、撮像器9で構成されている。スリツト状の光
は上方からレンズ7より被測定物であるはんだ付
部10に投光され、これを斜め横から検出する。
第4図は被測定物周辺の拡大図であるが、上方か
ら投光されたスリツト光は、はんだ付部10上に
スリツト輝線11を形成する。ところではんだ付
表面の点12ではその部分の面の傾き角の関係か
らレンズ8へ、レンズ7からの光が正反射して入
つてくる。レンズ7からの光の大半はスリツト輝
線11に集光しているが一部は散乱しており、そ
のため点12は明るく観察されることになる。第
5図aはその光切断像を例示したものであるが、
このような場合、従来方式により光切断線を抽出
すると、第5図bのように異常な光切断線を得る
こととなる。
なお、従来技術として、ここでは最も単純な最
も明るい位置を抽出する方式についてその問題点
を示したが、これは他の方式すなわち像検出の各
走査において映像信号Vをあらかじめ設定した値
V1,V2(V1>V2)と比較し、一走査における映
像信号Vの最大値VmaxがV2より小の時Z=0、
V1とV2の間の時V=VmaxとなるZ位置をZと
し、V1より大きい時、一つの走査において最初
にV=V1となるZ位置をZ1、最後にV=V1とな
るZ位置をZ2とし、Z=(Z1+Z2)/2とするこ
とにより光切断線Z(x)を抽出する特願昭54―
146427の方式においても同じ問題点を有してい
る。
も明るい位置を抽出する方式についてその問題点
を示したが、これは他の方式すなわち像検出の各
走査において映像信号Vをあらかじめ設定した値
V1,V2(V1>V2)と比較し、一走査における映
像信号Vの最大値VmaxがV2より小の時Z=0、
V1とV2の間の時V=VmaxとなるZ位置をZと
し、V1より大きい時、一つの走査において最初
にV=V1となるZ位置をZ1、最後にV=V1とな
るZ位置をZ2とし、Z=(Z1+Z2)/2とするこ
とにより光切断線Z(x)を抽出する特願昭54―
146427の方式においても同じ問題点を有してい
る。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をな
くし、凸状の対象物に対して光学的外乱を含む光
切断像から正しい光切断線を抽出して凸状の対象
物に対してその形状を正確に検出できるようにし
た形状検出装置を提供するにある。
くし、凸状の対象物に対して光学的外乱を含む光
切断像から正しい光切断線を抽出して凸状の対象
物に対してその形状を正確に検出できるようにし
た形状検出装置を提供するにある。
従来技術の問題点として例示した異常反射は被
測定物面で生じる。従つてその異常反射部はスリ
ツト輝線より下に存在する。このことを利用し、
本発明では選択的に光切断線を抽出する。すなわ
ち、像検出器からの縦方向、上から下に走査した
時の各映像信号Vを、あらかじめ設定した値V1
と比較し、最初にV≧V1である区間についての
み光切断線を抽出し、それ以後V≧V1である区
間が発生しても光切断線を抽出しないことを特徴
とする。即ち本発明は、スリツト状の光の帯を、
凸状の対象物に対して真上から投光するスリツト
投光器と、上記スリツト状の光の帯に対して斜め
方向から上記凸状の対象物上のスリツト輝線像を
二次元的に撮像する撮像装置と、該撮像装置から
得られる二次元画像を入力し、上記凸状の対象物
の横方向の同じ座標を示す一次元画像について上
記凸状の対象物の最も高い上側から調べていつ
て、スリツト輝線像に相当する映像信号レベルV
が所定の設定値V2より大きな部分が最初に発生
し終わつた区間Aを検出してその区間A信号を出
力し、上記映像信号レベルVが所定の設定値V2
に到達しない場合には、区間信号を出力しない検
出区間設定手段と、該検出区間設定手段より区間
信号が検出された区間について、上記映像信号レ
ベルVが、上記設定値V2より低く設定された設
定値V3に到達した場合には、その映像信号のピ
ークを示す高さ座標値Z信号として光切断線を抽
出し、設定値V3に到達しない場合には光切断線
なしの信号を抽出する最大値位置検出手段と、上
記検出区間設定手段より区間信号が検出された区
間について、上記映像信号レベルVが、飽和レベ
ルより僅か低く設定された設定値V1に到達した
場合には、上記映像信号が最初に上記設定値V1
となつた座標値Z1と最後に上記上記設定値V1と
なつた座標値Z2との中心位置を示す高さ座標値Z
信号として光切断線を抽出する中心位置検出手段
と、上記映像信号レベルVが上記設定値V1を越
えるか否かによつて上記最大値位置検出手段の出
力信号と上記中心位置検出手段の出力信号とを選
択して出力する選択手段とを備え、上記検出区間
設定手段、最大値位置検出手段、中心位置検出手
段、及び選択手段により上記撮像装置から得られ
る二次元画像に基いて上記凸状の対象物の横方向
について処理し、光切断線により凸状の対象物の
形状を検出することを特徴とする形状検出装置で
ある。
測定物面で生じる。従つてその異常反射部はスリ
ツト輝線より下に存在する。このことを利用し、
本発明では選択的に光切断線を抽出する。すなわ
ち、像検出器からの縦方向、上から下に走査した
時の各映像信号Vを、あらかじめ設定した値V1
と比較し、最初にV≧V1である区間についての
み光切断線を抽出し、それ以後V≧V1である区
間が発生しても光切断線を抽出しないことを特徴
とする。即ち本発明は、スリツト状の光の帯を、
凸状の対象物に対して真上から投光するスリツト
投光器と、上記スリツト状の光の帯に対して斜め
方向から上記凸状の対象物上のスリツト輝線像を
二次元的に撮像する撮像装置と、該撮像装置から
得られる二次元画像を入力し、上記凸状の対象物
の横方向の同じ座標を示す一次元画像について上
記凸状の対象物の最も高い上側から調べていつ
て、スリツト輝線像に相当する映像信号レベルV
が所定の設定値V2より大きな部分が最初に発生
し終わつた区間Aを検出してその区間A信号を出
力し、上記映像信号レベルVが所定の設定値V2
に到達しない場合には、区間信号を出力しない検
出区間設定手段と、該検出区間設定手段より区間
信号が検出された区間について、上記映像信号レ
ベルVが、上記設定値V2より低く設定された設
定値V3に到達した場合には、その映像信号のピ
ークを示す高さ座標値Z信号として光切断線を抽
出し、設定値V3に到達しない場合には光切断線
なしの信号を抽出する最大値位置検出手段と、上
記検出区間設定手段より区間信号が検出された区
間について、上記映像信号レベルVが、飽和レベ
ルより僅か低く設定された設定値V1に到達した
場合には、上記映像信号が最初に上記設定値V1
となつた座標値Z1と最後に上記上記設定値V1と
なつた座標値Z2との中心位置を示す高さ座標値Z
信号として光切断線を抽出する中心位置検出手段
と、上記映像信号レベルVが上記設定値V1を越
えるか否かによつて上記最大値位置検出手段の出
力信号と上記中心位置検出手段の出力信号とを選
択して出力する選択手段とを備え、上記検出区間
設定手段、最大値位置検出手段、中心位置検出手
段、及び選択手段により上記撮像装置から得られ
る二次元画像に基いて上記凸状の対象物の横方向
について処理し、光切断線により凸状の対象物の
形状を検出することを特徴とする形状検出装置で
ある。
第6図に本発明の一実施例の全体構成を示す。
これはスリツト投光器1と像検出器3で構成され
る光切断法形状検出部と、これで検出された映像
信号を入力し光切断線信号を出力する光切断線抽
出回路13からなる。13で抽出された光切断線
信号は、形状測定のために表示装置に出力したり
自動検査のために信号処理回路に出力したりす
る。
これはスリツト投光器1と像検出器3で構成され
る光切断法形状検出部と、これで検出された映像
信号を入力し光切断線信号を出力する光切断線抽
出回路13からなる。13で抽出された光切断線
信号は、形状測定のために表示装置に出力したり
自動検査のために信号処理回路に出力したりす
る。
第7図は、第6図の光切断線抽出回路13の一
実施例の基本構成を示す。光切断線抽出回路13
は、映像信号V、設定値V1,V2,V3(V1>V2≧
V3)、及び像検出器3の各走査のトリガー信号水
平同期信号Hdを入力とし、最大値位置検出回路
14、中心位置検出回路15、検出区間設定回路
16、選択回路17で構成される。ここで像検出
器3の撮像方式としては、第8図aのように通常
のTVカメラにおけるように水平方向走査を画面
上から下に繰返していくものと、同図bのように
TVカメラを90゜回転したように垂直方向走査を画
面左から右に繰返してゆくものが考えられるが、
ここではまず第8図bの方式における実施例につ
いて説明する。
実施例の基本構成を示す。光切断線抽出回路13
は、映像信号V、設定値V1,V2,V3(V1>V2≧
V3)、及び像検出器3の各走査のトリガー信号水
平同期信号Hdを入力とし、最大値位置検出回路
14、中心位置検出回路15、検出区間設定回路
16、選択回路17で構成される。ここで像検出
器3の撮像方式としては、第8図aのように通常
のTVカメラにおけるように水平方向走査を画面
上から下に繰返していくものと、同図bのように
TVカメラを90゜回転したように垂直方向走査を画
面左から右に繰返してゆくものが考えられるが、
ここではまず第8図bの方式における実施例につ
いて説明する。
次に光切断線抽出回路13の機能であるが、内
容的には回路14,15,17で実現されるピー
ク位置検出法と、回路16で実現する検出区間設
定処理からなる。前者は特願昭54―146427の内容
に相当する。すなわち第9図aのように映像信号
の最大値Vmaxが区間〔V1,V3〕に入つている
場合、最大値位置検出回路14によりそのZ位置
Zを求める。また第9図bのようにVmaxがV1
より大きい時、中心位置検出回路15により最初
にV≧V1となつたZ位置Z1、最後にV≧V1とな
つたZ位置Z2を求め、さらにZ=(Z1+Z2)/2
としてその中心位置を求める。そして1つの走査
中に中心位置検出回路15内でVがV1以上にな
つた場合は、選択回路17は中心位置検出回路1
5の出力を、VがV1以上にならなかつた場合は
選択回路17は最大値位置検出回路14の出力を
光切断線の値として出力する。またVが1つの走
査中にV3以上になる事がなかつた場合選択回路
17はゼロを出力する。検出区間設定は、上記Z
の検出を第10図a,bのようにV≧V2となる
最初の山の終りまでのAについてのみ行なう。但
し第10図cのようにV≧V2となることがない
場合区間Aは全域とする。これにより第5図aの
ような入力映像信号は第11図のような光切断線
に変換される。
容的には回路14,15,17で実現されるピー
ク位置検出法と、回路16で実現する検出区間設
定処理からなる。前者は特願昭54―146427の内容
に相当する。すなわち第9図aのように映像信号
の最大値Vmaxが区間〔V1,V3〕に入つている
場合、最大値位置検出回路14によりそのZ位置
Zを求める。また第9図bのようにVmaxがV1
より大きい時、中心位置検出回路15により最初
にV≧V1となつたZ位置Z1、最後にV≧V1とな
つたZ位置Z2を求め、さらにZ=(Z1+Z2)/2
としてその中心位置を求める。そして1つの走査
中に中心位置検出回路15内でVがV1以上にな
つた場合は、選択回路17は中心位置検出回路1
5の出力を、VがV1以上にならなかつた場合は
選択回路17は最大値位置検出回路14の出力を
光切断線の値として出力する。またVが1つの走
査中にV3以上になる事がなかつた場合選択回路
17はゼロを出力する。検出区間設定は、上記Z
の検出を第10図a,bのようにV≧V2となる
最初の山の終りまでのAについてのみ行なう。但
し第10図cのようにV≧V2となることがない
場合区間Aは全域とする。これにより第5図aの
ような入力映像信号は第11図のような光切断線
に変換される。
第7図の実施例をより詳細に記したものが第1
2図である。第12図を使用して動作内容をより
具体的に説明する。
2図である。第12図を使用して動作内容をより
具体的に説明する。
最大位置検出回路14は、ピークホールド1
8、コンパレータ19、ワンシヨツト20、アン
ド21、レジスタ22、コンパレータ24、フリ
ツプフロツプ25で構成される。
8、コンパレータ19、ワンシヨツト20、アン
ド21、レジスタ22、コンパレータ24、フリ
ツプフロツプ25で構成される。
中心位置検出回路15は、コンパレータ26、
フリツプフロツプ27、ワンシヨツト28,3
1、アンド29,32、Z1レジスタ30、Z2レジ
スタ33、加算器34、フリツプフロツプ38で
構成される。
フリツプフロツプ27、ワンシヨツト28,3
1、アンド29,32、Z1レジスタ30、Z2レジ
スタ33、加算器34、フリツプフロツプ38で
構成される。
検出区間設定回路16は、コンパレータ35、
フリツプフロツプ36で構成される。
フリツプフロツプ36で構成される。
また各瞬間でのZ座標を知るためのカウンタ2
3及び選択回路37を有している。
3及び選択回路37を有している。
最大位置検出回路14では、映像信号Vはピー
クホールド18に入り、1つの走査中におけるあ
る瞬間までのVのピーク値をホールドする。コン
パレータ19は、このホールドされたピーク値と
その瞬間のVとを比較し、Vがホールドされたピ
ーク値以上となつた時、ワンシヨツト20に
“1”(ON)を出力する。一方Vは、コンパレー
タ24においてV3と比較され、V≧V3の時コン
パレータ24は“1”を出力する。さらに検出区
間設定回路16では、コンパレータ35がVと
V2を比較し、V<V2の時“1”を出力する。そ
してフリツプフロツプ36はトリガー信号Hdで
リセツトされ、Vが≧V2からV<V2へ最初に移
行した時、“1”から“0”(OFF)に出力が変
化する。アンド21はワンシヨツト20とコンパ
レータ24とフリツプフロツプ36の出力のアン
ドをとるため、区間A(第10図a)で、かつV
≧V3で、かつピークである瞬間に“1”を出力
することになる。これをレジスタ22のロード信
号として使用し、トリガー信号Hdでリセツトさ
れるカウンタ23のその瞬間の値をレジスタ22
に記憶する。これにより一走査終了時にレジスタ
22はV≧V2に最初になつた区間における極大
値のZ座標Zをホールドしている。
クホールド18に入り、1つの走査中におけるあ
る瞬間までのVのピーク値をホールドする。コン
パレータ19は、このホールドされたピーク値と
その瞬間のVとを比較し、Vがホールドされたピ
ーク値以上となつた時、ワンシヨツト20に
“1”(ON)を出力する。一方Vは、コンパレー
タ24においてV3と比較され、V≧V3の時コン
パレータ24は“1”を出力する。さらに検出区
間設定回路16では、コンパレータ35がVと
V2を比較し、V<V2の時“1”を出力する。そ
してフリツプフロツプ36はトリガー信号Hdで
リセツトされ、Vが≧V2からV<V2へ最初に移
行した時、“1”から“0”(OFF)に出力が変
化する。アンド21はワンシヨツト20とコンパ
レータ24とフリツプフロツプ36の出力のアン
ドをとるため、区間A(第10図a)で、かつV
≧V3で、かつピークである瞬間に“1”を出力
することになる。これをレジスタ22のロード信
号として使用し、トリガー信号Hdでリセツトさ
れるカウンタ23のその瞬間の値をレジスタ22
に記憶する。これにより一走査終了時にレジスタ
22はV≧V2に最初になつた区間における極大
値のZ座標Zをホールドしている。
中心位置検出回路15では、映像信号VはV1
とコンパレータ26で比較され、その出力はフリ
ツプフロツプ27のセツト側に入力される。従つ
てワンシヨツト28は、1つの走査において最初
にV≧V1となる瞬間を検出する。これとフリツ
プフロツプ36より区間A(第10図b)を示す
信号とのアンドをアンド29でとり、その出力を
レジスタ30のロード信号として使用する事によ
り、Z1レジスタ30には区間AでV≧V1に最初
になつたZ位置Z1がホールドされる。一方ワンシ
ヨツト31はV≧V1でなくなる瞬間を検出して
おり、これと区間Aとのアンドをアンド32でと
り、その出力をレジスタ33のロード信号として
使用することにより、Z2レジスタ33には区間A
で最後にV≧V1でなくなるZ位置Z2がホールド
される。加算器34はZ1レジスタ30とZ2レジス
タ33のホールド値よりZ=(Z1+Z2)/2の演
算を行なう。
とコンパレータ26で比較され、その出力はフリ
ツプフロツプ27のセツト側に入力される。従つ
てワンシヨツト28は、1つの走査において最初
にV≧V1となる瞬間を検出する。これとフリツ
プフロツプ36より区間A(第10図b)を示す
信号とのアンドをアンド29でとり、その出力を
レジスタ30のロード信号として使用する事によ
り、Z1レジスタ30には区間AでV≧V1に最初
になつたZ位置Z1がホールドされる。一方ワンシ
ヨツト31はV≧V1でなくなる瞬間を検出して
おり、これと区間Aとのアンドをアンド32でと
り、その出力をレジスタ33のロード信号として
使用することにより、Z2レジスタ33には区間A
で最後にV≧V1でなくなるZ位置Z2がホールド
される。加算器34はZ1レジスタ30とZ2レジス
タ33のホールド値よりZ=(Z1+Z2)/2の演
算を行なう。
フリツプフロツプ25はHdをリセツト信号と
し、コンパレータ24の出力をセツト信号として
おり、V≧V3なるケースが1つの走査中に存在
したかどうかの検出に使用される。フリツプフロ
ツプ38はHdをリセツト信号とし、アンド29
の出力をセツト信号としており、第10図bのケ
ースが発生したかどうかの検出にしようされる。
従つて選択回路37では、これらを条件信号と
し、フリツプフロツプ38がセツトされている時
は加算器34の出力値を、フリツプフロツプ38
がリセツトのままでありフリツプフロツプ25が
セツトされている時はレジスタ22のホールド値
を、その他の場合ゼロを出力する。
し、コンパレータ24の出力をセツト信号として
おり、V≧V3なるケースが1つの走査中に存在
したかどうかの検出に使用される。フリツプフロ
ツプ38はHdをリセツト信号とし、アンド29
の出力をセツト信号としており、第10図bのケ
ースが発生したかどうかの検出にしようされる。
従つて選択回路37では、これらを条件信号と
し、フリツプフロツプ38がセツトされている時
は加算器34の出力値を、フリツプフロツプ38
がリセツトのままでありフリツプフロツプ25が
セツトされている時はレジスタ22のホールド値
を、その他の場合ゼロを出力する。
次に他の一実施例として第8図aの撮像方式の
一実施例を示す。ここでは高さ方向、z軸の検出
区間を(Za,Zb)に限ることとする(第8図a
参照)。光切断線抽出回路13の一実施例を第1
3図に示す。入力信号は第8図aに示すように水
平走査される映像信号V、各水平走査の起点を示
すHd、各水平走査における水平方向、x軸方向
のサンプリング間隔に対応するClockであり、レ
ベルV1,V2,V3及びz軸検出区間Za,Zbはデジ
スイツチで与えるものとする。光切断線抽出回路
13は、これらデジスイツチ39,40,41,
46,47、コンパレータ42,43,44,4
5,Z座標発生回路48、X座標発生回路49、
A/Dコンバータ50、ゲート51、データセレ
クタ52、リードライト制御回路53,54,5
5,56、Zm1,Zm2,Vmaxの値を記憶するラ
ンダム・アクセス・メモリ57,58,59、
Zm書込み済みフラグ記憶用ランダム・アクセス
メモリ60及び第1ピーク検出済みフラグ記憶用
ランダム・アクセスメモリ61、加算器62で構
成される。
一実施例を示す。ここでは高さ方向、z軸の検出
区間を(Za,Zb)に限ることとする(第8図a
参照)。光切断線抽出回路13の一実施例を第1
3図に示す。入力信号は第8図aに示すように水
平走査される映像信号V、各水平走査の起点を示
すHd、各水平走査における水平方向、x軸方向
のサンプリング間隔に対応するClockであり、レ
ベルV1,V2,V3及びz軸検出区間Za,Zbはデジ
スイツチで与えるものとする。光切断線抽出回路
13は、これらデジスイツチ39,40,41,
46,47、コンパレータ42,43,44,4
5,Z座標発生回路48、X座標発生回路49、
A/Dコンバータ50、ゲート51、データセレ
クタ52、リードライト制御回路53,54,5
5,56、Zm1,Zm2,Vmaxの値を記憶するラ
ンダム・アクセス・メモリ57,58,59、
Zm書込み済みフラグ記憶用ランダム・アクセス
メモリ60及び第1ピーク検出済みフラグ記憶用
ランダム・アクセスメモリ61、加算器62で構
成される。
映像信号Vは、Z座標発生回路48により区間
(Za,Zb)の間だけゲート51を通つてA/Dコ
ンバータ50でデイジタル信号に変換される。コ
ンパレータ44は映像信号とデジスイツチ39内
のV3を比較し、V≧V3を検出する。コンパレー
タ43は同様にV≧V1を検出する。コンパレー
タ42は同様にV<V2を検出する。一方x座標
はClockをカウントする事によりX座標発生回路
49で発生され、これはランダムアクセスメモリ
57,58,59,60,61のアドレスとして
参照される。従つてコンパレータ45で映像信号
Vとメモリ59に記憶されたVmaxと比較され、
V>Vmaxの場合には、メモリ59にVmaxとし
てVが更新され、メモリ59の内容Vmaxは、そ
の時のx座標におけるVmaxとなる。なお、各メ
モリは光切断線抽出に先立ち、クリアされる。ま
た、メモリ60,61は、第10図の検出区間A
を設定するもので、x座標毎に、Z方向について
の一次元の画像の明るさが第10図a,bのよう
にV≧V2となる区間が2個所以上存在する場合
2番目以降を無視するため、一旦V≧V2となつ
たVがV<V2となつたら第1ピーク検出済みフ
ラグを記憶させ、以後当該x座標についての光切
断線の抽出を止める。
(Za,Zb)の間だけゲート51を通つてA/Dコ
ンバータ50でデイジタル信号に変換される。コ
ンパレータ44は映像信号とデジスイツチ39内
のV3を比較し、V≧V3を検出する。コンパレー
タ43は同様にV≧V1を検出する。コンパレー
タ42は同様にV<V2を検出する。一方x座標
はClockをカウントする事によりX座標発生回路
49で発生され、これはランダムアクセスメモリ
57,58,59,60,61のアドレスとして
参照される。従つてコンパレータ45で映像信号
Vとメモリ59に記憶されたVmaxと比較され、
V>Vmaxの場合には、メモリ59にVmaxとし
てVが更新され、メモリ59の内容Vmaxは、そ
の時のx座標におけるVmaxとなる。なお、各メ
モリは光切断線抽出に先立ち、クリアされる。ま
た、メモリ60,61は、第10図の検出区間A
を設定するもので、x座標毎に、Z方向について
の一次元の画像の明るさが第10図a,bのよう
にV≧V2となる区間が2個所以上存在する場合
2番目以降を無視するため、一旦V≧V2となつ
たVがV<V2となつたら第1ピーク検出済みフ
ラグを記憶させ、以後当該x座標についての光切
断線の抽出を止める。
リードライト制御回路54,55,56は、そ
れぞれ映像信号Vと設定値V1,V3及びメモリ5
9にZaの方から順次更新されて記憶される最大
映像信号Vmaxとの比較結果に応じ、以下のよう
に動作する。
れぞれ映像信号Vと設定値V1,V3及びメモリ5
9にZaの方から順次更新されて記憶される最大
映像信号Vmaxとの比較結果に応じ、以下のよう
に動作する。
1 映像信号<Vmaxであれば54,55,56
共動作しない。
共動作しない。
2 映像信号>Vmaxであり、かつ映像信号<
V1であり、かつ61で第1ピーク検出済みで
なければ、54,55,56が動作し、その時
のz座標を57,58に、その時の映像信号の
値を59にそれぞれ書込む。
V1であり、かつ61で第1ピーク検出済みで
なければ、54,55,56が動作し、その時
のz座標を57,58に、その時の映像信号の
値を59にそれぞれ書込む。
3 映像信号=Vmaxであり、かつ61で第1ピ
ーク検出済みでなければ、54のみが動作しそ
の時のz座標を58に書込む。
ーク検出済みでなければ、54のみが動作しそ
の時のz座標を58に書込む。
4 映像信号≧V1で、かつ61で第1ピーク検
出済みでなければ、54と56が動作し、その
時のz座標を58へ書込むと共に、データセレ
クタ52を介しV1を59に書込む。
出済みでなければ、54と56が動作し、その
時のz座標を58へ書込むと共に、データセレ
クタ52を介しV1を59に書込む。
5 61で第1ピーク検出済みであれば54,5
5,56共動作しない。
5,56共動作しない。
これら動作中に60,53,61は以下のよう
に動作しメモリ61に第1ピーク検出済みフラグ
を記憶してゆく。すなわちメモリ60は、区間
(Za,Zb)についてリードライト制御回路55で
Zmlの書き込み命令がでると、そのX座標に対応
するメモリ内容にフラグ1を入れる。従つてメモ
リ60の内容は各X座標についてZm1が最初に検
出されるまで“0”であり、検出後は“1”とな
り以後“1”が保存される。リードライト制御回
路53はメモリ60の内容とコンパレータ42の
内容のアンドをとる。従つてZm1が1回検出され
て以後映像信号<V2が成立した時“1”となる。
従つてメモリ60の内容はZm1が1回検出されて
以後映像信号<V2が最初に成立して以後“1”
が記憶される。すなわち第1ピーク検出後、映像
信号<V2が成立すれば、フラグ“1”がセツト
され、そのx座標では第1ピーク検出済みである
ことを記憶したことになる。
に動作しメモリ61に第1ピーク検出済みフラグ
を記憶してゆく。すなわちメモリ60は、区間
(Za,Zb)についてリードライト制御回路55で
Zmlの書き込み命令がでると、そのX座標に対応
するメモリ内容にフラグ1を入れる。従つてメモ
リ60の内容は各X座標についてZm1が最初に検
出されるまで“0”であり、検出後は“1”とな
り以後“1”が保存される。リードライト制御回
路53はメモリ60の内容とコンパレータ42の
内容のアンドをとる。従つてZm1が1回検出され
て以後映像信号<V2が成立した時“1”となる。
従つてメモリ60の内容はZm1が1回検出されて
以後映像信号<V2が最初に成立して以後“1”
が記憶される。すなわち第1ピーク検出後、映像
信号<V2が成立すれば、フラグ“1”がセツト
され、そのx座標では第1ピーク検出済みである
ことを記憶したことになる。
以上の動作をZ座標のZaからZbまで実行する
とメモリ57,58には、x座標に対応して次の
Z座標データが書き込まれる。
とメモリ57,58には、x座標に対応して次の
Z座標データが書き込まれる。
1 Za〜Zb間でV≧V1とならなかつたx座標で
は、V≧V3となるZ座標区間内でピーク値を
示すZ座標がメモリ57及び58に書き込まれ
る。なお、第10図aに示すようにV≧V2と
なる場合には、最初の区間Aのみ検出区間とす
る。
は、V≧V3となるZ座標区間内でピーク値を
示すZ座標がメモリ57及び58に書き込まれ
る。なお、第10図aに示すようにV≧V2と
なる場合には、最初の区間Aのみ検出区間とす
る。
2 第10図bに示すようにZa〜Zb間でV≧V1
となつた場合には、V≧V1区間の始端Z1がメ
モリ57に、終端Z2がメモリ58に書き込まれ
る。なお、第10図bに示すようにV≧V2と
なる場合には、最初の区間Aのみ検出区間とす
る。従つてZ=Zbにおける処理が終了した後、
48の指令によりゲート51が閉じ、x座標を
インクリメントしつつ54,55に58,57
からのリード指令を発すると、62へは58,
57のメモリ内容が出力され、それらの平均値
を62が出力し、62から抽出された光切断線
がZ座標列データとして出力される。
となつた場合には、V≧V1区間の始端Z1がメ
モリ57に、終端Z2がメモリ58に書き込まれ
る。なお、第10図bに示すようにV≧V2と
なる場合には、最初の区間Aのみ検出区間とす
る。従つてZ=Zbにおける処理が終了した後、
48の指令によりゲート51が閉じ、x座標を
インクリメントしつつ54,55に58,57
からのリード指令を発すると、62へは58,
57のメモリ内容が出力され、それらの平均値
を62が出力し、62から抽出された光切断線
がZ座標列データとして出力される。
なお、以上の実施例では像検出器については触
れなかつたが、これはTVカメラ、2次元固体撮
像素子、1次元固体撮像素子と光学的走査方式の
組合せ、光電子増倍管等受光器と光学的走査方式
の組合せのいずれであつても良い。
れなかつたが、これはTVカメラ、2次元固体撮
像素子、1次元固体撮像素子と光学的走査方式の
組合せ、光電子増倍管等受光器と光学的走査方式
の組合せのいずれであつても良い。
以上の実施例ではV1>V2>V3としたが、V2=
V3であつても良い。
V3であつても良い。
以上の実施例ではV≧V1ではV1を閾値とする
中心位置検出、V3≦V<V1では極大位置検出と
したが、これは単にV≧V3で中心位置検出、あ
るいはV≧V3で極大位置検出だけであつても良
い。これらの場合実施例に示した光切断抽出回路
の構成は、その一部だけを使用する単純なものと
なる。
中心位置検出、V3≦V<V1では極大位置検出と
したが、これは単にV≧V3で中心位置検出、あ
るいはV≧V3で極大位置検出だけであつても良
い。これらの場合実施例に示した光切断抽出回路
の構成は、その一部だけを使用する単純なものと
なる。
第13図の実施例においては、Za,Zbをデジ
スイツチでセツトし、固定値として使用している
が、これを可変値とし、各x座標に応じてZ1,Z2
を変化させる方式であつても良い。
スイツチでセツトし、固定値として使用している
が、これを可変値とし、各x座標に応じてZ1,Z2
を変化させる方式であつても良い。
第12図の実施例においては、Za,Zbを特に
与えていないが、第13図におけると同様にZa,
Zbを適用しても良い。
与えていないが、第13図におけると同様にZa,
Zbを適用しても良い。
本発明により、形状変化の大きい対象物の光切
断線を、対象物からの異常反射に影響されること
なく抽出することができる。特に、はんだ付部の
ように光沢をもつた物体の形状検出に、この点で
特に有効である。
断線を、対象物からの異常反射に影響されること
なく抽出することができる。特に、はんだ付部の
ように光沢をもつた物体の形状検出に、この点で
特に有効である。
第1図は光切断法の説明図、第2図は光切断線
抽出法の従来技術の説明図、第3図は光切断法に
よるプリント板はんだ付部検出法の説明図、第4
図は異常反射の状態を説明する図、第5図は異常
反射による従来技術の誤動作の一例を説明する
図、第6図は本発明の一実施例の全体構成図、第
7図は本発明の光切断線抽出回路の一実施例の機
能ブロツク図、第8図は像検出器の画像走査の2
種類を例示する図、第9図は最大位置検出及び中
心位置検出の機能を説明する図、第10図は本発
明の最初に発生する明るい部分のみから最大位置
あるいは中心位置の検出を行なう機能を説明する
図、第11図は本発明の方式による正常動作の一
例を説明する図、第12図は本発明の一実施例の
詳細な構成図、第13図は本発明の他の一実施例
の詳細な構成図である。 1…スリツト投光器、2…像検出器、13…光
切断線抽出回路。
抽出法の従来技術の説明図、第3図は光切断法に
よるプリント板はんだ付部検出法の説明図、第4
図は異常反射の状態を説明する図、第5図は異常
反射による従来技術の誤動作の一例を説明する
図、第6図は本発明の一実施例の全体構成図、第
7図は本発明の光切断線抽出回路の一実施例の機
能ブロツク図、第8図は像検出器の画像走査の2
種類を例示する図、第9図は最大位置検出及び中
心位置検出の機能を説明する図、第10図は本発
明の最初に発生する明るい部分のみから最大位置
あるいは中心位置の検出を行なう機能を説明する
図、第11図は本発明の方式による正常動作の一
例を説明する図、第12図は本発明の一実施例の
詳細な構成図、第13図は本発明の他の一実施例
の詳細な構成図である。 1…スリツト投光器、2…像検出器、13…光
切断線抽出回路。
Claims (1)
- 1 スリツト状の光の帯を、凸状の対象物に対し
て真上から投光するスリツト投光器と、上記スリ
ツト状の光の帯に対して斜め方向から上記凸状の
対象物上のスリツト輝線像を二次元的に撮像する
撮像装置と、該撮像装置から得られる二次元画像
を入力し、上記凸状の対象物の横方向の同じ座標
を示す一次画像について上記凸状の対象物の最も
高い上側から調べていつて、スリツト輝線像に相
当する映像信号レベルVが所定の設定値V2より
大きな部分が最初に発生し終わつた区間Aを検出
してその区間A信号を出力し、上記映像信号レベ
ルVが所定の設定値V2に到達しない場合には、
区間信号を出力しない検出区間設定手段と、該検
出区間設定手段より区間信号が検出された区間に
ついて、上記映像信号レベルVが、上記設定値
V2より低く設定された設定値V3に到達した場合
には、その映像信号のピークを示す高さ座標値Z
信号として光切断線を抽出し、設定値V3に到達
しない場合には光切断線なしの信号を抽出する最
大値位置検出手段と、上記検出区間設定手段より
区間信号が検出された区間について、上記映像信
号レベルVが、飽和レベルより僅か低く設定され
た設定値V1に到達した場合には、上記映像信号
が最初に上記設定値V1となつた座標値Z1と最後
に上記上記設定値V1となつた座標値Z2との中心
位置を示す高さ座標値Z信号として光切断線を抽
出する中心位置検出手段と、上記映像信号レベル
Vが上記設定値V1を越えるか否かによつて上記
最大値位置検出手段の出力信号と上記中心位置検
出手段の出力信号とを選択して出力する選択手段
とを備え、上記検出区間設定手段、最大値位置検
出手段、中心位置検出手段、及び選択手段により
上記撮像装置から得られる二次元画像に基いて上
記凸状の対象物の横方向について処理し、光切断
線により凸状の対象物の形状を検出することを特
徴とする形状検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9383881A JPS57208404A (en) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Configuration detecting method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9383881A JPS57208404A (en) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Configuration detecting method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57208404A JPS57208404A (en) | 1982-12-21 |
| JPS6322241B2 true JPS6322241B2 (ja) | 1988-05-11 |
Family
ID=14093526
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9383881A Granted JPS57208404A (en) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Configuration detecting method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57208404A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60256004A (ja) * | 1984-06-01 | 1985-12-17 | Matsushita Electric Works Ltd | チツプ部品のはんだ付検査方法 |
| JPS61120006A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-07 | Nippon Tsushin Gijutsu Kk | 計測ヘツドの信号検出方法 |
| JPS61130808A (ja) * | 1984-11-30 | 1986-06-18 | Hitachi Ltd | 光切断線検出装置 |
| MY137246A (en) | 2002-04-30 | 2009-01-30 | Jfe Steel Corp | Method and instrument for measuring bead cutting shape of electric welded tube |
| JP7306867B2 (ja) * | 2019-04-26 | 2023-07-11 | 株式会社キーエンス | 光学式変位計 |
| JP7375458B2 (ja) | 2019-10-23 | 2023-11-08 | オムロン株式会社 | 外観検査装置及び、不良検査方法 |
-
1981
- 1981-06-19 JP JP9383881A patent/JPS57208404A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57208404A (en) | 1982-12-21 |
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