JPS6324080A - 水酸化第四アンモニウム水溶液の製造法 - Google Patents
水酸化第四アンモニウム水溶液の製造法Info
- Publication number
- JPS6324080A JPS6324080A JP61165469A JP16546986A JPS6324080A JP S6324080 A JPS6324080 A JP S6324080A JP 61165469 A JP61165469 A JP 61165469A JP 16546986 A JP16546986 A JP 16546986A JP S6324080 A JPS6324080 A JP S6324080A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- quaternary ammonium
- acid salt
- ammonium hydroxide
- anode
- inorganic acid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 125000001453 quaternary ammonium group Chemical group 0.000 title claims abstract description 37
- 239000000908 ammonium hydroxide Substances 0.000 title claims abstract description 22
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 18
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000005341 cation exchange Methods 0.000 claims abstract description 13
- 125000005270 trialkylamine group Chemical group 0.000 claims abstract description 13
- -1 inorganic acid salt Chemical class 0.000 claims description 26
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 22
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 16
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- VFHDWENBWYCAIB-UHFFFAOYSA-M hydrogen carbonate;tetramethylazanium Chemical group OC([O-])=O.C[N+](C)(C)C VFHDWENBWYCAIB-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 2
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 18
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 abstract description 15
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 13
- GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N trimethylamine Chemical compound CN(C)C GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 abstract description 9
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 7
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 abstract description 6
- 239000002904 solvent Substances 0.000 abstract description 3
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 abstract description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 abstract 3
- 125000000118 dimethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 abstract 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 12
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 5
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 4
- IEJIGPNLZYLLBP-UHFFFAOYSA-N dimethyl carbonate Chemical compound COC(=O)OC IEJIGPNLZYLLBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 4
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 150000003242 quaternary ammonium salts Chemical class 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 238000005292 vacuum distillation Methods 0.000 description 2
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-M Bicarbonate Chemical compound OC([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OIFBSDVPJOWBCH-UHFFFAOYSA-N Diethyl carbonate Chemical compound CCOC(=O)OCC OIFBSDVPJOWBCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-M Formate Chemical compound [O-]C=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-O Methylammonium ion Chemical compound [NH3+]C BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 229920000557 Nafion® Polymers 0.000 description 1
- VEQPNABPJHWNSG-UHFFFAOYSA-N Nickel(2+) Chemical compound [Ni+2] VEQPNABPJHWNSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 238000001479 atomic absorption spectroscopy Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007810 chemical reaction solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000004993 emission spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000003014 ion exchange membrane Substances 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 229910001453 nickel ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 150000003057 platinum Chemical class 0.000 description 1
- UUWCBFKLGFQDME-UHFFFAOYSA-N platinum titanium Chemical compound [Ti].[Pt] UUWCBFKLGFQDME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 1
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 125000005207 tetraalkylammonium group Chemical group 0.000 description 1
- QEMXHQIAXOOASZ-UHFFFAOYSA-N tetramethylammonium Chemical compound C[N+](C)(C)C QEMXHQIAXOOASZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011882 ultra-fine particle Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Electrolytic Production Of Non-Metals, Compounds, Apparatuses Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は水酸化第四アンモニウム水溶液の製造法に係り
、特に半導体装置の製造工程にあけるウェハの洗浄やレ
ジスト膜の現@等の処理剤として有用な水酸化第四アン
モニウム水溶液の製Bi法に関する。
、特に半導体装置の製造工程にあけるウェハの洗浄やレ
ジスト膜の現@等の処理剤として有用な水酸化第四アン
モニウム水溶液の製Bi法に関する。
[従来の技術]
従来、電子工業におけるICやLSIの製造工程におい
ては、半導体基板(ウェハ)の表面の洗浄、食刻、レジ
ストの現像等のために強アルカリ性の処理剤が使用され
てあり、このような処理剤としてNa等の金属イオンを
含まない水酸化第四アンモニウム水溶液が利用されてい
る。
ては、半導体基板(ウェハ)の表面の洗浄、食刻、レジ
ストの現像等のために強アルカリ性の処理剤が使用され
てあり、このような処理剤としてNa等の金属イオンを
含まない水酸化第四アンモニウム水溶液が利用されてい
る。
ところが、この処理剤として使用される水酸化第四アン
モニウム水溶液については、これに不純物、待にLi、
Na、 K 、 Fe、 Ni、 AI、Cr、 l
n等の金属イオンやC1、Br、 I等のハロゲンイオ
ン等が含まれていると洗浄あるいは現像後にウェハ上又
はレジスト膜内にこの不純物が残留し、製造されたIC
やLSIの:精度が悪化して電子回路の誤動作の原因に
なり、また、水酸化第四アンモニウム水溶液の貯蔵中に
おいてもこの水溶液中に微G残留するハロゲンイオン等
の高腐蝕性の不純物が原因になって貯蔵容器が腐蝕し、
$1114度低下を招いて上記と同様に製造されたIC
やLSIの精度を悪化させ電子回路の誤動作の原因にな
るという問題がめった。
モニウム水溶液については、これに不純物、待にLi、
Na、 K 、 Fe、 Ni、 AI、Cr、 l
n等の金属イオンやC1、Br、 I等のハロゲンイオ
ン等が含まれていると洗浄あるいは現像後にウェハ上又
はレジスト膜内にこの不純物が残留し、製造されたIC
やLSIの:精度が悪化して電子回路の誤動作の原因に
なり、また、水酸化第四アンモニウム水溶液の貯蔵中に
おいてもこの水溶液中に微G残留するハロゲンイオン等
の高腐蝕性の不純物が原因になって貯蔵容器が腐蝕し、
$1114度低下を招いて上記と同様に製造されたIC
やLSIの精度を悪化させ電子回路の誤動作の原因にな
るという問題がめった。
この傾向は、最近の半導体装置の高集積化に伴ってます
まづ顕著になり、金属イオンやハロゲンイオン等の不純
物についてより高純度で貯蔵安定性に優れた水酸化第四
アンモニウム水溶液が要請されている。
まづ顕著になり、金属イオンやハロゲンイオン等の不純
物についてより高純度で貯蔵安定性に優れた水酸化第四
アンモニウム水溶液が要請されている。
このような要請に応えるものとして、本願出願人は、陽
イオン交換膜を隔膜として用いた電解槽で第四アンモニ
ウム塩を電解して水酸化第四アンモニウム水溶液を製造
するに際し、上記第四アンモニウム塩としてトリアルキ
ルアミンと炭酸ジアルキルとを反応させて(qられた第
四アンモニウムの無機酸塩を使用することにより、製造
が容易であるだけでなく、半導体製造工程で特に有害な
金属イオンやハロゲンイオンについて超高純度でステン
レス容器での貯蔵安定性に優れ、ひいては半導体装置の
製造工程におけるウェハの洗浄やレジストの処理剤とし
て好適な水散化第四アンモニウム水溶液を安価に製造し
1ワる方法を提案しく特願昭60−12.109号発明
)、一定の成果を収めることができた。
イオン交換膜を隔膜として用いた電解槽で第四アンモニ
ウム塩を電解して水酸化第四アンモニウム水溶液を製造
するに際し、上記第四アンモニウム塩としてトリアルキ
ルアミンと炭酸ジアルキルとを反応させて(qられた第
四アンモニウムの無機酸塩を使用することにより、製造
が容易であるだけでなく、半導体製造工程で特に有害な
金属イオンやハロゲンイオンについて超高純度でステン
レス容器での貯蔵安定性に優れ、ひいては半導体装置の
製造工程におけるウェハの洗浄やレジストの処理剤とし
て好適な水散化第四アンモニウム水溶液を安価に製造し
1ワる方法を提案しく特願昭60−12.109号発明
)、一定の成果を収めることができた。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、この方法においても、電解槽でトリアル
キルアミンと炭酸ジアルキルとを反応させて得られた第
四アンモニウムの無機酸塩を電解する際に、陽極として
使用した黒鉛電極の消耗が激しくて高価な黒鉛電極をf
!A繁に交換しなければならず、消耗が激しい分だけ電
極の厚さを厚くする必要が生じてそれだけ電解槽が大型
化し、しかも、消耗によって陽極と陰極との間が拡がる
と電流効率が低下するほか、各電極の間に位買する陽イ
オン交換膜が液圧の変化によってずれる場合があるので
これを防止するための保護板の使用が必要になるという
問題があった。
キルアミンと炭酸ジアルキルとを反応させて得られた第
四アンモニウムの無機酸塩を電解する際に、陽極として
使用した黒鉛電極の消耗が激しくて高価な黒鉛電極をf
!A繁に交換しなければならず、消耗が激しい分だけ電
極の厚さを厚くする必要が生じてそれだけ電解槽が大型
化し、しかも、消耗によって陽極と陰極との間が拡がる
と電流効率が低下するほか、各電極の間に位買する陽イ
オン交換膜が液圧の変化によってずれる場合があるので
これを防止するための保護板の使用が必要になるという
問題があった。
加えて、電解中に陽極側で黒鉛電極が消耗して生成した
黒鉛微粒子は、陽イオン交換膜で仕切られてはいるもの
の、その極一部がこの陽イオン交換膜の微細な透孔を通
過して陰極側に生成する製品の水酸化第四アンモニウム
水溶液中に移行し、特に超LSIの製造工程で処理液と
して使用する場合には0.2μ汎以上の超微粒子が問題
になるのでこれを高価な0.2μ汎のフィルターで濾過
しなければならず、黒鉛微粒子の陰極側への移行が多く
なるとこの高価なフィルターの頻繁な交換が必要になり
、しかも、この黒鉛微粒子の濾過工程で要する手間や時
間も大幅に多くなるという問題があった。
黒鉛微粒子は、陽イオン交換膜で仕切られてはいるもの
の、その極一部がこの陽イオン交換膜の微細な透孔を通
過して陰極側に生成する製品の水酸化第四アンモニウム
水溶液中に移行し、特に超LSIの製造工程で処理液と
して使用する場合には0.2μ汎以上の超微粒子が問題
になるのでこれを高価な0.2μ汎のフィルターで濾過
しなければならず、黒鉛微粒子の陰極側への移行が多く
なるとこの高価なフィルターの頻繁な交換が必要になり
、しかも、この黒鉛微粒子の濾過工程で要する手間や時
間も大幅に多くなるという問題があった。
ざらに、電解終了後にその陽極廃液を処理する場合、こ
の陽極廃液中に黒鉛微粒子が存在するとそのままでは公
害の問題が生じて処分することができず、凝集剤を添加
してこの黒鉛廃液を凝集させ分離除去する必要が生じる
が、この黒鉛微粒子は沈降速度が遅くて凝集しずらく、
凝集剤添加後に長時間放置しなければならず、この黒鉛
廃液効率が悪いという問題もめった。
の陽極廃液中に黒鉛微粒子が存在するとそのままでは公
害の問題が生じて処分することができず、凝集剤を添加
してこの黒鉛廃液を凝集させ分離除去する必要が生じる
が、この黒鉛微粒子は沈降速度が遅くて凝集しずらく、
凝集剤添加後に長時間放置しなければならず、この黒鉛
廃液効率が悪いという問題もめった。
そこで、この黒鉛電極に代えて、例えば、チタン白金メ
ッキ製や白金製の白金電極や、ステンレス製のステンレ
ス電極等を使用することも考えられるが、白金電極につ
いては、それ自体が(重めで高価であって経済的に不利
であるだけでなく、この白金電極から溶出する白金は、
たとえそれが極微量であっても製品の水酸化第四アンモ
ニウム水溶液中に移行すると半導体製造工程で大きな悪
影響を及ぼし、特に超LSIの製造工程で使用する処理
液を製造する場合には厳密な管理が必要になるという問
題があり、また、ステンレス電極については、黒鉛電極
と同様にその消耗が激しく、また、陰極側への移行の程
度も大きいという問題があった。
ッキ製や白金製の白金電極や、ステンレス製のステンレ
ス電極等を使用することも考えられるが、白金電極につ
いては、それ自体が(重めで高価であって経済的に不利
であるだけでなく、この白金電極から溶出する白金は、
たとえそれが極微量であっても製品の水酸化第四アンモ
ニウム水溶液中に移行すると半導体製造工程で大きな悪
影響を及ぼし、特に超LSIの製造工程で使用する処理
液を製造する場合には厳密な管理が必要になるという問
題があり、また、ステンレス電極については、黒鉛電極
と同様にその消耗が激しく、また、陰極側への移行の程
度も大きいという問題があった。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、かかる観点に鑑みて創案されたもので、先に
提案した第四アンモニウム塩としてトリアルキルアミン
と炭酸ジアルキルとを反応させて得られた第四アンモニ
ウムの無機酸塩を使用する発明の改良に係るもので、陽
極として比較的安価なニッケル電極を使用するほかその
電極の消耗が少なく、しかも、高純度の水酸化第四アン
モニウム水溶液を製造することができる水酸化第四アン
モニウム水溶液の製造法を提供するものである。
提案した第四アンモニウム塩としてトリアルキルアミン
と炭酸ジアルキルとを反応させて得られた第四アンモニ
ウムの無機酸塩を使用する発明の改良に係るもので、陽
極として比較的安価なニッケル電極を使用するほかその
電極の消耗が少なく、しかも、高純度の水酸化第四アン
モニウム水溶液を製造することができる水酸化第四アン
モニウム水溶液の製造法を提供するものである。
すなわち、本発明は、トリアルキルアミンと炭酸ジアル
キルとを反応させて第四アンモニウムの無機V塩を合成
し、次いで、陽イオン交換膜を隔膜とし、かつ、少なく
とも陽極がニッケル電極で構成された電解槽を用いて上
記無機M塩を電解する水酸化第四アンモニウム水溶液の
製造法でおる。
キルとを反応させて第四アンモニウムの無機V塩を合成
し、次いで、陽イオン交換膜を隔膜とし、かつ、少なく
とも陽極がニッケル電極で構成された電解槽を用いて上
記無機M塩を電解する水酸化第四アンモニウム水溶液の
製造法でおる。
本発明において使用されるトリアルキルアミンとしては
、好ましくはトリメチルアミンやトリエチルアミンを挙
げることができ、また、炭酸ジアルキルとしては、好ま
しくは炭酸ジメチルヤ炭酸ジエチルを挙げることができ
、これらは好ましくはメタノールやエタノールの溶媒中
で反応させて第四アンモニウムの無機酸塩を製造する。
、好ましくはトリメチルアミンやトリエチルアミンを挙
げることができ、また、炭酸ジアルキルとしては、好ま
しくは炭酸ジメチルヤ炭酸ジエチルを挙げることができ
、これらは好ましくはメタノールやエタノールの溶媒中
で反応させて第四アンモニウムの無機酸塩を製造する。
この第四アンモニウムの無機酸塩を製造する際における
反応条件については、トリアルキルアミンと炭酸ジアル
キルの反応モル比が、炭酸ジアルキル1モルに対してト
リアルキルアミン1モル以上、好ましくは2モル以上で
あり、反応温度が100〜150’C,好ましくは14
0〜150’Cであり、反応圧力が通常6.○〜20
b/ crtrであって、反応時間は通常2時間以上、
好ましくは4時間以上である。例えば、炭酸ジメチル1
モルに対してトリメチルアミン2モルを加え、反応温度
140’C1反応圧力16KFl/ci、反応時間5.
5時間の条件で反応させた場合、第四アンモニウムイオ
ンが2つついた炭酸ジテトラメチルアンモニウムが90
%以上の割合で合成されることが確認されている。
反応条件については、トリアルキルアミンと炭酸ジアル
キルの反応モル比が、炭酸ジアルキル1モルに対してト
リアルキルアミン1モル以上、好ましくは2モル以上で
あり、反応温度が100〜150’C,好ましくは14
0〜150’Cであり、反応圧力が通常6.○〜20
b/ crtrであって、反応時間は通常2時間以上、
好ましくは4時間以上である。例えば、炭酸ジメチル1
モルに対してトリメチルアミン2モルを加え、反応温度
140’C1反応圧力16KFl/ci、反応時間5.
5時間の条件で反応させた場合、第四アンモニウムイオ
ンが2つついた炭酸ジテトラメチルアンモニウムが90
%以上の割合で合成されることが確認されている。
そして、上記反応によって得られた反応生成物からメチ
ルアルコール等の反応溶媒、未反応のトリアルキルアミ
ン、炭酸ジアルキル等を蒸溜又は減圧蒸溜して除去し、
次いでこの反応生成物を純水に溶解して再度蒸溜又は減
圧蒸溜する。なお、この蒸溜処理後の上記反応生成物中
には、第四アンモニウムが1つ付いた炭酸アルキルテト
ラアルキルアンモニウムは含まれていないことが確認さ
れている。
ルアルコール等の反応溶媒、未反応のトリアルキルアミ
ン、炭酸ジアルキル等を蒸溜又は減圧蒸溜して除去し、
次いでこの反応生成物を純水に溶解して再度蒸溜又は減
圧蒸溜する。なお、この蒸溜処理後の上記反応生成物中
には、第四アンモニウムが1つ付いた炭酸アルキルテト
ラアルキルアンモニウムは含まれていないことが確認さ
れている。
次いで、上記反応生成物である第四アンモニウムの無機
酸塩、具体的には炭酸ジテトラアルキルアンモニウム、
炭酸水素テトラアルキルアンモニウムあるいはこれ等の
混合物の水溶液は、陽イオン交換膜を隔膜とした電解槽
の陽極室に供給され、直流電圧が印加されて電解され、
この電解によって生成した第四アンモニウムイオンは上
記陽イオン交換膜を通過して陰極室に移動し、この陰極
室内に水酸化第四アンモニウムが蓄積される。この時、
陰極では水素が発生し、また、陽極では炭酸ガスや酸素
が発生する。
酸塩、具体的には炭酸ジテトラアルキルアンモニウム、
炭酸水素テトラアルキルアンモニウムあるいはこれ等の
混合物の水溶液は、陽イオン交換膜を隔膜とした電解槽
の陽極室に供給され、直流電圧が印加されて電解され、
この電解によって生成した第四アンモニウムイオンは上
記陽イオン交換膜を通過して陰極室に移動し、この陰極
室内に水酸化第四アンモニウムが蓄積される。この時、
陰極では水素が発生し、また、陽極では炭酸ガスや酸素
が発生する。
本発明では、上記電解槽で使用する電極のうち、少なく
とも陽極についてはニッケル電極を使用する。
とも陽極についてはニッケル電極を使用する。
また、陰極については、それが耐アルカリ性の電極であ
ればいずれのものでもよいが、好ましくは耐アルカリ性
に優れたステンレス電極ヤニツケル電極等が使用される
。
ればいずれのものでもよいが、好ましくは耐アルカリ性
に優れたステンレス電極ヤニツケル電極等が使用される
。
ざらに、上記陽イオン交換膜としては、耐久性の優れた
フルオロカーボン系の交換膜を用いることが好ましいが
、本発明では電解中に陽イオン交換膜に対して悪影響を
及ぼすバログンイオンやギ酸イオンが発生しないため、
安価なポリスヂレン系やポリプロプレン系の交換膜も使
用することができる。
フルオロカーボン系の交換膜を用いることが好ましいが
、本発明では電解中に陽イオン交換膜に対して悪影響を
及ぼすバログンイオンやギ酸イオンが発生しないため、
安価なポリスヂレン系やポリプロプレン系の交換膜も使
用することができる。
上記電解槽での電解にあたっては、第四アンモニウム無
機酸塩の水溶液を循環式で陽極室に供給すると共に陰極
室には純水を供給し、陽極室及び陰極室内の多液の滞留
時間を60秒間以内、好ましくは1〜10秒間に設定し
、電流密度を1〜50△/dm2の範囲に設定して行う
のが好ましい。
機酸塩の水溶液を循環式で陽極室に供給すると共に陰極
室には純水を供給し、陽極室及び陰極室内の多液の滞留
時間を60秒間以内、好ましくは1〜10秒間に設定し
、電流密度を1〜50△/dm2の範囲に設定して行う
のが好ましい。
この際、陽極室内に供給される上記無機酸塩の水溶液は
その濃度を60Iffi%以内、好ましくは5〜40重
量%に設定するのがよく、また、陰極室内に供給される
純水については、その電気伝導度が低くて運転開始時に
は電解が起り難いので、運転開始時のみ水酸化第四アン
モニウムを0.01〜1.0fflffi%程度添加し
たものを使用するのがよい。
その濃度を60Iffi%以内、好ましくは5〜40重
量%に設定するのがよく、また、陰極室内に供給される
純水については、その電気伝導度が低くて運転開始時に
は電解が起り難いので、運転開始時のみ水酸化第四アン
モニウムを0.01〜1.0fflffi%程度添加し
たものを使用するのがよい。
なあ、本発明は超高純度の水酸化第四アンモニウム水溶
液の製造を目的とすることがら、原料であるトリアルキ
ルアミンや炭酸ジアルキル並びに純水等は高純度に精製
されたものを用いることは勿論、電解槽の各部材や循環
液の貯槽等を予め充分に洗浄処理することが望ましい。
液の製造を目的とすることがら、原料であるトリアルキ
ルアミンや炭酸ジアルキル並びに純水等は高純度に精製
されたものを用いることは勿論、電解槽の各部材や循環
液の貯槽等を予め充分に洗浄処理することが望ましい。
また、電解槽や貯槽は系外からの不純物の混入を防止す
るために、高純度の不活性ガスでシールすることが望ま
しい。
るために、高純度の不活性ガスでシールすることが望ま
しい。
[作用]
本発明においては、トリアルキルアミンと炭酸ジアルキ
ルとの反応により合成された第四アンモニウムの無機酸
塩をニッケル電極からなる陽極を備えた電解槽で電解す
ることにより、陽極の消耗を極力抑えることができるほ
か、このニッケル電極の消耗によって生じた微量のニッ
ケルイオンが陰極室側へ透過するのを陽イオン交換膜で
効果的に防止できるものと考えられる。
ルとの反応により合成された第四アンモニウムの無機酸
塩をニッケル電極からなる陽極を備えた電解槽で電解す
ることにより、陽極の消耗を極力抑えることができるほ
か、このニッケル電極の消耗によって生じた微量のニッ
ケルイオンが陰極室側へ透過するのを陽イオン交換膜で
効果的に防止できるものと考えられる。
[実施例]
以下、実施例及び比較例に基いて、本発明を具体的に説
明する。
明する。
実施例1
耐圧性の反応容器内にトリメチルアミン124g(約2
.1mole) 、炭酸ジメチル95g(約1゜Q5m
O1e)及びメチルアルコール200yを充填して溶解
し、これを反応温度120’C1反応圧力13Kg/c
ri及び反応時間5.5時間の条件で反応させ、反応混
合物から溶媒のメチルアルコールと未反応原料のトリメ
チルアミン及び炭酸ジメチルを減圧蒸溜により分離除去
し、次いで(qられた反応生成物を純水0.2J2に溶
解し、再度減圧蒸溜して水溶液中に残留するメチルアル
コール等を完全に除去した後、再度純水を加えて濃度0
.65mole/f!の第四アンモニウム無′fA酸塩
水溶液2゜5!2を(qた。
.1mole) 、炭酸ジメチル95g(約1゜Q5m
O1e)及びメチルアルコール200yを充填して溶解
し、これを反応温度120’C1反応圧力13Kg/c
ri及び反応時間5.5時間の条件で反応させ、反応混
合物から溶媒のメチルアルコールと未反応原料のトリメ
チルアミン及び炭酸ジメチルを減圧蒸溜により分離除去
し、次いで(qられた反応生成物を純水0.2J2に溶
解し、再度減圧蒸溜して水溶液中に残留するメチルアル
コール等を完全に除去した後、再度純水を加えて濃度0
.65mole/f!の第四アンモニウム無′fA酸塩
水溶液2゜5!2を(qた。
一方、ポリプロピレン製の陰極室内にニッケル電極を陽
極として挿入し、また、ステンレス(SUS304)&
jの陰極室内にステンレス(SUS304)電極を陰極
として挿入し、これら陽極室との間にフルオロカーボン
系のイオン交換膜(デュポン■製:ナフィオン(Naf
ion)324 )を配置した構造の電解槽を用意した
。
極として挿入し、また、ステンレス(SUS304)&
jの陰極室内にステンレス(SUS304)電極を陰極
として挿入し、これら陽極室との間にフルオロカーボン
系のイオン交換膜(デュポン■製:ナフィオン(Naf
ion)324 )を配置した構造の電解槽を用意した
。
この電解槽の陰極室内に上記第四アンモニウム無機酸塩
の水溶液を滞留時間2.5秒間の条件で循環させると共
に、陰極室内に0.19の水酸化テトラメチルアンモニ
ウム水溶液を滞留時間5秒間の条件で循環させ、陽極と
陰極との間に電圧13V、i流約2.0A/dm2の直
流を印加して約32時間の電解を11い、水酸化テトラ
メチルアンモニウム175gが溶解された水溶液を製造
した。
の水溶液を滞留時間2.5秒間の条件で循環させると共
に、陰極室内に0.19の水酸化テトラメチルアンモニ
ウム水溶液を滞留時間5秒間の条件で循環させ、陽極と
陰極との間に電圧13V、i流約2.0A/dm2の直
流を印加して約32時間の電解を11い、水酸化テトラ
メチルアンモニウム175gが溶解された水溶液を製造
した。
電解聞知時及びその後一定時間毎に陽極液及び陰極液を
採取し、そのニッケル′fA度をIPC発光分光分析法
及びフレームレス原子吸光分析法で測定すると共に、隠
所液中の水酸化テトラメチルアンモニウム(T)fA)
I)W度を測定した。結果を第1表に示す。
採取し、そのニッケル′fA度をIPC発光分光分析法
及びフレームレス原子吸光分析法で測定すると共に、隠
所液中の水酸化テトラメチルアンモニウム(T)fA)
I)W度を測定した。結果を第1表に示す。
第1表
比較例1
第四アンモニウムの無機酸塩として蟻酸ブトラメチルア
ンモニウムを使用した以外は上記実施例1と同様の争件
で電解を行った。この比較例1の場合には、電解開始後
約15時間後に陰極液が濃い緑色に@邑し、陽極として
使用したニッケル電極が著しく腐蝕し消耗したのでこの
時点で電解を中止した。上記実施例1の場合と同様にし
て測定した陰極液及び陰極液のニッケル濃度及び陰極液
中の水酸化テトラメチルアンモニウム(T)仏11)濃
度を第2表に示す。
ンモニウムを使用した以外は上記実施例1と同様の争件
で電解を行った。この比較例1の場合には、電解開始後
約15時間後に陰極液が濃い緑色に@邑し、陽極として
使用したニッケル電極が著しく腐蝕し消耗したのでこの
時点で電解を中止した。上記実施例1の場合と同様にし
て測定した陰極液及び陰極液のニッケル濃度及び陰極液
中の水酸化テトラメチルアンモニウム(T)仏11)濃
度を第2表に示す。
第2表
比較例2
陽極として黒鉛電極を使用した以外は上記実施例1と同
様の条件で32時間電解を行った。
様の条件で32時間電解を行った。
この比較例2の場合には、6時間毎に陽極液の全量を0
.2μ瓦のフィルターで濾過し、黒鉛微粒子を採取して
乾燥し、その重量を測定した。結果を第3表に示す。
.2μ瓦のフィルターで濾過し、黒鉛微粒子を採取して
乾燥し、その重量を測定した。結果を第3表に示す。
第 3 表
比較例3
陽極としてステンレス(StJS304)電極を使用し
た以外は上記実施例1と同様の条件で電解を行った。こ
の比較例3の場合には、上記実施例1の場合と同様にし
て、陽極液及び陰極液中の鉄濃度及びクロム濃度並びに
陰極液中の水酸化ブートラメチルアンモニウム(T)I
AH)18度を測定した。
た以外は上記実施例1と同様の条件で電解を行った。こ
の比較例3の場合には、上記実施例1の場合と同様にし
て、陽極液及び陰極液中の鉄濃度及びクロム濃度並びに
陰極液中の水酸化ブートラメチルアンモニウム(T)I
AH)18度を測定した。
結果を第4表に示す。
第4表
[発明の効果1
本発明方法によれば、陽極として比較的安価なニッケル
電極を使用することができるほか、この電極の消耗が少
なく、また、半導体装置の製造工程で有害な金属イオン
等の不純物が極めて少ないだけでなく黒鉛微粒子も全く
混入することがなく、しかも、貯蔵容器の腐蝕の問題を
引起すハロゲンイオン等の不純物も含まれていない高純
度で貯蔵安定性に優れた水酸化第四アンモニウム水溶液
を製造することができる。
電極を使用することができるほか、この電極の消耗が少
なく、また、半導体装置の製造工程で有害な金属イオン
等の不純物が極めて少ないだけでなく黒鉛微粒子も全く
混入することがなく、しかも、貯蔵容器の腐蝕の問題を
引起すハロゲンイオン等の不純物も含まれていない高純
度で貯蔵安定性に優れた水酸化第四アンモニウム水溶液
を製造することができる。
Claims (4)
- (1)トリアルキルアミンと炭酸ジアルキルとを反応さ
せて第四アンモニウムの無機酸塩を合成し、次いで、陽
イオン交換膜を隔膜とし、かつ、少なくとも陽極がニッ
ケル電極で構成された電解槽を用いて上記無機酸塩を電
解することを特徴とする水酸化第四アンモニウム水溶液
の製造法。 - (2)無機酸塩が炭酸ジテトラメチルアンモニウムであ
る特許請求の範囲第1項記載の水酸化第四アンモニウム
水溶液の製造法。 - (3)無機酸塩が炭酸水素テトラメチルアンモニウムで
ある特許請求の範囲第1項記載の水酸化第四アンモニウ
ム水溶液の製造法。 - (4)無機酸塩が炭酸ジテトラメチルアンモニウムと炭
酸水素テトラメチルアンモニウムの混合物である特許請
求の範囲第1項記載の水酸化第四アンモニウム水溶液の
製造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61165469A JPH0788593B2 (ja) | 1986-07-16 | 1986-07-16 | 水酸化第四アンモニウム水溶液の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61165469A JPH0788593B2 (ja) | 1986-07-16 | 1986-07-16 | 水酸化第四アンモニウム水溶液の製造法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6324080A true JPS6324080A (ja) | 1988-02-01 |
| JPH0788593B2 JPH0788593B2 (ja) | 1995-09-27 |
Family
ID=15813005
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61165469A Expired - Lifetime JPH0788593B2 (ja) | 1986-07-16 | 1986-07-16 | 水酸化第四アンモニウム水溶液の製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0788593B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63134684A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-07 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 第四級アンモニウム水酸化物の製造法 |
| EP0291074A3 (en) * | 1987-05-13 | 1989-07-19 | Mitsubishi Petrochemical Co., Ltd. | Process for producing quaternary salts |
-
1986
- 1986-07-16 JP JP61165469A patent/JPH0788593B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63134684A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-07 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 第四級アンモニウム水酸化物の製造法 |
| EP0291074A3 (en) * | 1987-05-13 | 1989-07-19 | Mitsubishi Petrochemical Co., Ltd. | Process for producing quaternary salts |
| US4892944A (en) * | 1987-05-13 | 1990-01-09 | Mitsubishi Petrochemical Co., Ltd. | Process for producing quaternary salts |
| EP0291074B1 (en) * | 1987-05-13 | 1992-01-29 | Mitsubishi Petrochemical Co., Ltd. | Process for producing quaternary salts |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0788593B2 (ja) | 1995-09-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6315355B2 (ja) | ||
| US3761369A (en) | Process for the electrolytic reclamation of spent etching fluids | |
| JP3383334B2 (ja) | 硫酸の再生利用方法 | |
| Baticle et al. | Treatment of nickel containing industrial effluents with a hybrid process comprising of polymer complexation–ultrafiltration–electrolysis | |
| CN101811760B (zh) | 用于纯化含硅酸盐的氢氧化钾蚀刻液的电渗析方法 | |
| JPS59107087A (ja) | 有機化合物製造用電解法および槽 | |
| TWI419999B (zh) | 電解方法 | |
| JPH0336914B2 (ja) | ||
| CN102002729A (zh) | 含铜蚀刻废液的处理方法与蚀刻溶液再生方法 | |
| JP4114848B2 (ja) | アルカリ溶液の精製装置及びその方法 | |
| JPS62161973A (ja) | 高純度炭酸リチウムの製造方法 | |
| US7074316B2 (en) | Functional water, method and apparatus of producing the same, and method and apparatus of rinsing electronic parts therewith | |
| JP4810436B2 (ja) | 現像廃液の処理方法 | |
| TW200302128A (en) | Purification of onium hydroxides by electrodialysis | |
| JPS6133914B2 (ja) | ||
| JPS60131985A (ja) | 高純度第4級アンモニウム水酸化物の製造法 | |
| TW201031604A (en) | Electrodialysis method for purifying of silicate-containing potassium hydroxide etching solution | |
| JPS6324080A (ja) | 水酸化第四アンモニウム水溶液の製造法 | |
| JP2005052794A (ja) | 水溶液の処理方法および装置 | |
| JPH05139707A (ja) | 硫酸の回収方法 | |
| JPS622036B2 (ja) | ||
| JP2637112B2 (ja) | 水酸化第四級アンモニウムの製造方法 | |
| JPH03153891A (ja) | 第四アンモニウム水酸化物の電解製造装置 | |
| JP5231067B2 (ja) | 多硫化物の製造に用いる電解槽の性能回復方法及び多硫化物の製造方法 | |
| JPS59193289A (ja) | 高純度第4アンモニウム水酸化物の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |