JPS63262462A - プラズマ制御マグネトロンスパツタリング装置及び方法 - Google Patents
プラズマ制御マグネトロンスパツタリング装置及び方法Info
- Publication number
- JPS63262462A JPS63262462A JP9317587A JP9317587A JPS63262462A JP S63262462 A JPS63262462 A JP S63262462A JP 9317587 A JP9317587 A JP 9317587A JP 9317587 A JP9317587 A JP 9317587A JP S63262462 A JPS63262462 A JP S63262462A
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- Japan
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- plasma
- magnetic field
- magnetron sputtering
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は少なくとも二種類の元素から成る組成の異なる
部分構造の組み合わせからなるターゲットを用い、プラ
ズマ分布を変えターゲットのスパックされる領域を移動
させることによって堆積膜の成分組成を厚さ方向に変化
させることができるプラズマ制御マグネトロンスパッタ
リ゛ング装置及び方法に関する。
部分構造の組み合わせからなるターゲットを用い、プラ
ズマ分布を変えターゲットのスパックされる領域を移動
させることによって堆積膜の成分組成を厚さ方向に変化
させることができるプラズマ制御マグネトロンスパッタ
リ゛ング装置及び方法に関する。
直流または交流マグネトロンスパッタリングにおいて、
ターゲット裏面のマグネトロン磁石に加え、ターゲット
の前部側面にソレノイドコイルを設置し、両磁石の合成
磁界を変えることによりプラズマ分布を変化させるプラ
ズマ制御マグネトロンスパッタリング装置については本
発明者が既に出願を行っている(特願昭61−1833
75号)。この装置を用いることにより、厚さ方向に組
成分布が変化する堆積膜を基板上に形成することが可能
であり、例えば半導体の配線、電極などの有用な部材を
提供できる。
ターゲット裏面のマグネトロン磁石に加え、ターゲット
の前部側面にソレノイドコイルを設置し、両磁石の合成
磁界を変えることによりプラズマ分布を変化させるプラ
ズマ制御マグネトロンスパッタリング装置については本
発明者が既に出願を行っている(特願昭61−1833
75号)。この装置を用いることにより、厚さ方向に組
成分布が変化する堆積膜を基板上に形成することが可能
であり、例えば半導体の配線、電極などの有用な部材を
提供できる。
二の装置においては前面ソレノイド磁石を真空室の外周
部に設置しておりターゲットと前面ソレノイド磁石との
距離が大きく、従ってプラズマ分布を変化させるために
は前面ソレノイド磁石を強くする必要があり、このため
装置が大きくなったり、大きな電流を必要とするなどの
若干の問題があった。
部に設置しておりターゲットと前面ソレノイド磁石との
距離が大きく、従ってプラズマ分布を変化させるために
は前面ソレノイド磁石を強くする必要があり、このため
装置が大きくなったり、大きな電流を必要とするなどの
若干の問題があった。
本発明者はさらに使用特性、実用性に優れたプラズマ制
御マグネトロンスパッタリング装置及びその方法を開発
すべく鋭意検討の結果、本発明に到達した。
御マグネトロンスパッタリング装置及びその方法を開発
すべく鋭意検討の結果、本発明に到達した。
本発明は、(1)直流または交流マグネトロンスパッタ
リング装置において、ターゲット裏面及び基板裏面にそ
れぞれ磁極を設け、これら磁極の少なくとも一つの磁界
強度または極性を変化させることのできる磁界調節装置
を備えることを特徴とするプラズマ制御マグネトロンス
パッタリング装置、及び(2)直流または交流マグネト
ロンスパッタリング法において、ターゲット裏面及び基
板裏面にそれぞれ磁極を設け、これら磁極の少なくとも
一つの磁界強度または極性を変更し、ターゲットに接す
るプラズマの分布を調節することにより1スパツタリン
グを行うことを特徴とするプラズマ制御マグネトロンス
パッタリング法に関する。
リング装置において、ターゲット裏面及び基板裏面にそ
れぞれ磁極を設け、これら磁極の少なくとも一つの磁界
強度または極性を変化させることのできる磁界調節装置
を備えることを特徴とするプラズマ制御マグネトロンス
パッタリング装置、及び(2)直流または交流マグネト
ロンスパッタリング法において、ターゲット裏面及び基
板裏面にそれぞれ磁極を設け、これら磁極の少なくとも
一つの磁界強度または極性を変更し、ターゲットに接す
るプラズマの分布を調節することにより1スパツタリン
グを行うことを特徴とするプラズマ制御マグネトロンス
パッタリング法に関する。
また設置位置微動調節装置により誘導部材の一部を可動
とする事によりターゲットまたは基板の位置を微調整し
、最適の位置関係を得るようにすることができる。
とする事によりターゲットまたは基板の位置を微調整し
、最適の位置関係を得るようにすることができる。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明の装置の一実施例を示す縦断面図である
。
。
ターゲット7の裏面にターゲット裏面磁極1が設けられ
、基板8の裏面に基板裏面磁極9として永久磁石4が設
けられている。ターゲット裏面磁極1としてはソレノイ
ドコイル2または永久磁石の何れであってもよい。永久
磁石4は、上下方向に可動であり真空室の外部に一端が
突き出た誘導部材5に取りつけられている。誘導部材5
は図示しない設置位置微動調節装置によって上下方向に
移動させることができる。誘導部材の材質は磁力線によ
り帯iffできるものである限り特に制限はなく、例え
ばステンレスで表面被覆された珪素鉄であることができ
る。誘導部材を設けたことにより真空室の小型化、装置
の簡素化が可能である。
、基板8の裏面に基板裏面磁極9として永久磁石4が設
けられている。ターゲット裏面磁極1としてはソレノイ
ドコイル2または永久磁石の何れであってもよい。永久
磁石4は、上下方向に可動であり真空室の外部に一端が
突き出た誘導部材5に取りつけられている。誘導部材5
は図示しない設置位置微動調節装置によって上下方向に
移動させることができる。誘導部材の材質は磁力線によ
り帯iffできるものである限り特に制限はなく、例え
ばステンレスで表面被覆された珪素鉄であることができ
る。誘導部材を設けたことにより真空室の小型化、装置
の簡素化が可能である。
真空室の外部にソレノイドコイル6が設置されており、
その磁界の強さまたは極性は、ソレノイドコイル6に接
続された磁界調整装置11により “任意に変化
させることができる。磁界調整装置11の具体例として
はトランスフォーマ−1極性切換えスイ・ツチまたはパ
ルス発生器を挙げることができる。
その磁界の強さまたは極性は、ソレノイドコイル6に接
続された磁界調整装置11により “任意に変化
させることができる。磁界調整装置11の具体例として
はトランスフォーマ−1極性切換えスイ・ツチまたはパ
ルス発生器を挙げることができる。
真空室外部のソレノイドコイル6の磁界の方向は中央部
のターゲット裏面磁極1とは逆の方向に設定されている
。
のターゲット裏面磁極1とは逆の方向に設定されている
。
ターゲットの外側前方に補助磁極3が設けられており、
補助磁極3によりターゲット7近傍の磁界が吸引される
。各磁極の合成磁界は第1図において矢印を有する線で
示したような分布を示す。
補助磁極3によりターゲット7近傍の磁界が吸引される
。各磁極の合成磁界は第1図において矢印を有する線で
示したような分布を示す。
基板裏面磁極9の磁界とはこの例の場合基板裏面の永久
磁石4の磁界と誘導部材5により真空室内に誘導された
真空室外部のソレノイドコイル6の磁界との合成磁界を
指すものとする。
磁石4の磁界と誘導部材5により真空室内に誘導された
真空室外部のソレノイドコイル6の磁界との合成磁界を
指すものとする。
第2図に、本発明のもう一つの例を示す。第2図(a)
のような並行板状に配置されたターゲットを用い、第2
図(b)のような複数のソレノイドコイルをターゲット
裏面に配置した装置において、ソレノイドコイル10a
とソレノイドコイル10bとは独立に磁界の強さ、極性
を変える事ができる。第2図(b)にはソレノイドコイ
ルlOaの極性を基板磁極9とは逆方向、ソレノイドコ
イル10bの極性を基板磁極と同じにした場合の磁界分
布を例示している。
のような並行板状に配置されたターゲットを用い、第2
図(b)のような複数のソレノイドコイルをターゲット
裏面に配置した装置において、ソレノイドコイル10a
とソレノイドコイル10bとは独立に磁界の強さ、極性
を変える事ができる。第2図(b)にはソレノイドコイ
ルlOaの極性を基板磁極9とは逆方向、ソレノイドコ
イル10bの極性を基板磁極と同じにした場合の磁界分
布を例示している。
ターゲッI−A近傍の合成磁界はターゲットに対し並行
、ターゲラ)B近傍の合成磁界はターゲットに対し垂直
の成分が主となり、ターゲラ)Aがスパッタされるのに
対し、ターゲットBはスパックされない。従って堆積膜
には主としてA成分が含まれることになる。
、ターゲラ)B近傍の合成磁界はターゲットに対し垂直
の成分が主となり、ターゲラ)Aがスパッタされるのに
対し、ターゲットBはスパックされない。従って堆積膜
には主としてA成分が含まれることになる。
ある時点でソレノイドコイル10a、10bの極性を逆
転させると磁界分布は反転し、ターゲットBが主として
スパックされて、堆積膜の主成分をB成分に切り換える
ことができる。
転させると磁界分布は反転し、ターゲットBが主として
スパックされて、堆積膜の主成分をB成分に切り換える
ことができる。
ソレノイドコイル10a、10bの極性を同方向にすれ
ば両成分を同時スパッタも可能である。
ば両成分を同時スパッタも可能である。
この場合、ソレノイドコイル10a、・10bの磁界の
強さを変えることにより堆積膜中のA成分、B成分の比
率を任意に変えることができる。
強さを変えることにより堆積膜中のA成分、B成分の比
率を任意に変えることができる。
第1図の装置において、第7図に示す形状のターゲット
7を用い、ターゲットX面磁極lの強さを変えた場合の
磁力線の方向とスパックされる位置を示す部分図を第3
図に示す。
7を用い、ターゲットX面磁極lの強さを変えた場合の
磁力線の方向とスパックされる位置を示す部分図を第3
図に示す。
第3図(a)、(b)に磁界の強さを変化させた場合の
スパッタされる位置の変化の様子を示す。
スパッタされる位置の変化の様子を示す。
基板裏面磁極9の磁界を強めターゲット裏面磁極lを弱
めると第3図(a)のように合成磁界は変化し、外周辺
の部分がスパッタされる。また基板裏面磁極9の磁界を
弱めターゲット裏面磁極lの磁界を強めると第3図(b
)のように合成磁界は変化し、ターゲットの中央部分が
スパッタされる。
めると第3図(a)のように合成磁界は変化し、外周辺
の部分がスパッタされる。また基板裏面磁極9の磁界を
弱めターゲット裏面磁極lの磁界を強めると第3図(b
)のように合成磁界は変化し、ターゲットの中央部分が
スパッタされる。
また誘導部材5を上下方向に移動し基板8とターゲット
7との距離を変えても類似の効果が得られる。基板8の
磁界の強さを変える代わりにターゲット裏面磁極1の磁
界の強さまたはターゲット裏面磁極1とターゲット7と
の距離を変えても同様の効果が得られる。
7との距離を変えても類似の効果が得られる。基板8の
磁界の強さを変える代わりにターゲット裏面磁極1の磁
界の強さまたはターゲット裏面磁極1とターゲット7と
の距離を変えても同様の効果が得られる。
さらにソレノイドコイル6及び/または2に流す電流を
パルス発生器10により変調し、磁界の強さをパルス状
とする事により印加磁界の強さを時間的にパルス変化さ
せる事も可能である。
パルス発生器10により変調し、磁界の強さをパルス状
とする事により印加磁界の強さを時間的にパルス変化さ
せる事も可能である。
本発明の厚さ方向に組成が変化する堆積膜を形成する方
法につき、第1図の装置を例として説明する。
法につき、第1図の装置を例として説明する。
第4図(g)にターゲット配置の一例を示す。
同心円状にA、Bの二種のターゲットが配置されている
。
。
一例として第1図の装置において、ターゲット裏面磁石
1の磁界の強さを一定とし、ソレノイドコイル6の電源
回路にパルス発生器10を設け、ソレノイドコイル6に
かける電圧を変えて基板磁界の強さを第4図(C)のよ
うに変えた場合、ターゲット上のプラズマの位置は第4
図(a)、(b)の様に制御される。
1の磁界の強さを一定とし、ソレノイドコイル6の電源
回路にパルス発生器10を設け、ソレノイドコイル6に
かける電圧を変えて基板磁界の強さを第4図(C)のよ
うに変えた場合、ターゲット上のプラズマの位置は第4
図(a)、(b)の様に制御される。
材料Aを飛ばすには基板磁界の強さBsをプラズマ密度
の高い点が材料A上に来る値(Bo)に設定する。Bs
をそれより弱いB1にすると第4図(b)に示すように
プラズマはターゲットの外周辺まで移動し材料Bと材料
Aが同時にスパッタされる。材料Aが材料已に混入する
割合はターゲットの配置とB1.の値による。
の高い点が材料A上に来る値(Bo)に設定する。Bs
をそれより弱いB1にすると第4図(b)に示すように
プラズマはターゲットの外周辺まで移動し材料Bと材料
Aが同時にスパッタされる。材料Aが材料已に混入する
割合はターゲットの配置とB1.の値による。
従って、二層膜を堆積するには例えばまずBs” B
oで所望の膜厚までAを堆積し、次いでBs” B I
でA、Bの混合膜をその上に堆積すればよい〔第4図(
d))、第4図(C)のデユーティ比および繰り返し周
波数を調節することによりA。
oで所望の膜厚までAを堆積し、次いでBs” B I
でA、Bの混合膜をその上に堆積すればよい〔第4図(
d))、第4図(C)のデユーティ比および繰り返し周
波数を調節することによりA。
Bの混合比及び膜厚を望む値に調節できる。例えば、堆
積膜の表面に向けて、膜Aの厚みを順次減少させ、Aと
Bの混合膜の厚みを順次増大させることもできる〔第4
図(f)〕。またAとBの混金膜中のBの混合割合を次
第うこ増大させることもできる。またプラズマ位置の切
換えを第4図(C)のように三位置間で不連続に切り換
えるのではなく、連続的に変化させることにより各堆積
膜間の界面層の組成を連続的に変化することもできる。
積膜の表面に向けて、膜Aの厚みを順次減少させ、Aと
Bの混合膜の厚みを順次増大させることもできる〔第4
図(f)〕。またAとBの混金膜中のBの混合割合を次
第うこ増大させることもできる。またプラズマ位置の切
換えを第4図(C)のように三位置間で不連続に切り換
えるのではなく、連続的に変化させることにより各堆積
膜間の界面層の組成を連続的に変化することもできる。
さら磁界の強さBsを適当に設定すればA、Bを各単独
に堆積することも可能である〔第4図(e)〕。同様に
A、B、B’等の種々の組み合わせの多層膜や連続的に
組成の変化する膜を形成することができる。
に堆積することも可能である〔第4図(e)〕。同様に
A、B、B’等の種々の組み合わせの多層膜や連続的に
組成の変化する膜を形成することができる。
以下、製造例により本発明を更に具体的に説明する。
製造例1
同心円状に配置されたAおよびBターゲット(A:シリ
コン、B:チタン、タングステン、モリブデンなどの高
融点金属)を用い、基Vi、磁界の強さを調節してスパ
ック初期にはプラズマがAターゲットのみに接触し、ス
パッタ後期にはプラズマがA、8両ターゲットに接触す
るように運転する。生成した膜の断面は下層がポリシリ
コン、上層がチタンとシリコンの合金などの高融点金属
合金からなる二層膜となった(第5図)。
コン、B:チタン、タングステン、モリブデンなどの高
融点金属)を用い、基Vi、磁界の強さを調節してスパ
ック初期にはプラズマがAターゲットのみに接触し、ス
パッタ後期にはプラズマがA、8両ターゲットに接触す
るように運転する。生成した膜の断面は下層がポリシリ
コン、上層がチタンとシリコンの合金などの高融点金属
合金からなる二層膜となった(第5図)。
製造例2
同心円状に配置されたAおよびBターゲット(A:シリ
コン、B:モリブデン、タングステン、チタンなどの高
融点金属)を用い基板磁界の強さを調節して、スパック
初期にはシリコンのみにプラズマが接触、中期には基板
磁界の強さを徐々に弱めて行きスパッタ後期には両ター
ゲットにプラズマが接触するように運転した。
コン、B:モリブデン、タングステン、チタンなどの高
融点金属)を用い基板磁界の強さを調節して、スパック
初期にはシリコンのみにプラズマが接触、中期には基板
磁界の強さを徐々に弱めて行きスパッタ後期には両ター
ゲットにプラズマが接触するように運転した。
得られた膜の断面は下層がポリシリコン、中層は連続的
に組成が変化して上層の高融点金属シリコン合金につな
がる三層構造となった(第6図)。
に組成が変化して上層の高融点金属シリコン合金につな
がる三層構造となった(第6図)。
製造例3
ターゲットとして第7図に示したような角型形状のもの
を用い並行板状に配置されたAおよびBターゲットをも
つ角型スパッタ装置を用い(A:モリブデン、B:シリ
コン)、基Vi磁界の強さを調節してスパッタ初期には
プラズマが両ターゲットに接触し、のち次第に圧縮され
てAターゲットのみに接触するように運転した。
を用い並行板状に配置されたAおよびBターゲットをも
つ角型スパッタ装置を用い(A:モリブデン、B:シリ
コン)、基Vi磁界の強さを調節してスパッタ初期には
プラズマが両ターゲットに接触し、のち次第に圧縮され
てAターゲットのみに接触するように運転した。
下層で謹やかに組成が変化する金属膜が得られ、はがれ
などのトラブルが改善された(第8図)。
などのトラブルが改善された(第8図)。
製造例4
第1図の装置を用い、酸化イツトリウム/酸化イツトリ
ウムバリウム銅二成分ターゲシト上でプラズマを振動さ
せて酸化イツトリウム基板上に超格子膜を形成した。プ
ラズマの振動周期を次第にずらすことにより基板に近い
層では酸化イツトリウム層を厚く、酸化イットリウにバ
リウム銅層を薄<シ、堆積膜が基板から遠ざかるにつれ
次第に酸化イツトリウム層を薄く、酸化イツトリウムバ
リウム銅層を厚くした。1000℃のアニールでもクラ
ックのない良好な多層膜が得られた。
ウムバリウム銅二成分ターゲシト上でプラズマを振動さ
せて酸化イツトリウム基板上に超格子膜を形成した。プ
ラズマの振動周期を次第にずらすことにより基板に近い
層では酸化イツトリウム層を厚く、酸化イットリウにバ
リウム銅層を薄<シ、堆積膜が基板から遠ざかるにつれ
次第に酸化イツトリウム層を薄く、酸化イツトリウムバ
リウム銅層を厚くした。1000℃のアニールでもクラ
ックのない良好な多層膜が得られた。
本発明によれば、プラズマを制御することにより、成分
の異なるターゲットへのスパッタ比をコントロールして
スパッタ堆積膜の組成を容易にコントロールする方法及
びその装置を提供することができる。
の異なるターゲットへのスパッタ比をコントロールして
スパッタ堆積膜の組成を容易にコントロールする方法及
びその装置を提供することができる。
第1図は本発明にかかるプラズマ制御マグネトロンスパ
ッタリング装置の構造を表す継断面略図であり、第2図
(a)はターゲットの一例を示す図であり、第2図(b
)、第3図(a)及び第3図(b)は磁極の極性または
磁界の強さを変えた場合の磁力線の方向とスパッタされ
る位置を示す部分図であり、第4〜第8図はそれぞれ本
発明の実施態様を示す図である。 1・・・ターゲット裏面磁極、2.6.10a、10b
・・・ソレノイドコイル、3・・・補助&2m、4・・
・永久磁石、5・・・誘導部材、7・・・ターゲット、
8・・・基板、9・・・基板裏面磁極、11・・・磁界
調整装置(トランスフォーマ−1極性切換えスイッチ、
パルス発生器)。 特許出願人 宇部興産株式会社 第1図 第2図 <a) 第3図 (a) 第3図 (b) 84図 第4図 (d) (e) (f)第
5 図 (a) (bン (Cン 第6図 (a) (b) (C) 第8図 (a) (b) →時間 (Cン
ッタリング装置の構造を表す継断面略図であり、第2図
(a)はターゲットの一例を示す図であり、第2図(b
)、第3図(a)及び第3図(b)は磁極の極性または
磁界の強さを変えた場合の磁力線の方向とスパッタされ
る位置を示す部分図であり、第4〜第8図はそれぞれ本
発明の実施態様を示す図である。 1・・・ターゲット裏面磁極、2.6.10a、10b
・・・ソレノイドコイル、3・・・補助&2m、4・・
・永久磁石、5・・・誘導部材、7・・・ターゲット、
8・・・基板、9・・・基板裏面磁極、11・・・磁界
調整装置(トランスフォーマ−1極性切換えスイッチ、
パルス発生器)。 特許出願人 宇部興産株式会社 第1図 第2図 <a) 第3図 (a) 第3図 (b) 84図 第4図 (d) (e) (f)第
5 図 (a) (bン (Cン 第6図 (a) (b) (C) 第8図 (a) (b) →時間 (Cン
Claims (6)
- (1)直流または交流マグネトロンスパッタリング装置
において、 ターゲット裏面及び基板裏面にそれぞれ磁極を設け、こ
れら磁極の少なくとも一つの磁界強度または極性を変化
させることのできる磁界調節装置を備えることを特徴と
するプラズマ制御マグネトロンスパッタリング装置。 - (2)真空室の外部に磁場可変のソレノイドコイルを設
置し、帯磁しうる材質からなる誘導部材によりその磁力
線を基板またはターゲットに導くことを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載のプラズマ制御マグネトロンスパ
ッタリング装置。 - (3)ターゲットの外側前方に補助磁極を設けることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のプラズマ制御マ
グネトロンスパッタリング装置。 - (4)直流または交流マグネトロンスパッタリング法に
おいて、ターゲット裏面及び基板裏面にそれぞれ磁極を
設け、これら磁極の少なくとも一つの磁界強度または極
性を変更し、ターゲットに接するプラズマの分布を調節
することによりスパッタリングを行うことを特徴とする
プラズマ制御マグネトロンスパッタリング法。 - (5)ターゲットのスパッタさせたい領域ではターゲッ
ト裏面磁極と基板裏面磁極との間で反発磁界を形成し、
ターゲットのスパッタさせたくない領域ではターゲット
裏面磁極と基板裏面磁極との間で吸引磁界を形成させる
ことを特徴とする特許請求の範囲第4項記載のプラズマ
制御マグネトロンスパッタリング法。 - (6)少なくとも二種類の組成の異なる部分を有するタ
ーゲットを用い、プラズマ分布を変えターゲットのスパ
ッタされる領域を移動させることによって堆積膜の成分
組成を厚さ方向に変化させることを特徴とする特許請求
の範囲第4項記載のプラズマ制御マグネトロンスパッタ
リング法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9317587A JPS63262462A (ja) | 1987-04-17 | 1987-04-17 | プラズマ制御マグネトロンスパツタリング装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9317587A JPS63262462A (ja) | 1987-04-17 | 1987-04-17 | プラズマ制御マグネトロンスパツタリング装置及び方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63262462A true JPS63262462A (ja) | 1988-10-28 |
Family
ID=14075236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9317587A Pending JPS63262462A (ja) | 1987-04-17 | 1987-04-17 | プラズマ制御マグネトロンスパツタリング装置及び方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63262462A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0361365A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-18 | Ube Ind Ltd | イオンアシストスパッタリング方法および装置 |
| JPH03111562A (ja) * | 1989-09-26 | 1991-05-13 | Ube Ind Ltd | イオンアシストスパッタリング装置 |
| WO1998031041A1 (en) * | 1997-01-07 | 1998-07-16 | Gencoa Limited | Vapour deposition coating apparatus |
| US6309515B1 (en) | 1997-10-29 | 2001-10-30 | Nec Corporation | Sputtering apparatus for sputtering high melting point metal and method for manufacturing semiconductor device having high melting point metal |
| US6579421B1 (en) | 1999-01-07 | 2003-06-17 | Applied Materials, Inc. | Transverse magnetic field for ionized sputter deposition |
| US7504006B2 (en) | 2002-08-01 | 2009-03-17 | Applied Materials, Inc. | Self-ionized and capacitively-coupled plasma for sputtering and resputtering |
| JP2013001965A (ja) * | 2011-06-16 | 2013-01-07 | Ulvac Japan Ltd | スパッタリング方法 |
| US10047430B2 (en) | 1999-10-08 | 2018-08-14 | Applied Materials, Inc. | Self-ionized and inductively-coupled plasma for sputtering and resputtering |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5816068A (ja) * | 1981-07-22 | 1983-01-29 | Hitachi Ltd | プレ−ナマグネトロン方式のスパッタリング方法 |
| JPS61221363A (ja) * | 1985-03-27 | 1986-10-01 | Fujitsu Ltd | スパツタ装置 |
-
1987
- 1987-04-17 JP JP9317587A patent/JPS63262462A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5816068A (ja) * | 1981-07-22 | 1983-01-29 | Hitachi Ltd | プレ−ナマグネトロン方式のスパッタリング方法 |
| JPS61221363A (ja) * | 1985-03-27 | 1986-10-01 | Fujitsu Ltd | スパツタ装置 |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0361365A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-18 | Ube Ind Ltd | イオンアシストスパッタリング方法および装置 |
| JPH03111562A (ja) * | 1989-09-26 | 1991-05-13 | Ube Ind Ltd | イオンアシストスパッタリング装置 |
| WO1998031041A1 (en) * | 1997-01-07 | 1998-07-16 | Gencoa Limited | Vapour deposition coating apparatus |
| US6383565B1 (en) | 1997-01-07 | 2002-05-07 | Gencoa Limited | Vapor deposition coating apparatus |
| US6309515B1 (en) | 1997-10-29 | 2001-10-30 | Nec Corporation | Sputtering apparatus for sputtering high melting point metal and method for manufacturing semiconductor device having high melting point metal |
| US6579421B1 (en) | 1999-01-07 | 2003-06-17 | Applied Materials, Inc. | Transverse magnetic field for ionized sputter deposition |
| US10047430B2 (en) | 1999-10-08 | 2018-08-14 | Applied Materials, Inc. | Self-ionized and inductively-coupled plasma for sputtering and resputtering |
| US7504006B2 (en) | 2002-08-01 | 2009-03-17 | Applied Materials, Inc. | Self-ionized and capacitively-coupled plasma for sputtering and resputtering |
| US9062372B2 (en) | 2002-08-01 | 2015-06-23 | Applied Materials, Inc. | Self-ionized and capacitively-coupled plasma for sputtering and resputtering |
| JP2013001965A (ja) * | 2011-06-16 | 2013-01-07 | Ulvac Japan Ltd | スパッタリング方法 |
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