JPS6326837A

JPS6326837A - 光学系ピツクアツプ装置

Info

Publication number: JPS6326837A
Application number: JP16956986A
Authority: JP
Inventors: Takahiro Kobayashi; 高広小林
Original assignee: Pioneer Electronic Corp
Current assignee: Pioneer Corp
Priority date: 1986-07-18
Filing date: 1986-07-18
Publication date: 1988-02-04

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】「産業上の利用分野」本発明は光ディスクの信号読取り、または占込み方式に
使用される光学系ピンクアップ装置、特に同ビックアン
プ装置で使用される半導体レーザの改良に関する。

「発明のＪ！要」本発明の半導体レーザには、並列した複数の１［電極を
設けて活性層への注入電流の分布を制御することにより
、活性層の光出射位置を連続的に口ｒ変することができ
るようにし、この半導体レーザを使用して、光デイスク
上の光ビームスポットをウオブリングすることによって
、構造が筒中で。

良好なトラッキングエラー検出信号を得ることのできる
ようにした光学系ピンクアップ装置である。

「従来の技術構成」従来、この種の光学系ピックアップ装置として、第３図
及び第４図に示すものがあった。

図面において、Ａは゛ト導体レーザで、Ｂはコリメータ
レンズ、Ｃはビームスプリッタ、ＤはＫ　４体受光素子
、Ｅは１／４波長板、Ｆは対物レンズ、Ｇはウオブリン
グ法により対物レンズＦを徴小振動させるためのウオブ
リング機構、Ｈは光ディスクである。

ここで、上記の半導体レーザＡは正電極Ｉと、Ｐ側りラ
−２ド層Ｊと、活性層にと、ｎ側クラッド層にと、基板
Ｍと、負電極Ｎとで構成され、０は活性層にの光出射位
置である。

なお、ウオブリング法とは、光ディスクＨのトラックに
対してレーザビームスポットを左右に微小振動させ、得
られた信号の振動周波数を駆動信号の基準周波数と位相
検波して、その位相の正逆によりトラックエラー信号を
得るものである。

「従来技術の作用説明」半導体レーザＡの正電極Ｉから注入されたホールは活性
層Ｋにおいて、電子と再結合１−て光放出され、その光
が光共振器によって共振し、光出射位置０から出射され
る。

そして、上記の光出射位置Ｏから出射されたレーザは、
コリメータレンズＢによって平行ビームとなり、ビーム
スプリッタＣ及び１／４波長板Ｅを通過し、対物レンズ
Ｆにより光ディスクＨ上に集光される。光ディスクＨで
反射された光は１／４波長板Ｅを通過し、ビームスプリ
ッタＣにより分光され、半導体受光素子りに入射して電
気信号となる。ここで、対物レンズＦはウオブリング機
構Ｇによって微小振動されているため、光ディスクＨ上
のビームスポットはトラックに対して左右に微小振動し
、これに伴なって半導体受光素子りの出力電気信号は、
振幅変調を受０、その包路線波形からトラフキングエラ
ー検出信号を検出する。

「発明が解決しようとする問題点」従来の光学系ピックアップ装置における半導体レーザＡ
は、光出射位置Ｏが固定されており、変化させることは
出来なかった。そこで、対物レンズＦを高価なピエゾ効
果素子やムービングコイル等のウオブリング機構Ｏによ
り移動させることが必要であった。そのため、光ピツク
アップの構造が複雑となり、小型化、軽績化が困難であ
った。

それに伴なって、ランダムアクセスの高速化が困難であ
り、高コスト、低信頼性等の欠点があった。

本発明は、上記のような従来のものの欠点を除去するた
めに成されたもので、光出射位置可変半導体レーザの光
出射位置を電気的に連続に変調することにより、光ディ
スク七〇光ビームスポットをウオブリングし、良好なト
ラッキングエラー検出信号を得ることの出来る光学系ピ
ックアップ装置を提供せんとすることを目的としている
。

「問題点を解決するための手段」本発明は半導体レーザの光出射位置を変調することによ
り、トラ−２クヒの集光スポットをウオブリングして、
トラッキングエラー検出信号を得ることを特徴とする光
学系ピックアップ装置である。なお、この際、上記の半
導体レーザに並列した複数の正電極を設けて光出射位置
を囲続的に可変することができるようにしても良いこと
勿論である。

「作　用」半導体レーザの光出射位置を変調することにより、トラ
ックヒの集光スポットをウオブリングさせる。このウオ
ブリングされた光は、平行ビームとなり、ビームスプリ
ー２夕及び１／４波長板を通過し、対物レンズにより光
ディスク［―に集光される。この光デイスク上のビーム
スポットは、トラックに対して左右に微小振動し、反射
した光は１／４波長板を通過し、ビームスプリフタによ
って分光され、半導体受光素子に入射し電気信号となる
。これに伴なって半導体受光素子の出力電気信号は、振
幅変調を受け、その包路線波形からトラッキングエラー
検出信号を検出する。

「実施例」〈実施例の構成〉以下、未発ｉｔを図面の実施例にＪ＾づいて説明する。

第１図は本発明に係る光学系ビックアンプ装置の頭部構
成図で、第２図は同光学系ピックアッブ装置で使用され
る半導体レーザの斜視図を示す。

上記の図面において、１は光出射位置を可変することの
できる半導体レーザで、２はコリメータレンズ、３はビ
ームスプリッタ、４は半導体受光素子、５は１／４波長
板、６は対物レンズ、７は光ディスクである。

上記の半導体レーザｌは並列された複数の正′屯極８と
、Ｐ側りラッド層９と、活性層１０と、ｎ側クラッド層
１１と、基板１２と、負電極１３とで構成され、１４は
活性層１０の光出射位置である。

〈実施例の作用〉次に、上記の実施例の作用について説明する。

まず、半導体レーザｌの複数の正電極８には、それぞれ
異なった電源に制御された電流が流れる。従って、活性
層ｌＯに流れる電流の分布は、複数の正゛市極８に波れ
る電流を制御することにより、変化させることができ、
これにより光出射位置１４を自由にかっ四続的に変化さ
せることができる。

Ｌ記のようにして、ウオブリングされた光は。

コリメータレンズ２により平行ビームとなり、ビームス
プリッタ３及び１／４波反板５を通過し、対物レンズ６
により光デイスク７上に集光される。この光デイスク７
上のビームスポットは、トラックに対して左右に微小振
動し、反射し、た光は１／４波長板５を通過し、ビーム
スプリッタ３によって分光され、半導体受光素子４に入
射し電気信号となる。これに伴なって半導体受光素子４
の出力電気信号は、振幅変調を受け、その包絡線波形か
らトラッキングエラー検出信号を検出する。

「発明の効果」本発明は以上のように、半導体レーザ１の光出射位置を
変調することにより、ディスク７のトラックトの集光ス
ボー７トをウオブリングして、トラ−２キング工ラー検
出信号を得るようにしたので、構造が簡略化されると共
に、安価となり、良好なトラッキングエラー検出信号を
得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る光学系ピックアップ装置の概略構
成図で、第２図は同光学系ピックアップ装置で使用され
る半導体レーザの斜視図、第３図は従来の光学系ピック
アップ装置の概略構成図で、第４図は同光学系ピックア
ップ装置で使用される半導体レーザの斜視図を示す。ｌ・・・半導体レーザ装置、２・・・コリメータレンズ、３・・・ビームスプリッタ、４・・・半導体受光素子、５・・・１／４波反板、６・・・対物レンズ、７・・・光ディスク。８・・・正′屯極。９・・・ｐ側りラノド層、ｌＯ・・・活性層。１１・・・ｎ側クラッド層。１２・・・基板、１３・・・負電極、１４・・・光出射位置。特許出願人　　　パイオニア株式会社代理人　弁理士　大　律　　洋　夫第１図第２図第３図第４図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）半導体レーザの光出射位置を変調することにより
、トラック上の集光スポットをウォブリングして、トラ
ッキングエラー検出信号を得ることを特徴とする光学系
ピックアップ装置。
（２）上記の半導体レーザに並列した複数の正電極を設
けて光出射位置を連続的に可変することができるように
したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光学
系ピックアップ装置。