JPS63276394A - 色信号ベクトルの自動計測装置 - Google Patents
色信号ベクトルの自動計測装置Info
- Publication number
- JPS63276394A JPS63276394A JP11053787A JP11053787A JPS63276394A JP S63276394 A JPS63276394 A JP S63276394A JP 11053787 A JP11053787 A JP 11053787A JP 11053787 A JP11053787 A JP 11053787A JP S63276394 A JPS63276394 A JP S63276394A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vector
- circuits
- composite video
- signals
- video signal
- Prior art date
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- Pending
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は複合映像信号の色信号ベクトルを自動計測する
装flK関する。
装flK関する。
従来、複合映像信号の色成分のベクトルすなわち振幅と
位相を計測するには、「テンビジョン画像の自動計測−
アナログベースバンド信号の計測」テレビジラン学会誌
、Vol、 38、N116 (1984)なる文献に
述べられたように、カラーサブキャリアの5〜4倍の周
波数でサンプリングしてA、/D変換したデータを、振
幅、位相についてそれぞれ6ケ。
位相を計測するには、「テンビジョン画像の自動計測−
アナログベースバンド信号の計測」テレビジラン学会誌
、Vol、 38、N116 (1984)なる文献に
述べられたように、カラーサブキャリアの5〜4倍の周
波数でサンプリングしてA、/D変換したデータを、振
幅、位相についてそれぞれ6ケ。
7ケの三角関数を含む数式で計算機処理することによっ
て振幅と位相を求めていた。しかし、この方法では、処
理プログラムの増大と実行時間が長くかかることが予想
され、量産品製造における検査工程や、計測を繰シ返す
調整工程に適用する場合の投資効率向上に対して十分配
慮されたものとはいえない。
て振幅と位相を求めていた。しかし、この方法では、処
理プログラムの増大と実行時間が長くかかることが予想
され、量産品製造における検査工程や、計測を繰シ返す
調整工程に適用する場合の投資効率向上に対して十分配
慮されたものとはいえない。
上記従来技術は、量産品製造における検査工程や、計測
を繰り返す調整工程への適用の点について配慮がされて
おらず、その場合の処理時間と装置価格の点に問題があ
った。
を繰り返す調整工程への適用の点について配慮がされて
おらず、その場合の処理時間と装置価格の点に問題があ
った。
すなわち、上記従来技術は、複合映像信号のカラーサブ
キャリア周波数成分を、その3〜4倍の周波数で直接サ
ンプリングしA/D変換して得られるデータを演算処理
するため、処理時間が長くなり、家庭電器製品のような
低価格量産品の製造に適用するには、装置価格と処理時
間で評価されるコストパーフォーマンスが適正でない。
キャリア周波数成分を、その3〜4倍の周波数で直接サ
ンプリングしA/D変換して得られるデータを演算処理
するため、処理時間が長くなり、家庭電器製品のような
低価格量産品の製造に適用するには、装置価格と処理時
間で評価されるコストパーフォーマンスが適正でない。
さらに、上記の速度でA/D変換できる素子の分解能は
通常8ピット程度で、特殊で10〜12ビツトのものは
高価であるので、分解能を向上させるには装置価格が高
価となる。
通常8ピット程度で、特殊で10〜12ビツトのものは
高価であるので、分解能を向上させるには装置価格が高
価となる。
本発明の目的は、比較的小規模なプログラムで実行速度
が速く、またそれほど価格上昇を伴わずに計測分解能を
高くすることができる、複合映像信号の色成分ベクトル
を自動計測する装置を提供することKある。
が速く、またそれほど価格上昇を伴わずに計測分解能を
高くすることができる、複合映像信号の色成分ベクトル
を自動計測する装置を提供することKある。
上記目的は、ベクトルスコープ管面の輝線を走査する直
解座標成分の2つの信号を検出し、これをA/D変換し
、データ処理することによシ、達成される、 〔作用〕 ベクトルスコープ管面に極座標で表示される、計測対象
の複合映像信号の色成分ベクトルを計測するために、管
面に電子銃から照射され電子ビームを直角座標X−Y方
向に偏向させるためのX信号、X信号の2つを検出し、
この2信号の電圧比および電圧の大きさが、ベクトルス
コープ管面に表示されるベクトルと等しくなるように増
幅した後、A/D変換を行い、ディジタルデータとして
記憶する。その後、このデータを中央処理装置に読み取
り、ベクトルの大きさと位相を演算処理することにより
、色成分のベクトル計測を行う。ここで、複合映像信号
として、水平走査期間に含まれる色変化の回数の少ない
信号、例えばカラーパー信号などを用いれば、上記のX
、Y各信号の周波数帯域が低くなることから、前に従来
技術に述べたような三角関数の補間演算を行うことなく
ベクトルを求めることができ、さらに高分解能のA/D
変換器を用いることによシ、計測分解能の向上を図るこ
とができる。
解座標成分の2つの信号を検出し、これをA/D変換し
、データ処理することによシ、達成される、 〔作用〕 ベクトルスコープ管面に極座標で表示される、計測対象
の複合映像信号の色成分ベクトルを計測するために、管
面に電子銃から照射され電子ビームを直角座標X−Y方
向に偏向させるためのX信号、X信号の2つを検出し、
この2信号の電圧比および電圧の大きさが、ベクトルス
コープ管面に表示されるベクトルと等しくなるように増
幅した後、A/D変換を行い、ディジタルデータとして
記憶する。その後、このデータを中央処理装置に読み取
り、ベクトルの大きさと位相を演算処理することにより
、色成分のベクトル計測を行う。ここで、複合映像信号
として、水平走査期間に含まれる色変化の回数の少ない
信号、例えばカラーパー信号などを用いれば、上記のX
、Y各信号の周波数帯域が低くなることから、前に従来
技術に述べたような三角関数の補間演算を行うことなく
ベクトルを求めることができ、さらに高分解能のA/D
変換器を用いることによシ、計測分解能の向上を図るこ
とができる。
以下、本発明の一実施例を図面によって説明する。
第1図は該実施例の構成を示すもので、複合映像信号の
色成分特性を計測しようとする計測対象機器1の出力は
、ベクトルスコープ2と同期分離回路6に入力される。
色成分特性を計測しようとする計測対象機器1の出力は
、ベクトルスコープ2と同期分離回路6に入力される。
ベクトルスコープ2の出力−信号4,5は、それぞれ増
幅回路6,8に入力される。増幅回路6,8は、可変抵
抗器7,9によシ、それぞれゲイン設定ができるように
なっている。増幅回路6,8の出力は、それぞれA/D
変換回路10.11に入力される。
幅回路6,8に入力される。増幅回路6,8は、可変抵
抗器7,9によシ、それぞれゲイン設定ができるように
なっている。増幅回路6,8の出力は、それぞれA/D
変換回路10.11に入力される。
一方、同期分離回路3の出力は、クロック信号発生回路
14の出力と共に、タイミング信号作成回路15に入力
され、その出力の一方は前記VD変換回路10.11に
サンプリングクロック入力として入力される。A/D変
換回路10.11の出力は、それぞれ記憶回路12.i
3へ入力される。記憶回路12.13へは、タイミング
信号作成回路15のもう一方の出力信号が、書込み制御
信号として入力されている。中央処理装置(以下CPU
と記す)16は、記憶回路12.13の内容を読み取り
、演算処理してその結果を表示装置17へ出力する。
14の出力と共に、タイミング信号作成回路15に入力
され、その出力の一方は前記VD変換回路10.11に
サンプリングクロック入力として入力される。A/D変
換回路10.11の出力は、それぞれ記憶回路12.i
3へ入力される。記憶回路12.13へは、タイミング
信号作成回路15のもう一方の出力信号が、書込み制御
信号として入力されている。中央処理装置(以下CPU
と記す)16は、記憶回路12.13の内容を読み取り
、演算処理してその結果を表示装置17へ出力する。
次に、各部の動作を説明する。計測対象機器1は、電気
的特性を計測しようとする対象物であシ、テレビジョン
受像機、ビデオテープレコーダ、ビデオカメラ等の映像
機器が含まれる。
的特性を計測しようとする対象物であシ、テレビジョン
受像機、ビデオテープレコーダ、ビデオカメラ等の映像
機器が含まれる。
ベクトルスコープ2は、計測対象機器1から入力した複
合映像信号の色成分を色飽和度と色相の2つのパラメー
タに分解して、極座標平面に表示する機能をもつ。ここ
で、例えば、計測対象機器1の出力をCRTに入力した
とき第3図に示すようなパターンが映し出されたとする
と、ベクトルスコープ2の表示は第4図のような状態と
なる。
合映像信号の色成分を色飽和度と色相の2つのパラメー
タに分解して、極座標平面に表示する機能をもつ。ここ
で、例えば、計測対象機器1の出力をCRTに入力した
とき第3図に示すようなパターンが映し出されたとする
と、ベクトルスコープ2の表示は第4図のような状態と
なる。
すなわち、R峙)、G(緑)、B(青)の3色のパター
ンのとき、ベクトルスコープ2には、・原点とバースト
およびR,G、Bに対応するベクトルが輝点としてPo
、 P、 、 Pr、、 Pg、 pbのごとく観測さ
れる。
ンのとき、ベクトルスコープ2には、・原点とバースト
およびR,G、Bに対応するベクトルが輝点としてPo
、 P、 、 Pr、、 Pg、 pbのごとく観測さ
れる。
ここで、ベクトルスコープ2にこのような輝点が表示さ
れるのは、ベクトルスコープ2内部(図示せず)の電子
銃からブラウン管に向って照射される電子ビームを、X
/Y直角座標成分として偏向させることによ)行ってい
る。そこで、このX。
れるのは、ベクトルスコープ2内部(図示せず)の電子
銃からブラウン管に向って照射される電子ビームを、X
/Y直角座標成分として偏向させることによ)行ってい
る。そこで、このX。
Yの各偏向制御電圧信号4,5を外部に導出し、それぞ
れ増幅回路6,8へ入力する。
れ増幅回路6,8へ入力する。
増幅回路6,8は、信号源に負荷効果を与えないように
、高入力インピーダンス、低容量の入力回路を有し、そ
れぞれ可変抵抗器7.9により増幅率を調整できるよう
Kしである。一般に、ベクトルスコープ2のX、Y各偏
向電圧は等しくないため、第4図の点PX+ Kおける
増幅回路6の出力と、点P、+における増幅回路8の出
力とが等しく、かつ、点Pニーにおける増幅回路6の出
力と、点PY−における増幅回路8の出力とが等しくな
るように、可変抵抗器7,9によシ増幅率を設定する。
、高入力インピーダンス、低容量の入力回路を有し、そ
れぞれ可変抵抗器7.9により増幅率を調整できるよう
Kしである。一般に、ベクトルスコープ2のX、Y各偏
向電圧は等しくないため、第4図の点PX+ Kおける
増幅回路6の出力と、点P、+における増幅回路8の出
力とが等しく、かつ、点Pニーにおける増幅回路6の出
力と、点PY−における増幅回路8の出力とが等しくな
るように、可変抵抗器7,9によシ増幅率を設定する。
第3図、第4図に対応して得られる信号波形を第5図に
示す。第5図において、計測対象機器1の出力信号はC
om、Vで示すような波形であり、増幅回路6.8から
得られる信号波形はそれぞれX、Yに示す状態で、その
時間軸はCom、V信号と同期しkおり、またX、Y各
信号の波高値は、第4図に示す各輝点PO+ PR+
Pr + Pg * ”bに対応した直角座標成分の値
として得ることができる。
示す。第5図において、計測対象機器1の出力信号はC
om、Vで示すような波形であり、増幅回路6.8から
得られる信号波形はそれぞれX、Yに示す状態で、その
時間軸はCom、V信号と同期しkおり、またX、Y各
信号の波高値は、第4図に示す各輝点PO+ PR+
Pr + Pg * ”bに対応した直角座標成分の値
として得ることができる。
次に、増幅回路6,8の出力は、それぞれA/D変換回
路10.11に入力されてディジタルデータに変換され
、それぞれ記憶回路12.13に書き込まれる。このと
き、A/D変換および記憶回路への書込み制御パルスは
、同期分離回路3によシ複合映像信号から分離した複合
同期信号と、クロック信号発生回路14の出力信号をも
とに、タイミング信号作成回路15によシ作成する。
路10.11に入力されてディジタルデータに変換され
、それぞれ記憶回路12.13に書き込まれる。このと
き、A/D変換および記憶回路への書込み制御パルスは
、同期分離回路3によシ複合映像信号から分離した複合
同期信号と、クロック信号発生回路14の出力信号をも
とに、タイミング信号作成回路15によシ作成する。
その後%CPU16に、記憶回路12のデータXと記憶
回路13のデータyを読み取シ、次式によりベクトルを
求める。
回路13のデータyを読み取シ、次式によりベクトルを
求める。
、−p〒T 9.(、)
ここで、γはベクトルの絶対値、θは位相を表す。
以上のようにして求めたrは複合映像信号の色相を表わ
す。CPU16は、この結果を表示装置17に表示する
。ここで表示装置17は、作業者に計測結果を知らせる
モニタ表示装置であっても、あるいは自動的に合格、不
合格を判定する装置であってもよく、あるいは計測結果
として得られたディジタルデータをもとに、計測対象機
器1の電気特性を自動調整する機能を備えた装置であっ
てもよい。
す。CPU16は、この結果を表示装置17に表示する
。ここで表示装置17は、作業者に計測結果を知らせる
モニタ表示装置であっても、あるいは自動的に合格、不
合格を判定する装置であってもよく、あるいは計測結果
として得られたディジタルデータをもとに、計測対象機
器1の電気特性を自動調整する機能を備えた装置であっ
てもよい。
次に、上記した式(1) 、 (2)の演算をCPU1
6で行わないで同じ機能を実現した本発明の他の実施例
を第2図に示す。同図において、第1図と同じ符号を付
したものは同一の機能を有するものである。
6で行わないで同じ機能を実現した本発明の他の実施例
を第2図に示す。同図において、第1図と同じ符号を付
したものは同一の機能を有するものである。
第2図において、増幅回路6,8で得られたアナログ量
のX値、Y値は、アナログ演算素子である自乗和平男根
演算回路18、逆正接演算回路19算が行われ、得られ
たベクトル成分の各アナログ量は、それぞれA/D変換
回路10.11においてディジタル量に変換された後、
記憶回路12.13に書き込まれる。その後、CPU1
6に、記憶回路12.13の内容を読み取9、これを表
示装置17へ出力することにより、前の実施例と同様の
計測機能を得ることができる。本実施例の方式は、CP
U16の処理量が軽減されるので、処理時間の短縮と実
行プロβラムメモリ容量の低減が期待できる。
のX値、Y値は、アナログ演算素子である自乗和平男根
演算回路18、逆正接演算回路19算が行われ、得られ
たベクトル成分の各アナログ量は、それぞれA/D変換
回路10.11においてディジタル量に変換された後、
記憶回路12.13に書き込まれる。その後、CPU1
6に、記憶回路12.13の内容を読み取9、これを表
示装置17へ出力することにより、前の実施例と同様の
計測機能を得ることができる。本実施例の方式は、CP
U16の処理量が軽減されるので、処理時間の短縮と実
行プロβラムメモリ容量の低減が期待できる。
本実施例によれば、複合映像信号の色成分ベクトルを、
直角座標成分として検出することができ、この値を直接
A/D変換してディジタル演算によってベクトルを求め
るか、あるいは直角座標成分をアナログ演算によりベク
トルの絶対値に変換した後、A/D変換することによっ
てベクトルをディジタル計測することができる。このよ
うにして、複合映像信号の色成分の色飽和度と色相をデ
ィジタル計測し、この結果をもとに、検査や調整の自動
化を達成することができる。
直角座標成分として検出することができ、この値を直接
A/D変換してディジタル演算によってベクトルを求め
るか、あるいは直角座標成分をアナログ演算によりベク
トルの絶対値に変換した後、A/D変換することによっ
てベクトルをディジタル計測することができる。このよ
うにして、複合映像信号の色成分の色飽和度と色相をデ
ィジタル計測し、この結果をもとに、検査や調整の自動
化を達成することができる。
上記のごとく、本実施例では、従来例で述べたようなサ
ンプリングデータをもとに三角関数の補間演算を行うこ
とが不要であるので、計測処理時間を短縮することがで
きる。また、直角座標成分信号の周波数帯域を比較的低
くすることができるので、量子化に用いるA/D変換回
路のピット数を上げることが容易となり、装置の大幅な
価格上昇を伴わずに計測精度を高くすることができる。
ンプリングデータをもとに三角関数の補間演算を行うこ
とが不要であるので、計測処理時間を短縮することがで
きる。また、直角座標成分信号の周波数帯域を比較的低
くすることができるので、量子化に用いるA/D変換回
路のピット数を上げることが容易となり、装置の大幅な
価格上昇を伴わずに計測精度を高くすることができる。
本発明によれば、色信号ベクトルの自動計測装置におい
て、複合映像信号の色成分ベクトルを直角座標成分の情
報を処理して計測することにより、計測処理時間を短縮
することができ、またA/D変換精度を容易に向上する
ことができるので、大幅な価格上昇を伴わずに計測精度
を高くすることができる。
て、複合映像信号の色成分ベクトルを直角座標成分の情
報を処理して計測することにより、計測処理時間を短縮
することができ、またA/D変換精度を容易に向上する
ことができるので、大幅な価格上昇を伴わずに計測精度
を高くすることができる。
また、本発明の装置で得られたベクトルのディジタルデ
ータを、表示装置や、合否判定装置、自動調整装置など
の制御データとして用いることにより、検査工程や調整
工程を自動化することが可能になり、検査や調整対象製
品の原価低減を図ることができる。
ータを、表示装置や、合否判定装置、自動調整装置など
の制御データとして用いることにより、検査工程や調整
工程を自動化することが可能になり、検査や調整対象製
品の原価低減を図ることができる。
第1図は本発明の一実施例の装置の18成を示すブロッ
ク構成図、第2図は第1図の一部を別の方式とした他の
実施例のブロック構成図、第6図は複合映像信号の一例
をCRTに映した状況を示す図、第4図は第3図に対応
したベクトルスコープの管面表示を示す図、第5図は第
3図および第4図に対応した複合映像信号と直角座標成
分信号の波形を示す波形図である。 1・・・計測対象機器、2・・・ベクトルスコープ、3
・・・同期分離回路、6,8・・・増幅回路、1o、1
1・・・A/D変換回路、12.15・・・記憶回路、
14・・・クロック信号発生回路、15・・・タイミン
グ信号作成回路、16・・・中央処理装置(CPU )
、17・・・表示装置、18・・・自乗和平男根演算回
路、19・・・逆正接演算回路。
ク構成図、第2図は第1図の一部を別の方式とした他の
実施例のブロック構成図、第6図は複合映像信号の一例
をCRTに映した状況を示す図、第4図は第3図に対応
したベクトルスコープの管面表示を示す図、第5図は第
3図および第4図に対応した複合映像信号と直角座標成
分信号の波形を示す波形図である。 1・・・計測対象機器、2・・・ベクトルスコープ、3
・・・同期分離回路、6,8・・・増幅回路、1o、1
1・・・A/D変換回路、12.15・・・記憶回路、
14・・・クロック信号発生回路、15・・・タイミン
グ信号作成回路、16・・・中央処理装置(CPU )
、17・・・表示装置、18・・・自乗和平男根演算回
路、19・・・逆正接演算回路。
Claims (1)
- 1、計測対象の複合映像信号の色信号ベクトルを自動計
測する装置において、該複合映像信号を入力するベクト
ルスコープと、該ベクトルスコープの管面に輝線を走査
する2つの直角座標成分を検出する2組の増幅率可変な
検出手段と、その検出信号をそれぞれディジタル信号に
変換する2組のA/D変換回路と、その変換されたディ
ジタルデータをそれぞれ記憶する2組の記憶回路と、そ
の記憶されたデータを読み出して演算処理し、色信号ベ
クトルの大きさと位相を算出する計算機とから構成され
たことを特徴とする色信号ベクトルの自動計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11053787A JPS63276394A (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | 色信号ベクトルの自動計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11053787A JPS63276394A (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | 色信号ベクトルの自動計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63276394A true JPS63276394A (ja) | 1988-11-14 |
Family
ID=14538325
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11053787A Pending JPS63276394A (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | 色信号ベクトルの自動計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63276394A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5175614A (en) * | 1991-03-27 | 1992-12-29 | Tektronix, Inc. | Vectorscope automatic burst positioning |
| EP0664655A3 (en) * | 1994-01-21 | 1996-01-24 | Tektronix Inc | Automatic generation of a crosshair of squares representing reference vectors for a vector display device. |
-
1987
- 1987-05-08 JP JP11053787A patent/JPS63276394A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5175614A (en) * | 1991-03-27 | 1992-12-29 | Tektronix, Inc. | Vectorscope automatic burst positioning |
| EP0664655A3 (en) * | 1994-01-21 | 1996-01-24 | Tektronix Inc | Automatic generation of a crosshair of squares representing reference vectors for a vector display device. |
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