JPS63279471A - 光デイスク装置のセクタマ−ク検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、セクタマーク検出方法、特に光ディスク装
置のプリフォーマット部の再生信号を処理するための光
ディスク装置のセクタマーク検出方法に関するものであ
る。

［従来の技術］ 第４図は１例えば「日経エレクトロニクス」（１９８３
年、１１月２１０発行、第１８９頁−２１３頁）“コー
ド情報の記録が可能になった大容量光ディスク・ファイ
ル装置”に示されたセクタ記録形式を示す図である。図
において、ＳＭ（６）は各セクタの先頭を示すセクタマ
ーク、ＩＤ（８）は当該セクタの位置を示すアドレス、
（１−ＩＥＣＫ（９）はアドレス（８）の誤り検出をす
るための検査ビット、５ＹＮＣ１，（７）はアドレス（
８）および検査ピッＩ−（９）用同期信号、ＦＬＡＧ（
１１）はセクタの使用状況を記録するフラグ、５ＹＮＣ
３（１０）はフラグ（１１）用同期信号、ＤＡＴＡフィ
ールド（１３）は実際のユーザ・データを記録するデー
タフィールド、５ＹＮＣ２（１２）はデータフィールド
（１３）用同期信号、ギャップ（１６）は光ディスクの
回転中のジッタを吸収するためのギャップである。

第５図は光ディスク装置の信号系統を示す図である。図
において、検出器（１９）は光ディスク媒体（１８）か
らの情報を再生して１アナログ再生信号（１７）を出力
する。波形処理回路（２ｏ）はアナログ再生信号（１７
）をディジタル再生信号（４）に変換する。セクタマー
ク検出処理回路（２１）はディジタル再生信号（４）と
セクタマークパターンとをパターン比較してセクタマー
クを検出し、セクタマークの終わりの位置で検出信号（
５）を出力する。

第６（２ｆｆはセクタマーク（６）の−例を示す図であ
る。

第７図は第５図のセクタマーク検出処理回路の構成図で
ある。図において、多段シフトレジスタ（１）はクロッ
ク（３）により再生信号（４）を取り込み、この信号を
直列−並列変換する。パターン検出回路（２）は多段シ
フトレジスタ（１）の出力から下記の第１式に基づきセ
クタマークを検出する。

第８図は第７図の動作タイミングを示す図である。

第１式は従来のセクタマーク検出条件で、任意　゛の位
置に１ビット誤りを許容する検出条件となっており、第
７図のパターン検出回路（２）中にＲＯＭやロジックア
レイを用いて構成されている。

パターン検出信号ＤＥＴ１＝ ■、６υｌｓ　　ＤＩ３Ｄ＋ｚＤ＋＋Ｄ＋ｏＤｓＤａ’
ＤｔＤｓＤｓＤ４ＤｚＤｚＤ＋＋Ｄ１６ＤＩＳＤ１４　
−ＤＩＪｌｌＤＩ。［ｌ＊［１，［１７Ｄ、ｌｌ５Ｄ、
Ｄ、Ｄ２［１゜＋０１６Ｄ＋ｓＤ＋Ｊ＋３　　ＤｚＤ＋
。ＤＪｓＤｔＤｓＤｓＤＪＪｉＤ１＋０１６ＤＩＳＤＩ
４ＤＩ３ＤＩ２ＤＩＩＤＩ。Ｄ、Ｄ、Ｄ、０．０５Ｄ、
Ｄ、　　Ｄ。

”０１６０１　ＳＤＩ　−ＤＩ　：１Ｄ１２０１１ＤＩ
　ｏＤＪｓＤｔＤＪｓＤＪＪ２ここで、土は論理和を示
している。

従来のセクタマーク検出回路は上記のように構成され、
光ディスク媒体（１８）からの検出器（１９）により再
生されたアナログ再生信号（１７）は。

波形処理回路（２０）でディジタル再生信号（４）に変
換されて、クロック（３）により多段シフトレジスタ（
１）に取り込まれる。この多段シフトレジスタ（１）で
は再生信号（４）は直列−並列変換されてＱ、〜Ｑ、に
出力され、第７図に示されるパターン検出回路（２）の
り、〜［）＋ａに入力される。

このパターン検出回路（２）では第１式の条件によりパ
ターン検出を行い、結果を検出信号（５）に出力する。

セクタマーク検出状態は第９図に示されるようになる。

ここで、パターンＡは誤りなしのパターンであるので、
検出する。

パターン（Ｂ）は、ビット記録位置（以下２期待値“１
°°という）にビット無しの状態（以下、再生値″０″
という）、パターン（Ｃ）は、非ビット記録位置（以下
２期待値“Ｏ″という）にビット有りの状態（以下、再
生値“１ｎという）の１ビット誤りパターンであり、共
に検出する。パターン（Ｄ）、（Ｅ）。

（Ｆ）はすべて２ピット以上の誤りが発生しているため
、再生信号はセクタマークとはならず検出されない、第
８図に示されるように、２周期口がら再生信号（４）の
セクタマークパターンが多段シフトレジスタ（１）に取
り込まれ、１７周周期口最後尾のビットが取り込まれた
時に、Ｄ１６〜Ｄ。

にセクタマークパターンが並列に出力されている状態に
なる。このＤＩ６〜Ｄ、のパターンが第１式に合致して
いる時１検出信号（５）が出力される。

［発明が解決しようとする問題点］ 上記のような従来のセクタマークの検出方法では、第１
式によりパターン検出を行っているなめ。

２ビット以」二の誤りが発生ずる場合には検出不能とな
り、かつ実際の誤りの発生状況を見ると、小規模な誤り
の発生確率は高いために２ピツ■・以上の不一致による
セクタマーク不検出が発生することが多いという問題点
があった。

この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、再生信号に２ビット以上の不一致が発生した場合
でもセクタマークの検出が可能となり、小規模な誤りが
あってもセクタマークの不検出を抑えることができるセ
クタマーク検出方法を得ることを目的とする。

「問題点を解決するための手段］ この発明に係るセクタマーク検出方法は、セクタマーク
検出条件を期待値“０″゛又は１°゛のうち。

一方の期待値においては、許容する不一致ビット数は１
ピツＩ・とじ、他方の期待値においては、独立した２ピ
ッｌ−長の誤り及び正規ビットに連続する３ビット以上
の不一致も許容するというように。

期待値に応じて許容する不一致ビット数を異なる値に設
定したことにより、セクタマークの不検出の発生を抑え
るようにしたものである。

［作用］ この発明においては、検出条件が２ビット長の独立誤り
及び正規ビットに連続する３ビット以上の不一致も許容
するという設定になっているので。

２ビット長までの独立誤り又は３ビット以上の不一致が
発生してもセクタマークの検出°が可能となる。

［実施例］ 第１図はこの発明によるパターン検出回路の一実施例を
ロジックアレイを用いて構成する構成図である１図にお
いて、−例として下記に示される第２式の第１５項の検
出回路（５２）は出力信号（５１）を出力する。また、
検出信号（５）は第２式で示される各項の検出回路の検
出信号の和として出力される。

第２図は第２式で示される第８項の検出回路を示す構成
図である。図において、検出信号（５３）は第２式の第
８項の検出回路の出力信号である。

第３図は第２式で示される第１１項の検出回路を示す構
成図である。図において、検出信号（５４）は第１１項
の検出回路の出力信号である。

上記のように構成されたセクタマーク検出方法において
、パターン検出回路動作以前は従来例と同様であるので
説明を省略する。

第７図で示されるパターン検出回路（２）では下記の第
２式の条件に従いパターン検出を行い。

その結果を検出信号として出力する。第２式は下記のよ
うに示される。

パターン検出信号Ｄ　Ｅ　Ｔ、２　＝ ＋Ｄｌ　６０＋　５０１４０＋　３　　　　　　ロ、。

ＤｓＯＪｔ口５ＯｓＤ−ロ３０２０１＋Ｄ＋５Ｄ１ＳＤ
Ｉ４０＋３０１２　　　　　ＤｓＤｓＤ７ＤｓＤｓＤＪ
３Ｄ２Ｄ１”ＤＩ６Ｄ１５Ｄ１４０１３Ｄｌ□［１，、
Ｄ、Ｄ、Ｄ、ＤＳＤ、Ｄ３Ｄ２Ｄ。

＋０１１＋ＤＩＳＤｚＤＩＪ１２ＤｌｌＤｌ。Ｄ−Ｄａ
ＤｔＤ６ＤｓＤ＋ＤＪ２Ｄ＋＋Ｄ１６Ｄ、５Ｄ１４Ｄ１
．Ｄ１２Ｄ１１Ｄ１ｏＤ、Ｄ８Ｄ７Ｄ６Ｄ５Ｄ、Ｄ、Ｄ
２Ｄｌここで、トは前記のように論理和を示す。

第９図のセクタマーク検出状態において、パターン（Ａ
）は誤りなしのパターンであり、検出する。パターン（
Ｂ）は期待値°゛１“に対して再生値“０”、パターン
（Ｄ）は期待値゛０”に対して再生値”　１　”　、の
１ピッｌ−誤りパターンであり。

それぞれ第２式の第８項と第４項または第５項により検
出する。パターン（Ｃ）は期待値゛０゛°に対して再生
値“１”と期待値“１”に対して再生値゛′Ｏ”の２ビ
ット誤りパターンであり、不検出である。

一方、パターン（Ｅ）とパターン（Ｆ）は期待値“０”
に対して再生値“１”がそれぞれ４ビットと２ビット連
続しているパターンであり、共に第２式の第１５項と第
６項により１ビットの誤りと見なされセクタマークを検
出する。

その結果、第８図に示すように２周期目から再生信号（
４）を多段シフトレジスタ（１）に取り込み、１７周期
目で最後尾のビットが取り込まれた時に、Ｄ１６〜Ｄ、
にセクタマークパターンが並列に出力されている状態と
なる。このＤ４〜Ｄ１のセクタマークパターンが第２式
に合致している場合に１７周期目の１周期間検出傾号（
５）が出力される。

なお、上記実施例では期待値“０゛°に対して再生値“
１”となる誤りについて検出条件を緩和した第２式につ
いて示したが、この式はセクタマークパターンと、光デ
ィスク媒体の欠陥の特性により１期待値“０”に対する
検出条件と期待値゛１”に対する検出条件との検出条件
を独立に設定することにより！＆適な検出条件が得られ
る。

また、上記実施例では光ディスク装置のセクタマーク検
出についてよ明したが、フラグ検出などパターンマツチ
ングにより検出する識別子、あるいは磁気ディスク装置
等の他の識別子を用いる装置においても識別子の検出能
力の向上に有効である。

［発明の効果］ この発明は以上説明したとおり、セクタマークの検出条
件を２ビット以上の不一致の発生時にもセクタマークの
検出が可能となるように設定したので、セクタマークの
不検出の発生を抑えることができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明によるパターン検出回路の一実施例を
示す構成図、第２図は第２式で示される第８項の検出回
路の構成図、第３図は第２式で示される第１１項の検出
回路の構成図、第４図は光ディスク装置のセクタ記録形
式図、第５図は光ディスク装置の信号系統図、第６図は
光ディスク装置ノセクタマークの一例図、第７図は第５
図のセクタマーク検出処理回路の構成図、第８図は第７
図の動作タイミング図、第９図はセクタマーク検出状態
図である。 図において、（１）・・・多段シフトレジスタ１（２）
・・・パターン検出回路、（３）・・・クロック。 （４）・・・再生信号、（５）・・・検出信号、（５１
）・・・第２式の第１５項の検出回路の出力信号、（５
２）・・・第２式の第１５項の検出回路、（５３）・・
・第２式の第８項の検出信号、（５４）・・・第２式の
第１１項の検出信号である。 なお、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 第２図 第４図 第６図 第９図 ５王、ＸＥＤＬＩ誤り位！ ゆミ５ξ２七ε、ノ’＋１１ムニ：Ｓニノ゛１「゛く、
’−？＞　”ｒ＃に！ｌ！！！！’ｌ”　　　　　　　
　　５都 手続補正書 昭和６２年　９月　９日

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ピット記録部と非ピット記録部が交互に連続して成るセ
   クタマークパターンを検出するパターン検出回路を備え
   た光ディスク装置において、欠陥によりピットが再生さ
   れない場合と、欠陥によりあたかもピットが記録されて
   いるような状態とを示す再生信号から下記の（１）〜（
   ３）に示す成立する条件を備えてセクタマークを検出す
   ることを特徴とする光ディスク装置のセクタマーク検出
   方法。 （１）ピット記録位置でピット有りの状態とならない誤
   りが１ビットのみ発生する場合はセクタマークの検出条
   件が成立する。 （２）非ピット記録位置でピット有りの状態が連続した
   ２ビット以内である誤りが１箇所のみ発生する場合には
   セクタマークの検出条件が成立する。 （３）非ピット記録位置でピット無しの状態からピット
   有りの状態に遷移し、次のピット記録位置まで連続して
   、ピット有りの状態を継続し、かつピット記録位置を経
   て、非ピット記録位置において正常にピット無しの状態
   に遷移する誤りが１箇所のみ発生する場合にはセクタマ
   ークの検出条件が成立する。