JPS63282662A - 流速センサ - Google Patents

流速センサ

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JPS63282662A
JPS63282662A JP63051319A JP5131988A JPS63282662A JP S63282662 A JPS63282662 A JP S63282662A JP 63051319 A JP63051319 A JP 63051319A JP 5131988 A JP5131988 A JP 5131988A JP S63282662 A JPS63282662 A JP S63282662A
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heater
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sensor
heat
thin film
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Ii Higashi Robaato
ロバート・イー・ヒガシ
Jii Jiyonson Robaato
ロバート・ジー・ジョンソン
Ee Satorun Aanesuto
アーネスト・エー・サトルン
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は空気の流れ速度を測定する流速センサに関する
。
〔従来の技術〕
市販されている空気の流れ速度に関するセンサは、一般
には、空気の流れの中に挿入する長いプローブの先に、
1本の熱源かサーミスタを配置するものである。これは
、空気の流れによる冷却効果によって引き起こされる温
度低下と、それにともなう電気抵抗値の変化により空気
の流れ速度を測定するものである。さらに、最近2個の
センサと、ヒータ素子からなるマイクロブリッジ流速セ
ンサが知られている。このような半導体センサは例えば
、米国特許4472239.4478076.4478
07?、4548078.4581928.46241
37などに示されている。
マイクロブリッジ流速センサの従来例の一つを第3図か
ら第7図に示す。これらは米国特許4501144に示
されているものである。これは2個のセンサ22.24
とヒータ26を基板20上に有しているものである。セ
ンサ22.24はヒータ26の両側に配されている。基
板20は例えばSiのようなエツチング、及び生産の容
易な物質からなる半導体である。そしてこの基板上に形
成される格子形状をなす全く同一の2個の測温抵抗素子
は薄膜の熱感知センサ22.24として働き、この2個
のセンサの中央部に配置される格子形状をなす発熱抵抗
素子は薄膜のヒータ26として働く。熱感知センサ22
.24及びヒータ26としては、鉄とニッケルの合金、
例えば80%のニッケルと20%の鉄からなるパーマロ
イといったものを使うことが適している。これら熱感知
センサ22.24及びヒータ26は、例えば窒化シリコ
ンからなるgJ膜の絶縁層28.29により包まれて、
薄膜部材を形成する。第3図及び第4図の実施例に示す
ように、センサはヒータ2Gの半分と熱感知センサ22
からなる薄膜部材32と、ヒータ26の半分と熱感知セ
ンサ24からなる薄膜部材32とから構成され、巾15
0μ長さ400μの大きさを有する。
更にこのセンサは、熱感知センサ22.24及びヒータ
26を効果的に囲む空気スペース30を有する。この空
気スペース30はシリコンの表面36に微細構造をもっ
て形成される。すなわち熱感知センサ22.24及びヒ
ータ26は、約0゜08〜0.12μの厚さで線間に約
5μの間隔を有する巾5μの線からなり、しかもこれら
は全体の厚さが約0.8μ以下になるような窒化シリコ
ンの薄い膜によって包まれるように構成される。
そしてエツチングにより(ぼみである空気スペース30
が、薄膜部材32.34の下のシリコン基板20の中に
125μの深さで正確に形成される。薄膜部材32.3
4は、空気スペース30の1つまたはそれ以上のエツジ
において、シリコン基板20の表面36の最上部に接続
される。例えば第3図に示すように、薄膜部材32.3
4は、空気スペース30を架橋するように構成される。
窒化シリコンは非常に優れた熱的絶縁体である、薄膜部
材32.34を包む窒化シリコンの膜が極めて薄くかつ
熱的絶縁もよいことから、窒化シリコン膜によるヒータ
26の熱の損失は極めて小さくヒータ26から熱感知セ
ンサ22.24に伝わる熱のほとんどがヒータ26を取
り囲む空気を通して伝えられることになる。すなわち窒
化シリコン膜の熱伝導率が小さいことから、熱感知セン
サ22.24をヒータ26に極めて隣接して配置するこ
とができ、ヒータ26からの熱のほとんどは窒化シリコ
ン膜を通らずにヒータ26を取り囲む空気を通して伝え
られることになる。そして、ヒータ26の近傍の空気中
に効果的に強固にささえられた熱感知センサ22.24
はヒータ26を取り囲む空気とヒータ26上の温度を測
定するプローブとして働(ことになる。
空気の流速を検出する原理を第4図に基づいて説明する
。ヒータ26は、基板20の温度より200゛C高くな
る一定の温度に加熱される。ヒータ26の温度を 流れ
る空気の温度より200°C高く保つといっても0.O
IWより小さな電力が要求されるにすぎない。
ヒータ26からの熱伝導率の大部分は空気スペース30
も含んだ周囲の空気を通して行われるが、従来例におい
て空気の流れのないとき、熱感知センサ22.24は平
均温度で約140°c(200°Cの約70%)に熱せ
られる。すなわち、図に示すように、熱感知センサ22
.24はヒータ26に対して正確に対称に配置されるの
で、空気の流速がOの時にはこの2つのセンサの温度は
同一になりこの2つのセンサの抵抗値に差は生じない空
気の流れのある時には、上流に位置する熱感知センサ2
2はヒータ26へ向かう空気の流れにより熱が運び去ら
れるので冷却され、一方下流に位置する熱感知センサ2
4はヒータ26がらの空気の流れによって熱せられるこ
とになる。これによって生ずる熱感知センサ22と24
の間の抵抗値の差が電圧値の差をもたらし流速が測定さ
れる、増幅しないときのこの電圧差は、760cm/秒
の空気の流速において0.1V程度のものであるヒータ
と熱感知センサの熱容量が極めて小さいことと、基板へ
の接続手段である窒化シリコン膜により与えられる熱的
絶縁性と、空気スペースの存在により当センサの応答性
は測定結果によれば時定数が0.005秒と非常に速い
ものとなる。
すなわち熱感知センサ22と24は空気の流れの変化に
非常に速く応答できることになる。
従来例においてヒータ26は空気の温度に対して一定の
温度となるように駆動され、熱感知センサ22と24は
定電流で駆動されることから、熱感知センサ22と24
の温度変化は抵抗値の変化として検知されることになる
。これらの機能を実現するための回路例を第6図及び第
7図に示す。
第6図に示される温度制御回路は、ヒータ26の温度を
比較抵抗38によって検出される周囲温度よりも高い一
定温度に保つためのホイストンブリッジ回路46により
構成される。ここで前述したように、この一定値は約2
00°Cに設定されている。ホイストンブリッジ回路4
6は、ヒータ26と抵抗40により一辺を、比較抵抗3
8と抵抗42.44により一辺を構成している。アンプ
48と50からなる積分回路は、出力の電位を変化させ
ることでブリッジ回路46がバランスするように動作し
、ヒータ26によって消費される電力を一定に保つよう
にする。
第7図に示す回路は、空気の流れの上流に位置する熱感
知センサ22と、下流に位置する熱感知センサ24との
間の抵抗値の差を検出するためのものである。この回路
は、アンプ72からなる定電流電源部52と、アンプ6
8と70からなる差動増幅部54から構成される。定電
流電源部52は、1辺に高インピーダンス抵抗56.5
8と、他辺に零調用可変抵抗60及び熱感知センサ22
.24を有するホイストンブリッジ回路を駆動する。差
動増幅部54の利得は可変抵抗62により調整される。
出力端64は熱感知センサ22と24の間の抵抗値の差
に比例する出力電圧を出力する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
第3.4.5図で示す従来の流速センサは、ヒータ26
及び熱感知センサ22.24の間の絶縁窒化層の熱容量
が非常に小さく、そのため各々のセンサ抵抗体の温度は
周囲の空気の状態によって大きく変化することとなる。
上流側の検出器(出力信号を送出する)は空気の流れに
よって、この空気流の温度に近づくまで冷却される。そ
の結果、出力信号は流速が約1520cm/秒で飽和状
態に達する。下流側のセンサ抵抗は空気流による熱伝達
により幾分加熱されるため、出力信号がその分、変化す
るが、飽和状態に達すると加熱より冷却が強まり変化は
検出できな(なる。
本発明は、上述の従来の流速センサの技術を基本として
、さらに従来のマイクロブリッジ流速センサでは測定困
難な高速流領域での測定を可能としたものである。従来
のマ・イクロブリッジ流速センサでは、センサ上の流速
が平均1520cm/秒を超えると熱伝達が飽和状態と
なり、これ以上の流速での変化をとらえることはできな
かった。本発明は、従来のセンサの約6倍の流速が測定
可能であり、平均流速10140cm/秒までは熱伝達
が飽和状態とならない構成を有する。
〔問題点を解決するための手段〕
測定可能領域を拡大するためには、第1図で示すような
2層構造によりセンサ122.124とヒータ126を
熱的に連結することが有効である〔実施例〕 本発明の1実施例を第1図に示す。本発明は、1対の薄
膜の熱感知センサ122.124と薄膜のヒータ126
、及び基体20とからなり、センサとヒータは架橋部1
32によって基体と非接触状態となっている。センサ1
22.124はヒータ126上の層に配置されている。
本構成の従来例筒3.4.5図との根本的な差異は、第
1図に示すデバイスが2つの並行な薄膜抵抗層から構成
されていることである。ヒータの層、及び上流、下流の
熱感知センサの層が橋架部132に各々別々の層に形成
されている。2層構造としたのは上流、下流の熱感知セ
ンサ122.124をヒータ126の上部に配置する必
要性からである。
本センサの製造にはシリコンウェハー20が用いられ、
この表面に窒化シリコン層129が形成される。層12
9は典型的には4000人の厚さにスパッタにより形成
される。次に、同様スパン夕によりパーマロイの層が8
00人形成される。
適当なフォトマスク、フォトレジストとエツチング液を
使用し、上述のニレメン1−22.24,26.38と
同様のパーマロイエレメント126が描かれる。このエ
レメント126は橋架部132の巾全体に形成される。
第2層の窒化シリコン層は、このパーマロイニレメン「
126を完全に覆うようにスパッタにより4000人の
厚みで形成される。次に、第2層であるパーマロイの層
が層128上に800人形成される。そして、センサニ
レメンl−122,124が上述したヒータエレメント
126と同様に描かれる。窒化シリコンの第37W12
7はパーマロイエレメント122.124を完全に覆う
ようにスパッタにより4000人の厚みで形成される。
これにより、エレメントの酸化が防止される。このよう
に、1対のセンサ122.124はヒータ126層と平
行な層に近接して配置される。1対のセンサとヒータ間
には4000人の絶縁層が存在することとなる。橋架部
132直下のスペースの製造過程は第1.2.3図の従
来例で述べたと同様である。
〔発明の効果〕
この構成により両センサの冷却には、さらに高速の空気
流が必要となる。たとえば、ヒータが160°Cを保つ
とすると、上流、下流の各々のセンサはそのヒータの温
度変化に対して、より忠実に追随することになる。これ
はすなわち、ヒータから発生する熱の空気流による伝播
を、第1図に示す2N構造とすることで、より近接した
2つの位置で測定し、空気流による熱損失の出力信号に
対する影響を少なくしたものであるといえる。
第2図は、それぞれ流速0のもとての橋架部132の面
上での温度分布を示すものである。本発明(a及びC)
におけるセンサ122.124が、従来例(b及びd)
のセンサに比較してヒータ端部で、温度分布が大きく異
なっているのが分かる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例を示す断面図、第2図(a)
、(b)はそれぞれ本発明、従来例の構成を示す断面図
、第2図(c)、(d)は第2図(a)、(b)それぞ
れに対応する温度分布図、第3図、第4図、第5図は従
来のセンサの構成を示す断面図及び平面図、第6図、第
7図はセンサの機能を達成するための回路例を示す図で
ある。 122.124−熱怒知センサエレメント、126− 
ヒータエレメント、127.128.129・−窒化シ
リコン層。 特許出願人    山武ハネウェル株式会社代理人 弁
理士  松下  義冶 第1図 第2図(0)       第2図(b)第 2図(C
)        第2図(dl手 続 主甫 正 書
(方式) 特許庁長官 小 川  邦 夫 殿 1、事件の表示 昭和63年特許願第 51319号 2、発明の名称 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所    東京都渋谷区渋谷2丁目12番19号名
 称    (666)山武ハネウェル株式会社代表者
       井  戸  −朗4、代理人 居 所   〒144東京都大田区西六瑯4丁目28番
1号山武ハネウェル株式会社 1田工場内 昭和63年 5月31日発送 7、補正の内容 (1)明細書、発明の詳細な説明の横筒2頁第14行の
「第7図」を「第8図」と補正する。 (2)明細書、発明の詳細な説明の横笛7頁第9行の「
第6図及び第7図」を[第7図及び第8図Jと補正する
。 (3)明細書、発明の詳細な説明の横笛7頁第10行の
「第6図」を「第7図」と補正する。 (4)明細書、発明の詳細な説明の横筒8頁第2行の「
第7図」を「第8図」と補正する。 (5)明細書、発明の詳細な説明の(間第8頁第16行
の「第3.4.5」の後に「6」を挿入する。 (6)明細書、図面の簡単な説明の横筒13頁第3行の
「第5図」の後に「第6図」を挿入する。 (7)明細書、図面の簡単な説明の横梁13頁第4行の
「第6図Jを「第7図」と補正する。 (8)明細書、図面の簡単な説明の(資)第13頁第4
行の「第7図」を「第8図」と補正する。 以上

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)薄膜のヒータと、一対の薄膜の熱感知センサと、
    半導体基板とからなる流速センサにおいて、上記半導体
    基板と、上記薄膜のヒータ及び一対の薄膜の熱感知セン
    サとの間に空間を形成し、かつ上記一対の薄膜の熱感知
    センサは上記薄膜のヒータの上層に絶縁部を介し、上記
    ヒータと略平行に形成してなることを特徴とする流速セ
    ンサ。
  2. (2)上記薄膜のヒータと、一対の薄膜の熱感知センサ
    は、パーマロイから構成されていることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項の流速センサ。
  3. (3)上記絶縁部は窒化シリコンからなることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項の流速センサ。
JP63051319A 1987-03-05 1988-03-04 流速センサ Granted JPS63282662A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US2217887A 1987-03-05 1987-03-05
US22178 1987-03-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63282662A true JPS63282662A (ja) 1988-11-18
JPH0474672B2 JPH0474672B2 (ja) 1992-11-26

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5618750A (en) * 1979-07-25 1981-02-21 Ricoh Co Ltd Gas detector
JPS60142268A (ja) * 1983-12-27 1985-07-27 株式会社山武 流速センサ
JPS62106129U (ja) * 1985-12-23 1987-07-07

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JPH0474672B2 (ja) 1992-11-26

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