JPS63282998A - ブロックアクセスメモリのリフレッシュ制御装置 - Google Patents

ブロックアクセスメモリのリフレッシュ制御装置

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JPS63282998A
JPS63282998A JP62119215A JP11921587A JPS63282998A JP S63282998 A JPS63282998 A JP S63282998A JP 62119215 A JP62119215 A JP 62119215A JP 11921587 A JP11921587 A JP 11921587A JP S63282998 A JPS63282998 A JP S63282998A
Authority
JP
Japan
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block
refresh
memory
address
word line
Prior art date
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Application number
JP62119215A
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English (en)
Inventor
Yoshio Matsuda
吉雄 松田
Kazuyasu Fujishima
一康 藤島
Hideto Hidaka
秀人 日高
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明はブロックアクセスメモリのリフレッシュ制御
装置に関する。
[従来の技術]  。
従来、太番j1MO8RAM(MOSトランジスタを構
成要素とするランダム・アクセス・メモリ)はその高集
積化に伴ないデータ入出カレートの向上が図られている
。このデータ入出カレートを向上する方法として主に以
下の2種類がある。
(1)  MOS  RAMを多ビツト構成にして、デ
ータの入出カレートを増大させる。この場合、チップ内
部における並列動作部分の面積増大およびパッケージの
端子数増大により、チップレベルおよび実装レベルの双
方で集積度を損う欠点がある。
(2) データ入出力部にシフトレジスタを設け、多ビ
ットをシリアルに高速入出力する。この場合はシフトレ
ジスタの配置によるチップ面積の増大を除けば上述の(
1)の欠点は生じない。
(2) の場合の長所をさらに生かす手段として、 (2−)制御信号を1つの端子からシリアルに入力し、
またアドレス入力、データ入出力を共に1つの端子を介
してシリアルに行なうことによりパッケージの端子数を
減らすことが提案されている。
上述の方法(2)および(2′)を組合わせると、実装
密度を著しく向上させかつデータ入出力サイクルを高速
に行なうことが可能となる。
第3図は従来のブロックアクセスメモリの構成を示し、
上述のく2)および(2−)の2つの方法を組合わせた
構成を有している。第2図において、ブロックアクセス
メモリには、クロック信号CLKを受けるクロック入力
端子2と、メモリセルへの書込データ入力、メモリセル
からの読出データ出力、および行アドレス入力およびコ
ントロール入力を行なうためのデータ入出力端子1と、
図示しない電源端子と接地端子とが外部端子として設け
られる。すなわち外部端子として4個設けられる構成と
なる。情報を記憶するためのメモリセルアレイは2つの
ブロック、メモリセルブロックMA、メモリセルブロッ
クMBに分割される。
各メモリセルブロックMA、MBは、それぞれ行および
列状に配列され各々が情報を記憶する複数のメモリセル
MCと、複数のメモリセルから1行を選択するためのワ
ード線WLと、複数のメモリセルのうち1列に連なるメ
モリセルが接続されるビット線BLとを有する。ここで
第2図においては、各ブロックが1024行×512列
の構成を有する場合が一例として示される。
また各メモリセルブロックMA、MBにはそれぞれ外部
から与えられるアドレスに応答して1本のワード線を選
択するための行デコーダRD1゜RD2がそれぞれ設け
られる。またメモセルブロックMA、MBにはそれぞれ
ビット線に対応して設けられてビット線上に現われた信
号電位を検知・増幅するセンスアンプSA1.S’A2
が設けられる。また、センスアンプSA1.8A2とそ
れぞれ情報の授受を行なうために、シフトレジスタR1
,R2が設けられる。シフトレジスタR1゜R2は共に
データ入カバソファDIまたはデータ出力バッファDo
との間で制御信号発生回路CGの制御のもとにデータを
シリアルに入出力する。
メモリ動作1111回路として、データ入出力端子1を
介して与えられる信号を受けて、クロック入力端子2か
ら与えられるクロック信号CLKに同期して動作し、デ
ータ入出力端子から与えられるデータ入力、行アドレス
入力、コントロール入力を各回路部分に振分ける働き(
シリアル/パラレル変換)を行なうとともにデータ出力
バッファDOから与えられたデータをデータ入出力端子
1を介してシリアルに出力するシリアル/パラレル変6
一 検回路SPと、シリアル/パラレル変換回路SPを介し
て与えられる行アドレスを受けて1組の内部アドレス信
号(たとえばアドレス信号が相補アドレスにより構成さ
れる場合)を発生して行デコーダRD1.RD2へ伝達
する行アドレスバッファReと、シリアル/パラレル変
換回路から与えられるコントロールに応答して行アドレ
スバッファRB、センスアンプSA1.SA2、シフト
レジスタR1,R2、データ入力バッファDlデータ出
力バッファDOおよびリフレッシュアドレスカウンタR
A1.RA2の動作を制御する信号を発生する制御信号
発生回路CGと、制御信号発生回路CGからの制御のも
とにシリアル/パラレル変換回路SPから与えられたデ
ータをシリアルにシフトレジスタR1,R2へ伝達する
データ入力バッファDIと、制御信号発生回路CGから
の制御のもとにシフトレジスタR1,R2からのシリア
ルデータをシリアル/パラレル変換回路SPへ伝達する
データ出力バッファDoと、制御信号発生回路CGから
の制御のもとに活性化され、リフレッシュされるべき1
本のワード線を指定するリフレッシュ行アドレスを発生
して行デコーダRDi、RD2へ与えるリフレッシュア
ドレスカウンタRA1.RA2とが設けられる。次に簡
単に動作について説明する。
データ入力端子1にシリアルに与えられた外部行アドレ
スがシリアル/パラレル変換回路SPでパラレルな信号
に変換され行アドレスバッファRBへ与えられる。行ア
ドレスバッファRBは外部行アドレスに応答して1組の
内部アドレス信号を発生し行デコーダRD1.RD2へ
伝達する。行アドレスバッファRBからの内部アドレス
信号に応答して、行デコーダRD1.RD2のうちの1
つの単位行デコーダが選択され、その選択された単位行
デコーダに接続されるワード線が選択されて活性化され
、その選択されたワード線電位が立ち上がる。1本のワ
ード線が選択されるとその選択されたワード線に接続さ
れるメモリセルの有する情報がそれぞれビット線上に伝
達され、メモリセルの有する情報に応じた信号電位がビ
ット線上に現われる。次に制御信号発生回路CGからの
制御のもとにセンスアンプが活性化され、ビット線上の
信号電位が検知・増幅される。ここでメモリセルは明確
に示さないが高集積化のために1トランジスタ/1キヤ
パシタ型で構成される。このセンスアンプSAIまたは
SA2で検知・増幅された情報は制御信号発生回路CG
からのシフトレジスタ選択信号φB、に応答して、選択
されたワード線の属するシフトレジスタR1,R2のう
ちのいずれかが活性化され、センスアンプ出力がシフト
レジスタR1またはR2を介してシリアルにデータ出力
バッファDOへ伝達され、シリアル/パラレル変換回路
SPを介してデータ入出力端子1へ与えられる。ここで
データ書込時においては、入力データが、逆にデータ入
力バッファDIを介してシリアルにシフトレジスタR1
またはR2へ伝達され、次にシフトレジスタR1または
R2を介してセンスアンプへ与えられ、各センスアンプ
を介してビット線からメモリセルへ書込まれる。
メモリセルのリフレッシュを行なう場合は、制御信号発
生回路CGからの制御のもとにリフレッシュアドレスカ
ウンタRAIまたはRA2が活性化され、リフレッシュ
アドレスカウンタRA1゜RA2からのリフレッシュ行
アドレスが行デコーダRD1.RD2へ与えられ、その
リフレッシュ行アドレスに対応する1本のワード線が選
択され、活性化される。この後、通常のメモリセルの有
する情報読出時と同様にしてセンスアンプSA1または
SA2が活性化されビット線上の電位が検知・増幅され
る。これによりビット線上に現われた信号電位が再びメ
モリセルへ書込まれることになり、メモリセルの内容を
再書込するリフレッシュが行なわれることになる。
第4図は第3図に示されるブロックアクセスメモリの動
作タイミングを示す図である。ここで第4図においては
ある1サイクルの動作タイミングが示される。ここで1
サイクルは、リセット動作からリセット動作までの期間
であり、このリセット動作は“クロック信@CLK入力
が立ち上がったときにデータ入出力端子1へ与えられる
信号レベルが“L°ルベルである”ことにより行なわれ
る。このリセット動作によりメモリセルアレイ、シフト
レジスタ、およびシリアル/パラレル変換回路SPがリ
セット(初期設定)される。リセット動作後、クロック
信号CLKの立ち上がり時にデータ入出力端子に与えら
れる信号りが″H″レベルにある限り、ある所定の1サ
イクルが続けて行なわれ、クロック信号CLKの立ち下
がり時に、コントロール入力、行アドレス入力、データ
入力またはデータ出力が行なわれる。
各サイクルの最初の3ピツト入力(Co、C1゜C2)
はコントロール入力であり、この組合わせによりサイク
ルの基本動作が指定される。
第5区はコントロール入力とサイクルの基本動作との関
係を表にした図である。基本動作は第5図の表に示され
るように、コン1〜0−ルにより以下のように設定され
る。
■ 行アドレスセット:このコントロール入力に続くサ
イクルが行アドレスを入力するサイクル。
■ リード/リフレッシュ:メモリセルのデータのセン
スアンプによる検知・増幅を行なうサイクル。
■ ライト:シフトレジスタからセンスアンプを介して
のメモリセルへのデータの書込サイクル。
■ シリアル人カニシフトレジスタへ外部入力データの
セットを行なうサイクル。
■ シリアル出カニシフトレジスタからシリアルデータ
の出力。
このように、コントロール入力(Co、CI。
C2)のデータの組合わせにより上述の5つの基本動作
のうちの1つが選択される。したがってコントロール入
力の3ビツトに続く4ビツト目以降のデータ入力または
データ出力は各基本動作サイクルに応じて、次のように
なる。
■ 行アドレスセット二行アドレスのシリアル入力。メ
モリセルアレイが1Mビットでありワード線が1024
本(=2IO>である場合は、10ビツト必要となる。
■、■の動作サイクル:このとき1クロツクのみ行なわ
れ、データ入出力は関係なし。
■の場合:シフトレジスタへシリアルにデータを入力し
てセットするサイクルであり、必要な数だけビット数が
必要となる。たとえば第3図に示されるような構成であ
れば、選択されたメモリブロックに含まれるセンスアン
プの数(512)に対応して512クロツクが必要とな
る。
■の場合ニジリアルデータ出力がシフトレジスタの第1
ビツトから順番に出力される。したがって1行分のデー
タを読出す場合には、上述の■の場合と同様に512ビ
ツトのデータがシフトレジスタに記憶されているため5
12クロツクが必要となる。
上述の■〜■の基本動作サイクルを組合わせることによ
り実際のメモリ動作が行なわれる。すなわちメモリセル
アレイにおけるノーマルモード(データ書込・読出動作
)およびメモリセルの有する情報を再書込するためのリ
フレッシュサイクルが行なわれる。
[発明が解決しようとする問題点] 上述のような構成の従来のブロックアクセスメモリにお
いては以下のような問題が生じる。メモリ動作が基本的
にメモリセルの1行分(ブロック単位)で行なわれるこ
とおよびコントロールおよびデータがシリアルに入出力
されることから、1サイクルに要する時間が長くなり、
これにより長いノーマルサイクル(データ書込・読出)
の合間に定期的に長いリフレッシュサイクルを行なう必
要がある。しかしリフレッシュサイクルが行なわれてい
る間においては外部からのアクセスが禁止され、ノーマ
ル動作を行なうことができないため、ノーマル動作およ
びリフレッシュ動作を同時に行なうことができないため
、メモリ動作の能率を著しく損うことになる。
上述のように従来のブロックアクセスメモリにおいては
、リフレッシュサイクルを行なうためにノーマルサイク
ルとは別に時間を設けて行なう必要があるため、メモリ
動作を有効に行なうことが困難であった。
それゆえこの発明の目的は上述のような従来のブロック
アクセスメモリの有する問題点を除去し、リフレッシュ
サイクルを行なってもノーマルサイクルを妨げることの
ないブロックアクセスメモリにおけるリフレッシュ制御
装置を提供することである。
[問題点を解決するための手段〕 この発明に係るブロックアクセスメモリにおけるリフレ
ッシュ制御装置は、各メモリブロックに対応してリフレ
ッシュ手段を設け、1つのブロックが選択されてアクセ
スされている間に、非選択状態のブロックにおいては、
リフレッシュアドレス手段によりリフレッシュを同時に
行なうようにしたものである。
このリフレッシュが行なわれるべきワード線を指定する
リフレッシュ行アドレスはリフレッシュ手段により順次
チップ内部で発生される。
[作用コ この発明においては、選択されたブロックにおいてアク
セスが行なわれているのと同時に非選択ブロックにおい
てはリフレッシュ手段からのリフレッシュ行アドレスに
よってリフレッシュが行なねれるため、アクセスとリフ
レッシュを同時に行なうことができ、リフレッシュを行
なうための特別のサイクルをノーマルサイクルとは別に
設ける必要がないので、メモリの動作の能率を向上させ
ることが可能となる。
[発明の実施例] 第1図はこの発明の一実施例であるブロックアクセスメ
モリの概略構成を示す図である。第1図のブロックアク
セスメモリにおいては、第3図に示される従来のブロッ
クアクセスメモリの構成に加えて、新たに各ブロックM
A、MBに対応して設けられ、シリアル/パラレル変換
回路SPからのブロックアドレスに応答して対応するブ
ロックが選択されたか否かを判別するブロックアドレス
比較回路BCI、BC2と、ブロックアドレス比較回路
BCI、BC2の各々に対応して設けられ、ブロックア
ドレス比較回路BC1,BC2からのブロック非選択信
号φcoに応答して活性化され、リフレッシュされるべ
き行を指定するリフレッシュ行アドレスを発生して行デ
コーダRD1.RD2へ与えるリフレッシュアドレスカ
ウンタRF1゜RF2が設けられる。リフレッシュアド
レスカウンタRF1.RF2はノーマルサイクルに同期
して非選択ブロックのリフレッシュを行なうくバックグ
ラウンドリフレッシュ)行アドレスを指定するためのも
のであり、リフレッシュが行なわれるごとにインクリメ
ント(またはデクリメント)され、すべての行アドレス
を一巡すると元に戻るような巡回動作を行なう。リフレ
ッシュアドレスカウンタRF1.RF2出力は、制御信
号発生回路CGによりリフレッシュ動作時にのみリフレ
ッシュアドレスセット信号に応答して行アドレスとして
行デコーダRDI、RD2へ与えられる。リフレッシュ
アドレスカウンタのインクリメント(またはデクリメン
ト)はブロックアドレス回路BC1、BC’2からの制
御信号φeDにより制御される。
本発明の趣旨はノーマルサイクル中にノーマルサイクル
動作を全く邪魔せずにノーマルサイクルに同期して非選
択ブロックのリフレッシュを行なうことである。第2図
はこの発明の一実施例であるブロックアクセスメモリの
リフレッシュ制@装置の動作を示す図である。以下、第
1図および第2図を参照してリフレッシュ動作について
説明する。
まずデータ入出力端子1を介して与えられるコントロー
ル入力(Co、C1,C2)により動作サイクルが行ア
ドレスセットに指定される。この行アドレスセットサイ
クルが指定されるとそのコントロールに続く10ビツト
情報(メモリブロックが1024行で構成されている場
合)がシリアル/パラレル変換回路SPへ取込まれ行ア
ドレスバッファRBへ伝達されそこでラッチされる。こ
の10ビツトの行アドレスに続いてブロックを指定する
ためのブロックアドレス(この場合1ビツト)がシリア
ル/パラレル変換回路SPに取込まれこのブロックアド
レスによりメモリブロックMA、MBのいずれかが選択
される。今たとえはメモリブロックMAが選択されたと
する。このとき、メモリブロックMAにおいては、次の
動作が行な=18− われる。入力されたブロックアドレスはブロックアドレ
ス比較回路BC1へ与えられ、ブロックアドレス比較回
路BC1はメモリブロックMAが選択されたことを検知
し、リフレッシュアドレスカウンタRF1を活性化しな
い。行アドレスバッファRBでラッチされた行アドレス
は、制御信号発生回路CGの制御のもとに行デコーダR
D1へ伝達される。これにより、制御信号発生回路によ
り活性化された行デコーダRDIにおいて対応する1つ
の単位行デコーダが選択され、それに接続されるワード
線電位が立ち上がり、そのワード線に接続されるメモリ
セル情報がビット線上に伝達され、センスアンプSAI
が制御信号発生回路CGの制御のもとに活性化されヒツ
ト線電位が確定する。この後、コントロールが指定する
ノーマルサイクル(リードまたはライトサイクル)が行
なわれる。
一方、非選択のメモリブロックMBにおいては、シリア
ル/パラレル変換回路SPからブロックアドレスがブロ
ックアドレス比較回路BC2へ与えられると、ブロック
アドレス比較回路BC2はそのメモリブロックMBが非
選択ブロックであることを検知する。これによりリフレ
ッシュアドレスカウンタ活性化信号φcoを発生してリ
フレッシュアドレスカウンタRF2を活性化する。この
リフレッシュアドレスカウンタRF2は活性化信号φc
oに応答して活性化されその内容をインクリメント(ま
たはデクリメント)する。このとき、制御信号発生回路
CGからブロックアドレスに基づいてリフレッシュアド
レスセット信号が行デコーダRD2へ与えられ、制御信
号発生回路CGの制御のもとに、行アドレスバッファR
Bから行アドレスが行デコーダRD1へ与えられるのと
ほぼ同時に、リフレッシュアドレスカウンタRF2出力
が行アドレスとして行デコーダRD2へ与えられてデコ
ードされる。これにより前回のリフレッシュ時に選択さ
れたワード線に対し1行インクリメント(またはデクリ
メント)された行アドレスに対応するワード線が選択さ
れる。次に制御信号発生回路CGからの制御のもとにセ
ンスアンプSA1.8A2が同時に活性化され、ビット
線電位が確定すると、次にコントロールが指定する動作
サイクルが行なわれ、メモリブロックMAにおいてはノ
ーマルサイクルが、メモリブロックMBにおいてはリフ
レッシュサイクルが行なわれる。このとき制御信号発生
回路CGからの制御信号φ8、によりメモリブロックM
Aに接続されるシフトレジスタR1のみが活性化され、
データ転送動作を行ない、メモリブロックMBに接続さ
れるシフトレジスタR2は不活性状態のままであり、動
作はしない。すなわち、センスアンプSA1とシフトレ
ジスタR1とはデータ転送を行ない、一方、センスアン
プSA2とシフトレジスタR2とはデータ転送を行なわ
ない。したがって、選択されたワード線電位が立ち下が
るとメモリブロックMAではコントロール(Co、C1
,C2)の指定するノーマルサイクルが、メモリブロッ
クMBではメモリ情報の再書込が同時に行なわれたこと
になる。
なお上記実施例においては、メモリセルアレイが102
4行X1024列の構成であり、このメモリセルアレイ
が2つのブロックに分割され1024行×512列のメ
モリブロックの2つのブロックに分割された場合を示し
たが、この発明はこの構成に限定されず他の容量のメモ
リアレイおよび他の個数のブロックに分割されたメモリ
セルアレイブロックにおいても適用することが可能であ
る。この上述の実施例においてはデータ入出力がシリア
ルに行なわれる場合を示したが、これに限定されずブロ
ック単位でアクセスされるメモリであれば本発明は適用
可能である。また、このセンスアンプとシフトレジスタ
との間のデータ転送の方式はどのような構成であっても
本発明は適用可能であり、さらに外部端子数も4つに限
らないことは言うまでもない。
さらにブロックアドレス比較回路の具体的構成は特に示
さなかったが、その構成はシリアル7′パラレル変換回
路SPからのブロックアドレスに基づいてそれに対応す
るブロックが選択されたか否かを判別する構成であれば
どのようなものであつても上記実論例と同様の効果を得
ることが可能である。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、複数個のブロックに分
割されたメモリアレイの各ブロックに対し、外部アドレ
スに応答して1つのブロックが選択されてノーマルサイ
クルが行なわれることと同期して、チップ内部で順次発
生されるリフレッシュ行アドレスに基づいて非選択ブロ
ックのリフレッシュを行なうように構成したので、ノー
マル動作に支障を与えることなくリフレッシュを行なう
バンクグラウンドリフレッシュモードが可能となり、メ
モリ動作の効率を有効に高めることが可能となる。
【図面の簡単な説明】 第1図はこの発明の一実施例であるブロックアクセスメ
モリおよびリフレッシュ制御装置の概略構成を示す図で
ある。第2図はこの発明の一実施例であるブロックアク
セスメモリのリフレッシュ動作を示す波形図である。第
3図は従来のブロックアクセスメモリの概略構成を示す
図である。第4図は従来のブロックアクセスメモリにお
ける動作タイミングを示す図である。第5図は動作モー
ドを指定するコントロール入力と指定された動作サイク
ルとの関係を表にした図である。 図において、WLはワード線、BLはヒツト線、MCは
メモリセル、MA、MBはメモリブロック、RDI、R
B2は行デコーダ、RFl、RF2はリフレッシュアド
レスカウンタ、BCl、8G2はブロックアドレス比較
回路、RBは行アドレスバッファ、CGは制御信号発生
回路、DIはデータ人力バッファ、Doはデータ出力バ
ッファ、SPはシリアル/パラレル変換回路、1はデー
タ入出力端子、2はクロック入力端子、SA1.8A2
はセンスアンプ、R1,R2はシフトレジスタである。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 行および列状に配列され、各々が情報を記憶する複数個
    のメモリセルからなるメモリアレイと、前記複数個のメ
    モリセルの1行を選択するための複数のワード線と、前
    記複数のメモリセルの1列のメモリセルが接続される複
    数のビット線とを有し、前記メモリアレイが複数のワー
    ド線の各々を分割するように複数個のブロックに分割さ
    れ、ブロック単位でアクセスされるブロックアクセスメ
    モリにおけるリフレッシュ制御装置であって、前記複数
    のブロックから1つのブロックを指定する信号を発生す
    るブロック指定信号発生手段と、外部から与えられるア
    ドレスと前記ブロック指定信号に基づいて、前記ブロッ
    ク指定信号により指定されたブロックから1本のワード
    線を選択してデータの読出・書込のアクセスを行なうア
    クセス手段と、 前記ブロック指定信号発生手段からのブロック指定信号
    と、前記選択されたブロックへのアクセスが行なわれる
    こととに応答して、選択されないブロックにおいて自己
    の発生する行アドレスに基づいて1本のワード線を選択
    し前記選択されないブロック内の選択されたワード線に
    接続されるメモリセルの有する情報のリフレッシュを行
    なうリフレッシュ手段とを備える、ブロックアクセスメ
    モリのリフレッシュ制御装置。 (2)前記リフレッシュ手段は、各ブロックに対応して
    設けられ、前記ブロック指定信号により対応するブロッ
    クが選択されたか否かを判別するブロック判別手段と、 前記ブロック判別手段からのブロック非選択信号に応答
    して活性化され、前記選択されたブロックのアクセスと
    同期して、リフレッシュされるべきワード線を指定する
    リフレッシュ行アドレスを発生するリフレッシュアドレ
    スカウンタとを備える、特許請求の範囲第1項記載のブ
    ロックアクセスメモリのリフレッシュ制御装置。 (3)前記リフレッシュアドレスカウンタの内容は、前
    記ブロック判別手段からのブロック非選択信号に応答し
    て隣接するワード線を示すリフレッシュ行アドレスへと
    シフトされる、特許請求の範囲第2項記載のブロックア
    クセスメモリのリフレッシュ制御装置。
JP62119215A 1987-05-15 1987-05-15 ブロックアクセスメモリのリフレッシュ制御装置 Pending JPS63282998A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100472723B1 (ko) * 2000-12-26 2005-03-08 주식회사 하이닉스반도체 뱅크 리프레쉬 제어 장치 및 방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100472723B1 (ko) * 2000-12-26 2005-03-08 주식회사 하이닉스반도체 뱅크 리프레쉬 제어 장치 및 방법

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