JPS63284404A - 広域状況監視装置 - Google Patents
広域状況監視装置Info
- Publication number
- JPS63284404A JPS63284404A JP11962287A JP11962287A JPS63284404A JP S63284404 A JPS63284404 A JP S63284404A JP 11962287 A JP11962287 A JP 11962287A JP 11962287 A JP11962287 A JP 11962287A JP S63284404 A JPS63284404 A JP S63284404A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- distance
- scanning mirror
- optical system
- output
- wide area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 31
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 101100107522 Mus musculus Slc1a5 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[技術分野1
本発明は、被検知物体からの光を検出して監視領域の状
況を監視する光学式の広域状況監視装置に関するもので
ある。
況を監視する光学式の広域状況監視装置に関するもので
ある。
[背景技術]
従来、この種の光学式の状況監視装置は、監視領域内に
被検知物体が存在するかどうかを検出するものが殆どで
あり、被検知物体の位置を判定できないため正確な監視
が困難であった。そこで、被検知物体の距離を測定して
被検知物体の位置情報を得るようにしたものとして、投
光手段を具備したいわゆるアクティブ型の光学ヰ測距手
段(例えば、三角測量方式、焦点検出方式、位相差検出
方式など)を用いた監視装置があるが、いずれの場合に
あっても監視装置の正、面方向の検知領域内の被検知物
体を検出するだけであるので、広域に亘って被検゛知物
体までの距離お上り方向を検出する場合には、多数の監
視装置を設ける必要があり、装置が大型化しでしまいコ
ストも高くなるという問題があった。*た、監視装置を
回転させることも考えられるが投光手段を含む監視装置
を回転させる場合には回転駆動系が大形化して実用化は
困難であった。一方、投光手段を必要としないパッシブ
型の光学式測距方式としては、例えば、特開昭57−2
11007号公報に見られるように、光学系を光軸と直
交方向に往復駆動するとともに、光学系の焦点面に複数
の光検知素子を結像された像の移動方向に配置して被検
知物体からの光を各光検知素子にて受光し、各光検知素
子出力に基いて被検知物体の位置を検出するようにした
ものがあったが、このような従来例にあっても、光学系
の往復駆動手段が必要であるため監視装置自体が大型化
し、これを回転させて広域に亘って監視を行う場合には
装置全体の構成が複雑になって大型化し、コストが高く
なるという問題があった。
被検知物体が存在するかどうかを検出するものが殆どで
あり、被検知物体の位置を判定できないため正確な監視
が困難であった。そこで、被検知物体の距離を測定して
被検知物体の位置情報を得るようにしたものとして、投
光手段を具備したいわゆるアクティブ型の光学ヰ測距手
段(例えば、三角測量方式、焦点検出方式、位相差検出
方式など)を用いた監視装置があるが、いずれの場合に
あっても監視装置の正、面方向の検知領域内の被検知物
体を検出するだけであるので、広域に亘って被検゛知物
体までの距離お上り方向を検出する場合には、多数の監
視装置を設ける必要があり、装置が大型化しでしまいコ
ストも高くなるという問題があった。*た、監視装置を
回転させることも考えられるが投光手段を含む監視装置
を回転させる場合には回転駆動系が大形化して実用化は
困難であった。一方、投光手段を必要としないパッシブ
型の光学式測距方式としては、例えば、特開昭57−2
11007号公報に見られるように、光学系を光軸と直
交方向に往復駆動するとともに、光学系の焦点面に複数
の光検知素子を結像された像の移動方向に配置して被検
知物体からの光を各光検知素子にて受光し、各光検知素
子出力に基いて被検知物体の位置を検出するようにした
ものがあったが、このような従来例にあっても、光学系
の往復駆動手段が必要であるため監視装置自体が大型化
し、これを回転させて広域に亘って監視を行う場合には
装置全体の構成が複雑になって大型化し、コストが高く
なるという問題があった。
[発明の目的1
本発明は上記の点に鑑みて為されたものであり、その目
的とするところは、広域に亘って被検知物体までの距離
お上り方向を検出して被検知物体の位置を判定でき、し
かも構成が簡単でコストを安くすることができる広域状
況監視装置を提供することにある。
的とするところは、広域に亘って被検知物体までの距離
お上り方向を検出して被検知物体の位置を判定でき、し
かも構成が簡単でコストを安くすることができる広域状
況監視装置を提供することにある。
[発明の開示J
(構 成)
本発明は、一定速度で回転する走査鏡および集光光学系
にて形成され被検知物体からの光を受光する走査光学系
と、集光光学系の焦点近傍に配設され結像された像の移
動方向に複数の光検知素子が列設された検知素子アレイ
と、走査鏡の視野方向を検出する方向検出手段と、上記
検知素子アレイの相隣接する光検知素子出力を交互に極
性を反転して加算する加算手段と、上記加算手段出力の
周波数に基いて被検知物体までの距離を演算する演算手
段と、方向検出手段から出力された方向情報および演算
手段から出力された匪離情報に基いて状況を判定する状
況判定手段とで構成されており、広域に亘って被検知物
体までの距離および方向を検出して被検知物体の位置を
判定でき、しかも構成が簡単でコストを安くすることが
できる広域状況監視装置を提供するようにしたものであ
る。
にて形成され被検知物体からの光を受光する走査光学系
と、集光光学系の焦点近傍に配設され結像された像の移
動方向に複数の光検知素子が列設された検知素子アレイ
と、走査鏡の視野方向を検出する方向検出手段と、上記
検知素子アレイの相隣接する光検知素子出力を交互に極
性を反転して加算する加算手段と、上記加算手段出力の
周波数に基いて被検知物体までの距離を演算する演算手
段と、方向検出手段から出力された方向情報および演算
手段から出力された匪離情報に基いて状況を判定する状
況判定手段とで構成されており、広域に亘って被検知物
体までの距離および方向を検出して被検知物体の位置を
判定でき、しかも構成が簡単でコストを安くすることが
できる広域状況監視装置を提供するようにしたものであ
る。
(実施例1)
第1図乃至第8図は本発明一実施例を示すもので、被検
知物体Aからの光を受光する走査光学系1は、一定速度
で回転する走査鏡1aと、凸レンズよりなる集光光学P
、ibとで形成されてお9、走査鏡1aは、モータにで
等速回転される回転軸10の上端に取着されている。な
お、集光光学系1bとして凸レンズに代えて口面ミラー
、ピンホールなどが使用できることは言うまでもない。
知物体Aからの光を受光する走査光学系1は、一定速度
で回転する走査鏡1aと、凸レンズよりなる集光光学P
、ibとで形成されてお9、走査鏡1aは、モータにで
等速回転される回転軸10の上端に取着されている。な
お、集光光学系1bとして凸レンズに代えて口面ミラー
、ピンホールなどが使用できることは言うまでもない。
また、検知素子アレイ3は、集光光学系1bの焦点近傍
に配設され、@7図(a)に示すように結像X″の移動
方向に列設された複数の光検知素子30.31にて形成
されており、加算手段4では、検知素子アレイ3の相隣
接する光検知素子30゜31出力を交互に極性を反転し
て加jE(例えば、奇数番目の光検知素子30の出力を
合成して正極性信号とし、偶数番目の光検知素子31出
力を合成して負極性信号として加W、)シて第7図(b
)に示すような複極信号を得るようになっている0図中
、出力が反転されない光検知素子30を「+」、出力が
反転される光検知素子31を「−」として表示しており
、実施例においで光検知素子30,31は、人体、ある
いは火災発生場所などの温度の高い被検知物体Aからの
赤外線を検出でき、冷却が不要な焦電素子を用いていて
いるが、被検知物体Aに応じて各種光検知素子を用いる
ことができる。また、加算手段4は差動増幅器を用いて
形成され、両入力端子に光検知素子30.31出力を入
力することにより、両出力を反転して加算できるように
なっており、必要に応じて後段に増幅回路を設けても良
い。
に配設され、@7図(a)に示すように結像X″の移動
方向に列設された複数の光検知素子30.31にて形成
されており、加算手段4では、検知素子アレイ3の相隣
接する光検知素子30゜31出力を交互に極性を反転し
て加jE(例えば、奇数番目の光検知素子30の出力を
合成して正極性信号とし、偶数番目の光検知素子31出
力を合成して負極性信号として加W、)シて第7図(b
)に示すような複極信号を得るようになっている0図中
、出力が反転されない光検知素子30を「+」、出力が
反転される光検知素子31を「−」として表示しており
、実施例においで光検知素子30,31は、人体、ある
いは火災発生場所などの温度の高い被検知物体Aからの
赤外線を検出でき、冷却が不要な焦電素子を用いていて
いるが、被検知物体Aに応じて各種光検知素子を用いる
ことができる。また、加算手段4は差動増幅器を用いて
形成され、両入力端子に光検知素子30.31出力を入
力することにより、両出力を反転して加算できるように
なっており、必要に応じて後段に増幅回路を設けても良
い。
また、走査ill aの視野方向を検出する方向検出手
段2は、第4図及び第5図に示すように、回転軸10に
取着され方位角の基準位置検出用のスリット22が穿設
された回転板21と、回転板21を挾んで対設された発
光素子23お上り受光素子24よりなるフォトインタラ
プタと、発光素子23からの光がスリット22を介して
受光素子24にて受光されたときに出力される信号を波
形整形して基準位置パルスを形成する波形整形器25と
、上記基準位置パルスにてリセットされクロック回路2
6にて発生された基準クロックを計数する計数回路27
とで構成され、計数回路27出力として基準位置に対す
る回転光学系1の回転角を示す方向情報が逐次出力され
る。なお、多数の回転検出用スリッ)22aが等間隔で
列設されている回転板21の局部に別の7オトインタラ
ブタの投、受光素子を対設し、回転検出用スリット22
aを介して受光素子にて受光されるパルス尤に対応する
パルス信号を上記基準クロックとしても良く、この場合
、走査鏡1aの回転むらによる方向検出精度の低下が防
止できることになる。
段2は、第4図及び第5図に示すように、回転軸10に
取着され方位角の基準位置検出用のスリット22が穿設
された回転板21と、回転板21を挾んで対設された発
光素子23お上り受光素子24よりなるフォトインタラ
プタと、発光素子23からの光がスリット22を介して
受光素子24にて受光されたときに出力される信号を波
形整形して基準位置パルスを形成する波形整形器25と
、上記基準位置パルスにてリセットされクロック回路2
6にて発生された基準クロックを計数する計数回路27
とで構成され、計数回路27出力として基準位置に対す
る回転光学系1の回転角を示す方向情報が逐次出力され
る。なお、多数の回転検出用スリッ)22aが等間隔で
列設されている回転板21の局部に別の7オトインタラ
ブタの投、受光素子を対設し、回転検出用スリット22
aを介して受光素子にて受光されるパルス尤に対応する
パルス信号を上記基準クロックとしても良く、この場合
、走査鏡1aの回転むらによる方向検出精度の低下が防
止できることになる。
次に、加算手段4出力の周波数に基いて被検知物体Aま
での距離を演算する演算子Pi5は、第3図に示すよう
に、加算手段4出力を反転するインバータ51と、加算
手段4出力Vaお上りその反転信号を波形整形する波形
整形器!>2a、52bと、波形整形器52a、52b
出力V b、 V eにて制御されるデート回路53a
、53bと、クロック回路55から出力されるクロック
信号Vfをデート回路53a、53bを介して計数する
計数回路54a豐54bと、レベル判定回路56a、5
6bと、加算手段4出力Vaのゼロクロス点を検出する
ゼロクロス点検出回路57と、記憶手段59を含み各回
路出力に基いて加算手段4出力Vaの有効成分の平均周
波数を計測(詳細な動作は後述)し、この計測された周
波数に基いて距離を演算する演算回路(マイクロコンピ
ュータ)58とで構成されている。また、状況判定手段
6は、方向検出手段2から出力された方向情報および演
算手段5から出力された距離情報に基いて状況を判定す
るものである。
での距離を演算する演算子Pi5は、第3図に示すよう
に、加算手段4出力を反転するインバータ51と、加算
手段4出力Vaお上りその反転信号を波形整形する波形
整形器!>2a、52bと、波形整形器52a、52b
出力V b、 V eにて制御されるデート回路53a
、53bと、クロック回路55から出力されるクロック
信号Vfをデート回路53a、53bを介して計数する
計数回路54a豐54bと、レベル判定回路56a、5
6bと、加算手段4出力Vaのゼロクロス点を検出する
ゼロクロス点検出回路57と、記憶手段59を含み各回
路出力に基いて加算手段4出力Vaの有効成分の平均周
波数を計測(詳細な動作は後述)し、この計測された周
波数に基いて距離を演算する演算回路(マイクロコンピ
ュータ)58とで構成されている。また、状況判定手段
6は、方向検出手段2から出力された方向情報および演
算手段5から出力された距離情報に基いて状況を判定す
るものである。
以下、実施例の動作について説明する。第6図および第
7図は本発明の距離測定の原理を説明する図であり、い
ま、被検知物体Aから走査$t1 aの回転中心までの
距離をR(−)、走査鏡1aから集光光学系1bまでの
距離をd(曽)集光光学系1bから結像面までの距離を
r(−)とし、走査鏡1aによる物面走査は、等価的に
走査鏡1aの回転中心Oを輪に被検知物体Aが回転する
と考えれば良い、ここに、光軸上のXに被検知物体Aが
存在し、走査#!1aの回転速度の2倍の回転速度ω(
rad/5ee)で等価的に被検知物体Aが回転し、A
t(see)の間に、θ(rid)回転し、X゛の位置
に移動した場合において、被検知物体Aの移動断層をS
(m)とする。
7図は本発明の距離測定の原理を説明する図であり、い
ま、被検知物体Aから走査$t1 aの回転中心までの
距離をR(−)、走査鏡1aから集光光学系1bまでの
距離をd(曽)集光光学系1bから結像面までの距離を
r(−)とし、走査鏡1aによる物面走査は、等価的に
走査鏡1aの回転中心Oを輪に被検知物体Aが回転する
と考えれば良い、ここに、光軸上のXに被検知物体Aが
存在し、走査#!1aの回転速度の2倍の回転速度ω(
rad/5ee)で等価的に被検知物体Aが回転し、A
t(see)の間に、θ(rid)回転し、X゛の位置
に移動した場合において、被検知物体Aの移動断層をS
(m)とする。
また、集光光学系1bから見込む被検知物体Aの変位角
をΔ(1(rad)とすると、変位量が微少である場合
、以下の式が得られる。
をΔ(1(rad)とすると、変位量が微少である場合
、以下の式が得られる。
AS=RAθ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・
(1)As=(R+d)Aa −・・・・−・・−−<
2)また、次式が成り立つ、 lθ=ωat・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(3)また、(1)(2)(3)式より次式が成り
立つ、Aa=(R/(R+d))al At ・・・・
・・(4)次に、被検知物体Aの位1x、x”に対応し
た結像面上の結像位置をX”、X″パし、結像の移動距
離を、ds’(m)とすれば、次式が成り立つ、AS=
AaAt・・・・・・・・・・・・・・・・・・(5
)したがって、結像の移動速度V(■/5ee)は、(
4)(5)式より次式のようになる。
(1)As=(R+d)Aa −・・・・−・・−−<
2)また、次式が成り立つ、 lθ=ωat・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(3)また、(1)(2)(3)式より次式が成り
立つ、Aa=(R/(R+d))al At ・・・・
・・(4)次に、被検知物体Aの位1x、x”に対応し
た結像面上の結像位置をX”、X″パし、結像の移動距
離を、ds’(m)とすれば、次式が成り立つ、AS=
AaAt・・・・・・・・・・・・・・・・・・(5
)したがって、結像の移動速度V(■/5ee)は、(
4)(5)式より次式のようになる。
V = As ’/ at=ra+/(1+d/ R)
・・・・・(6)上式(6)を距離Rについて解くと、
次のようになる。
・・・・・(6)上式(6)を距離Rについて解くと、
次のようになる。
R=d/(ra+/V−1) =−=(7)上式(6
)から、結像の移動速度■を求めることにより距離Rを
得ることができる。
)から、結像の移動速度■を求めることにより距離Rを
得ることができる。
次に、被検知物体Aの像x”、x”°の移動速度■を検
知素子アレイ3出力により求める方法をtJi7図に示
す動作説明図に基いて説明する。第7図(a)に示すよ
うに検知素子アレイ3の相隣接する光検知素子30.3
1は出力が互いに反転されて加算されるいわゆる極性を
もった検知素子であり、その配設ピッチはα(−)とな
っている、これらの光検知素子30.31の受光面上を
被検知物体Aの像X″が移動速度■で矢印方向に移動し
た場合には加算手段4出力Vaとして、第7図(b)に
示すような複極信号が得られる。この複極信号の周期を
T(see)とすれば、 T=2α/V・・・・・・・・・・・・・・・・・・(
8)となり、上式(7)から加算手jffi 4出力V
aの周波数f(Hz)は f=V/2α・・・・・・・・・・・・・・・・・・(
9)となる、ここに、(7)(9)式より、周波数fと
被検知物体へまでの距離Rとの関係は次式で与えられる
。
知素子アレイ3出力により求める方法をtJi7図に示
す動作説明図に基いて説明する。第7図(a)に示すよ
うに検知素子アレイ3の相隣接する光検知素子30.3
1は出力が互いに反転されて加算されるいわゆる極性を
もった検知素子であり、その配設ピッチはα(−)とな
っている、これらの光検知素子30.31の受光面上を
被検知物体Aの像X″が移動速度■で矢印方向に移動し
た場合には加算手段4出力Vaとして、第7図(b)に
示すような複極信号が得られる。この複極信号の周期を
T(see)とすれば、 T=2α/V・・・・・・・・・・・・・・・・・・(
8)となり、上式(7)から加算手jffi 4出力V
aの周波数f(Hz)は f=V/2α・・・・・・・・・・・・・・・・・・(
9)となる、ここに、(7)(9)式より、周波数fと
被検知物体へまでの距離Rとの関係は次式で与えられる
。
R=d/((ra+/ 2 Qf) −1)−−・・−
・−・・(10)すなわち、加算手段4出力Vaの周波
数fを求めることにより被検知物体Aまでの相離Rが演
算できることになる。
・−・・(10)すなわち、加算手段4出力Vaの周波
数fを求めることにより被検知物体Aまでの相離Rが演
算できることになる。
以下、実施例における具体的測距動作について第8図を
用いて説明する。いま、第8図(a)は加算手段4出力
Vaの信号波形を示しており、演算手段5は、この加算
手段4出力Vaのゼロクロス点間の周期をそれぞれ求め
て、その平均値から周波数を決定する回路であり、まず
、加算手段4出力Vaは波形整形器52aに入力され、
正の信号波形のみが整形されて第8図(b)に示すよう
な正パルス信号vbが出力される。一方、出力Vaはイ
ンバータ51にで反転されて波形整形器52bにも入力
されており、波形整形器52bにて負の信号波形のみが
整形されて第8図(6)に示すような負パルス信号Vc
が出力される。この正、負パルス信号V b、 V c
にて制御されるデート回路53a、53bを介してクロ
ック回路55にて発生されたクロックVf(第8図(r
)に示す)が加算手段4出力Vaのゼロクロス点でリセ
ット(後述)される計数回路54a*54bに入力され
ており、計数回路54a。
用いて説明する。いま、第8図(a)は加算手段4出力
Vaの信号波形を示しており、演算手段5は、この加算
手段4出力Vaのゼロクロス点間の周期をそれぞれ求め
て、その平均値から周波数を決定する回路であり、まず
、加算手段4出力Vaは波形整形器52aに入力され、
正の信号波形のみが整形されて第8図(b)に示すよう
な正パルス信号vbが出力される。一方、出力Vaはイ
ンバータ51にで反転されて波形整形器52bにも入力
されており、波形整形器52bにて負の信号波形のみが
整形されて第8図(6)に示すような負パルス信号Vc
が出力される。この正、負パルス信号V b、 V c
にて制御されるデート回路53a、53bを介してクロ
ック回路55にて発生されたクロックVf(第8図(r
)に示す)が加算手段4出力Vaのゼロクロス点でリセ
ット(後述)される計数回路54a*54bに入力され
ており、計数回路54a。
54bによって正、負パルス信号V b、 V cの1
パルスの時間幅(例えば、l Hl″レベル時間が計測
(クロック周期Xカウント数)されるようになっている
0次に、ゼロクロス点検出回路32にて検出されたゼロ
クロス信号は演算回路58に入力されており、このゼロ
クロス信号が得られたときに、計数回路54a、54b
の計数結果が演算回路58に読み込まれ、後述するレベ
ル判定回路56a、56b出力に基いて有効と判定され
た計数結果を記憶手Pi59に記憶させた後、計数回路
54a、54bのリセット信号が演算回路58から出力
されるようになっている0次に、レベル判定回路56a
、56bでは、加算手段4出力Vaのレベルがしきい値
電圧VT、−V、を越えた場合に、第8図(d)(e)
に示すように、有効信号であることを示す判定信号Vd
、Veをラッチして出力するようになっており、演算回
路58では、ゼロクロス信号が得られた時点でこの判定
信号V d、 V eをチェックし、判定信号V dw
V eft’ ” 1 ”ノ場合には、前述したよう
に正、負パルス信号の時間幅の計測結果を有効と見なし
て記憶手段59に記憶させるとともに、有効パルスを計
数するパルス数カウンタをカウントアツプする。このと
き、演算回路58からレベル判定回路56a、56bに
ラッチされている判定信号Vd。
パルスの時間幅(例えば、l Hl″レベル時間が計測
(クロック周期Xカウント数)されるようになっている
0次に、ゼロクロス点検出回路32にて検出されたゼロ
クロス信号は演算回路58に入力されており、このゼロ
クロス信号が得られたときに、計数回路54a、54b
の計数結果が演算回路58に読み込まれ、後述するレベ
ル判定回路56a、56b出力に基いて有効と判定され
た計数結果を記憶手Pi59に記憶させた後、計数回路
54a、54bのリセット信号が演算回路58から出力
されるようになっている0次に、レベル判定回路56a
、56bでは、加算手段4出力Vaのレベルがしきい値
電圧VT、−V、を越えた場合に、第8図(d)(e)
に示すように、有効信号であることを示す判定信号Vd
、Veをラッチして出力するようになっており、演算回
路58では、ゼロクロス信号が得られた時点でこの判定
信号V d、 V eをチェックし、判定信号V dw
V eft’ ” 1 ”ノ場合には、前述したよう
に正、負パルス信号の時間幅の計測結果を有効と見なし
て記憶手段59に記憶させるとともに、有効パルスを計
数するパルス数カウンタをカウントアツプする。このと
き、演算回路58からレベル判定回路56a、56bに
ラッチされている判定信号Vd。
Veのリセット信号が出力され、レベル判定結果をリセ
ットして次のレベル判定に備えるようになっている。一
方、判定信号V d、 V eが0”のときには計測さ
れた時間幅は無効データとしてキャンセルされることは
言うまでもなく、この場合、計数回路54m、54bは
リセットする必要があるものの、レベル判定回路56m
、56bのラッチ回路をリセットする必要は特にないが
、リタットするようにしても良い、このようにして有効
パルス数と、各有効パルスのゼロクロス点間の時間幅(
周期)が記憶手段59に順次記憶され、時間幅の平均値
が演算され、この平均時間幅に基いて出力Vaの周波数
f(=1/2T)が演算される。この周波数fは被検知
物体Aまでの距離Rに対応するデータであり、演算回路
58から出力される周波数データは距離情報として状況
判定手段6に入力される。なお、加算手段4出力Vaに
は不要な周波数成分が含まれており、この不要周波数成
分を帯域フィルタによって除去するようにすれば、高精
度の周波数測定が行えることになり、特に、実施例にお
いてはゼロボルト点を保持するためにも不可欠であるの
で、加算手段4内に不要波除去用帯域フィルタが付加さ
れている。*た、本実施例では、加算手段4出力Vaの
ゼロクロス点間の時間幅に基いて周波数fを求めでいる
が、出力Vaのピーク点間の時間幅に基いて周波数fを
求めることも可能である。また、出力Vaの信号波形を
A/D変換してF、F、T、法あるいはM、E、M、法
などのデジタル演算によって周波数スペクトルを求め、
その極大値から周波数fを求めることも可能である。
ットして次のレベル判定に備えるようになっている。一
方、判定信号V d、 V eが0”のときには計測さ
れた時間幅は無効データとしてキャンセルされることは
言うまでもなく、この場合、計数回路54m、54bは
リセットする必要があるものの、レベル判定回路56m
、56bのラッチ回路をリセットする必要は特にないが
、リタットするようにしても良い、このようにして有効
パルス数と、各有効パルスのゼロクロス点間の時間幅(
周期)が記憶手段59に順次記憶され、時間幅の平均値
が演算され、この平均時間幅に基いて出力Vaの周波数
f(=1/2T)が演算される。この周波数fは被検知
物体Aまでの距離Rに対応するデータであり、演算回路
58から出力される周波数データは距離情報として状況
判定手段6に入力される。なお、加算手段4出力Vaに
は不要な周波数成分が含まれており、この不要周波数成
分を帯域フィルタによって除去するようにすれば、高精
度の周波数測定が行えることになり、特に、実施例にお
いてはゼロボルト点を保持するためにも不可欠であるの
で、加算手段4内に不要波除去用帯域フィルタが付加さ
れている。*た、本実施例では、加算手段4出力Vaの
ゼロクロス点間の時間幅に基いて周波数fを求めでいる
が、出力Vaのピーク点間の時間幅に基いて周波数fを
求めることも可能である。また、出力Vaの信号波形を
A/D変換してF、F、T、法あるいはM、E、M、法
などのデジタル演算によって周波数スペクトルを求め、
その極大値から周波数fを求めることも可能である。
次に、状況判定手段6では、この距離情報と方向検出手
Pi2から出力される方向情報とを同期をとって取り込
むことにより対応させ、画情報に基いて被検知物体Aの
位置を正確に判定し、予め設定された監視領域情報と、
被検知物体Aの位置情報に基いて監視領域内における侵
入者の有無、火災発生の有無などの状況を判定し、侵入
者あるいは火災発生が検知された場合には警報手段など
の出力装置を駆動する異常検知信号を出力するようにな
っている。
Pi2から出力される方向情報とを同期をとって取り込
むことにより対応させ、画情報に基いて被検知物体Aの
位置を正確に判定し、予め設定された監視領域情報と、
被検知物体Aの位置情報に基いて監視領域内における侵
入者の有無、火災発生の有無などの状況を判定し、侵入
者あるいは火災発生が検知された場合には警報手段など
の出力装置を駆動する異常検知信号を出力するようにな
っている。
なお、監視領域は有効視野および検出限界距離の範囲内
で任意に設定でき、複雑な監視領域の設定も容易にでき
る。また、走査鏡1a、集光光学Jlbおよび検知素子
アレイ3の構成により決定される角度分解能の範囲内で
被検知物体Aの数の判定も可能になる。
で任意に設定でき、複雑な監視領域の設定も容易にでき
る。また、走査鏡1a、集光光学Jlbおよび検知素子
アレイ3の構成により決定される角度分解能の範囲内で
被検知物体Aの数の判定も可能になる。
[発明の効果]
本発明は上述のように、一定速度で回転する走査鏡およ
び集光光学系にて形成され被検知物体からの光を受光す
る走査光学系と、集光光学系の焦点近傍に配設され結像
された像の移動方向に複数の光検知素子が列設された検
知素子アレイと、走査鏡の視野方向を検出する方向検出
手段と、上記検知素子アレイの相隣接する光検知素子出
力を交互に極性を反松して加算する加算手段と、上記加
算手段出力の周波数に基いて被検知物体までの匪離を演
算する演算手段と、方向検出手段から出力された方向情
報および演算手段から出力された距離情報に基いて状況
を判定する状況判定手段とで構成されており、広域に亘
って被検知物体までの距離および方向を検出して被検知
物体の位置を判定でき、しかも走査鏡のみを回転駆動す
ればよいので、構成が簡単でコストを安(することがで
軽るという効果がある。
び集光光学系にて形成され被検知物体からの光を受光す
る走査光学系と、集光光学系の焦点近傍に配設され結像
された像の移動方向に複数の光検知素子が列設された検
知素子アレイと、走査鏡の視野方向を検出する方向検出
手段と、上記検知素子アレイの相隣接する光検知素子出
力を交互に極性を反松して加算する加算手段と、上記加
算手段出力の周波数に基いて被検知物体までの匪離を演
算する演算手段と、方向検出手段から出力された方向情
報および演算手段から出力された距離情報に基いて状況
を判定する状況判定手段とで構成されており、広域に亘
って被検知物体までの距離および方向を検出して被検知
物体の位置を判定でき、しかも走査鏡のみを回転駆動す
ればよいので、構成が簡単でコストを安(することがで
軽るという効果がある。
第1図は本発明一実施例の概略構成を示すブロック図、
第2図は同上の要部構成を示す斜視図、第3図は同上の
要部ブロック回路図、第4図は同上の5!部概略ブロッ
ク図、第5図は同上の要部斜視図、第6図乃至第8図は
同上の動作説明図である。 Aは被検知物体、1は走査光学系、1aは走査鏡、1b
は集光光学系、2は方向検出手段、3は検知素子アレイ
、4は加算手段、5は演算手段、6は状況判定手段であ
る。 代理人 弁理士 石 1)長 七 第4図 第5図 第6図 第7図 ス 第8図 (f)Vf
第2図は同上の要部構成を示す斜視図、第3図は同上の
要部ブロック回路図、第4図は同上の5!部概略ブロッ
ク図、第5図は同上の要部斜視図、第6図乃至第8図は
同上の動作説明図である。 Aは被検知物体、1は走査光学系、1aは走査鏡、1b
は集光光学系、2は方向検出手段、3は検知素子アレイ
、4は加算手段、5は演算手段、6は状況判定手段であ
る。 代理人 弁理士 石 1)長 七 第4図 第5図 第6図 第7図 ス 第8図 (f)Vf
Claims (1)
- (1)一定速度で回転する走査鏡および集光光学系にて
形成され被検知物体からの光を受光する走査光学系と、
集光光学系の焦点近傍に配設され結像された像の移動方
向に複数の光検知素子が列設された検知素子アレイと、
走査鏡の視野方向を検出する方向検出手段と、上記検知
素子アレイの相隣接する光検知素子出力を交互に極性を
反転して加算する加算手段と、上記加算手段出力の周波
数に基いて被検知物体までの距離を演算する演算手段と
、方向検出手段から出力された方向情報および演算手段
から出力された距離情報に基いて状況を判定する状況判
定手段とより成る広域状況監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62119622A JP2555074B2 (ja) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | 広域状況監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62119622A JP2555074B2 (ja) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | 広域状況監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63284404A true JPS63284404A (ja) | 1988-11-21 |
| JP2555074B2 JP2555074B2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=14765997
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62119622A Expired - Fee Related JP2555074B2 (ja) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | 広域状況監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2555074B2 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59103200A (ja) * | 1982-12-06 | 1984-06-14 | 富士通テン株式会社 | 交通量の計測装置 |
| JPS59120809A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-12 | Suteo Tsutsumi | 自動車後方センサ |
| JPS6024404A (ja) * | 1983-07-20 | 1985-02-07 | Shimadzu Corp | 変位計 |
| JPS6055210A (ja) * | 1983-09-06 | 1985-03-30 | Nec Corp | 非接触三次元測定装置 |
-
1987
- 1987-05-15 JP JP62119622A patent/JP2555074B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59103200A (ja) * | 1982-12-06 | 1984-06-14 | 富士通テン株式会社 | 交通量の計測装置 |
| JPS59120809A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-12 | Suteo Tsutsumi | 自動車後方センサ |
| JPS6024404A (ja) * | 1983-07-20 | 1985-02-07 | Shimadzu Corp | 変位計 |
| JPS6055210A (ja) * | 1983-09-06 | 1985-03-30 | Nec Corp | 非接触三次元測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2555074B2 (ja) | 1996-11-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3864030A (en) | Eye position measuring technique | |
| JPH06123610A (ja) | 対物の光学的測定方法及び測定装置 | |
| JP3150404B2 (ja) | 光学系における屈折力の測定方法および測定装置 | |
| US5473436A (en) | Surface shape measurement device with slit plate and single photoelectric converter | |
| JPS63284404A (ja) | 広域状況監視装置 | |
| JPS62112078A (ja) | 広域状況監視装置 | |
| JPH06258042A (ja) | 距離測定方法および装置 | |
| JPS62112079A (ja) | 広域状況監視装置 | |
| JP3269925B2 (ja) | 部材のエッジ位置検出方法 | |
| JPH0619428B2 (ja) | 広域状況監視装置 | |
| JPS63120268A (ja) | 広域状況監視装置 | |
| JPH0233186Y2 (ja) | ||
| JPS60192286A (ja) | 混雑度検出装置の素子の配置方法 | |
| SU1479822A1 (ru) | Устройство дл измерени линейных размеров объектов | |
| JP2674129B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| JP3039623U (ja) | 測距装置 | |
| JPS6360324B2 (ja) | ||
| JPS61246605A (ja) | 物体の寸法測定方法 | |
| JPS62255807A (ja) | 膜厚測定装置 | |
| JPS60170706A (ja) | 光学式表面変位検出回路 | |
| JPH09210639A (ja) | 外径測定装置 | |
| JPH028671B2 (ja) | ||
| JPH08136246A (ja) | 変位・間隔計測用光学ヘッド、変位・間隔計測装置及びこの装置を用いたicリード検査装置 | |
| JP2805040B2 (ja) | 眼屈折力測定装置 | |
| JPH08154927A (ja) | X線ct装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |