JPS6329464A - パネルの配線パタ−ンの構造 - Google Patents

パネルの配線パタ−ンの構造

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JPS6329464A
JPS6329464A JP17215086A JP17215086A JPS6329464A JP S6329464 A JPS6329464 A JP S6329464A JP 17215086 A JP17215086 A JP 17215086A JP 17215086 A JP17215086 A JP 17215086A JP S6329464 A JPS6329464 A JP S6329464A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
panel
layer
wiring pattern
solder
mounting
Prior art date
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Pending
Application number
JP17215086A
Other languages
English (en)
Inventor
健一 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Publication date
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Publication of JPS6329464A publication Critical patent/JPS6329464A/ja
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Landscapes

  • Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はパネル上でICその他の素子を実装する液晶パ
ネルなどの表示用パネルのようなガラス等の透明絶縁基
板上の3明導電膜パターンの配線構造に関するもので、
特にICをフリ、ブチ、プボンディング(以下PCBと
いう)実装するに適するものである。
〔発明の概要〕
ガラス等の透明絶縁基板上に透明導電膜パターンを形成
したパネル上でICその他の素子実装を行う方式におい
て、上記パネルの配線パターン構造として、配線パター
ンの素子を実装する付辺の領域をはんだ濡れ性の良い金
属を表層とする層を透明導電膜上に形成し、さらに素子
実装部の少なくともその周辺部のはんだ濡れ性の良い金
属を表層とする層上にはんだレジスト層を形成したパタ
ーン構造とすることで、実装時のはんだの流れを制御し
、はんだバンプ付ICを用いたPCB実装の場合には、
ICとパネルとの間隙がひろくなり、ICのエツジショ
ートを防止するといった実装の信頼性を高めるようにし
たゆ 〔従来の技術〕 従来、ガラス等の透明絶縁基板上に透明4電膜パターン
を形成した表示パネルなどのパネル上でICその他の素
子を実装する際のパネルの配線パターンとしては、第2
図にみられるように、素子を実装する付辺の領域にはん
だ2孟れ性の良い金属を表層とする層が透明導電膜上に
形成されている構造であった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、このような構造においては、はんだが表
面を流れやすく、ICとしてはんだハンプ付1cを用い
、FCB方弐で実装する場合においては、はんだが流れ
ることにより、ICとパネルとの間隙が狭くなり、第2
図に示すようにICのエッヂにおいてはんだとショート
が発生し、実装不良となるなど、実装の信頼性に問題が
あった。
本発明はこのような実装において、その信頼性を高める
ことが可能な配線パターンの構造を低コストに提供しよ
うというものである。
〔問題点を解決するための手段〕
上記のような問題点を解決するため、パネルの配線パタ
ーンの構造として、素子を実装する付辺の領域に従来と
同様はんだ濡れ性の良い金属を表層とする層を透明導電
膜上に形成し、さらに素子実装部の少なくともその周辺
部のはんだ濡れ性の良い金属を表層とする層上にはんだ
レジスト層を形成するようにした。
〔作用〕
このように従来の構成にはんだレジスト層を付加するこ
とで、素子実装部でのはんだ流れ量を制御することが可
能となる。
〔実施例〕
以下実施例により本発明の詳細な説明する。
第1図に示すように、ガラスなどの透明絶縁基板よりな
るパネル1上にTTO,ネサ膜などの透明導電膜2が蒸
着などのPVD法あるいはCVD法により形成され、フ
ォトエツチングなどを使用し配線パターンが構成されて
いる。これに、素子を実装する付辺の領域に、はんだ濡
れ性の良い金属(金、銀1w4など)を表層とする層(
通常クロム、ニッケルなどが下地として施される)3が
形成されている。この形成方法としてはPVD法。
無電解めっき法により全面形成し、必要領域以外をエツ
チング除去する方法、不要部をマスキングした後部分的
にPVD法、無電解めっき法により形成する方法などが
使用される。次に素子実装部の少なくともその周辺部の
はんだ濡れ性の良い金属を表層とする層3上にはんだレ
ジスト層4を形成し、配線パターンを完成させた。
ここにおいて、はんだレジスト層の形成方法としては、
スクリーン印刷によるはんだレジストの形成も可能であ
るが、パターンが高密度になれば、はんだレジスト性を
存するフォトレジストを使用した層形成が精度を出す上
で有利である。
このような配線パターンの構造を有する表示用パネルを
用いて、ドライバー1cをFCB方弐で実装した所、は
んだ流れも少なくエフデシヨードも発生せず、信頼性が
高く、品質の良いパネルを得ることが出来た。(第3図
) 〔発明の効果〕 以上述べてきたように本発明によれば、はんだレジスト
層を素子実装部周辺に配置することにより、はんだの流
れ量が制御出来、はんだバンプ付ICを使用したPCB
実装においては、ICとパネルとの間隙をひろくとるこ
とが出来、エフデシヨードなどの問題が解決でき、実装
の信頼性を増すことが出来る。また、はんだの流れ性を
気にする他の素子の実装においても、同様に信頼性を高
めることが出来る。
さらに、本発明の配線パターンの構造は従来の構造には
んだレジスト層を付加するのみの構造のため、従来の工
程を大幅に変更することなく、かつ、設備的にも多くを
要さないため、低コストで信頼性を高めることが可能に
なる。
なお、本発明は液晶パネルなどの表示パネル以外にも同
様な構成で実装を行う他の用途にも使用出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すパネルの配線パターン
の一部を示す平面図(A)、断面図(B)、第2図は従
来方法による実装部を示す断面図、第3図は本発明によ
る実装部を示す断面図である。 以上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ガラス等の透明絶縁基板上に透明導電膜パターンを形
    成したパネル上でICその他の素子を実装するパネルの
    配線パターンにおいて、素子を実装する付辺の領域をは
    んだ濡れ性の良い金属を表層とする層を透明導電膜上に
    形成し、さらに素子実装部の少なくともその周辺部のは
    んだ濡れ性の良い金属を表層とする層上にはんだレジス
    ト層を形成したことを特徴とするパネルの配線パターン
    の構造。
JP17215086A 1986-07-22 1986-07-22 パネルの配線パタ−ンの構造 Pending JPS6329464A (ja)

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JPS6329464A true JPS6329464A (ja) 1988-02-08

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ID=15936490

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01135423U (ja) * 1988-03-10 1989-09-18
JP2008026528A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd ディスプレイ装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01135423U (ja) * 1988-03-10 1989-09-18
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