JPS63315599A - 無機化合物単結晶の成長方法 - Google Patents
無機化合物単結晶の成長方法Info
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- JPS63315599A JPS63315599A JP14866887A JP14866887A JPS63315599A JP S63315599 A JPS63315599 A JP S63315599A JP 14866887 A JP14866887 A JP 14866887A JP 14866887 A JP14866887 A JP 14866887A JP S63315599 A JPS63315599 A JP S63315599A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野−1
本発明は、周期律表第IIIb族及び第Vb族元素から
なる無機化合物(以下fnl−V化合物1という。)の
単結晶の1&艮方法に関する。
なる無機化合物(以下fnl−V化合物1という。)の
単結晶の1&艮方法に関する。
(従来の技術1
[1−V化合物の単結晶は、電子の易動度が大であるの
で高周波用又は高速処理用の素子、例えばFET、IC
等の製造に用いられている。
で高周波用又は高速処理用の素子、例えばFET、IC
等の製造に用いられている。
これらの素子の製造には、C,B等の不純物の含有量の
少ない高純度の単結晶から切出した基板を用いることが
必要とされる。これは、上記の素子は、これらの基板に
Si等のイオンをイオン注入して製造するが、不純物、
特にBの含有量が大であると、イオン注入したイオンの
活性化率が低くなる、あるいは、そのばらつきが大きく
なる等の問題が生じるからである。
少ない高純度の単結晶から切出した基板を用いることが
必要とされる。これは、上記の素子は、これらの基板に
Si等のイオンをイオン注入して製造するが、不純物、
特にBの含有量が大であると、イオン注入したイオンの
活性化率が低くなる、あるいは、そのばらつきが大きく
なる等の問題が生じるからである。
従来、■−V化合物単結晶は、液体カプセル引上げ法(
以下rLEc法」という、)により単結晶を成長させる
装置(以下「LEC装置」という。)内で、高純度の第
[lb族元素及び第Vb族元素を直接反応させて■−■
化合物を合成し、その化合物の融液を得た後、直ちに、
その融液から単結晶を成長させる方法が採用されていた
。これは、LEC装置内で、直接■−■化合物を合成す
るので、不要な不純物の混入の機会が少なく、従って、
高純度の単結晶を得やすいがらである。
以下rLEc法」という、)により単結晶を成長させる
装置(以下「LEC装置」という。)内で、高純度の第
[lb族元素及び第Vb族元素を直接反応させて■−■
化合物を合成し、その化合物の融液を得た後、直ちに、
その融液から単結晶を成長させる方法が採用されていた
。これは、LEC装置内で、直接■−■化合物を合成す
るので、不要な不純物の混入の機会が少なく、従って、
高純度の単結晶を得やすいがらである。
また、その際、水を2001)l)II(重量比、以下
同様。)以Jl−有する三酸化二ほう素をカプセル剤と
して用いると、Bの含有量が少ない高純度のIIi結品
が得られることが知られていた。この場合、水の含有量
が大である程、単結晶中のBの含有量が低下することも
知られていた。
同様。)以Jl−有する三酸化二ほう素をカプセル剤と
して用いると、Bの含有量が少ない高純度のIIi結品
が得られることが知られていた。この場合、水の含有量
が大である程、単結晶中のBの含有量が低下することも
知られていた。
[発明が解決しようとする問題点」
しかしながら、三酸化二ほう素の水の含有量が大となる
程単結晶化が困難になり、特に6001111 III
を超えると殆ど単結晶化しないという問題があった。
程単結晶化が困難になり、特に6001111 III
を超えると殆ど単結晶化しないという問題があった。
1問題点を解決するための手段」
本発明者等は、高純度の■−■化合物単結晶を歩留りよ
<!!!造する方法を開発することを目的として、鋭意
研究を重ねた結果、水を多頃に含有する三酸化二ほう素
で第111b族及び第Vb族元素の混合物を覆って合成
したnr −v化合物を用いることにより上記の目的を
達せられることを見出だし本発明に到達したものである
。
<!!!造する方法を開発することを目的として、鋭意
研究を重ねた結果、水を多頃に含有する三酸化二ほう素
で第111b族及び第Vb族元素の混合物を覆って合成
したnr −v化合物を用いることにより上記の目的を
達せられることを見出だし本発明に到達したものである
。
すなわち、本発明の上記の目的は、■−■化合物の融液
から、LEC法により単結晶を成長させる方法において
、上記■−■化合物として、第lll1)族元素及び第
Vb族元素の混合物を、水を少なくと610001)1
1111含有する三酸化二ほう素の融液で覆い、かつ、
不活性な素材でできたるつぼ中で反応させて合成したも
のである方法により達せられる。
から、LEC法により単結晶を成長させる方法において
、上記■−■化合物として、第lll1)族元素及び第
Vb族元素の混合物を、水を少なくと610001)1
1111含有する三酸化二ほう素の融液で覆い、かつ、
不活性な素材でできたるつぼ中で反応させて合成したも
のである方法により達せられる。
■−■化合物としては、GaAs、InP、InAs、
G akr I r+、A s(0、001≦ 8 ≦
0.01 )、GaP等がある。
G akr I r+、A s(0、001≦ 8 ≦
0.01 )、GaP等がある。
III −V化合物は、不活性な素材で作られたるっば
を用いて、そのるつぼ中骨所望型の第111族冗素及び
第Vb族元素を反応させて製造する。
を用いて、そのるつぼ中骨所望型の第111族冗素及び
第Vb族元素を反応させて製造する。
なお、「不活性」とは、高温、特にIII −V化合物
の融、α付近の温度で、■−■化合物と反応しないこと
をいう。
の融、α付近の温度で、■−■化合物と反応しないこと
をいう。
不活性な素材としては、1)BN、AIN笠がある。
不活性な素材で作られたるつぼを用いない場合、■−■
化合物又は単結晶が、るつぼの成分に汚染されるので好
ましくない。
化合物又は単結晶が、るつぼの成分に汚染されるので好
ましくない。
第IIIb族元素と第Vb族元素を反応させる際には、
混合物を三酸化二ほう素で覆いながら反応させることが
必要である。これは、As、P等の第V I3族元素の
蒸気圧が高く、反応中に揮発するからである。さらに、
第Vb族元素の揮発を防市するために、■−■化合物の
合成の際に5へ、100kg/cm2程度の不活性気体
の圧力をかけるのが好ましい。また、三酸化二ほう素は
、透明なFA液を生じ、かつ、■−■化合物の融液より
地中が小さいのでカプセル剤として適当である。
混合物を三酸化二ほう素で覆いながら反応させることが
必要である。これは、As、P等の第V I3族元素の
蒸気圧が高く、反応中に揮発するからである。さらに、
第Vb族元素の揮発を防市するために、■−■化合物の
合成の際に5へ、100kg/cm2程度の不活性気体
の圧力をかけるのが好ましい。また、三酸化二ほう素は
、透明なFA液を生じ、かつ、■−■化合物の融液より
地中が小さいのでカプセル剤として適当である。
化合物の製造装置としては、特別の装置を用いてもよい
が、通常のL E C装(6を用いるのがより簡単で好
ましい。
が、通常のL E C装(6を用いるのがより簡単で好
ましい。
In −V化合物の合成の際に用いられる三酸化二ほう
素は、水を少なくと610001+p+@含イ1′シて
いることが必要である。水の含有量が、1 (> (1
(1旧1111未満であると得られた多結晶中の不純物
、例えば、ほう素の含有量が高くなり好ましくない。
素は、水を少なくと610001+p+@含イ1′シて
いることが必要である。水の含有量が、1 (> (1
(1旧1111未満であると得られた多結晶中の不純物
、例えば、ほう素の含有量が高くなり好ましくない。
また、水の含有酸は、5000 pp+a以下であると
より好ましい。
より好ましい。
第1II I)族元素と第Vb族元素の混合物を反応さ
せるには、その反応が生じる温度以上、好ましくは■−
■化合物の融点以上に加熱する。通常は、約700〜約
1500℃の範囲に加熱して反応させる。例えば、Ga
Asを合成する場合は、約800℃以上好ましくは、約
1240℃に加熱する。
せるには、その反応が生じる温度以上、好ましくは■−
■化合物の融点以上に加熱する。通常は、約700〜約
1500℃の範囲に加熱して反応させる。例えば、Ga
Asを合成する場合は、約800℃以上好ましくは、約
1240℃に加熱する。
単結晶の成長方法は、LEC法による。これは、LEC
法は、るつぼの素材としてpBN、、AIN等の不活性
な素材が用いることができるので高純度の単結晶を製造
することができるからである。
法は、るつぼの素材としてpBN、、AIN等の不活性
な素材が用いることができるので高純度の単結晶を製造
することができるからである。
単結晶の成長に用いる三酸化二ほう素は、水の含有酸が
多いと91結晶の歩留りが低下するので、乾燥したもの
が好ましい。この場合、水の含有酸は、GOOp、論以
下が好ましく、300pp瞳以下であると特に好ましい
。
多いと91結晶の歩留りが低下するので、乾燥したもの
が好ましい。この場合、水の含有酸は、GOOp、論以
下が好ましく、300pp瞳以下であると特に好ましい
。
得られた■−■化合物を用いて単結晶を成FCさせるに
は、当該化合物を冷却して得た多結晶を、その製造装置
から取出した後、L E C装置内に装入して再融解し
て、LEC法により成長させるのが、通常であるが、■
−■化合物の合成に用いたLEご装置d中で、化合物の
合成工程に続いて、同一の装置内で単結晶を成長させて
もよい。後者の場合、化合物の合成に用いた三酸化二ほ
う素は、水の含有量が単結晶成長に用いるには多すぎる
ため、予め別の容器に収容してL[EC装置内に配置し
ておいた乾燥した三酸化二は)素を、単結晶成長の直1
ViIにるつぼ内に追加して、三酸化二ほう素の水の含
有量を下げる等の処置をとるとよい。
は、当該化合物を冷却して得た多結晶を、その製造装置
から取出した後、L E C装置内に装入して再融解し
て、LEC法により成長させるのが、通常であるが、■
−■化合物の合成に用いたLEご装置d中で、化合物の
合成工程に続いて、同一の装置内で単結晶を成長させて
もよい。後者の場合、化合物の合成に用いた三酸化二ほ
う素は、水の含有量が単結晶成長に用いるには多すぎる
ため、予め別の容器に収容してL[EC装置内に配置し
ておいた乾燥した三酸化二は)素を、単結晶成長の直1
ViIにるつぼ内に追加して、三酸化二ほう素の水の含
有量を下げる等の処置をとるとよい。
その他のIlj結品の成長条件は、通常のLEC法と同
様でよい。
様でよい。
1発明の効果1
本発明は、次のような′jA、?Fな効果があるので産
業I−の利用価値は大である。
業I−の利用価値は大である。
(1)本発明によると、■−■化合物の合成条件とその
単結晶の成長条件を、それぞれ独立に設定できるので、
高純度のIII−V化合物の単結晶を、容易に歩留りよ
く得ることができる。
単結晶の成長条件を、それぞれ独立に設定できるので、
高純度のIII−V化合物の単結晶を、容易に歩留りよ
く得ることができる。
(2)特に、Bの含有量がlXl0’フe1m−3以下
の■−■化合物の単結晶を容易に成長させることができ
る。
の■−■化合物の単結晶を容易に成長させることができ
る。
(3)従って、イオン注入法によって、FET。
■C等の素子を歩留りよく製造することができる。
I−実施例1
本発明を実施例及び比較例に基づいて具体的に説明する
。
。
実施例I
LECvc置を用いてG a A s多結晶を製造した
。
。
純度99.9999%のGa及びAsを、それぞれ3,
000kg及び3.224kgならびに水の含有量が1
000p陣である三酸化二ほう素1 、2 kgをI3
BNMのるつぼに仕込み、LEC装置内に設置した。
000kg及び3.224kgならびに水の含有量が1
000p陣である三酸化二ほう素1 、2 kgをI3
BNMのるつぼに仕込み、LEC装置内に設置した。
LEC装置内を真空排気した後、窒素を導入して圧力を
10kg/c輸2とした。
10kg/c輸2とした。
抵抗加熱ヒーターによりるつぼを加熱して、G aとA
sを反応させた後、さらに、GaAsの融点まで加熱し
て反応を完結させた。
sを反応させた後、さらに、GaAsの融点まで加熱し
て反応を完結させた。
反応が終了した後、窒素圧を保持しながら、るつぼを室
温まで徐々に冷却した。
温まで徐々に冷却した。
得られた多結晶を一辺約15+amのブロックに切断し
た後、その表面を王水でエツチングした。
た後、その表面を王水でエツチングした。
このGaAs多結晶のB含有量は、81MS法によって
分析したところ、4 X 10 ”cm−” 、また、
比抵抗は、5X10’Ω・C−であった。
分析したところ、4 X 10 ”cm−” 、また、
比抵抗は、5X10’Ω・C−であった。
次に、上記多結晶4.000kg及び水の含有量が50
0 l1l)IIIである三酸化二ほう素1.000k
gをt+BNWるつぼに仕込み、LECvc置内に設置
した。
0 l1l)IIIである三酸化二ほう素1.000k
gをt+BNWるつぼに仕込み、LECvc置内に設置
した。
LEC装置内を真空排気した後、10kg/c1112
の窒素圧をかけた。
の窒素圧をかけた。
続いて、通常のLEC法によってGaAs ’IL結品
を成長させた。
を成長させた。
その結果、重13.5kgの単結晶が得られた。
81MS法によって測定したL記単結晶のB含ri f
it、は、6 X 10 l6can−3、比抵抗は、
4.5×107Ω”eta、また、電子の易動度は、5
.8×10 ’eta2/ V ・see、であった。
it、は、6 X 10 l6can−3、比抵抗は、
4.5×107Ω”eta、また、電子の易動度は、5
.8×10 ’eta2/ V ・see、であった。
実施例2
多結晶の製造の際に用いる三酸化二ほう素の水の含有量
を2000111)11としたこと以外は、実施例1と
同様にしてG a A s単結晶をr&長させた。
を2000111)11としたこと以外は、実施例1と
同様にしてG a A s単結晶をr&長させた。
得られた多結晶のB含有量は、1.5X1016el1
1−’ 、比抵抗は、3,5X10’Ω’cmであった
。
1−’ 、比抵抗は、3,5X10’Ω’cmであった
。
また、得られた単結晶の重量は、3.7kg5B含有燵
は、3 X 10 ”cm−”、比抵抗は、3X10’
Ω” crs、また、電子の易動度は、6.1×103
0m2/ V−see、であった。
は、3 X 10 ”cm−”、比抵抗は、3X10’
Ω” crs、また、電子の易動度は、6.1×103
0m2/ V−see、であった。
比較例
多結晶の製造の際に用いる三酸化二ほう素として水の含
有量が700 ppmのものを用いたこと以外は、実施
例1と同様にしてGaAs単結晶を成長させた。
有量が700 ppmのものを用いたこと以外は、実施
例1と同様にしてGaAs単結晶を成長させた。
得られた多結晶のBの含有量は、1.5X1(117c
I@−コ、また、比抵抗は、lXl0’Ω・0輪であっ
た。
I@−コ、また、比抵抗は、lXl0’Ω・0輪であっ
た。
また、得られた単結晶の重量は、3.2kg、Bの含有
量は、2 、OX 10 ”cm−’、比抵抗は、8X
107Ω”cm、また、易動度は、5.0X1(>3
C1112/■φ9ee、であった。
量は、2 、OX 10 ”cm−’、比抵抗は、8X
107Ω”cm、また、易動度は、5.0X1(>3
C1112/■φ9ee、であった。
以−トの実施例及び比較例から明らかな通り、本発明に
よるとほう素の含有量が少ないGaAsttL結晶を収
率よく得ることができる。
よるとほう素の含有量が少ないGaAsttL結晶を収
率よく得ることができる。
特許出願人 三菱モンサント化成株式会社三菱化成工業
株式会社 代 理 人 弁理士 良否用 − (ばか1名) 手続補正書(自発) 昭和Aλ年g月25日 / 事件の表示 昭和6コ年特許願第ittgb6g号 コ 発明の名称 無機化合物単結晶の成長方法 3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 名 称 (601I)三菱モンサント化成株式会社(
r96)三菱化成工業株式会社 ダ代理人 居 所 東京都千代田区丸の内二丁目S@a号(ほか
7名) S 補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6 補正の内容 (1ン 明細書第1頁第20行目、「高周波用」を、
「高周波用」K訂正する。
株式会社 代 理 人 弁理士 良否用 − (ばか1名) 手続補正書(自発) 昭和Aλ年g月25日 / 事件の表示 昭和6コ年特許願第ittgb6g号 コ 発明の名称 無機化合物単結晶の成長方法 3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 名 称 (601I)三菱モンサント化成株式会社(
r96)三菱化成工業株式会社 ダ代理人 居 所 東京都千代田区丸の内二丁目S@a号(ほか
7名) S 補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6 補正の内容 (1ン 明細書第1頁第20行目、「高周波用」を、
「高周波用」K訂正する。
(2ン 明細書第1O頁第a行目、[Bの含有量は、
/、sx lo”Jを、[s X / o” J に
訂正する。
/、sx lo”Jを、[s X / o” J に
訂正する。
(3)明細書第10頁第5〜6行目、[B含有量は、3
×/ 0” cm−3、Jを、「B含有量は、1xl
O16crrI−3、」に訂正する。
×/ 0” cm−3、Jを、「B含有量は、1xl
O16crrI−3、」に訂正する。
以 上
Claims (1)
- 周期律表第IIIb族元素及び第Vb族元素からなる無機
化合物の融液から、液体カプセル引上法により単結晶を
成長させる方法において、上記無機化合物が、第IIIb
族元素及び第Vb族元素の混合物を、水を少なくとも1
000ppm(重量比)含有する三酸化二ほう素の融液
で覆い、かつ、不活性な素材でできたるつぼ中で反応さ
せて合成したものであることを特徴とする方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14866887A JPS63315599A (ja) | 1987-06-15 | 1987-06-15 | 無機化合物単結晶の成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14866887A JPS63315599A (ja) | 1987-06-15 | 1987-06-15 | 無機化合物単結晶の成長方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63315599A true JPS63315599A (ja) | 1988-12-23 |
Family
ID=15457947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14866887A Pending JPS63315599A (ja) | 1987-06-15 | 1987-06-15 | 無機化合物単結晶の成長方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63315599A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5186784A (en) * | 1989-06-20 | 1993-02-16 | Texas Instruments Incorporated | Process for improved doping of semiconductor crystals |
| EP0580953A1 (en) * | 1992-07-31 | 1994-02-02 | Shin-Etsu Handotai Kabushiki Kaisha | GaP light emitting device and method for fabricating the same |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63176398A (ja) * | 1987-01-19 | 1988-07-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 化合物半導体単結晶の育成方法 |
-
1987
- 1987-06-15 JP JP14866887A patent/JPS63315599A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63176398A (ja) * | 1987-01-19 | 1988-07-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 化合物半導体単結晶の育成方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5186784A (en) * | 1989-06-20 | 1993-02-16 | Texas Instruments Incorporated | Process for improved doping of semiconductor crystals |
| EP0580953A1 (en) * | 1992-07-31 | 1994-02-02 | Shin-Etsu Handotai Kabushiki Kaisha | GaP light emitting device and method for fabricating the same |
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