JPS6336595B2 - - Google Patents
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- JPS6336595B2 JPS6336595B2 JP54126851A JP12685179A JPS6336595B2 JP S6336595 B2 JPS6336595 B2 JP S6336595B2 JP 54126851 A JP54126851 A JP 54126851A JP 12685179 A JP12685179 A JP 12685179A JP S6336595 B2 JPS6336595 B2 JP S6336595B2
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- Japan
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- transistor
- circuit
- transistors
- reset
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Picture Signal Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は固体撮像素子を用いたテレビカメラに
おける固定パタン雑音抑圧回路に関する。
おける固定パタン雑音抑圧回路に関する。
テレビカメラ等の撮像デバイスとして、従来の
撮像管に代つて、半導体ICで構成した固体撮像
装置が開発されている。第1図は、このような固
体撮像装置を模式的に図示したものであり、第1
図において、1は水平走査回路、2は垂直走査回
路、3,3n,3n+1,3′n,3′n+1は平
面状に配置された複数個の受光素子となる光ダイ
オード、4,4n,4n+1,4′n,4′n+1
は同様に配置された垂直スイツチ用MOSトラン
ジスタ、5,5n,5n+1は水平スイツチ用
MOSトランジスタ、6,6,6′は垂直走査線、
7,7n,7n+1は水平走査線、8,8n,8
n+1は垂直信号線、9は水平信号線、である。
なお、ここで添字のn,(n+1)などは、n番
目、(n+1)番目の意味である。
撮像管に代つて、半導体ICで構成した固体撮像
装置が開発されている。第1図は、このような固
体撮像装置を模式的に図示したものであり、第1
図において、1は水平走査回路、2は垂直走査回
路、3,3n,3n+1,3′n,3′n+1は平
面状に配置された複数個の受光素子となる光ダイ
オード、4,4n,4n+1,4′n,4′n+1
は同様に配置された垂直スイツチ用MOSトラン
ジスタ、5,5n,5n+1は水平スイツチ用
MOSトランジスタ、6,6,6′は垂直走査線、
7,7n,7n+1は水平走査線、8,8n,8
n+1は垂直信号線、9は水平信号線、である。
なお、ここで添字のn,(n+1)などは、n番
目、(n+1)番目の意味である。
まず、このような固体撮像装置の信号読取法の
概要を説明する。
概要を説明する。
平面状に配置された光ダイオード3が光を受け
それぞれの受光量に応じた光電子をそれぞれの接
合容量に蓄える。垂直走査回路2により垂直走査
線6に正の走査パルスを発生するとこれにつなが
る横一列に並んだ垂直スイツチ用MOSトランジ
スタ4n,4n+1,…がオン状態になる。引き
続き、水平走査回路1により、水平走査線7n,
7n+1,…に順次正の走査パルスを発生する
と、これに対応して、水平スイツチ用MOSトラ
ンジスタ5n,5n+1,…が順次オン状態にな
り、光ダイオード3n,3n+1,…に蓄えた光
電子が順次出力端子14に引き出され、画像信号
となる。3n,3n+1,…の光ダイオードの読
み出しが終ると前記の垂直走査パルスが、垂直走
査線6から6′に移り前記と同様の水平走査によ
り、3′n,3′n+1,…の光ダイオードの光電
子が読み出される。以上のような垂直走査と水平
走査を順次くり返すことにより全部の光ダイオー
ドの光電子を読みとり画像信号を得る。
それぞれの受光量に応じた光電子をそれぞれの接
合容量に蓄える。垂直走査回路2により垂直走査
線6に正の走査パルスを発生するとこれにつなが
る横一列に並んだ垂直スイツチ用MOSトランジ
スタ4n,4n+1,…がオン状態になる。引き
続き、水平走査回路1により、水平走査線7n,
7n+1,…に順次正の走査パルスを発生する
と、これに対応して、水平スイツチ用MOSトラ
ンジスタ5n,5n+1,…が順次オン状態にな
り、光ダイオード3n,3n+1,…に蓄えた光
電子が順次出力端子14に引き出され、画像信号
となる。3n,3n+1,…の光ダイオードの読
み出しが終ると前記の垂直走査パルスが、垂直走
査線6から6′に移り前記と同様の水平走査によ
り、3′n,3′n+1,…の光ダイオードの光電
子が読み出される。以上のような垂直走査と水平
走査を順次くり返すことにより全部の光ダイオー
ドの光電子を読みとり画像信号を得る。
第2図イは、n番目の水平スイツチ用MOSト
ランジスタのゲートに印加される水平走査パルス
波形、15n、同様にロは(n+1)番目の水平
走査パルス波形15n+1を示す。同図ハは、出
力端子14(第1図)に得られる信号波形を示
す。スパイク状の電圧変動17n,17n+1お
よび18n,18+1はスパイク雑音と呼ばれ、
第1図に示したMOSトランジスタ5n(5n+
1)のゲートあるいは水平走査線7n(7n+1)
と水平信号線9との間に存在する寄生容量10n
(10n+1)等によつて水平走査パルスの立ち
下り部で生じたものである。破線19n(19n
+1)は、信号電荷のある場合を示す。
ランジスタのゲートに印加される水平走査パルス
波形、15n、同様にロは(n+1)番目の水平
走査パルス波形15n+1を示す。同図ハは、出
力端子14(第1図)に得られる信号波形を示
す。スパイク状の電圧変動17n,17n+1お
よび18n,18+1はスパイク雑音と呼ばれ、
第1図に示したMOSトランジスタ5n(5n+
1)のゲートあるいは水平走査線7n(7n+1)
と水平信号線9との間に存在する寄生容量10n
(10n+1)等によつて水平走査パルスの立ち
下り部で生じたものである。破線19n(19n
+1)は、信号電荷のある場合を示す。
上記スパイク雑音は、これがどの走査点におい
ても常に一定の形状をしていれば、この波形の持
つ周波数成分はそのくり返し周波数とその整数倍
の周波数成分ばかりであり本来の信号の周波数成
分に比べて周波数が高いから低域フイルタで容易
に除去でき、画像信号への害は少ない。しかし、
実際には、この波形の形状・大きさは水平走査パ
ルス波形15n,15n+1の変化、寄生容量1
0n,10n+1の変化などにより大きく変化
し、たとえば第3図に示すように丁度振幅変調波
に似た波形になる。しかし、普通の振幅変調波の
場合とちがつて、キヤリア周波数(スパイクのく
り返し周波数に相当)と変調周波数(スパイク波
形の変化する周波数)とが近接しているため、第
3図でみるように正極性スパイクの包絡線20と
負極性スパイクの包絡線21とに時間のずれが認
められ、したがつて全体としては、破線22のよ
うにスパイクのくり返し周波数よりも低い周波数
成分が含まれることになる。この成分は、本来の
信号と周波数帯が同じであり、もはや、低域フイ
ルタで除去することはできず、疑似信号となつて
画像信号に妨害を与える。とくに、この疑似信号
は、垂直信号線8n,8n+1を共有する縦に並
んだ光ダイオード3n,3′nの信号に共通して
重なつて生ずるため、再生画面上では縦縞の固定
パタン雑音として現われ、非常に目立ち易く、画
質を大きく損なう。このような固定パタン雑音を
除去する従来の技術として、第4図に示すような
信号処理回路方式がある。(実願昭53−52105(実
開昭54−155426))本図において、23は、先に
第1図で説明したような固体撮像装置のセンサ
部、24は増幅器、27は積分コンデンサ、28
は積分リセツトスイツチ用MOSトランジスタ、
29は負荷抵抗、30は電源、31はリセツトパ
ルス印加端子、32は信号出力端子などである。
トランジスタ25とエミツタ抵抗26はエミツタ
接地増幅回路を構成している。第5図は、第4図
の回路の要部の動作電圧波形又は、電流波形図で
あり、これを用いて、回路の動作を説明する。ト
ランジスタ25のベースに第5図イの波形の信号
が印加される。このスパイク雑音は、正確には、
第3図で説明したように正極性スパイクとそれに
続く負極性スパイクを一対として1対1対が大き
さ形状のちがうものであるが、ここでは煩雑さを
避けるために一様の波形で描いてある。またトラ
ンジスタ25が直線性よく動作するようにイの波
形には適当な直流バイアス電圧が重畳されてい
る。第5図ロはリセツトパルス波形であり、その
ハイレベル時に積分リセツトスイツチ用MOSト
ランジスタ28がオンし、ローレベル時にオフす
る。
ても常に一定の形状をしていれば、この波形の持
つ周波数成分はそのくり返し周波数とその整数倍
の周波数成分ばかりであり本来の信号の周波数成
分に比べて周波数が高いから低域フイルタで容易
に除去でき、画像信号への害は少ない。しかし、
実際には、この波形の形状・大きさは水平走査パ
ルス波形15n,15n+1の変化、寄生容量1
0n,10n+1の変化などにより大きく変化
し、たとえば第3図に示すように丁度振幅変調波
に似た波形になる。しかし、普通の振幅変調波の
場合とちがつて、キヤリア周波数(スパイクのく
り返し周波数に相当)と変調周波数(スパイク波
形の変化する周波数)とが近接しているため、第
3図でみるように正極性スパイクの包絡線20と
負極性スパイクの包絡線21とに時間のずれが認
められ、したがつて全体としては、破線22のよ
うにスパイクのくり返し周波数よりも低い周波数
成分が含まれることになる。この成分は、本来の
信号と周波数帯が同じであり、もはや、低域フイ
ルタで除去することはできず、疑似信号となつて
画像信号に妨害を与える。とくに、この疑似信号
は、垂直信号線8n,8n+1を共有する縦に並
んだ光ダイオード3n,3′nの信号に共通して
重なつて生ずるため、再生画面上では縦縞の固定
パタン雑音として現われ、非常に目立ち易く、画
質を大きく損なう。このような固定パタン雑音を
除去する従来の技術として、第4図に示すような
信号処理回路方式がある。(実願昭53−52105(実
開昭54−155426))本図において、23は、先に
第1図で説明したような固体撮像装置のセンサ
部、24は増幅器、27は積分コンデンサ、28
は積分リセツトスイツチ用MOSトランジスタ、
29は負荷抵抗、30は電源、31はリセツトパ
ルス印加端子、32は信号出力端子などである。
トランジスタ25とエミツタ抵抗26はエミツタ
接地増幅回路を構成している。第5図は、第4図
の回路の要部の動作電圧波形又は、電流波形図で
あり、これを用いて、回路の動作を説明する。ト
ランジスタ25のベースに第5図イの波形の信号
が印加される。このスパイク雑音は、正確には、
第3図で説明したように正極性スパイクとそれに
続く負極性スパイクを一対として1対1対が大き
さ形状のちがうものであるが、ここでは煩雑さを
避けるために一様の波形で描いてある。またトラ
ンジスタ25が直線性よく動作するようにイの波
形には適当な直流バイアス電圧が重畳されてい
る。第5図ロはリセツトパルス波形であり、その
ハイレベル時に積分リセツトスイツチ用MOSト
ランジスタ28がオンし、ローレベル時にオフす
る。
今、時刻tn以前にスイツチがオンしていたとす
ると、積分コンデンサ27は負荷抵抗29による
電圧降下を無視するとほぼ電源A30の電圧VA
まで充電されている。時刻tnでスイツチがオフす
ると積分コンデンサ27に蓄えられた電荷はトラ
ンジスタ25を通して放電され、(このときの放
電電流は第5図イの波形で制御された電流である
が)積分コンデンサの電圧(トランジスタ25の
コレクタ電圧)は第5図ハに示す波形に従つて降
下する。その電圧降下量は、トランジスタ25の
コレクタ電流を時刻tnからt′nまでの間で積分し
た値、すなわち、その間の放電電荷の総和に比例
し積分コンデンサ27の容量値に反比例してい
る。正極性スパイク雑音17nと負極性スパイク
雑音18nの両方を完全に含むように積分期間の
始まりtnと終りt′nを定めると、積分により隣り
合つた正負両極性のスパイクは等レベルであるか
らこれは互いに打ち消し合い積分値、すなわち、
放電電荷の総和は何らスパイクの影響を受けない
ことになる。積分値は、トランジスタ25の直流
バイアス電流によるものと、本来の信号電流分1
9nとによるものの和となる。
ると、積分コンデンサ27は負荷抵抗29による
電圧降下を無視するとほぼ電源A30の電圧VA
まで充電されている。時刻tnでスイツチがオフす
ると積分コンデンサ27に蓄えられた電荷はトラ
ンジスタ25を通して放電され、(このときの放
電電流は第5図イの波形で制御された電流である
が)積分コンデンサの電圧(トランジスタ25の
コレクタ電圧)は第5図ハに示す波形に従つて降
下する。その電圧降下量は、トランジスタ25の
コレクタ電流を時刻tnからt′nまでの間で積分し
た値、すなわち、その間の放電電荷の総和に比例
し積分コンデンサ27の容量値に反比例してい
る。正極性スパイク雑音17nと負極性スパイク
雑音18nの両方を完全に含むように積分期間の
始まりtnと終りt′nを定めると、積分により隣り
合つた正負両極性のスパイクは等レベルであるか
らこれは互いに打ち消し合い積分値、すなわち、
放電電荷の総和は何らスパイクの影響を受けない
ことになる。積分値は、トランジスタ25の直流
バイアス電流によるものと、本来の信号電流分1
9nとによるものの和となる。
次いで、時刻t′nにおいて積分リセツトスイツ
チがオンすると、積分コンデンサ27は負荷抵抗
29を通じて電源30の電圧VAまで再び充電さ
れるが、このときの充電電荷量は前述のtnから
t′nまでの期間に放電した電荷にほぼ等しいから、
(正確には、t′nからtn+1までの間にトランジス
タ25を流れた電荷も加わる。)この充電電流波
形(第5図ニ)を負荷抵抗29の電圧降下として
信号出力端子32から取り出すことにより、スパ
イク雑音分が除去された信号分を得ることが可能
となる。実際には、第5図ニの波形を低域フイル
タに通して得られる低域分(破線37の平均値)
が画像信号となる。
チがオンすると、積分コンデンサ27は負荷抵抗
29を通じて電源30の電圧VAまで再び充電さ
れるが、このときの充電電荷量は前述のtnから
t′nまでの期間に放電した電荷にほぼ等しいから、
(正確には、t′nからtn+1までの間にトランジス
タ25を流れた電荷も加わる。)この充電電流波
形(第5図ニ)を負荷抵抗29の電圧降下として
信号出力端子32から取り出すことにより、スパ
イク雑音分が除去された信号分を得ることが可能
となる。実際には、第5図ニの波形を低域フイル
タに通して得られる低域分(破線37の平均値)
が画像信号となる。
以上は、この信号処理回路の動作原理の説明で
あるが、実際の使用に当つてはいくつかの留意す
べき事項がある。その第1点は、スパイク雑音の
打消し効果を良くするためには、積分期間の終り
t′nをできるだけ遅らせることであり、第2点は、
t′nを遅らせたことによつて次の積分開始点(tn
+1)までの期間が短かくなるが、このために積
分のリセツト(積分コンデンサの充電)が十分に
行なわれなくなつて隣り同志の光ダイオードの信
号分が混ざり合つて解像度が劣化することを避け
なければならない。そのためには負荷抵抗を適当
に低い値に選び、また積分リセツトスイツチ用
MOSトランジスタのオン抵抗も十分に低い値の
ものが必要である。またスイツチング時間も十分
に小さいものでなければならない。ところで、こ
のような従来の信号処理回路には、次のような欠
点がある。
あるが、実際の使用に当つてはいくつかの留意す
べき事項がある。その第1点は、スパイク雑音の
打消し効果を良くするためには、積分期間の終り
t′nをできるだけ遅らせることであり、第2点は、
t′nを遅らせたことによつて次の積分開始点(tn
+1)までの期間が短かくなるが、このために積
分のリセツト(積分コンデンサの充電)が十分に
行なわれなくなつて隣り同志の光ダイオードの信
号分が混ざり合つて解像度が劣化することを避け
なければならない。そのためには負荷抵抗を適当
に低い値に選び、また積分リセツトスイツチ用
MOSトランジスタのオン抵抗も十分に低い値の
ものが必要である。またスイツチング時間も十分
に小さいものでなければならない。ところで、こ
のような従来の信号処理回路には、次のような欠
点がある。
第1の欠点は、出力端子32から取り出される
信号波形は第5図ニに示すようにデユーテイレシ
オの小さいパルス波形状であり、しかもこのパル
ス波形は本来の信号分(パルスの大きさの変化)
の量に比べて直流バイアス電流分によつて生じた
定常成分の量が大きい。したがつてここから、信
号分のみを抽出するには、減衰特性のすぐれた低
域ろ波器が必要なことである。さらに、この低域
ろ波器は、出力端子32の直後に挿入されなけれ
ばならない。なぜなら、低域ろ波器を介さず、次
段の増幅段に信号を供給すると、パルスの定常成
分によつてその増幅段はたちまち飽和してしまう
からである。このような制約は回路のIC化を実
施するうえで重大な障害となる。
信号波形は第5図ニに示すようにデユーテイレシ
オの小さいパルス波形状であり、しかもこのパル
ス波形は本来の信号分(パルスの大きさの変化)
の量に比べて直流バイアス電流分によつて生じた
定常成分の量が大きい。したがつてここから、信
号分のみを抽出するには、減衰特性のすぐれた低
域ろ波器が必要なことである。さらに、この低域
ろ波器は、出力端子32の直後に挿入されなけれ
ばならない。なぜなら、低域ろ波器を介さず、次
段の増幅段に信号を供給すると、パルスの定常成
分によつてその増幅段はたちまち飽和してしまう
からである。このような制約は回路のIC化を実
施するうえで重大な障害となる。
第2の欠点は、リセツトパルス32に含まれる
雑音電圧が、積分リセツトスイツチ用MOSトラ
ンジスタ28の電極間寄生容量を通じて、あるい
はMOSトランジスタの相互コンダクタンスによ
つて信号ラインに伝達され、画像信号S/Nが低
下することである。このような雑音電圧の伝達メ
カニズムは、極めて複雑なため、定量解析は容易
でないが、信号分の大きさが100mVp−p程度の
場合には、この雑音によるS/N低下は決して無
視できないレベルであることが実験によりわかつ
ている。この種の雑音は、積分リセツトパルス3
3に含まれる雑音を排除することにより原理的に
は改善されるものであるが、実際問題として、リ
セツトパルス中の雑音を皆無にすることは無理で
あり、とくにパルスの立下りトランジシヨン部に
は、かなりの量の雑音が含まれることを覚悟しな
ければならない。
雑音電圧が、積分リセツトスイツチ用MOSトラ
ンジスタ28の電極間寄生容量を通じて、あるい
はMOSトランジスタの相互コンダクタンスによ
つて信号ラインに伝達され、画像信号S/Nが低
下することである。このような雑音電圧の伝達メ
カニズムは、極めて複雑なため、定量解析は容易
でないが、信号分の大きさが100mVp−p程度の
場合には、この雑音によるS/N低下は決して無
視できないレベルであることが実験によりわかつ
ている。この種の雑音は、積分リセツトパルス3
3に含まれる雑音を排除することにより原理的に
は改善されるものであるが、実際問題として、リ
セツトパルス中の雑音を皆無にすることは無理で
あり、とくにパルスの立下りトランジシヨン部に
は、かなりの量の雑音が含まれることを覚悟しな
ければならない。
本発明の目的は、上記した従来技術の二つの欠
点をなくし、余分なパルス成分が少なく、かつ、
S/Nの低下が起きない固定パタン雑音除去回路
を提供することである。
点をなくし、余分なパルス成分が少なく、かつ、
S/Nの低下が起きない固定パタン雑音除去回路
を提供することである。
本発明では、スパイク雑音を含んだ被処理信号
をまず、互いに逆相関係にある差動信号AとBに
変換し、次にこの二つの信号AとBを二つのたと
えば前述の従来回路のような積分および積分リセ
ツトを行なう回路にそれぞれ加え、この二つの回
路の出力信号として、スパイク雑音が除去されて
おり、かつ信号分が互いに逆相の関係にあるパル
ス状の信号波形をそれぞれ得、次にこれらの二つ
の信号を差動増幅器の二入力端子に加え、ここ
で、二つのパルス状信号波形のパルス定常分(同
相分)を除去し、同時に、リセツトパルス中の雑
音によつて前記二つのパルス状信号に等しく生じ
た雑音を相殺し、この差動増幅器の出力に信号分
(差動分)のみを得る。
をまず、互いに逆相関係にある差動信号AとBに
変換し、次にこの二つの信号AとBを二つのたと
えば前述の従来回路のような積分および積分リセ
ツトを行なう回路にそれぞれ加え、この二つの回
路の出力信号として、スパイク雑音が除去されて
おり、かつ信号分が互いに逆相の関係にあるパル
ス状の信号波形をそれぞれ得、次にこれらの二つ
の信号を差動増幅器の二入力端子に加え、ここ
で、二つのパルス状信号波形のパルス定常分(同
相分)を除去し、同時に、リセツトパルス中の雑
音によつて前記二つのパルス状信号に等しく生じ
た雑音を相殺し、この差動増幅器の出力に信号分
(差動分)のみを得る。
以下、本発明を実施例によつて説明する。
第6図は本発明の第1の実施例を示す。ここ
で、記号23,24,31,32は従来回路を説
明した時と同じく、それぞれ、固体撮像装置のセ
ンサ部、増幅器、リセツトパルス印加端子および
信号出力端子等である。38は被処理信号を互い
に逆相関係にある差動信号AとBに変換する差動
変換回路、39Aと39Bは、上記の差動信号A
とBをそれぞれ積分および積分リセツトしてスパ
イク雑音を除去する積分および積分リセツト回
路、40は上記積分および積分リセツト回路39
Aと39Bの出力信号を2入力とする差動増幅器
である。39Aと39Bの入力は信号分のみが逆
相で、バイアス電流分は等しいからそれらの出力
に得るパルス状信号波形はやはり信号分(パルス
の大きさの変化)だけが互いに逆相で、パルス定
常分およびリセツトパルス中の雑音によつて生じ
た雑音分は相等しい。このような関係にある二つ
のパルス状信号波形が差動増幅器40で増幅され
ると、相等しいパルス定常分および雑音分は相殺
され、互に逆相関係にある信号分のみが増幅され
出力端子32に取り出される。
で、記号23,24,31,32は従来回路を説
明した時と同じく、それぞれ、固体撮像装置のセ
ンサ部、増幅器、リセツトパルス印加端子および
信号出力端子等である。38は被処理信号を互い
に逆相関係にある差動信号AとBに変換する差動
変換回路、39Aと39Bは、上記の差動信号A
とBをそれぞれ積分および積分リセツトしてスパ
イク雑音を除去する積分および積分リセツト回
路、40は上記積分および積分リセツト回路39
Aと39Bの出力信号を2入力とする差動増幅器
である。39Aと39Bの入力は信号分のみが逆
相で、バイアス電流分は等しいからそれらの出力
に得るパルス状信号波形はやはり信号分(パルス
の大きさの変化)だけが互いに逆相で、パルス定
常分およびリセツトパルス中の雑音によつて生じ
た雑音分は相等しい。このような関係にある二つ
のパルス状信号波形が差動増幅器40で増幅され
ると、相等しいパルス定常分および雑音分は相殺
され、互に逆相関係にある信号分のみが増幅され
出力端子32に取り出される。
第7図は、第1の実施例をさらに具体化した第
2の実施例を示す。第7図において、点線枠3
8,39,40は第1の実施例で説明したそれぞ
れの部分に対応する。
2の実施例を示す。第7図において、点線枠3
8,39,40は第1の実施例で説明したそれぞ
れの部分に対応する。
トランジスタ25A,25B、抵抗26A,2
6B、定電流源42および電圧源41により差動
変換回路38を構成する。積分コンデンサ27
A、MOSトランジスタ28A、負荷抵抗29A
および電圧源30により積分および積分リセツト
回路39Aを構成し、積分コンデンサ27B、
MOSトランジスタ28B、負荷抵抗29Bおよ
び電圧源30によりもうひとつの積分および積分
リセツト回路39Bを構成する。トランジスタ4
5A,45B、抵抗46A,46B、定電流源4
3、電圧源44および負荷抵抗47により差動増
幅器40を構成する。積分および積分リセツト回
路39A,39Bの構成は、先に第4図を用いて
説明した従来回路と同じであり、また、この回路
によりスパイク雑音が積分されて固定パタン雑音
が除去されるメカニズムも同じである。トランジ
スタ25Aと25Bのコレクタ電流は、バイアス
電流分は等しく、信号分のみが逆相であり、また
積分リセツトスイツチ用MOSトランジスタ28
Aと28Bは同一のリセツトパルスによつて開閉
されるから、負荷抵抗29Aと29Bに発生する
パルス状信号波形は、パルス定常分は相等しく信
号分(パルスの大きさの変化分)のみが互いに逆
相である。またリセツトパルス中の雑音によつて
負荷抵抗29Aと29Bに生じた雑音分も相等し
い。このような信号波形を差動増幅器40に加え
るから、相等しいパルス定常分と雑音分は消去さ
れ、信号分のみが増幅されて、出力端子32に取
り出される。
6B、定電流源42および電圧源41により差動
変換回路38を構成する。積分コンデンサ27
A、MOSトランジスタ28A、負荷抵抗29A
および電圧源30により積分および積分リセツト
回路39Aを構成し、積分コンデンサ27B、
MOSトランジスタ28B、負荷抵抗29Bおよ
び電圧源30によりもうひとつの積分および積分
リセツト回路39Bを構成する。トランジスタ4
5A,45B、抵抗46A,46B、定電流源4
3、電圧源44および負荷抵抗47により差動増
幅器40を構成する。積分および積分リセツト回
路39A,39Bの構成は、先に第4図を用いて
説明した従来回路と同じであり、また、この回路
によりスパイク雑音が積分されて固定パタン雑音
が除去されるメカニズムも同じである。トランジ
スタ25Aと25Bのコレクタ電流は、バイアス
電流分は等しく、信号分のみが逆相であり、また
積分リセツトスイツチ用MOSトランジスタ28
Aと28Bは同一のリセツトパルスによつて開閉
されるから、負荷抵抗29Aと29Bに発生する
パルス状信号波形は、パルス定常分は相等しく信
号分(パルスの大きさの変化分)のみが互いに逆
相である。またリセツトパルス中の雑音によつて
負荷抵抗29Aと29Bに生じた雑音分も相等し
い。このような信号波形を差動増幅器40に加え
るから、相等しいパルス定常分と雑音分は消去さ
れ、信号分のみが増幅されて、出力端子32に取
り出される。
第8図は本発明の第3の実施例を示す。第8図
において、点線枠38,39および40は第2の
実施例の場合と同様にそれぞれ差動変換回路、積
分および積分リセツト回路、差動増幅器の部分で
ある。38と40の内部の構成は第2の実施例と
同一である。ここでまず、積分および積分リセツ
ト回路39の部分の動作メカニズムを説明する。
積分コンデンサ27A、積分リセツトスイツチ用
ダイオード48A、負荷抵抗29A、および電圧
源30により積分および積分リセツト回路39A
を構成し、積分コンデンサ27B、積分リセツト
スイツチ用ダイオード48B、負荷抵抗29B、
および電源30によりもう一方の積分および積分
リセツト回路39Bを構成する。尚、ダイオード
48A,48BはIC回路でよく見られるような、
ベース、コレクタが導電接続されたダイオード接
続型トランジスタであつてもよい。第9図にこの
回路の動作を説明するための波形図を示す。第9
図でイはトランジスタ25Aのベースに加わる被
処理信号電圧波形で、実線がスパイク雑音分、点
線が信号分が重畳された場合を示す。ロはリセツ
トパルス印加端子31に印加するリセツトパルス
波形、ハはトランジスタ25Aと25Bのコレク
タ電圧波形であり、実線が被処理信号に信号分を
含まない場合(上記イの実線の場合)を示し(2
5Aと25Bのコレクタ電圧は等しい)、点線と
一点鎖線が被処理信号に信号分を含む場合(上記
イの点線の場合)のそれぞれ25Aと25Bのコ
レクタ電圧波形を示す。ニは、負荷抵抗29Aと
29Bを流れる電流波形で、実線、点線一点鎖線
はそれぞれハの場合のそれらに対応する。ホは、
出力端子32に得る信号電圧波形で、点約部分が
信号分によつて生じた波形である。
において、点線枠38,39および40は第2の
実施例の場合と同様にそれぞれ差動変換回路、積
分および積分リセツト回路、差動増幅器の部分で
ある。38と40の内部の構成は第2の実施例と
同一である。ここでまず、積分および積分リセツ
ト回路39の部分の動作メカニズムを説明する。
積分コンデンサ27A、積分リセツトスイツチ用
ダイオード48A、負荷抵抗29A、および電圧
源30により積分および積分リセツト回路39A
を構成し、積分コンデンサ27B、積分リセツト
スイツチ用ダイオード48B、負荷抵抗29B、
および電源30によりもう一方の積分および積分
リセツト回路39Bを構成する。尚、ダイオード
48A,48BはIC回路でよく見られるような、
ベース、コレクタが導電接続されたダイオード接
続型トランジスタであつてもよい。第9図にこの
回路の動作を説明するための波形図を示す。第9
図でイはトランジスタ25Aのベースに加わる被
処理信号電圧波形で、実線がスパイク雑音分、点
線が信号分が重畳された場合を示す。ロはリセツ
トパルス印加端子31に印加するリセツトパルス
波形、ハはトランジスタ25Aと25Bのコレク
タ電圧波形であり、実線が被処理信号に信号分を
含まない場合(上記イの実線の場合)を示し(2
5Aと25Bのコレクタ電圧は等しい)、点線と
一点鎖線が被処理信号に信号分を含む場合(上記
イの点線の場合)のそれぞれ25Aと25Bのコ
レクタ電圧波形を示す。ニは、負荷抵抗29Aと
29Bを流れる電流波形で、実線、点線一点鎖線
はそれぞれハの場合のそれらに対応する。ホは、
出力端子32に得る信号電圧波形で、点約部分が
信号分によつて生じた波形である。
今、時刻tnの直前においてリセツトパルスがロ
ーレベルにあつて積分コンデンサ27A,27B
の充電がすでに完了し、したがつてトランジスタ
25A,25Bのコレクタ電位が電源30の電圧
VAにあつたとする。(正確にはトランジスタ25
A,25Bのコレクタ電流が負荷抵抗29A,2
9Bを流れることによる電圧降下分とダイオード
による電圧降下分をVAから差引かねばならない
が、この降下分は小さいので無視して説明する。
また、ダイオードはオフセツト電圧のない理想ダ
イオードとして説明する。)次いで時刻tnにおい
てリセツトパルスがローレベルからハイレベルに
電圧Vpだけ変化すると、積分コンデンサの両端
間電圧は急激には変化しえないから、トランジス
タ25A,25Bのコレクタ電位はハに示すよう
にリセツトパルス電圧Vpの分だけ上昇し、(VA
+Vp)に達する。この状態においては積分リセ
ツトスイツチ用ダイオード38A,38Bは逆バ
イアス状態となり、カツトオフする。そして、時
刻tnからt′nまでの間、トランジスタ25A,2
5Bのコレクタ電流は直流分を含めて全部積分コ
ンデンサ27A,27Bを流れ、これによつてコ
ンデンサ27A,27Bに充電されていた電荷は
時間の経過と伴に減少し、その両端電圧が下るか
ら、トランジスタ25A,25Bのコレクタ電圧
波形はハの点線と一点鎖線に示すように低下す
る。tnからt′nまでの間の電圧低下量Vcは、この
間のコレクタ電流の積分値すなわち放電した電荷
をコンデンサの容量値で割つた値に等しいから、
Vc≦Vpの条件を満たすようにコンデンサ容量
値、コレクタサ電流、リセツトパルス振幅、パル
ス幅等の関係を定めることにより、tn〜t′nの間
でダイオード38A,38Bのカセツトオフ状態
を維持できる。
ーレベルにあつて積分コンデンサ27A,27B
の充電がすでに完了し、したがつてトランジスタ
25A,25Bのコレクタ電位が電源30の電圧
VAにあつたとする。(正確にはトランジスタ25
A,25Bのコレクタ電流が負荷抵抗29A,2
9Bを流れることによる電圧降下分とダイオード
による電圧降下分をVAから差引かねばならない
が、この降下分は小さいので無視して説明する。
また、ダイオードはオフセツト電圧のない理想ダ
イオードとして説明する。)次いで時刻tnにおい
てリセツトパルスがローレベルからハイレベルに
電圧Vpだけ変化すると、積分コンデンサの両端
間電圧は急激には変化しえないから、トランジス
タ25A,25Bのコレクタ電位はハに示すよう
にリセツトパルス電圧Vpの分だけ上昇し、(VA
+Vp)に達する。この状態においては積分リセ
ツトスイツチ用ダイオード38A,38Bは逆バ
イアス状態となり、カツトオフする。そして、時
刻tnからt′nまでの間、トランジスタ25A,2
5Bのコレクタ電流は直流分を含めて全部積分コ
ンデンサ27A,27Bを流れ、これによつてコ
ンデンサ27A,27Bに充電されていた電荷は
時間の経過と伴に減少し、その両端電圧が下るか
ら、トランジスタ25A,25Bのコレクタ電圧
波形はハの点線と一点鎖線に示すように低下す
る。tnからt′nまでの間の電圧低下量Vcは、この
間のコレクタ電流の積分値すなわち放電した電荷
をコンデンサの容量値で割つた値に等しいから、
Vc≦Vpの条件を満たすようにコンデンサ容量
値、コレクタサ電流、リセツトパルス振幅、パル
ス幅等の関係を定めることにより、tn〜t′nの間
でダイオード38A,38Bのカセツトオフ状態
を維持できる。
次いで時刻t′nにおいてリセツトパルスがハイ
レベルからローレベルに電圧Vpだけ変化すると、
コレクタ電位はハに示すように(VA−Vc)まで
低下し、(実際にはパルスの立ち下り時間のため
ハの波形先端がなまり(VA−Vc)まで低下しな
いが、ここでは原理説明につきこのようにした。)
ダイオード38A,38Bが順バイアス状態とな
つてオンする。同時に電源30によるコンデンサ
27A,27Bの充電が開始される。充電の時定
数Tは積分コンデンサの容量値と負荷抵抗29
A,29Bの抵抗値の積で与えられることは自明
であるが、これをリセツトパルスのパルス幅tpに
比べて十分小さくなるように設定することによ
り、コンデンサ27A,27Bの充電を急速に進
行させることが可能であり、したがつてコレクタ
電位の波形はハに示すように(VA−Vc)からVA
に向つて急速に上昇し、パルス期間の終了時(tn
+1)までにはほぼ充電を完了し、最初のtn時点
と同じ状態にもどる。この間の充電電流波形はニ
に示すようになる。なお、積分コンデンサの状態
を積分前の状態にもどすことを積分リセツトと呼
び、その役割を果すパルスとダイオードをリセツ
トパルス、リセツトスイツチ用ダイオードと呼
ぶ。このようなtnからtn+1までの期間の動作を
1サイクルとして、これを次々とくり返えして動
作する。ところで、トランジスタ25Aと25B
のコレクタ電流は、そのバイアス電流分(固定
分)は両者等しく、スパイク雑音分と信号分電流
は両者逆相関係であるから、時刻tnからt′nの電
流の積分値すなわち放電荷量は(スパイク雑音分
はどちらも積分値は零であるから)信号分だけ両
者に差が生じる。この差が第9図ハの波形の点線
と一点鎖線の差となつて表われている。
レベルからローレベルに電圧Vpだけ変化すると、
コレクタ電位はハに示すように(VA−Vc)まで
低下し、(実際にはパルスの立ち下り時間のため
ハの波形先端がなまり(VA−Vc)まで低下しな
いが、ここでは原理説明につきこのようにした。)
ダイオード38A,38Bが順バイアス状態とな
つてオンする。同時に電源30によるコンデンサ
27A,27Bの充電が開始される。充電の時定
数Tは積分コンデンサの容量値と負荷抵抗29
A,29Bの抵抗値の積で与えられることは自明
であるが、これをリセツトパルスのパルス幅tpに
比べて十分小さくなるように設定することによ
り、コンデンサ27A,27Bの充電を急速に進
行させることが可能であり、したがつてコレクタ
電位の波形はハに示すように(VA−Vc)からVA
に向つて急速に上昇し、パルス期間の終了時(tn
+1)までにはほぼ充電を完了し、最初のtn時点
と同じ状態にもどる。この間の充電電流波形はニ
に示すようになる。なお、積分コンデンサの状態
を積分前の状態にもどすことを積分リセツトと呼
び、その役割を果すパルスとダイオードをリセツ
トパルス、リセツトスイツチ用ダイオードと呼
ぶ。このようなtnからtn+1までの期間の動作を
1サイクルとして、これを次々とくり返えして動
作する。ところで、トランジスタ25Aと25B
のコレクタ電流は、そのバイアス電流分(固定
分)は両者等しく、スパイク雑音分と信号分電流
は両者逆相関係であるから、時刻tnからt′nの電
流の積分値すなわち放電荷量は(スパイク雑音分
はどちらも積分値は零であるから)信号分だけ両
者に差が生じる。この差が第9図ハの波形の点線
と一点鎖線の差となつて表われている。
さて、t′nからtn+1までの期間の充電電荷量
はtnからt′nまでの期間にトランジスタ25A,
25Bのコレクタ電流となつて放電した電荷量に
一致する。そして、これは、tnかt′nまでのコレ
クタ電流の積分値に比例しているものであるか
ら、t′nからtn+1までの期間に負荷抵抗29A,
29Bに流れる第9図ニに示す波形の充電電流に
よつて両端に生ずる電圧波形を信号分として取り
出せば正負両極性のスパイク雑音が相殺され、し
たがつて固定パタン雑音が除去された信号を得る
ことができる。しかし、この電圧波形には従来回
路の欠点として指摘したパルス定常分を含むので
この電圧波形を差動増幅器40のトランジスタ4
6Aと46Bに入力し、ここでパルス定常分を相
殺し、出力端子32に信号分電圧(波形第9図ホ
点線)を得る。この回路において、リセツトパル
スに含まれる雑音によつて生じた雑音分も差動増
幅器において相殺されるのは前述の第1の実施例
の場合と同じである。
はtnからt′nまでの期間にトランジスタ25A,
25Bのコレクタ電流となつて放電した電荷量に
一致する。そして、これは、tnかt′nまでのコレ
クタ電流の積分値に比例しているものであるか
ら、t′nからtn+1までの期間に負荷抵抗29A,
29Bに流れる第9図ニに示す波形の充電電流に
よつて両端に生ずる電圧波形を信号分として取り
出せば正負両極性のスパイク雑音が相殺され、し
たがつて固定パタン雑音が除去された信号を得る
ことができる。しかし、この電圧波形には従来回
路の欠点として指摘したパルス定常分を含むので
この電圧波形を差動増幅器40のトランジスタ4
6Aと46Bに入力し、ここでパルス定常分を相
殺し、出力端子32に信号分電圧(波形第9図ホ
点線)を得る。この回路において、リセツトパル
スに含まれる雑音によつて生じた雑音分も差動増
幅器において相殺されるのは前述の第1の実施例
の場合と同じである。
この第3の実施例において、留意すべき点は、
積分コンデンサと負荷抵抗とによつて定まる充電
時定数をパルス幅tpよりも小さく設定することで
ある。その設計例は、140nSec周期で光ダイオー
ドを水平走査する固体撮像装置に対してパルス幅
τp:50nSec、積分コンデンサ容量:40pF、負荷
抵抗:150Ω、充電時定数6nSecである。コンデ
ンサ容量値をあまり小さくするとハに示したVc
が大きくなり、それに見合つてパルス振幅の増大
が必要となり、また、負荷抵抗をあまり小さくす
るとその両端に取り出しうる信号電圧が小さくな
るので同じ時定数でもコンデンサと負荷抵抗値の
選定には慎重を要す。
積分コンデンサと負荷抵抗とによつて定まる充電
時定数をパルス幅tpよりも小さく設定することで
ある。その設計例は、140nSec周期で光ダイオー
ドを水平走査する固体撮像装置に対してパルス幅
τp:50nSec、積分コンデンサ容量:40pF、負荷
抵抗:150Ω、充電時定数6nSecである。コンデ
ンサ容量値をあまり小さくするとハに示したVc
が大きくなり、それに見合つてパルス振幅の増大
が必要となり、また、負荷抵抗をあまり小さくす
るとその両端に取り出しうる信号電圧が小さくな
るので同じ時定数でもコンデンサと負荷抵抗値の
選定には慎重を要す。
次に上記した、負荷抵抗選定に関する束縛を排
し、したがつて、十分な信号電圧を取り出しうる
ように改善した第4の実施例を第10図によつて
説明する。
し、したがつて、十分な信号電圧を取り出しうる
ように改善した第4の実施例を第10図によつて
説明する。
第10図において、49A,49Bは積分リセ
ツトスイツチ用トランジスタ、50A,50Bは
充電時定数設定用抵抗、51は電圧VAの電源、
30はVAより高い電圧VBの電源であり、その他
は第3の実施例のものと同じかまたは同じ機能を
果すものである。
ツトスイツチ用トランジスタ、50A,50Bは
充電時定数設定用抵抗、51は電圧VAの電源、
30はVAより高い電圧VBの電源であり、その他
は第3の実施例のものと同じかまたは同じ機能を
果すものである。
本実施例を説明するに当り、前記第9図の波形
図を再び使う。今、時刻tnの直前においてリセツ
トパルスがローレベルにあつて積分コンデンサ2
7A,27Bの充電がすでに完了し、したがつて
トランジスタ25A,25Bのコレクタ電位が電
源51の電圧VAにあつたとする。(説明を簡略に
するためトランジスタのベース・エミツタ間オフ
セツト電圧Vbeはないものとする。) 次いで時刻tnにおいてリセツトパルスがローレ
ベルからハイレベルに変化すると、トランジスタ
25A,25Bのコレクタ電位は第9図ハに示す
ようにリセツトパルス電圧Vpの分だけ上昇し、
(VA+Vp)に達する。この状態においてトラン
ジスタ49A,49Bのベース・エミツタ間は逆
バイアス状態となりカツトオフする。そして、時
刻tnからt′nまでの間の動作は第2の実施例の場
合とまつたく同様であり、トランジスタ25A,
25Bのコレクタ電圧波形は第9図ハに示すよう
にコレクタ電流の積分値に比例して低下する。も
ちろん、tn〜t′nの間はトランジスタ49A,4
9Bはカツトオフ状態を保つ。
図を再び使う。今、時刻tnの直前においてリセツ
トパルスがローレベルにあつて積分コンデンサ2
7A,27Bの充電がすでに完了し、したがつて
トランジスタ25A,25Bのコレクタ電位が電
源51の電圧VAにあつたとする。(説明を簡略に
するためトランジスタのベース・エミツタ間オフ
セツト電圧Vbeはないものとする。) 次いで時刻tnにおいてリセツトパルスがローレ
ベルからハイレベルに変化すると、トランジスタ
25A,25Bのコレクタ電位は第9図ハに示す
ようにリセツトパルス電圧Vpの分だけ上昇し、
(VA+Vp)に達する。この状態においてトラン
ジスタ49A,49Bのベース・エミツタ間は逆
バイアス状態となりカツトオフする。そして、時
刻tnからt′nまでの間の動作は第2の実施例の場
合とまつたく同様であり、トランジスタ25A,
25Bのコレクタ電圧波形は第9図ハに示すよう
にコレクタ電流の積分値に比例して低下する。も
ちろん、tn〜t′nの間はトランジスタ49A,4
9Bはカツトオフ状態を保つ。
次いで時刻t′nにおいて、リセツトパルスがハ
イレベルからローレベルにVpだけ変化すると、
トランジスタ25A,25Bのコレクタ電位は第
9図ハに示すように(VA−Vc)まで低下しよう
とし、(パルスの立ち下り時間があるためと、抵
抗50A,50Bとコンデンサ27A,27Bの
積で決まる充電時定数が小さいことにより実際に
は(VA−Vc)までは低下しない。トランジスタ
49A,49Bのベース・エミツタ間が順バイア
ス状態となつて活性状態に入る。同時に電源30
から負荷抵抗29A,29B、トランジスタ49
A,49Bを介してコンデンサ27A,27Bの
充電が開始される。この時の充電の時定数Tは抵
抗50A,50Bとコンデンサ27A,27Bの
容量値の積で与えられ、負荷抵抗29A,29B
の抵抗値には依存しない。この点が前述の第3の
実施例と異なるところであり、抵抗値を適当に大
きな値に設計できるので十分な信号電圧を取り出
せるという利点がある。パルス期間の終了時(tn
+1)までにはほぼ完全に充電が完了し、最初の
tn時点と同じ状態にもどる。このくり返しによつ
てこの回路が動作するのは第3の実施例の場合と
同じであり、これによりスパイク雑音が除去され
る点についても同じである。
イレベルからローレベルにVpだけ変化すると、
トランジスタ25A,25Bのコレクタ電位は第
9図ハに示すように(VA−Vc)まで低下しよう
とし、(パルスの立ち下り時間があるためと、抵
抗50A,50Bとコンデンサ27A,27Bの
積で決まる充電時定数が小さいことにより実際に
は(VA−Vc)までは低下しない。トランジスタ
49A,49Bのベース・エミツタ間が順バイア
ス状態となつて活性状態に入る。同時に電源30
から負荷抵抗29A,29B、トランジスタ49
A,49Bを介してコンデンサ27A,27Bの
充電が開始される。この時の充電の時定数Tは抵
抗50A,50Bとコンデンサ27A,27Bの
容量値の積で与えられ、負荷抵抗29A,29B
の抵抗値には依存しない。この点が前述の第3の
実施例と異なるところであり、抵抗値を適当に大
きな値に設計できるので十分な信号電圧を取り出
せるという利点がある。パルス期間の終了時(tn
+1)までにはほぼ完全に充電が完了し、最初の
tn時点と同じ状態にもどる。このくり返しによつ
てこの回路が動作するのは第3の実施例の場合と
同じであり、これによりスパイク雑音が除去され
る点についても同じである。
本第4の実施例の特徴を要約するとトランジス
タ49A,49Bを、そのベース・エミツタ接合
の整流特性を利用して積分リセツトスイツチとし
て動作させ、かつ同時にベース接地増幅器として
動作させていることである。これにより、充電時
定数には無関係に負荷抵抗値を選定でき、大きな
信号電圧を得ることが可能となる。なお、抵抗5
0Aと50Bの設定値の特殊な場合として、これ
を零オームすなわち省略することができる。この
ときの充電時定数はトランジスタ49のエミツタ
抵抗と積分コンデンサの値によつて定まるこの場
合にも、負荷抵抗29A,29Bの両端電圧波形
にはパルス定常分と雑音分が含まれているので、
第3の実施例と同様、これを差動増幅器に入れ
て、パルス定常分とリセツトパルス中の雑音によ
つて生じた雑音分を消去する。
タ49A,49Bを、そのベース・エミツタ接合
の整流特性を利用して積分リセツトスイツチとし
て動作させ、かつ同時にベース接地増幅器として
動作させていることである。これにより、充電時
定数には無関係に負荷抵抗値を選定でき、大きな
信号電圧を得ることが可能となる。なお、抵抗5
0Aと50Bの設定値の特殊な場合として、これ
を零オームすなわち省略することができる。この
ときの充電時定数はトランジスタ49のエミツタ
抵抗と積分コンデンサの値によつて定まるこの場
合にも、負荷抵抗29A,29Bの両端電圧波形
にはパルス定常分と雑音分が含まれているので、
第3の実施例と同様、これを差動増幅器に入れ
て、パルス定常分とリセツトパルス中の雑音によ
つて生じた雑音分を消去する。
以上説明したように、本発明によれば、固体撮
像装置に特有な固定パタン雑音を除去でき、従来
回路で問題であつたリセツトパルス中の雑音の影
響によつて画像信号のS/Nが低下する現象が排
除でき、さらに、やはり従来回路で問題であつた
処理後の信号中のパルス定常分を抑圧することが
でき、次段増幅回路との接結を低域ろ波器を介す
ることなく行ない、回路システム全体の簡略化と
より合理的なIC回路システムの実現が可能とな
る。
像装置に特有な固定パタン雑音を除去でき、従来
回路で問題であつたリセツトパルス中の雑音の影
響によつて画像信号のS/Nが低下する現象が排
除でき、さらに、やはり従来回路で問題であつた
処理後の信号中のパルス定常分を抑圧することが
でき、次段増幅回路との接結を低域ろ波器を介す
ることなく行ない、回路システム全体の簡略化と
より合理的なIC回路システムの実現が可能とな
る。
第1図固体撮像装置の模式図、第2図同上の水
平走査パルスと出力信号の波形図、第3図スパイ
ク雑音波形図、第4図従来技術による雑音除去回
路、第5図同上の動作説明図、第6図本発明の第
1の実施例、第7図本発明の第2の実施例、第8
図本発明の第3の実施例、第9図同上の動作説明
図、第10図本発明の第4の実施例。 符号の説明、23…固体撮像装置のセンサ部、
24…アンプ、31…リセツトパルス印加端子、
32…信号出力端子、38…差動変換回路、39
…積分および積分リセツト回路、40…差動アン
プ。
平走査パルスと出力信号の波形図、第3図スパイ
ク雑音波形図、第4図従来技術による雑音除去回
路、第5図同上の動作説明図、第6図本発明の第
1の実施例、第7図本発明の第2の実施例、第8
図本発明の第3の実施例、第9図同上の動作説明
図、第10図本発明の第4の実施例。 符号の説明、23…固体撮像装置のセンサ部、
24…アンプ、31…リセツトパルス印加端子、
32…信号出力端子、38…差動変換回路、39
…積分および積分リセツト回路、40…差動アン
プ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 半導体基体の表面領域に設けられた複数の光
電変換素子に蓄積された光情報を不連続走査パル
スにより順次に読み出す固体撮像素子から出力さ
れるビデオ信号に含まれる雑音成分を一檜素ごと
に積分して除去する雑音除去回路において、被処
理信号を互いに逆相関係にある差動信号AとBに
変換する回路と、該差動信号AとBをそれぞれ一
絵素ごとに積分および積分リセツトする2組の回
路と、該2組の積分および積分リセツトする回路
の出力信号を入力信号とする差動増幅器とを備え
た雑音除去回路。 2 前記被処理信号を差動信号AとBに変換する
回路は入力信号電圧を差動信号電流に変換する差
動増幅器接続された第1と第2のトランジスタか
ら成り、前記積分および積分リセツトする2組の
回路は、上記第1のトランジスタのコレクタに一
端を結び他端にリセツトパルスが印加された第1
のコンデンサと、一端を前記第1のトランジスタ
のコレクタに結び他端を第1の負荷を介して第1
の電源に結んだ第1の整流素子と、上記第2のト
ランジスタのコレクタに一端を結び他端に前記リ
セツトパルスが印加された第2のコンデンサと、
一端を前記第2のトランジスタのコレクタに結び
他端を第2の負荷を介して前記第1の電源に結ん
だ第2の整流素子とから成ることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の雑音除去回路。 3 前記第1と第2の整流素子はそれぞれダイオ
ードまたはダイオード接続されたトランジスタで
あることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載
の雑音除去回路。 4 前記被処理信号を差動信号AとBに変換する
回路は、入力信号電圧を作動信号電流に変換する
作動増幅器接続された第1と第2のトランジスタ
から成り、前記積分および積分リセツトする回路
は、第1と第2のトランジスタのコレクタに一端
がそれぞれ接続され他端にリセツトパルスが印加
される第1と第2のコンデンサと、第1と第2の
トランジスタのコレクタにエミツタがそれぞれ接
続された第3と第4のトランジスタと、第3と第
4のトランジスタの各コレクタと第1の電源との
間に接続された第1と第2の負荷と、第3と第4
のトランジスタのベースに接続された第2の電源
とから成ることを特徴とする特許請求第1項記載
の雑音除去回路。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12685179A JPS5651165A (en) | 1979-10-03 | 1979-10-03 | Noise eliminating circuit |
| DE19803036905 DE3036905A1 (de) | 1979-10-03 | 1980-09-30 | Signalverarbeitungsschaltung fuer festkoerper-kamera |
| US06/192,999 US4333111A (en) | 1979-10-03 | 1980-10-02 | Signal processing circuit for solid-state camera |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12685179A JPS5651165A (en) | 1979-10-03 | 1979-10-03 | Noise eliminating circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5651165A JPS5651165A (en) | 1981-05-08 |
| JPS6336595B2 true JPS6336595B2 (ja) | 1988-07-20 |
Family
ID=14945415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12685179A Granted JPS5651165A (en) | 1979-10-03 | 1979-10-03 | Noise eliminating circuit |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4333111A (ja) |
| JP (1) | JPS5651165A (ja) |
| DE (1) | DE3036905A1 (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57184376A (en) * | 1981-05-09 | 1982-11-13 | Sony Corp | Signal output circuit of image pickup device |
| DE3138294A1 (de) * | 1981-09-25 | 1983-04-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor mit steuerung oder regelung der integrationszeit |
| DE3236146A1 (de) * | 1982-09-29 | 1984-03-29 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor und verfahren zu seinem betrieb |
| JPS6043857A (ja) * | 1983-08-20 | 1985-03-08 | Mitsubishi Electric Corp | 固体撮像装置とその製造方法 |
| US5771070A (en) * | 1985-11-15 | 1998-06-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid state image pickup apparatus removing noise from the photoelectric converted signal |
| DE3719967A1 (de) * | 1986-06-16 | 1987-12-17 | Hitachi Ltd | Festkoerper-bildwandler |
| US5010408A (en) * | 1989-09-25 | 1991-04-23 | Eastman Kodak Company | Doubly correlated sample and hold circuit |
| US4987321A (en) * | 1989-09-25 | 1991-01-22 | Eastman Kodak Company | Processing circuit for image sensor |
| US5625210A (en) * | 1995-04-13 | 1997-04-29 | Eastman Kodak Company | Active pixel sensor integrated with a pinned photodiode |
| US6320617B1 (en) | 1995-11-07 | 2001-11-20 | Eastman Kodak Company | CMOS active pixel sensor using a pinned photo diode |
| KR100220863B1 (ko) * | 1995-11-30 | 1999-09-15 | 무네유키 가코우 | 고체촬상소자의 신호독출장치 |
| US6002432A (en) * | 1996-09-10 | 1999-12-14 | Foveon, Inc. | Method for operating an active pixel sensor cell that reduces noise in the photo information extracted from the cell |
| US6297070B1 (en) | 1996-12-20 | 2001-10-02 | Eastman Kodak Company | Active pixel sensor integrated with a pinned photodiode |
| US5903021A (en) * | 1997-01-17 | 1999-05-11 | Eastman Kodak Company | Partially pinned photodiode for solid state image sensors |
| JP3226859B2 (ja) * | 1997-11-17 | 2001-11-05 | 日本電気株式会社 | 撮像装置 |
| US6492694B2 (en) | 1998-02-27 | 2002-12-10 | Micron Technology, Inc. | Highly conductive composite polysilicon gate for CMOS integrated circuits |
| KR100265364B1 (ko) | 1998-06-27 | 2000-09-15 | 김영환 | 넓은 동적 범위를 갖는 씨모스 이미지 센서 |
| US20040223064A1 (en) * | 2002-10-24 | 2004-11-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Image pickup element, image pickup device, and differential amplifying circuit |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5822900B2 (ja) * | 1978-09-25 | 1983-05-12 | 株式会社日立製作所 | 固体撮像装置 |
| JPS55105480A (en) * | 1979-02-07 | 1980-08-13 | Hitachi Ltd | Solid state pickup device |
-
1979
- 1979-10-03 JP JP12685179A patent/JPS5651165A/ja active Granted
-
1980
- 1980-09-30 DE DE19803036905 patent/DE3036905A1/de active Granted
- 1980-10-02 US US06/192,999 patent/US4333111A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5651165A (en) | 1981-05-08 |
| DE3036905C2 (ja) | 1984-04-12 |
| DE3036905A1 (de) | 1981-04-09 |
| US4333111A (en) | 1982-06-01 |
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