JPS6336703Y2 - - Google Patents

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JPS6336703Y2
JPS6336703Y2 JP11752383U JP11752383U JPS6336703Y2 JP S6336703 Y2 JPS6336703 Y2 JP S6336703Y2 JP 11752383 U JP11752383 U JP 11752383U JP 11752383 U JP11752383 U JP 11752383U JP S6336703 Y2 JPS6336703 Y2 JP S6336703Y2
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JP
Japan
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external lead
lead
flexible
lead frame
insulating base
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JP11752383U
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JPS6025159U (ja
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    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00—Package configurations
    • H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
    • H—ELECTRICITY
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    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は可撓性フイルムに導電体を付した構造
のリードフレームに関する。
従来例の構成とその問題点 可撓性フイルムに導電体を付した構造のリード
フレームは、フイルムキヤリアとして、すでに実
用されている。ところが、従来のフイルムキヤリ
アは、可撓性があるとは言え、リード用導電体を
可撓性基板、たとえば、ポリエステルフイルム上
に張り合わせた構造で、リード部の曲げ角はせい
ぜい90゜までが限度である。また、リード部を90゜
以上に折り曲げると、導電体が折り曲げ部で折損
を生じ易い。さらに、折り曲げ部の曲げ半径も大
きく、実装時にかさ高くなる。
考案の目的 本考案は上述の従来例にみられた問題点を解消
するもので、被接続基板面にリード用導電体を直
接はんだ付けできる構造のリードフレームを提供
するものである。
考案の構成 本考案は、要約すると、芳香族アミンアダクト
エポキシ樹脂組成物より成る可撓性絶縁基板上
に、圧延金属箔を構成要素とする半導体チツプ載
置部および外部リード部を有し、前記外部リード
部を前記可撓性絶縁基体の内側の曲げ半径0.5mm
以下で90゜〜180゜折り曲げた構造のリードフレー
ムであり、これにより、高密度実装可能な可撓性
リードフレームを実現することができる。
実施例の説明 本考案は、図示断面構造のように、可撓性フイ
ルム1の一面に銅箔のチツプ載置部2および外部
リード部3を有し、チツプ載置部2上には半導体
ICチツプ4を、たとえば、低融点ろう材を介し
て接着する。そして、半導体ICチツプ4の取出
し電極は、金属細線5を用いて、外部リード部2
の内端に接続する。また、半導体ICチツプ4お
よび金属細線5による接続部周辺は、封止用外囲
樹脂体6で密封する。さらに、外部リード部3を
含むリードフレームの外部部は、可撓性フイルム
1の内則曲げ半径0.5mm以下で、ほとんど180゜の
角度に折り曲げられている。こうすることによ
り、外部リード部3の外先端面は、回路配線用基
板7上の配線接続部8に、たとえば、はんだ材9
を用いて、溶着することができる。
さて、このような折り曲げリード構造を実現す
るには、外部リード部3の銅箔に、亜鉛裏めつき
処理された圧延銅箔が好適に使用できる。この圧
延銅箔は、伸び率も10〜20%程度あり、この折り
曲げに十分な耐性を有する。また、可撓性フイル
ム1も数十μmの厚さのポリイミドあるいはポリ
エステルで実現可能であるが、同フイルム1と銅
箔2との接着材には、芳香族アミンアダクト化合
物を硬化剤として配合したエポキシ樹脂接着材を
用いるのが最適である。このエポキシ樹脂接着材
の調製は、たとえば、平均分子量300〜500程度の
エポキシ成分主剤に対して、芳香族アミンアダク
ト化合物をほぼ等量比率で配合し、さらに、硬化
促進調整剤として、第四フオスフオニウム塩ない
しは第五フオスフオニウム塩を前記配合組成物に
対して0.1〜3重量%程度に添加することによつ
て、比較的容易に得られる。なお、上述のエポキ
シ成分主剤は、たとえば、シエル石油社製の商品
名:エポキシ828なる市販品が用いられ、また、
硬化剤の芳香族アミンアダクト化合物には、たと
えば、日本合成化工(社)製の商品名:H−90なる市
販品が好都合に用いられる。この配合組成の接着
材は前述の銅箔裏面に30〜50μmの厚みで塗布
し、100℃、1時間の熱処理で半硬化状態(いわ
ゆる、Bステージ)になり、これを可撓性フイル
ム1に張り合わせて、140℃以上の硬化条件下で
圧着、成型すれば、張合せ構体が得られる。さら
に、この接着材は、均一厚みに塗布したものをそ
のまま140℃以上の硬化条件で熱処理すると、適
度の可撓性を有するフイルムとなり、そのままで
も、可撓性フイルムとして用いることができ、こ
れにより、曲げ半径0.5mm以下の折り曲げリード
構体を製作することができる。
考案の効果 本考案によれば、外部リード部の部分を曲げ半
径0.5mm以下で90゜〜180゜折り曲げることにより、
このリードフレームを用いて封止された半導体装
置を、平坦な回路配線用基板面に対しても、直接
的に、はんだ付けすることができ、高密度かつ容
易に実装完了することができる。
【図面の簡単な説明】
図は本考案実施例を用いた回路構体断面図であ
る。 1……可撓性フイルム、2……チツプ載置部、
3……外部リード部、4……半導体ICチツプ、
5……金属細線、6……外囲樹脂体、7……回路
配線用基板、8……配線接続部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 芳香族アミンアダクトエポキシ樹脂組成物より
    成る可撓性絶縁基体上に、圧延金属箔を構成要素
    とする半導体チツプ載置部および外部リード部を
    有し、前記外部リード部を前記可撓性絶縁基体の
    内則の曲げ半径0.5mm以下で90゜〜180゜折り曲げた
    構造のリードフレーム。
JP1983117523U 1983-07-28 1983-07-28 リ−ドフレ−ム Granted JPS6025159U (ja)

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JP1983117523U JPS6025159U (ja) 1983-07-28 1983-07-28 リ−ドフレ−ム

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JP1983117523U JPS6025159U (ja) 1983-07-28 1983-07-28 リ−ドフレ−ム

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JPS6025159U JPS6025159U (ja) 1985-02-20
JPS6336703Y2 true JPS6336703Y2 (ja) 1988-09-28

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2537325B2 (ja) * 1991-11-29 1996-09-25 明 北原 表面実装電子部品と製法
JP2871346B2 (ja) * 1992-10-07 1999-03-17 日本電気株式会社 実装型パッケージ
JP5702986B2 (ja) * 2010-10-27 2015-04-15 新電元工業株式会社 樹脂封止型半導体装置

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JPS6025159U (ja) 1985-02-20

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