JPS6351380B2 - - Google Patents
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- JPS6351380B2 JPS6351380B2 JP55161103A JP16110380A JPS6351380B2 JP S6351380 B2 JPS6351380 B2 JP S6351380B2 JP 55161103 A JP55161103 A JP 55161103A JP 16110380 A JP16110380 A JP 16110380A JP S6351380 B2 JPS6351380 B2 JP S6351380B2
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- output buffer
- resistor
- output
- input
- emitter
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/90—Masterslice integrated circuits
- H10D84/901—Masterslice integrated circuits comprising bipolar technology
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、配線工程のみを変更することによ
つて各種論理回路を形成するゲートアレイ形マス
タースライス集積回路(LSI)に関し、特に内部
ゲート、出力バツフアがエミツタ結合論理
(ECL)回路で構成されるものにおいて、出力バ
ツフアを駆動する内部ゲートの遅延時間の改善に
関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a gate array type master slice integrated circuit (LSI) that forms various logic circuits by changing only the wiring process. This relates to improving the delay time of the internal gate that drives the output buffer in circuits configured with (ECL) circuits.
第1図はゲートアレイ形マスタースライスLSI
の一般的な構成を示す図である。図中、101〜
104は内部ゲート用のマスターパターン形成領
域であり、各行毎に多数ゲート分配列される。1
11〜114は入力バツフアあるいは出力バツフ
ア用のマスターパターン形成領域であり、各々多
数ゲート分配列される。これらのマスターパター
ン形成領域に配線前工程全てを共通にしてあらか
じめトランジスタや抵抗体等の回路素子を形成し
ておき、配線工程のみを変更することにより、
種々の論理ゲートを作ると同時に各ゲート間の配
線を施すことによつて各種論理回路を構成する。
なお、ゲート内の配線はマスターパターン上に施
され、ゲート間の配線はマスターパターン以外の
配線領域上に施される。 Figure 1 is a gate array type master slice LSI
FIG. 2 is a diagram showing a general configuration of. In the figure, 101~
Reference numeral 104 denotes a master pattern forming area for internal gates, which is arranged for a large number of gates in each row. 1
Reference numerals 11 to 114 designate master pattern forming regions for input buffers or output buffers, each of which is arranged for a large number of gates. By forming circuit elements such as transistors and resistors in advance by using all pre-wiring processes in common in these master pattern forming areas, and changing only the wiring process,
Various logic circuits are constructed by creating various logic gates and at the same time providing wiring between each gate.
Note that the wiring within the gate is provided on the master pattern, and the wiring between the gates is provided on the wiring area other than the master pattern.
ECL回路を用いた従来のゲートアレイ形マス
タースライスLSIを構成する内部ゲートおよび出
力バツフアの等価回路図を第2図に示す。図中、
A,Bはそれぞれ内部ゲート、出力バツフアに対
応しており、この図では内部ゲートが3個の入力
トランジスタQ1,Q2,Q3を有する3入力NOR構
成であり、出力バツフアが1個の入力トランジス
タQ11を有する非反転出力形態の場合の例を示
す。Q4はベースにレフアレンス電圧VBBが印加さ
れた内部ゲートのレフアレンストランジスタ、
Q5は内部ゲートのエミツタフオロアトランジス
タであり、エミツタにエミツタフオロア抵抗体
R4が接続され、エミツタを出力とする。R1,R2
はそれぞれ前記入力トランジスタQ1,Q2,Q3の
コレクタ,レフアレンストランジスタQ4のコレ
クタに接続された負荷抵抗体であり、R3は前記
各入力トランジスタQ1,Q2,Q3とレフアレンス
トランジスタQ4のエミツタに接続された抵抗体
である。また、Q14,Q15はそれぞれ出力バツフ
アのレフアレンストランジスタ,エミツタフオロ
アトランジスタ,R11,R12は負荷抵抗体、R13は
前記入力トランジスタQ11と前記レフアレンスト
ランジスタQ14のエミツタに接続された抵抗体で
あり、R14は出力バツフア用のエミツタフオロア
抵抗体であり、外部で付加される場合もある。ま
た、l1,l2,l3は内部ゲートの入力端子、O1は内
部ゲートの出力端子であり、l11およびO11はそれ
ぞれ出力バツフアの入力端子および出力端子であ
る。VCCは通常接地電位とし、VEEには負電位が
与えられる。このような構成において、出力バツ
フアは通常内部ゲートで駆動されるため、内部ゲ
ートの出力端子O1と出力バツフアの入力端子l11
が接続される。 FIG. 2 shows an equivalent circuit diagram of the internal gates and output buffers that make up a conventional gate array type master slice LSI using an ECL circuit. In the figure,
A and B correspond to the internal gate and output buffer, respectively. In this figure, the internal gate has a 3-input NOR configuration with three input transistors Q 1 , Q 2 , and Q 3 , and the output buffer has one transistor. An example is shown for the case of a non-inverting output configuration with an input transistor Q 11 . Q 4 is an internal gate reference transistor with a reference voltage V BB applied to its base;
Q5 is an internal gate emitter follower transistor, with an emitter follower resistor on the emitter.
R 4 is connected and the emitter is output. R1 , R2
are load resistors connected to the collectors of the input transistors Q 1 , Q 2 , Q 3 and the collector of the reference transistor Q 4 , respectively, and R 3 is a load resistor connected to the collectors of the input transistors Q 1 , Q 2 , Q 3 and the reference transistor Q 3 . This is a resistor connected to the emitter of the lens transistor Q4 . Further, Q 14 and Q 15 are reference transistors and emitter follower transistors of the output buffer, respectively, R 11 and R 12 are load resistors, and R 13 is the emitter of the input transistor Q 11 and the reference transistor Q 14 . R14 is an emitter follower resistor for the output buffer and may be added externally. Furthermore, l 1 , l 2 , and l 3 are input terminals of the internal gate, O 1 is an output terminal of the internal gate, and l 11 and O 11 are the input terminal and output terminal of the output buffer, respectively. V CC is normally set to ground potential, and V EE is given a negative potential. In such a configuration, the output buffer is usually driven by an internal gate, so that the output terminal O 1 of the internal gate and the input terminal L 11 of the output buffer
is connected.
ところで通常のゲートアレイ形マスタースライ
スLSIではできるだけ高速化,低消費電力化を図
るために、内部ゲートを構成する回路素子を微小
化し浮遊容量の削減を図るとともに微小電流で動
作させている。一方、出力バツフアは大きな外部
容量を十分駆動する必要があるため、回路電流は
それほど削減できず、内部ゲートに比して大きな
電流値に設定されている。このため、内部ゲート
に比して大きなサイズのトランジスタで構成され
るため、出力バツフアの等価入力容量が大きくな
る。また、第1図の構成図に示すように、通常、
出力バツフアはチツプの周辺に配置されているた
めに出力バツフアと内部ゲート間の配線が長くな
り、配線容量が大きくなりがちである。したがつ
て、内部ゲートで出力バツフアを駆動する場合に
は負荷容量が大きくなり、遅延時間、特に出力の
立上り時の遅延時間が大きくなる。また、1個の
内部ゲートで複数個の出力バツフアを駆動する場
合には更に遅延時間が増大する。 By the way, in a typical gate array type master slice LSI, in order to achieve as high speed and low power consumption as possible, the circuit elements that make up the internal gates are miniaturized to reduce stray capacitance and operate with a small current. On the other hand, since the output buffer needs to sufficiently drive a large external capacitance, the circuit current cannot be reduced much, and the current value is set to be larger than that of the internal gate. For this reason, since the output buffer is composed of transistors having a larger size than the internal gate, the equivalent input capacitance of the output buffer becomes large. In addition, as shown in the configuration diagram of FIG.
Since the output buffer is arranged around the chip, the wiring between the output buffer and the internal gate becomes long, and the wiring capacitance tends to increase. Therefore, when the output buffer is driven by an internal gate, the load capacitance becomes large and the delay time, especially the delay time at the rise of the output, becomes large. Moreover, when a plurality of output buffers are driven by one internal gate, the delay time increases further.
このように従来のECL回路で構成したゲート
アレイ形マスタースライスLSIでは出力バツフア
を駆動する内部ゲートの遅延時間が大きくなると
いう欠点があつた。 As described above, the gate array type master slice LSI configured with the conventional ECL circuit has the disadvantage that the delay time of the internal gate that drives the output buffer becomes large.
この発明は、上記のような従来のものの欠点を
除去するためになされたものであり、出力バツフ
アを駆動する内部ゲートの負荷容量に対する駆動
能力を上げ、遅延時間の改善を図つたものであ
る。以下、この発明について詳細に説明する。 The present invention was made to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional device, and aims to improve the delay time by increasing the driving capability of the internal gate for driving the output buffer against the load capacitance. This invention will be explained in detail below.
第3図はこの発明に係る大規模集積回路装置の
一実施例を示す回路図である。図中、第2図と同
一符号は同一または相当部分を示す。また、R15
は出力バツフアの入力端と電源電圧VEE間に新た
に挿入された抵抗体である。 FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of a large-scale integrated circuit device according to the present invention. In the figure, the same reference numerals as in FIG. 2 indicate the same or corresponding parts. Also, R15
is a resistor newly inserted between the input terminal of the output buffer and the power supply voltage VEE .
第3図のような構成にすれば、出力バツフアB
を駆動する内部ゲートのエミツタフオロアトラン
ジスタQ5に抵抗体R4とR15が並列に接続されてい
るため、等価的なエミツタフオロア抵抗が小さく
なる。したがつて、負荷容量に対する内部ゲート
の駆動能力が増し、遅延時間が改善される。すな
わち、エミツタフオロア回路の立下り時の遅延時
間tPHLはエミツタフオロアトランジスタQ5のエミ
ツタに接続される抵抗体の抵抗値Refと負荷容量
CLに対して次式の関係がある。 If the configuration is as shown in Figure 3, the output buffer B
Since resistors R4 and R15 are connected in parallel to the internal gate emitter follower transistor Q5 that drives the emitter follower transistor Q5, the equivalent emitter follower resistance becomes small. Therefore, the drive capability of the internal gate with respect to the load capacitance is increased, and the delay time is improved. In other words, the delay time t PHL at the time of falling of the emitter follower circuit is determined by the resistance value R ef of the resistor connected to the emitter of the emitter follower transistor Q 5 and the load capacitance.
For C L , there is the following relationship.
tPHL∝Ref・CL ……(1)
上記実施例においては、内部ゲートのエミツタ
フオロア抵抗体R4と並列に出力バツフアの入力
端に抵抗体R15を付加することによつて第(1)式に
おける抵抗体Refを小さくし、内部ゲートの出力
立下り時の遅延時間を改善することができる。 t PHL ∝R ef・C L ...( 1 ) In the above embodiment, the ( 1st By making the resistor R ef in the equation ) smaller, it is possible to improve the delay time when the output of the internal gate falls.
第4図は1個の内部ゲートが複数個の出力バツ
フアを駆動する場合の構成図を示す。図中、B1,
B2,……,Boはn個の出力バツフアを示し、
R15,R25,……,Ro5はそれぞれの出力バツフア
の入力端に付加した抵抗体であり、同一の抵抗値
に設定されている。このように出力バツフアの入
力端に常に同一の抵抗値に設定された抵抗体を付
加する構成にすれば1個の内部ゲートで多数個の
出力バツフアを駆動する場合には遅延時間を大幅
に改善することができる。すなわち、出力バツフ
アの等価入力容量をCioとし、内部ゲートのエミ
ツタフオロア抵抗体R4および各出力バツフアの
入力端に付加する抵抗体の抵抗値を全てR0とし、
配線容量をCMとすれば第(1)式のRef・CLは次のよ
うになる。 FIG. 4 shows a configuration diagram when one internal gate drives a plurality of output buffers. In the figure, B 1 ,
B 2 ,...,B o represents n output buffers,
R 15 , R 25 , . . . , R o5 are resistors added to the input ends of the respective output buffers, and are set to the same resistance value. By configuring a configuration in which a resistor whose resistance value is always set to the same value is always added to the input terminal of the output buffer, the delay time can be greatly improved when driving multiple output buffers with one internal gate. can do. That is, the equivalent input capacitance of the output buffer is Cio , and the resistance values of the emitter follower resistor R4 of the internal gate and the resistors added to the input terminal of each output buffer are all R0 ,
If the wiring capacitance is CM , then R ef · CL in equation (1) becomes as follows.
Ref・CL=R0/n+1(nCio+CM) ……(2)
一方、従来の回路構成によれば次のようにな
る。 R ef ·C L =R 0 /n+1(nC io +C M )...(2) On the other hand, according to the conventional circuit configuration, the following occurs.
Ref・CL=R0(nCio+CM) ……(3)
第(2),(3)式を比較すれば明らかなように、この
発明によれば従来の回路構成の場合に比して出力
立下り時の遅延時間を大幅に改善することができ
ると同時に、内部ゲートが駆動する出力バツフア
の数による内部ゲートの遅延時間の差を大幅に小
さくすることができる。すなわち、各出力バツフ
アのマスターパターン形成領域に抵抗パターンを
形成しておき、出力バツフアを使用する際には、
常に出力バツフアの入力端に抵抗体を付加するこ
とによつて、出力バツフアを駆動する内部ゲート
の遅延時間を改善することができる。 R ef · C L = R 0 (nC io + C M ) ...(3) As is clear from comparing equations (2) and (3), according to the present invention, compared to the conventional circuit configuration, As a result, the delay time when the output falls can be significantly improved, and at the same time, the difference in delay time of the internal gates depending on the number of output buffers driven by the internal gates can be significantly reduced. In other words, a resistor pattern is formed in the master pattern forming area of each output buffer, and when using the output buffer,
By always adding a resistor to the input end of the output buffer, the delay time of the internal gate that drives the output buffer can be improved.
しかしながらこのような構成によれば、1個の
内部ゲートで多数の出力バツフアを駆動する場合
には多数の抵抗体が並列に付加されるため、内部
ゲートのエミツタフオロアトランジスタを流れる
電流が増加する。ところが内部ゲートを構成する
トランジスタは微小動作電流に合せて小さいサイ
ズで形成されているため、大電流を流した場合に
は出力レベルが大幅に低下し、所望の動作が得ら
れないという問題が生じる。このような場合には
並列に付加される抵抗の数を制限し、エミツタフ
オロアトランジスタに流れる電流を制限すればよ
い。 However, with this configuration, when driving multiple output buffers with one internal gate, many resistors are added in parallel, so the current flowing through the emitter follower transistor of the internal gate increases. do. However, since the transistors that make up the internal gates are formed in a small size to accommodate the minute operating current, when a large current flows through them, the output level drops significantly, causing the problem that the desired operation cannot be achieved. . In such a case, the number of resistors added in parallel may be limited to limit the current flowing through the emitter follower transistor.
第5図は付加する抵抗体の数を制限した場合の
実施例を示す図である。出力バツフアB1,B2の
入力端にのみ抵抗体R15,R25を付加し、出力バ
ツフアB3〜Boの入力端には抵抗体を付加しない
構成にすることによつて内部ゲートのエミツタフ
オロアトランジスタに流れる電流を制限すること
ができる。すなわち、入力端に抵抗体を付加した
出力バツフアと入力端に抵抗体を付加しない出力
バツフアの2つの異なる形態の出力バツフアを配
線パターンのみの変更で構成することができるよ
うにマスターパターンをあらかじめ形成してお
き、内部ゲートが多数個の出力バツフアを駆動す
る場合には2つの形態の出力バツフアを適当に選
択し、出力バツフアの入力端に付加する抵抗体の
数を制限することにより、所望の動作を確保しつ
つ、内部ゲートの遅延時間を改善することができ
る。 FIG. 5 is a diagram showing an embodiment in which the number of resistors to be added is limited. By adding resistors R 15 and R 25 only to the input ends of output buffers B 1 and B 2 and not adding resistors to the input ends of output buffers B 3 to B o , the internal gate The current flowing through the emitter follower transistor can be limited. In other words, a master pattern is formed in advance so that two different types of output buffers can be configured by changing only the wiring pattern: an output buffer with a resistor added to the input end and an output buffer without a resistor added to the input end. If the internal gate drives a large number of output buffers, the desired output buffer can be achieved by appropriately selecting two types of output buffers and limiting the number of resistors added to the input terminal of the output buffer. The delay time of internal gates can be improved while ensuring operation.
なお、上記実施例では1入力の非反転出力形態
の出力バツフアの場合についてのみ説明したが、
反転出力形態であつても、また、多入力形式であ
つてもよく、上記実施例と同様の効果が得られ
る。 Note that in the above embodiment, only the case of an output buffer with one input and non-inverting output was explained.
It may be an inverted output format or a multi-input format, and the same effects as the above embodiments can be obtained.
以上詳細に説明したように、この発明は、
ECL回路で構成されるゲートアレイ形マスター
スライスLSIにおいて、出力バツフアの入力端と
電源VEE線間に抵抗体を付加することができるよ
うにしたので、出力バツフアを駆動する内部ゲー
トの遅延時間を改善することができる利点があ
る。 As explained in detail above, this invention
In a gate array type master slice LSI consisting of an ECL circuit, a resistor can be added between the input terminal of the output buffer and the power supply V EE line, so the delay time of the internal gate that drives the output buffer can be reduced. There are advantages that can be improved.
第1図はゲートアレイ形マスタースライスLSI
の一般的な構成図、第2図は従来のECL回路構
成による論理回路装置を示す回路図、第3図はこ
の発明に係る大規模集積回路装置の一実施例を示
す回路図、第4図および第5図はこの発明に係る
大規模集積回路装置の他の実施例をそれぞれ示す
構成図である。
図中、101〜104は内部ゲート用のマスタ
ーパターン形成領域、111〜114は入力バツ
フアあるいは出力バツフア用のマスターパターン
形成領域、Q1,Q2およびQ3は内部ゲート用の入
力トランジスタ、Q4は内部ゲート用のレフアレ
ンストランジスタ、Q5は内部ゲート用のエミツ
タフオロアトランジスタ、R1,R2は内部ゲート
用の負荷抵抗体、R3は内部ゲート用の抵抗体、
R4は内部ゲート用のエミツタフオロア抵抗体、
Q11は出力バツフア用の入力トランジスタ、Q14
は出力バツフア用のレフアレンストランジスタ、
Q15は出力バツフア用のエミツタフオロアトラン
ジスタ、R11,R12は出力バツフア用の負荷抵抗
体、R13は出力バツフア用の抵抗体、R14は出力
バツフア用のエミツタフオロア抵抗体、R15,
R25,R35およびRo5は出力バツフアの入力端に選
択的に付加される抵抗体、Aは内部ゲート、B,
B1,B2,B3およびBoは出力バツフア、l1,l2およ
びl3は内部ゲートの入力端子、O1は内部ゲートの
出力端子、l11,l21,l31およびlo1は出力バツフア
の入力端子、O11は出力バツフアの出力端子であ
る。なお、図中の同一符号は同一または相当部分
を示す。
Figure 1 is a gate array type master slice LSI
2 is a circuit diagram showing a logic circuit device with a conventional ECL circuit configuration, FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of a large-scale integrated circuit device according to the present invention, and FIG. and FIG. 5 are configuration diagrams showing other embodiments of the large-scale integrated circuit device according to the present invention. In the figure, 101 to 104 are master pattern forming regions for internal gates, 111 to 114 are master pattern forming regions for input buffers or output buffers, Q 1 , Q 2 and Q 3 are input transistors for internal gates, and Q 4 is a reference transistor for the internal gate, Q5 is an emitter follower transistor for the internal gate, R1 , R2 is a load resistor for the internal gate, R3 is a resistor for the internal gate,
R4 is the emitter follower resistor for the internal gate,
Q 11 is the input transistor for the output buffer, Q 14
is a reference transistor for output buffer,
Q 15 is the emitter follower transistor for the output buffer, R 11 and R 12 are the load resistors for the output buffer, R 13 is the resistor for the output buffer, R 14 is the emitter follower resistor for the output buffer, and R 15 ,
R 25 , R 35 and R o5 are resistors selectively added to the input terminal of the output buffer, A is an internal gate, B,
B 1 , B 2 , B 3 and B o are the output buffers, l 1 , l 2 and l 3 are the input terminals of the internal gate, O 1 is the output terminal of the internal gate, l 11 , l 21 , l 31 and l o1 is the input terminal of the output buffer, and O11 is the output terminal of the output buffer. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or corresponding parts.
Claims (1)
ランジスタや抵抗体等の回路素子を形成し、配線
工程のみを変えることによつて各種論理回路を構
成するゲートアレイ形マスタースライス集積回路
であつて、少なくとも1個の入力トランジスタを
有するエミツタ結合論理回路で構成された複数個
の内部ゲートおよび複数個の出力バツフアを有す
るものにおいて、前記出力バツフアの入力端と電
源線間に選択的に少なくとも1個の抵抗体を配線
工程により付加することができるようにしたこと
を特徴とする大規模集積回路装置。 2 出力バツフアの入力端と電源線間に内部ゲー
トを構成するエミツタ結合論理回路のエミツタフ
オロワトランジスタのエミツタに接続される抵抗
体と同一または同程度の値の抵抗体を配線工程に
より少なくとも1個以上選択的に付加することが
できるようにしたことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の大規模集積回路装置。 3 出力バツフアの入力端と電源線間に常に1個
の抵抗体を付加することを特徴とする特許請求の
範囲第1項または第2項記載の大規模集積回路装
置。 4 複数個の出力バツフアが同一の内部ゲートで
駆動される場合に、共通接続された上記出力バツ
フアの入力端と電源線間に並列に接続される抵抗
体の数を所定数に制限することを特徴とする特許
請求の範囲第1項または第2項記載の大規模集積
回路装置。[Claims] 1 Gate array type master slice integration in which various logic circuits are constructed by forming circuit elements such as transistors and resistors in advance by using all pre-wiring processes in common and changing only the wiring process. In a circuit having a plurality of internal gates and a plurality of output buffers configured of an emitter-coupled logic circuit having at least one input transistor, there is a selective connection between the input terminal of the output buffer and the power supply line. 1. A large-scale integrated circuit device, characterized in that at least one resistor can be added to the circuit through a wiring process. 2 At least one resistor having the same or similar value as the resistor connected to the emitter of the emitter follower transistor of the emitter-coupled logic circuit that constitutes the internal gate between the input end of the output buffer and the power supply line is installed in the wiring process. 2. The large-scale integrated circuit device according to claim 1, wherein more than one circuit can be selectively added. 3. The large-scale integrated circuit device according to claim 1 or 2, characterized in that one resistor is always added between the input end of the output buffer and the power supply line. 4. When a plurality of output buffers are driven by the same internal gate, the number of resistors connected in parallel between the commonly connected input terminals of the output buffers and the power supply line is limited to a predetermined number. A large-scale integrated circuit device according to claim 1 or 2.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55161103A JPS5784150A (en) | 1980-11-14 | 1980-11-14 | Large-scale integrated circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55161103A JPS5784150A (en) | 1980-11-14 | 1980-11-14 | Large-scale integrated circuit device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5784150A JPS5784150A (en) | 1982-05-26 |
| JPS6351380B2 true JPS6351380B2 (en) | 1988-10-13 |
Family
ID=15728656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55161103A Granted JPS5784150A (en) | 1980-11-14 | 1980-11-14 | Large-scale integrated circuit device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5784150A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59220948A (en) * | 1983-05-31 | 1984-12-12 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
| JPH0744259B2 (en) * | 1987-10-30 | 1995-05-15 | 日本電気株式会社 | Semiconductor integrated circuit |
-
1980
- 1980-11-14 JP JP55161103A patent/JPS5784150A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5784150A (en) | 1982-05-26 |
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