JPS6355351B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6355351B2 JPS6355351B2 JP56188746A JP18874681A JPS6355351B2 JP S6355351 B2 JPS6355351 B2 JP S6355351B2 JP 56188746 A JP56188746 A JP 56188746A JP 18874681 A JP18874681 A JP 18874681A JP S6355351 B2 JPS6355351 B2 JP S6355351B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ampoule
- cutter
- semi
- neck
- microphone
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000003708 ampul Substances 0.000 claims description 30
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 claims description 11
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 5
- 210000003739 neck Anatomy 0.000 description 18
- 239000000047 product Substances 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/045—Analysing solids by imparting shocks to the workpiece and detecting the vibrations or the acoustic waves caused by the shocks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Medical Preparation Storing Or Oral Administration Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はアンプルの頸部に切削する浅い疵線の
有無を音響的に探知する方法の関するものであ
る。
有無を音響的に探知する方法の関するものであ
る。
最近はアンプルの頸部に浅い疵線を切削し、カ
ツト石を用いないで枝管を切断できるようにした
サンプルが使用されている。このアンプルには頸
部の全周に浅い疵線を切つてイージ液を塗つたニ
ユーイージ付きアンプルと、頸部に極く短くかつ
浅い疵線を切削してその直ぐ上の玉部に目印用の
マークをつけたワンポイントアンプルがある。い
ずれのアンプルも疵線が切削されているかどうか
を調べる必要があり、その探知方法としてカツタ
ーの昇降を光電的に探知するとか、疵線を微細な
針先でさぐつてその有無をセンサーに感知させる
方法が考えられる。しかし前者は何らかの原因で
カツターがアンプルの頸部に触れなくても良品の
判定が出るし、後者は疵線が極めて短くかつ浅い
から精度が低い欠点がある。又カツターが疵線を
切削する際の切削音をマイクで直接とらえる方法
も考えられるが、この方法は微弱な切削音が周囲
の雑音に包込まれてしまうから、疵線の探知方法
として不適格である。
ツト石を用いないで枝管を切断できるようにした
サンプルが使用されている。このアンプルには頸
部の全周に浅い疵線を切つてイージ液を塗つたニ
ユーイージ付きアンプルと、頸部に極く短くかつ
浅い疵線を切削してその直ぐ上の玉部に目印用の
マークをつけたワンポイントアンプルがある。い
ずれのアンプルも疵線が切削されているかどうか
を調べる必要があり、その探知方法としてカツタ
ーの昇降を光電的に探知するとか、疵線を微細な
針先でさぐつてその有無をセンサーに感知させる
方法が考えられる。しかし前者は何らかの原因で
カツターがアンプルの頸部に触れなくても良品の
判定が出るし、後者は疵線が極めて短くかつ浅い
から精度が低い欠点がある。又カツターが疵線を
切削する際の切削音をマイクで直接とらえる方法
も考えられるが、この方法は微弱な切削音が周囲
の雑音に包込まれてしまうから、疵線の探知方法
として不適格である。
本発明は円板状のカツターを回転させつつアン
プル半製品の頸部に接触させると、その切削音に
共鳴して胴部に共鳴音が発生することを利用する
もので、カツターの接触と同期してアンプル半製
品の胴部にマイクを当て、胴部の共鳴音をマイク
でとらえて周囲の雑音に関係なく疵線の有無を音
響的に探知し、これによりアンプルの頸部に切削
される浅い疵線を確実にか自動的に探知すること
に成功したのである。
プル半製品の頸部に接触させると、その切削音に
共鳴して胴部に共鳴音が発生することを利用する
もので、カツターの接触と同期してアンプル半製
品の胴部にマイクを当て、胴部の共鳴音をマイク
でとらえて周囲の雑音に関係なく疵線の有無を音
響的に探知し、これによりアンプルの頸部に切削
される浅い疵線を確実にか自動的に探知すること
に成功したのである。
図面に示す実施態様において、１はアンプルの
半製品で、アンプル２本分の胴部２の両端に細長
い枝管３，３が連なり、枝管の根元を絞つて頸部
４が設けられている。このアンプル半製品はアン
プル製造機械の疵線工程にあり、前工程で枝管
３，３を一定長に切断したものが供給され、次の
胴切り工程へ送込まれてアンプルの完成品とな
る。疵線工程は断面Ｕ字形又」形をなす多数のキ
ヤタピラを相接して取付けたコンベヤを備え、ア
ンプル半製品を１本ずつキヤタピラに納めてコン
ベヤを間欠的に進行させる。５，１５は薄い円板
状のカツターで、コンベヤの手前側と向う側にそ
の進行方向にアンプル半製品数本の間隔をずらし
てその頸部４，４の直下に配置し、適時に揺動す
る小形のモータ６，１６に装着して常時回転さ
せ、モータの起上りにより頸部４に下から軽るく
接触して極めて短かくかつ浅い疵線を切削する。
半製品で、アンプル２本分の胴部２の両端に細長
い枝管３，３が連なり、枝管の根元を絞つて頸部
４が設けられている。このアンプル半製品はアン
プル製造機械の疵線工程にあり、前工程で枝管
３，３を一定長に切断したものが供給され、次の
胴切り工程へ送込まれてアンプルの完成品とな
る。疵線工程は断面Ｕ字形又」形をなす多数のキ
ヤタピラを相接して取付けたコンベヤを備え、ア
ンプル半製品を１本ずつキヤタピラに納めてコン
ベヤを間欠的に進行させる。５，１５は薄い円板
状のカツターで、コンベヤの手前側と向う側にそ
の進行方向にアンプル半製品数本の間隔をずらし
てその頸部４，４の直下に配置し、適時に揺動す
る小形のモータ６，１６に装着して常時回転さ
せ、モータの起上りにより頸部４に下から軽るく
接触して極めて短かくかつ浅い疵線を切削する。
７，１７は２つのマイクで、それぞれカツター
５，１５の接触と同期してアンプル半製品の胴部
２に当接し、カツターに切削音に共鳴して胴部に
発生する共鳴音をとらえる。８，１８はそれぞれ
モータ６，１６を揺動させるカムで、頸部４に対
してカツター５，１５の離接動作の運動源とな
り、カツターが接触するとスイツチ９，１９によ
り切削信号を送出す。１０はマイク７，１７と制
御箱２０との間に設ける中継箱で、マイクの信号
はこの中継箱を経て制御箱２０へ送られる。制御
箱２０は各マイク毎にフイルター２１，３１、比
較器２２，３２、整形器２３，３３、増巾器２
４，３４、積分器２５，３５及び判定器２６，３
６が直列に接続され、スイツチ９，１９からくる
切削信号は積分器２５，３５に加えられる。なお
整形器２３，３３は再トリガ形単安定マルチバイ
ブレータである。
５，１５の接触と同期してアンプル半製品の胴部
２に当接し、カツターに切削音に共鳴して胴部に
発生する共鳴音をとらえる。８，１８はそれぞれ
モータ６，１６を揺動させるカムで、頸部４に対
してカツター５，１５の離接動作の運動源とな
り、カツターが接触するとスイツチ９，１９によ
り切削信号を送出す。１０はマイク７，１７と制
御箱２０との間に設ける中継箱で、マイクの信号
はこの中継箱を経て制御箱２０へ送られる。制御
箱２０は各マイク毎にフイルター２１，３１、比
較器２２，３２、整形器２３，３３、増巾器２
４，３４、積分器２５，３５及び判定器２６，３
６が直列に接続され、スイツチ９，１９からくる
切削信号は積分器２５，３５に加えられる。なお
整形器２３，３３は再トリガ形単安定マルチバイ
ブレータである。
本発明に係る疵線探知方法の一実施態様を具体
的に説明すると次の通りである。
的に説明すると次の通りである。
アンプル製造機械が作動すると、枝管３，３を
一定長に切断したアンプル半製品が前工程から疵
線工程へ供給され、疵線工程のモータ６，１６が
付勢されてカツター５，１５を常時回転させ、コ
ンベヤはキヤタピラにアンプル半製品を１本ずつ
納めて間欠的に進行する。コンベヤの一時停止中
にカム８によりカツター５がアンプル半製品の手
前側の頸部４に軽るく接触して極めて浅くかつ短
い疵線を切削し、カツターの接触と同期して集音
マイク７が胴部２の手前寄りに当接し、カツター
の切削音に共鳴して胴部に発生する共鳴をとらえ
る。カツター５とマイク７は直ちに頸部４及び胴
部２から離れ、このアンプル半製品がコンベヤの
間欠進行に伴つて数本分を移動して停止すると、
向う側のカツター１５がカム１８により頸部に軽
るく接触して極めて短くかつ浅い疵線を切削し、
これに同期してマイク１７が胴部に当接して共鳴
音をとらえ、カツター１５とマイク１７は直ちに
頸部４と胴部２から離れる。
一定長に切断したアンプル半製品が前工程から疵
線工程へ供給され、疵線工程のモータ６，１６が
付勢されてカツター５，１５を常時回転させ、コ
ンベヤはキヤタピラにアンプル半製品を１本ずつ
納めて間欠的に進行する。コンベヤの一時停止中
にカム８によりカツター５がアンプル半製品の手
前側の頸部４に軽るく接触して極めて浅くかつ短
い疵線を切削し、カツターの接触と同期して集音
マイク７が胴部２の手前寄りに当接し、カツター
の切削音に共鳴して胴部に発生する共鳴をとらえ
る。カツター５とマイク７は直ちに頸部４及び胴
部２から離れ、このアンプル半製品がコンベヤの
間欠進行に伴つて数本分を移動して停止すると、
向う側のカツター１５がカム１８により頸部に軽
るく接触して極めて短くかつ浅い疵線を切削し、
これに同期してマイク１７が胴部に当接して共鳴
音をとらえ、カツター１５とマイク１７は直ちに
頸部４と胴部２から離れる。
マイク７，１７の信号は中継箱１０を経て制御
箱２０に入り、制御箱はこの信号をフイルター２
１，３１に通して有効成分のみを抽出し、これを
比較器２２，３２に入れて設定値を越えたものを
信号有りと認める。比較器２２，３２の単発出力
は整形器２３，３３に入つて所定巾のパルスに整
形され、これに増巾器２４，３４で増巾したのち
積分器２５，３５に加える。積分器は整形器２
３，３３からくるパルス列の時間積分を行うの
で、パルス数に対する比例性が得られ、この積分
器にスイツチ９，１９からくる切削信号も加えら
れる。こゝに整形器２３，３３が再トリガ形単安
定マルチバイブレータであるから、マイク１７が
過大な共鳴音をとらえ、飽和信号がフイルター２
１，３１を通つて比較器２２，３２に入つても、
整形器２３，３３の応答は一度しか出力せず、従
つて積分器２５，３５の時間積分に影響しない。
続いて判定器２６，３６が積分器２５，３５の出
力が設定値を越えたかどうか、即ち有効信号が所
定時間続いたかどうかを判定して良品信号と不良
信号を送出し、良品信号はカウンタに入つて良品
を計数し、不良信号は記憶器（図示なし）に入つ
て不良品がコンベヤの終端に達する時期に次工程
への渡り板（図示なし）を開き、不良のアンプル
半製品を収納箱（図示なし）へ落下させてアンプ
ル製造機械から除去する。
箱２０に入り、制御箱はこの信号をフイルター２
１，３１に通して有効成分のみを抽出し、これを
比較器２２，３２に入れて設定値を越えたものを
信号有りと認める。比較器２２，３２の単発出力
は整形器２３，３３に入つて所定巾のパルスに整
形され、これに増巾器２４，３４で増巾したのち
積分器２５，３５に加える。積分器は整形器２
３，３３からくるパルス列の時間積分を行うの
で、パルス数に対する比例性が得られ、この積分
器にスイツチ９，１９からくる切削信号も加えら
れる。こゝに整形器２３，３３が再トリガ形単安
定マルチバイブレータであるから、マイク１７が
過大な共鳴音をとらえ、飽和信号がフイルター２
１，３１を通つて比較器２２，３２に入つても、
整形器２３，３３の応答は一度しか出力せず、従
つて積分器２５，３５の時間積分に影響しない。
続いて判定器２６，３６が積分器２５，３５の出
力が設定値を越えたかどうか、即ち有効信号が所
定時間続いたかどうかを判定して良品信号と不良
信号を送出し、良品信号はカウンタに入つて良品
を計数し、不良信号は記憶器（図示なし）に入つ
て不良品がコンベヤの終端に達する時期に次工程
への渡り板（図示なし）を開き、不良のアンプル
半製品を収納箱（図示なし）へ落下させてアンプ
ル製造機械から除去する。
以上は本発明の一実施態様を説明したもので、
本発明はこの実施態様に限定されることなく、発
明の要旨内において設計変更できる。例えば本発
明はアンプル半製品を回転させつつその頸部にカ
ツターを接触させ、頸部の全周に浅い疵線を切削
してイージ液を塗るニユーイージ付きアンプルに
そのまゝ使用できるし、アンプル以外のガラス管
の加工品にも応用できる。又この実施態様におい
ては疵線の直ぐ上の玉部に目印用のマークをつけ
るが、これは本発明に関係がないから省略した。
本発明はこの実施態様に限定されることなく、発
明の要旨内において設計変更できる。例えば本発
明はアンプル半製品を回転させつつその頸部にカ
ツターを接触させ、頸部の全周に浅い疵線を切削
してイージ液を塗るニユーイージ付きアンプルに
そのまゝ使用できるし、アンプル以外のガラス管
の加工品にも応用できる。又この実施態様におい
ては疵線の直ぐ上の玉部に目印用のマークをつけ
るが、これは本発明に関係がないから省略した。
本発明においては円板状の回転カツターでアン
プル半製品の頸部に疵線を切削する際その切削音
に共鳴して胴部に共鳴音が発生することを利用
し、カツターの接触と同期してアンプル半製品の
胴部にマイクを当てるから、胴部の共鳴音をマイ
クでとらえて周囲の雑音に関係なく疵線の有無を
音響的に探知することができ、これによりアンプ
ルの頸部に切削される浅い疵線を確実にかつ自動
的に探知することが可能となり、ワンポイントア
ンプルやニユーイージ付きアンプルの製造工程に
おける不良品の混入ミスを皆無となしうる効果を
有する。
プル半製品の頸部に疵線を切削する際その切削音
に共鳴して胴部に共鳴音が発生することを利用
し、カツターの接触と同期してアンプル半製品の
胴部にマイクを当てるから、胴部の共鳴音をマイ
クでとらえて周囲の雑音に関係なく疵線の有無を
音響的に探知することができ、これによりアンプ
ルの頸部に切削される浅い疵線を確実にかつ自動
的に探知することが可能となり、ワンポイントア
ンプルやニユーイージ付きアンプルの製造工程に
おける不良品の混入ミスを皆無となしうる効果を
有する。
図面は本発明方法の一実施態様を示す疵線工程
及び制御回路の系統図である。 なお１はアンプル半製品、４は頸部、５と１５
はカツター、７と１７はマイク、２６と３６は判
定器である。
及び制御回路の系統図である。 なお１はアンプル半製品、４は頸部、５と１５
はカツター、７と１７はマイク、２６と３６は判
定器である。
Claims (1)
- １ 円板状の回転カツターをアンプル半製品の頸
部に接触させて疵線を切り、カツターの接触と同
期してアンプル半製品の胴部にマイクを当て、カ
ツターの切削音に共鳴して胴部に発生する共鳴音
をマイクでとらえ、これの信号を判定して所定の
レベル以下の場合に不良信号を送出すことを特徴
とするアンプルの疵線探知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56188746A JPS5888655A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | アンプルの疵線探知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56188746A JPS5888655A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | アンプルの疵線探知方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5888655A JPS5888655A (ja) | 1983-05-26 |
| JPS6355351B2 true JPS6355351B2 (ja) | 1988-11-02 |
Family
ID=16229042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56188746A Granted JPS5888655A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | アンプルの疵線探知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5888655A (ja) |
-
1981
- 1981-11-24 JP JP56188746A patent/JPS5888655A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5888655A (ja) | 1983-05-26 |
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