JPS635902B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS635902B2 JPS635902B2 JP53156119A JP15611978A JPS635902B2 JP S635902 B2 JPS635902 B2 JP S635902B2 JP 53156119 A JP53156119 A JP 53156119A JP 15611978 A JP15611978 A JP 15611978A JP S635902 B2 JPS635902 B2 JP S635902B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- wiring
- contact
- cell
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 12
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 4
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 238000010923 batch production Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、絶縁ゲート型電界効果トランジス
タ(以下MOSトランジスタと称する)等を使用
した基本構成をあらかじめ設けておき簡単なパタ
ーンを付加することにより種々の回路構成が得ら
れるようにした所謂マスタースライス方式の半導
体集積回路(以下マスタースライスICと称する)
のセルに関するものである。[Detailed Description of the Invention] This invention provides a basic configuration using insulated gate field effect transistors (hereinafter referred to as MOS transistors) in advance, and by adding simple patterns, various circuit configurations can be obtained. A so-called master slice type semiconductor integrated circuit (hereinafter referred to as master slice IC)
This is related to the cell.
従来、IC半導体集積回路は集積度が増加すれ
ば装置の部品点数が減少してコストダウンにつな
がつていた。しかし実現可能な集積規模が飛躍的
に増大した結果、ランダム論理回路等近年需要の
拡大が著るしいかなりの種類の半導体集積回路に
おいては、集積度が増加すればする程、汎用性が
なくなり専用IC化する傾向がある。そうなると
もはや量産効果によるコストダウンは期待できな
い。 Conventionally, as the degree of integration of IC semiconductor integrated circuits increases, the number of components in the device decreases, leading to cost reductions. However, as a result of the dramatic increase in the scale of integration that can be realized, in many types of semiconductor integrated circuits for which demand has increased significantly in recent years, such as random logic circuits, as the degree of integration increases, the versatility decreases and the dedicated There is a tendency to use IC. In that case, it is no longer possible to expect cost reductions due to mass production effects.
このような少量多品種の専用ICの場合にコス
トダウン等を実現する第一歩としては、設計製造
に要する時間を短縮し納期をいかに短縮するかが
問題となる。 In the case of such small-volume, high-mix specialized ICs, the first step to reducing costs is how to shorten the time required for design and manufacturing and how to shorten delivery times.
一般にICを製造する際には、夫々の工程に対
応するマスクを複数枚必要とする。従つて設計変
更があつたり、いろいろな種類のものを製造する
時には、マスクを作るため多くの時間および工数
が費される。それらがICの製造コストを高める
かなりの要因を占めている。マスタースライス方
式はこのような不都合を改善する手段として有望
である。この方式は、各種用途のICに共通する
製造プロセスのある段階までは一括生産してお
き、使用者(ユーザー)が望む論理回路接続関係
等をあらわす1枚又は2枚のマスク(コンタクト
ホールおよび金属配線マスク)をユーザーが作
り、残りのプロセスを各々施して、種々のICを
製造する方式である。 Generally, when manufacturing an IC, multiple masks are required for each process. Therefore, when there are design changes and various types of products are manufactured, a lot of time and man-hours are spent making masks. They account for a considerable factor in increasing the manufacturing cost of ICs. The master slice method is promising as a means to improve these inconveniences. This method involves batch production up to a certain stage of the manufacturing process that is common to ICs for various uses, and one or two masks (contact holes and metal In this method, the user creates a wiring mask (wiring mask) and performs the remaining processes to manufacture various ICs.
さて、マスタースライスICに対する提案は既
にいくつかのものが知られているが、コンタクト
ホールマスクおよび金属配線マスクをユーザーが
書いて専用ICを作る方法として公開特許公報昭
53−45985「半導体集積回路装置」が知られてい
る。しかしこの方式は、配線の自由度が大きい利
点を有するもののユーザーはマスクを2枚作らな
ければいけない欠点がある。また専用化するため
の製造プロセスが長くなるのも欠点である。 Now, some proposals for master slice ICs are already known, but a method for creating a dedicated IC by having the user write a contact hole mask and a metal wiring mask is proposed in the published patent publication No.
53-45985 "Semiconductor integrated circuit device" is known. However, although this method has the advantage of a high degree of freedom in wiring, it has the disadvantage that the user must make two masks. Another disadvantage is that the manufacturing process for specialization becomes long.
一方、金属配線マスクだけをユーザーが書いて
専用ICを作るマスタースライスICとして、米国
のインタデザイン社(INTERDESIGN INC.)
のMONOCHIP MD―Aが知られている。これ
はNチヤンネルSiゲート型電界効果トランジスタ
(以下SiゲートMOSトランジスタと称する)を用
いた論理回路用のマスタースライスICである。
ユーザーは望む論理回路を実現するようにアルミ
ニウム配線形成用マスクを作る。IC製造者はア
ルミニウムエツチングによつて配線パターンを形
成する前の段階までプロセスが完了しているウエ
ーハーを貯蔵しておく。このウエーハーとユーザ
ーが作つたアルミニウム配線形成用マスクを用い
てアルミニウムエツチングだけすれば望むICが
得られる。しかしユーザーがこのMONOCHIP
MD―Aを用いてアルミニウム配線パターンを作
る時、電源線と交差する方向の配線は配線負荷容
量が大きくなるため、遅延時間が大きくなり、論
理回路の集積密度が上らないという欠点があつ
た。 On the other hand, as a master slice IC in which a user writes only a metal wiring mask to create a dedicated IC, the American company INTERDESIGN INC.
MONOCHIP MD-A is known. This is a master slice IC for logic circuits using N-channel Si gate field effect transistors (hereinafter referred to as Si gate MOS transistors).
The user creates a mask for forming aluminum wiring to realize the desired logic circuit. IC manufacturers store wafers that have been processed prior to forming wiring patterns by aluminum etching. The desired IC can be obtained by simply etching aluminum using this wafer and a mask made by the user for forming aluminum wiring. But if the user uses this MONOCHIP
When creating an aluminum wiring pattern using MD-A, the wiring in the direction that intersects the power supply line has a large wiring load capacity, which increases delay time and has the disadvantage that the integration density of logic circuits cannot be increased. .
そこで本発明者は、これを改良するために連続
する駆動用MOSトランジスタをセルとセルの間
で分け、間に列方向の配線を設けることを一般的
なマスタースライスICで実施してみた。その結
果は良好で充分な効果を達成した。しかし話をこ
のMONOCHIP MD―Aと同様のセル構成に限
れば、セルとセルを列方向の配線領域で分けると
き、ある一部の回路を実現しようとした時、その
分け方によつては若干配線がしにくいという欠点
を生じた。 Therefore, in order to improve this, the inventor of the present invention attempted to divide the continuous drive MOS transistors between cells and provide column-direction wiring between them using a general master slice IC. The results were good and sufficient effects were achieved. However, if we limit the discussion to a cell configuration similar to this MONOCHIP MD-A, when dividing the cells by the wiring area in the column direction, when trying to realize a certain part of the circuit, depending on how it is divided, there may be some problems. The drawback was that wiring was difficult.
以下、図面を用いてこの辺を今すこし詳細に説
明し、その上で本発明の構成を説明することにす
る。 Hereinafter, this aspect will be explained in some detail using the drawings, and then the configuration of the present invention will be explained.
第1図に示したのは、一般的なマスタースライ
スICのチツプレイアウト図である。チツプ1に
はセルCijが2次元アレイ状に28×8=224並んで
いる。チツプの周辺にはボンデイングパツドP1,
…,Pi,…,P38が付いている。また電源を供給
するためのパツドVDD,VSS,がある。入出力バ
ツフアBA1,BA2,…,BAi,…,BA38とセル
アレイとの間には配線領域2がある。またセルと
セルの間には行間の配線領域3がある。出力バツ
フアBAiはTTL又はLSTTLを駆動できるような
能力を有している。 Figure 1 shows a chip layout diagram of a typical master slice IC. Chip 1 has 28×8=224 cells Cij arranged in a two-dimensional array. Bonding pad P1 is installed around the chip.
..., P i , ..., P 38 are attached. There are also pads V DD and V SS for supplying power. There is a wiring area 2 between the input/output buffers BA 1 , BA 2 , . . . , BA i , . . . , BA 38 and the cell array. Further, there is a wiring region 3 between rows between the cells. The output buffer BA i has the ability to drive TTL or LSTTL.
セルCijの構成を第2図に示す。図中、C1,C2
がセルであり構成はMONOCHIP MD―Aのも
のである。そしてC1とC2との間及び両端に設け
たH1―A1―H2,H3―A3―H4,H5―A5―H6更
には共に一部のみ現れているU1,U2,U3,U4は
前に述べた本発明者の工夫になる付加配線であ
る。市販されているMONOCHIP MD―Aには
この付加配線はない。さて第2図の構成では各々
のセルは第1の電源線VDD,第2の電源線VSS,
連続した駆動用MSトランジスタTij及び負荷
用MOSトランジスタDiとからなる。第2図で〇
印はコンタクトを表わす。N1,N2,…,Ni,
…,N11はアルミニウム配線(図示せず)と拡散
層とのコンタクトを示し、L1,L2,…,Li,…,
L8及びM1,M2,…,Mi,…M8はポリSi配線と
アルミニウム配線(図示せず)とのコンタクトを
示す。第2図において、第1の電源線VDDおよび
第2の電源線VSSは第1種の配線材料例えばアル
ミニウムで行方向に配線されている。電源線と交
差する方向に走る配線は第2種の配線材料例えば
ポリSiで構成されている。そして更に電源線VSS
の下をクロスアンダーして拡散層が配線されてい
る。このクロスアンダーしている拡散層のコンタ
クトの位置がどこにあるかが問題となるわけであ
る。 Figure 2 shows the configuration of cell Cij. In the figure, C 1 , C 2
is a cell and its configuration is that of MONOCHIP MD-A. And H 1 - A 1 - H 2 , H 3 - A 3 - H 4 , H 5 - A 5 - H 6 provided between C 1 and C 2 and at both ends, and U that only partially appears in both. 1 , U2 , U3 , and U4 are the additional wirings devised by the inventor as described above. Commercially available MONOCHIP MD-A does not have this additional wiring. Now, in the configuration shown in Figure 2, each cell has a first power line V DD , a second power line V SS ,
It consists of a continuous drive MS transistor Tij and a load MOS transistor Di. In Figure 2, the ○ marks represent contacts. N 1 , N 2 ,…, N i ,
..., N 11 indicates the contact between the aluminum wiring (not shown) and the diffusion layer, L 1 , L 2 , ..., Li , ...,
L 8 and M 1 , M 2 , . . . , M i , . . . M 8 indicate contacts between the poly-Si wiring and the aluminum wiring (not shown). In FIG. 2, the first power line V DD and the second power line V SS are wired in the row direction using a first type wiring material, such as aluminum. The wiring running in the direction intersecting the power supply line is made of a second type of wiring material, such as poly-Si. And further power line V SS
The diffusion layer is wired under the cross-under. The problem is where the contact of this cross-under diffusion layer is located.
第2図の回路のマスクレイアウト図を第3図に
示す。第2図と同じ番号の所は、同じものを示
す。左上り斜線はポリSiを示す。右上りの斜線は
拡散層を示す。 A mask layout diagram of the circuit of FIG. 2 is shown in FIG. The same numbers as in Fig. 2 indicate the same parts. The diagonal line at the top left indicates poly-Si. The diagonal line at the top right indicates the diffusion layer.
今仮に第3図のマスタースライスICを用いて、
第4図に示したランダム論理回路を構成すること
を考えてみる。第4図のランダム論理回路は、リ
セツト付きデイレイフリツプフロツプ回路の一部
である。41はデータ入力端子、42はクロツク
入力端子、44はリセツト入力端子、45はこの
回路の出力端子をおのおの示す。この回路を第3
図のマスタースライスICで実現したアルミニウ
ム配線マスクを第5図に示す。 Now, if we use the master slice IC shown in Figure 3,
Consider constructing the random logic circuit shown in FIG. The random logic circuit of FIG. 4 is part of a delay flip-flop circuit with reset. 41 is a data input terminal, 42 is a clock input terminal, 44 is a reset input terminal, and 45 is an output terminal of this circuit. Add this circuit to the third
Figure 5 shows an aluminum wiring mask realized using the master slice IC shown in the figure.
駆動用MOSトランジスタT1およびT3は駆動用
MOSトランジスタT2をトランスフアゲートとし
て使うために、ゲート電極M1とM3を電源線VSS
に接続しなければいけない。それゆえリセツト入
力端子の駆動用MOSトランジスタは隣のセルの
駆動用MOSトランジスタT5を用いて作られる。
この結果出力端子の拡散層の面積が増加し、負荷
容量が増加し高速に動作しにくくなる。またトラ
ンジスタをむだに使つているのでチツプ上での回
路の実装密度が小さくなる。その最たる原因はコ
ンタクトの位置の不都合にあるといつてよい。 Drive MOS transistors T 1 and T 3 are for drive
In order to use MOS transistor T 2 as a transfer gate, gate electrodes M 1 and M 3 are connected to the power supply line V SS
must be connected to. Therefore, the driving MOS transistor of the reset input terminal is made using the driving MOS transistor T5 of the adjacent cell.
As a result, the area of the diffusion layer of the output terminal increases, the load capacitance increases, and high-speed operation becomes difficult. Also, since transistors are wasted, the packaging density of the circuit on the chip is reduced. The main reason for this can be said to be the inconvenient position of the contact.
以上述べたことからも判るように本発明の目的
は、トランジスタを2次元のアレイ状に配置した
マスタースライスICの駆動用MOSトランジスタ
の拡散層に形成するコンタクトホールの位置を適
切にもうけることにより、上記欠点を解決し、高
速で高密度なランダム論理回路を実現できるよう
にすることにある。 As can be seen from the above, an object of the present invention is to appropriately position the contact hole formed in the diffusion layer of the driving MOS transistor of a master slice IC in which transistors are arranged in a two-dimensional array. The object of the present invention is to solve the above drawbacks and realize a high-speed, high-density random logic circuit.
本発明によれば、並行するように形成した第1
及び第2の電源線にはさまれた領域に少なくとも
3個以上の駆動用MOSトランジスタを各セル毎
に直列接続して前記電源線と並行するように配置
し、これら駆動用MOSトランジスタのうち端か
ら第1番目のものと第2番目のものとを直列接続
しているソース・ドレイン結線に形成したコンタ
クトから更に列方向配線を第2の電源線を越えて
引き出してその端にもコンタクトを設け、第1及
び第2の電源線を越えた位置まで列方向に伸びて
その両端にコンタクトを備えたゲート配線を前記
端から第1番目の駆動用MOSトランジスタに設
けこのゲート配線の中程第1及び第2の電源線に
はさまれた位置にもコンタクトを形成した、こと
を特徴とする多数個のセルを2次元行列状に配列
してなるマスタースライス半導体集積回路のセル
が得られる。 According to the invention, the first
At least three or more drive MOS transistors are connected in series for each cell in a region sandwiched between the second power supply line and arranged in parallel with the power supply line, and one of these drive MOS transistors is From the contact formed on the source/drain connection connecting the first and second wires in series, the column direction wire is further drawn out beyond the second power supply wire, and a contact is also provided at the end thereof. , a gate wiring extending in the column direction to a position beyond the first and second power supply lines and having contacts at both ends is provided for the first driving MOS transistor from the end. A master slice semiconductor integrated circuit cell is obtained in which a large number of cells are arranged in a two-dimensional matrix, characterized in that contacts are also formed at positions sandwiched between the second power supply line and the second power supply line.
次に本発明の実施の一例について図面を参照し
ながら詳細に説明する。 Next, an example of implementation of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第6図に本発明の一実施例であるセルの構成を
示す。このセルは、第1の電源線VDD,第2の電
源線VSS,連続した駆動用MOSトランジスタT11,
T12,T13,T14及び負荷用デイプリーシヨン型M
OSトランジスタD1とからなる。第6図で〇印
はコンタクトを表わす。N1,N2,…Ni,…,
N16は第1種の配線材料例えばアルミニウムの配
線(図示せず)と拡散層とのコンタクトを示し、
L1,L2,…,Li,…,L14,及びM1,M2,…,
Mi…,M10は第2種の配線材料例えばポリSiの
配線と第1種の配線材料例えばアルミニウムの配
線(図示せず)とのコンタクトを示す。第6図に
おいて第1の電源線VDDおよび第2の電源線VSS
は例えばアルミニウムで行方向に配線されてい
る。 FIG. 6 shows the configuration of a cell that is an embodiment of the present invention. This cell has a first power supply line V DD , a second power supply line V SS , a continuous driving MOS transistor T 11 ,
T 12 , T 13 , T 14 and load depletion type M
It consists of an OS transistor D1 . In Fig. 6, the ○ marks represent contacts. N 1 , N 2 ,…N i ,…,
N16 indicates a contact between a wiring made of a first type wiring material such as aluminum (not shown) and a diffusion layer;
L 1 , L 2 , ..., Li, ..., L 14 , and M 1 , M 2 , ...,
Mi . In Figure 6, the first power line V DD and the second power line V SS
are wired in the row direction using aluminum, for example.
第6図のマスクレイアウト図を第7図に示す。
第6図と同じ番号の所は同じものを示す。左上り
斜線は例えばポリSiを示す。右上りの斜線は例え
ば拡散層を示す。 A mask layout diagram of FIG. 6 is shown in FIG.
The same numbers as in Fig. 6 indicate the same parts. The upper left diagonal line indicates poly-Si, for example. For example, the diagonal line at the top right indicates a diffusion layer.
この第6図及び第7図に示した本発明のセルを
用いて第4図に示したリセツト付フリツプフロツ
プ回路を実現してみる。その結果は、第8図のよ
うになる。第5図と第8図とを比較すれば明らか
なように、本発明を実施した第8図ではMOSト
ランジスタが有効に利用されている。駆動用
MOSトランジスタT11はトランスフアゲイトとし
て使うので、駆動用MOSトランジスタT12のゲイ
トM3は電源線VSSに接続されている。NOR回路
は駆動用MOSトランジスタT13及びT14を用いて
作ることができ、1つのセルでこの回路が実現で
きる。NOR回路の出力端子5の拡散層の面積も
第5図の従来例と比べれば小さく、負荷容量が小
さくなる結果高速に動作することが可能となる。 The flip-flop circuit with reset shown in FIG. 4 will be realized using the cells of the present invention shown in FIGS. 6 and 7. The result is as shown in FIG. As is clear from a comparison between FIG. 5 and FIG. 8, MOS transistors are effectively utilized in FIG. 8 in which the present invention is implemented. For driving
Since the MOS transistor T11 is used as a transfer gate, the gate M3 of the driving MOS transistor T12 is connected to the power supply line VSS . The NOR circuit can be made using driving MOS transistors T13 and T14 , and this circuit can be realized with one cell. The area of the diffusion layer of the output terminal 5 of the NOR circuit is also smaller than that of the conventional example shown in FIG. 5, and as a result of the small load capacitance, high-speed operation is possible.
また駆動用MOSトランジスタT11はL2とL7の
2つのゲイトコンタクトを備えることになるの
で、電源線VDDの両側にクロツク信号線Φとと
をコンタクトL2及びL7と交互に配線することが
でき、こうすることによつてクロツク信号を使用
する回路をも容易に実現できる。 Also, since the driving MOS transistor T11 has two gate contacts L2 and L7 , the clock signal line Φ and contacts L2 and L7 are alternately wired on both sides of the power supply line VDD . By doing so, a circuit using a clock signal can be easily realized.
本発明を用いることにより、他の色々な機能ブ
ロツクを作る場合特に使用しにくくなる点はな
い。マスタースライス方式でユーザーがいろいろ
な回路を作る場合、組合せ回路でなく、順序回路
に適用される。LSIで順序回路を設計する場合、
フリツプフロツプを初期設定のできるリセツト付
きデイレイフリツプフロツプを用いる。このフリ
ツプフロツプを用いないと、電源を入れた時出力
が定まらず検査が困難になる。ユーザーがあるマ
スタースライス上でリセツト付きデイレイフリツ
プフロツプを使用する割合は適用される順序回路
により異なるが、チツプ面積の約1割から4割と
考えられる。1つのリセツト付デイレイフリツプ
フロツプは、14個のNMOSトランジスタからな
り、単位セルを多く使用する。従来のコンタクト
の位置では6セル使用する。しかしながら、本発
明を用いると4セル使用すればよく、占有面積が
2/3ですむ。N個のリセツト付きデイレイフリツ
プフロツプを用いるときはN×1/3セルが余るの
で、その分他の機能ブロツクを集積化し、装置の
小型化が可能になる。 By using the present invention, there is no particular difficulty in using it when creating various other functional blocks. When users create various circuits using the master slice method, it is applied to sequential circuits, not combinational circuits. When designing a sequential circuit with LSI,
A delay flip-flop with a reset function is used to initialize the flip-flop. If this flip-flop is not used, the output will not be determined when the power is turned on, making inspection difficult. The rate at which a user uses a delay flip-flop with reset on a certain master slice varies depending on the sequential circuit to which it is applied, but is thought to be about 10% to 40% of the chip area. One delay flip-flop with reset consists of 14 NMOS transistors and uses many unit cells. Conventional contact locations use six cells. However, according to the present invention, it is only necessary to use four cells, and the occupied area can be reduced to 2/3. When N delay flip-flops with resets are used, N×1/3 cells are left over, so other functional blocks can be integrated and the device can be made smaller.
本発明は以上説明したように、トランジスタを
2次元のアレイ状に配置したマスタースライス
ICのコンタクトの位置を適切な所に設けること
により、ユーザーがいろいろな回路を例えばアル
ミニウム配線マスク一枚で、高密度に、高速に実
現できる効果がある。 As explained above, the present invention provides a master slice in which transistors are arranged in a two-dimensional array.
By locating IC contacts in appropriate locations, users can create various circuits with high density and high speed using, for example, a single aluminum wiring mask.
第1図は一般的なマスタスライスICのチツプ
レイアウトの概要を示した図、第2図は従来知ら
れているセルの回路図、第3図はそのマスクレイ
アウト図、第4図はリセツト付きフリツプフロツ
プの回路の一例を、第5図は第4図の回路を第2
図、第3図に示した従来のマスタースライスIC
で実現した時のマスクレイアウト図、第6図は本
発明の一実施例を示すセル構成図、第7図はその
マスクレイアウト図、第8図は第6図、第7図に
示した本発明のセルを用いて第4図の回路を実現
した時のマスクレイアウト図である。第2図と第
6図との対比からも明らかなように、第1及び第
2の電源線VDDとVSSとの間にそれらと並行する
ように直列接続されて並んだ駆動用MOSトラン
ジスタのうち端から第2番目のT12と第3番目の
T13とのソース・ドレイン結線にあるコンタクト
N3から第2の電源線を越えて引き出していたコ
ンタクトB3が端から第1番目のT11と第2番目の
T12との間に移してN8となり、端から第2番目の
T12のゲート配線中程に形成してあつたコンタク
トA2を端から第1番目のT11のゲート配線中程に
移してL7とした、点にその特徴がある。
図中、他の主な記号はそれぞれ次のものを示
す。1……マスタースライスICのチツプ、2…
…配線領域、3……行間配線領域、Cij……セル、
Pi……ボンデイングパツト、Ti……駆動用MOS
トランジスタ、Di……負荷用MOSトランジスタ、
Li,Mi,Ei,Bi,Ai……コンタクト、41……
データ入力端子、42……クロツク入力端子、4
4……リセツト入力端子、45……出力端子。
Figure 1 shows an overview of the chip layout of a general master slice IC, Figure 2 is a circuit diagram of a conventionally known cell, Figure 3 is its mask layout, and Figure 4 is a flip-flop with reset. Figure 5 shows an example of the circuit in Figure 4.
Conventional master slice IC shown in Fig. 3
6 is a cell configuration diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 7 is a mask layout diagram thereof, and FIG. 8 is a diagram of the present invention shown in FIGS. 6 and 7. FIG. 5 is a mask layout diagram when the circuit of FIG. 4 is realized using the cells of FIG. As is clear from the comparison between FIG. 2 and FIG. 6, the driving MOS transistors are connected in series between the first and second power supply lines V DD and V SS in parallel with them. T 12, the second from the end, and T 12 , the third from the end.
Contacts in source-drain connection with T 13
Contact B 3 that was drawn out from N 3 across the second power supply line is connected to the first T 11 and the second from the end.
Move it between T 12 and become N 8 , and the second from the end
The feature lies in the fact that the contact A2 , which was formed in the middle of the gate wiring of T12 , was moved from the end to the middle of the gate wiring of the first T11 , forming L7 . In the figure, other main symbols indicate the following. 1...Master slice IC chip, 2...
...Wiring area, 3...Interrow wiring area, Cij...Cell,
P i ...Bonding pad, Ti...Drive MOS
Transistor, Di...Load MOS transistor,
Li, M i , Ei, Bi, Ai...Contact, 41...
Data input terminal, 42...Clock input terminal, 4
4...Reset input terminal, 45...Output terminal.
Claims (1)
線にはさまれた領域に少なくとも3個以上の駆動
用MOSトランジスタを各セル毎に直列接続して
前記電源線と並行するように配置し、これら駆動
用MOSトランジスタのうち端から第1番目のも
のと第2番目のものとを直列接続しているソー
ス・ドレイン結線に形成したコンタクトから更に
列方向配線を第2の電源線を越えて引き出してそ
の端にもコンタクトを設け、第1及び第2の電源
線を越えた位置まで列方向に伸びてその両端にコ
ンタクトを備えたゲート配線を前記端から第1番
目の駆動用MOSトランジスタに設けこのゲート
配線の中程第1及び第2の電源線にはさまれた位
置にもコンタクトを形成した、ことを特微とする
多数個のセルを2次元行列状に配列してなるマス
タースライス半導体集積回路のセル。1 At least three or more driving MOS transistors are connected in series for each cell in a region sandwiched between first and second power supply lines formed in parallel and arranged in parallel with the power supply lines. , from the contact formed in the source/drain connection connecting the first and second driving MOS transistors in series, the column direction wiring is further extended beyond the second power supply line. A contact is also provided at the end of the pulled out gate wiring, which extends in the column direction to a position beyond the first and second power supply lines, and has contacts at both ends.The gate wiring is connected from the end to the first driving MOS transistor. A master slice formed by arranging a large number of cells in a two-dimensional matrix is characterized in that a contact is also formed at a position sandwiched between the first and second power supply lines in the middle of the gate wiring. Semiconductor integrated circuit cell.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15611978A JPS5582449A (en) | 1978-12-15 | 1978-12-15 | Cell of master slice semiconductor integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15611978A JPS5582449A (en) | 1978-12-15 | 1978-12-15 | Cell of master slice semiconductor integrated circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5582449A JPS5582449A (en) | 1980-06-21 |
| JPS635902B2 true JPS635902B2 (en) | 1988-02-05 |
Family
ID=15620727
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15611978A Granted JPS5582449A (en) | 1978-12-15 | 1978-12-15 | Cell of master slice semiconductor integrated circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5582449A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5858741A (en) * | 1981-10-05 | 1983-04-07 | Nec Corp | Integrated circuit device |
| JPS63296240A (en) * | 1988-04-22 | 1988-12-02 | Nec Corp | Semiconductor integrated circuit device |
-
1978
- 1978-12-15 JP JP15611978A patent/JPS5582449A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5582449A (en) | 1980-06-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3968478A (en) | Chip topography for MOS interface circuit | |
| US5663662A (en) | Library group and semiconductor integrated circuit structured thereof | |
| JP3526450B2 (en) | Semiconductor integrated circuit and standard cell layout design method | |
| KR900000202B1 (en) | Semiconductor Integrated Circuits and Circuit Pattern Design Methods | |
| KR19980024418A (en) | Semiconductor devices, semiconductor integrated circuit devices, flip-flop circuits, exclusive-OR circuits, multiplexers, and adders | |
| JPH0520910B2 (en) | ||
| JPS6017932A (en) | Gate array | |
| JPH0120536B2 (en) | ||
| JP3289999B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
| JPS635902B2 (en) | ||
| JPH0252428B2 (en) | ||
| JPH0831581B2 (en) | Semiconductor device | |
| US5171701A (en) | Method of manufacturing master-slice semiconductor integrated circuits | |
| JP3268690B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
| JP2002170930A (en) | Semiconductor device, method of manufacturing the same, and storage medium | |
| US5168342A (en) | Semiconductor integrated circuit device and manufacturing method of the same | |
| JP2693920B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
| JPH0542823B2 (en) | ||
| JPH10107152A (en) | Integrated circuit device and its power source wiring formation method | |
| JPH0329187B2 (en) | ||
| JPH02144936A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
| JP2002016143A (en) | Semiconductor integrated circuit and design method thereof | |
| US5966522A (en) | Multi-phase clock distribution method and system for complex integrated-circuit devices | |
| JP2522678B2 (en) | CMOS integrated circuit device | |
| JPS61294833A (en) | Semiconductor integrated circuit |