JPH06414B2 - サーマルヘッドの抵抗値調整装置 - Google Patents
サーマルヘッドの抵抗値調整装置Info
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- JPH06414B2 JPH06414B2 JP61204005A JP20400586A JPH06414B2 JP H06414 B2 JPH06414 B2 JP H06414B2 JP 61204005 A JP61204005 A JP 61204005A JP 20400586 A JP20400586 A JP 20400586A JP H06414 B2 JPH06414 B2 JP H06414B2
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- voltage
- heating resistor
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/315—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material
- B41J2/32—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads
- B41J2/35—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads providing current or voltage to the thermal head
- B41J2/355—Control circuits for heating-element selection
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は厚膜形サーマルヘッドの抵抗値調整装置、特
にその発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものであ
る。
にその発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものであ
る。
厚膜形のサーマルヘッドは、ペースト状の抵抗材料をス
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成することで発熱抵抗体を形成している。そのた
め厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によつ
て安価に製造できる反面、発熱低抗体の抵抗値のばらつ
きが大きくなる欠点を持ち合せている。この発熱抵抗体
の抵抗値のばらつきは印字等の質に直接影響を及ぼすも
のであるため、厚膜形のサーマルヘッドの製造において
は発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて重要なファクタ
である。この発明抵抗体の抵抗値の均一化としては、発
熱抵抗体形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電
圧パルスを印加するとその抵抗値が低下するという現象
を利用したトリミング処理がある。
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成することで発熱抵抗体を形成している。そのた
め厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によつ
て安価に製造できる反面、発熱低抗体の抵抗値のばらつ
きが大きくなる欠点を持ち合せている。この発熱抵抗体
の抵抗値のばらつきは印字等の質に直接影響を及ぼすも
のであるため、厚膜形のサーマルヘッドの製造において
は発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて重要なファクタ
である。この発明抵抗体の抵抗値の均一化としては、発
熱抵抗体形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電
圧パルスを印加するとその抵抗値が低下するという現象
を利用したトリミング処理がある。
第５図は例えば特開昭６１−８３０５３号公報に示され
た従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャー
トである。図において、ＳＴ１は初期設定のステップ、
ＳＴ２は前記ステップＳＴ１に続くプローバ及びスイッ
チングのステップ、ＳＴ３は前記ステップＳＴ２に続く
電圧パルス印加のステップ、ＳＴ４は前記ステップＳＴ
３に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ５は前記ステップ
ＳＴ４に続く前回データとの比較のステップ、ＳＴ６は
前記ステップＳＴ５に続く抵抗値減少検出のステップ、
ＳＴ７は前記ステップＳＴ６に続くトリミングの全ドッ
ト終了検出のステップ、ＳＴ８は前記ステップＳＴ５よ
り分岐したリプローブのステップ、ＳＴ９は前記ステッ
プＳＴ６より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップ
であり、前記ステップＳＴ７の分岐からはステップＳＴ
２へ、ステップＳＴ８からはステップＳＴ４へ、ステッ
プＳＴ９からはステップＳＴ３へ、それぞれ処理が戻さ
れる。
た従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャー
トである。図において、ＳＴ１は初期設定のステップ、
ＳＴ２は前記ステップＳＴ１に続くプローバ及びスイッ
チングのステップ、ＳＴ３は前記ステップＳＴ２に続く
電圧パルス印加のステップ、ＳＴ４は前記ステップＳＴ
３に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ５は前記ステップ
ＳＴ４に続く前回データとの比較のステップ、ＳＴ６は
前記ステップＳＴ５に続く抵抗値減少検出のステップ、
ＳＴ７は前記ステップＳＴ６に続くトリミングの全ドッ
ト終了検出のステップ、ＳＴ８は前記ステップＳＴ５よ
り分岐したリプローブのステップ、ＳＴ９は前記ステッ
プＳＴ６より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップ
であり、前記ステップＳＴ７の分岐からはステップＳＴ
２へ、ステップＳＴ８からはステップＳＴ４へ、ステッ
プＳＴ９からはステップＳＴ３へ、それぞれ処理が戻さ
れる。
次に動作について説明する。まず、ステップＳＴ１にお
いて、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの
初期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定され
る。次に、ステップＳＴ２において、サーマルヘッドに
プロービングし、トリミングするドットを選択してその
発熱抵抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップＳ
Ｔ３で前記ステップ１で設定された初期値の電圧パルス
を印加する。次にステップＳＴ４でその発熱抵抗体の抵
抗値を測定し、ステップＳＴ５において抵抗値が減少し
たか否かを識別し、していなければプローブの接触不良
とみなしてステップＳＴ８にてプロービングをやり直
し、ステップＳＴ４に戻って再度抵抗値の測定を行な
う。抵抗値が減少していればステップＳＴ６にてステッ
プＳＴ１で設定されたトリミングの目標値と比較し、目
標値より小さくなっていなければ、ステップＳＴ９にて
電圧パルスの電圧値をΔＶだけ上昇させてステップＳＴ
３に戻り、電圧パルスの再印加を行なう。この処理はそ
の発熱抵抗体の抵抗値が前記目標値より小さくなるまで
繰返され、目標値より小さくなればそのドットの発熱抵
抗体のトリミングを終了してステップＳＴ７へ移る。ス
テップＳＴ７では全ドットのトリミングが終了したか否
かを識別しており、全ドットのトリミングが終了してい
なければ処理をステップＳＴ２へ戻す。ステップＳＴ２
では新たなドットが選択されてその発熱抵抗体が電圧パ
ルス発生手段に接続され、同様の処理が全ドットのトリ
ミング終了まで繰返される。
いて、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの
初期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定され
る。次に、ステップＳＴ２において、サーマルヘッドに
プロービングし、トリミングするドットを選択してその
発熱抵抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップＳ
Ｔ３で前記ステップ１で設定された初期値の電圧パルス
を印加する。次にステップＳＴ４でその発熱抵抗体の抵
抗値を測定し、ステップＳＴ５において抵抗値が減少し
たか否かを識別し、していなければプローブの接触不良
とみなしてステップＳＴ８にてプロービングをやり直
し、ステップＳＴ４に戻って再度抵抗値の測定を行な
う。抵抗値が減少していればステップＳＴ６にてステッ
プＳＴ１で設定されたトリミングの目標値と比較し、目
標値より小さくなっていなければ、ステップＳＴ９にて
電圧パルスの電圧値をΔＶだけ上昇させてステップＳＴ
３に戻り、電圧パルスの再印加を行なう。この処理はそ
の発熱抵抗体の抵抗値が前記目標値より小さくなるまで
繰返され、目標値より小さくなればそのドットの発熱抵
抗体のトリミングを終了してステップＳＴ７へ移る。ス
テップＳＴ７では全ドットのトリミングが終了したか否
かを識別しており、全ドットのトリミングが終了してい
なければ処理をステップＳＴ２へ戻す。ステップＳＴ２
では新たなドットが選択されてその発熱抵抗体が電圧パ
ルス発生手段に接続され、同様の処理が全ドットのトリ
ミング終了まで繰返される。
第６図はこの発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図であ
り、トリミング前にはＲ１ ，Ｒ２ ， ３ と大き
くばらついていた抵抗値が、目標値Ｒ０よりわずかに低
い、狭い範囲内に均一化される。図においてＶＳは前記
電圧パルスの初期値であり、電圧パルスの印加によって
発熱抵抗体の抵抗値が減少をはじめる境界電圧が通常２
５Ｖ近傍にあるため例えば２５Ｖに設定されている。ま
た、ΔＶはステップＳＴ９による電圧パルスの電圧値の
増し分であり、発熱抵抗体の抵抗値が減少し過ぎないよ
うに例えば２．５Ｖに設定して徐々に抵抗値を減少させ
ている。
り、トリミング前にはＲ１ ，Ｒ２ ， ３ と大き
くばらついていた抵抗値が、目標値Ｒ０よりわずかに低
い、狭い範囲内に均一化される。図においてＶＳは前記
電圧パルスの初期値であり、電圧パルスの印加によって
発熱抵抗体の抵抗値が減少をはじめる境界電圧が通常２
５Ｖ近傍にあるため例えば２５Ｖに設定されている。ま
た、ΔＶはステップＳＴ９による電圧パルスの電圧値の
増し分であり、発熱抵抗体の抵抗値が減少し過ぎないよ
うに例えば２．５Ｖに設定して徐々に抵抗値を減少させ
ている。
従来のサーマルヘッドの製造方法は以上のように構成さ
れているので、１ドットの発熱抵抗体のトリミングには
２０〜３０回の電圧パルスの印加、及び抵抗値の測定を
しなければならず、発熱抵抗体の抵抗値の均一化には多
大な時間を要するという問題点があった。
れているので、１ドットの発熱抵抗体のトリミングには
２０〜３０回の電圧パルスの印加、及び抵抗値の測定を
しなければならず、発熱抵抗体の抵抗値の均一化には多
大な時間を要するという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、発熱抵抗体の抵抗値の均一化に多大の時間を
必要とすることのないサーマルヘッドの抵抗値調整装置
を得ることを目的とする。
たもので、発熱抵抗体の抵抗値の均一化に多大の時間を
必要とすることのないサーマルヘッドの抵抗値調整装置
を得ることを目的とする。
この発明に係るサーマルヘッドの抵抗値調整装置は、サ
ーマルヘッドのドット中よりいくつかのサンプルを選定
してそれに電圧値の異なるいくつかの電圧パルスを低い
ものから順に印加し、その都度発熱抵抗体の抵抗変化を
測定して抵抗値降下曲線近似のためのトリミング定数
α，βを求め、このトリミング定数α，βの所定の関係
式からのずれを検定して、そのずれが所定の範囲内にあ
る場合に当該トリミング定数α，βを用いて抵抗値降下
曲線を近似し、各ドットのトリミングに際しては、まず
その発熱抵抗体の抵抗値を測定して、必要な抵抗値の降
下量から前記抵抗値降下曲線に基づいて印加する電圧パ
ルスの電圧値を決定するものである。
ーマルヘッドのドット中よりいくつかのサンプルを選定
してそれに電圧値の異なるいくつかの電圧パルスを低い
ものから順に印加し、その都度発熱抵抗体の抵抗変化を
測定して抵抗値降下曲線近似のためのトリミング定数
α，βを求め、このトリミング定数α，βの所定の関係
式からのずれを検定して、そのずれが所定の範囲内にあ
る場合に当該トリミング定数α，βを用いて抵抗値降下
曲線を近似し、各ドットのトリミングに際しては、まず
その発熱抵抗体の抵抗値を測定して、必要な抵抗値の降
下量から前記抵抗値降下曲線に基づいて印加する電圧パ
ルスの電圧値を決定するものである。
この発明におけるサーマルヘッドの抵抗値調整装置は、
当該サーマルヘッド内のサンプルドットの測定によって
抵抗値降下曲線を近似するとともに、その近似にあたっ
てはトリミング定数α，βの検定を行なつて、近似され
た抵抗値降下曲線が真の曲線から大きくずれることのな
いようにし、トリミングに際してこの抵抗値降下曲線を
用いて、測定したそのドットの発熱抵抗体の抵抗値より
印加する電圧パルスの電圧値を決定して、１回の電圧パ
ルスの印加で発熱抵抗体の抵抗値を目標値に近いものと
する。
当該サーマルヘッド内のサンプルドットの測定によって
抵抗値降下曲線を近似するとともに、その近似にあたっ
てはトリミング定数α，βの検定を行なつて、近似され
た抵抗値降下曲線が真の曲線から大きくずれることのな
いようにし、トリミングに際してこの抵抗値降下曲線を
用いて、測定したそのドットの発熱抵抗体の抵抗値より
印加する電圧パルスの電圧値を決定して、１回の電圧パ
ルスの印加で発熱抵抗体の抵抗値を目標値に近いものと
する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、ＳＴ１１は初期設定のステップ、ＳＴ１２
は前記ステップＳＴ１１に続くサンプルの抵抗変化測定
のステップ、ＳＴ１３は前記ステップＳＴ１２に続くト
リミング定数α，β算出のステツプ、ＳＴ１４は前記ス
テップＳＴ１３に続くトリミング定数α，βの検出のス
テップ、ＳＴ１５は前記ステップＳＴ１４に続く抵抗値
降下曲線近似のステップ、ＳＴ１６は前記ステップＳＴ
１５に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ１７は前記ステ
ップＳＴ１６に続く印加電圧決定のステップ、ＳＴ１８
は前記ステップＳＴ１７に続く電圧パルス印加のステッ
プ、ＳＴ１９は前記ステップＳＴ１８に続くトリミング
の全ドット終了検出のステップ、ＳＴ２０は前記ステッ
プＳＴ１４から分岐した別サンプルの選定のステップで
あり、前記ステップＳＴ１９の分岐からはステップＳＴ
１６へ、ステップＳＴ２０からはステップＳＴ１２へ、
それぞれ処理が戻される。
図において、ＳＴ１１は初期設定のステップ、ＳＴ１２
は前記ステップＳＴ１１に続くサンプルの抵抗変化測定
のステップ、ＳＴ１３は前記ステップＳＴ１２に続くト
リミング定数α，β算出のステツプ、ＳＴ１４は前記ス
テップＳＴ１３に続くトリミング定数α，βの検出のス
テップ、ＳＴ１５は前記ステップＳＴ１４に続く抵抗値
降下曲線近似のステップ、ＳＴ１６は前記ステップＳＴ
１５に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ１７は前記ステ
ップＳＴ１６に続く印加電圧決定のステップ、ＳＴ１８
は前記ステップＳＴ１７に続く電圧パルス印加のステッ
プ、ＳＴ１９は前記ステップＳＴ１８に続くトリミング
の全ドット終了検出のステップ、ＳＴ２０は前記ステッ
プＳＴ１４から分岐した別サンプルの選定のステップで
あり、前記ステップＳＴ１９の分岐からはステップＳＴ
１６へ、ステップＳＴ２０からはステップＳＴ１２へ、
それぞれ処理が戻される。
第２図はこの発明のサーマルヘッドの製造方法を実施す
る装置の一例を示すブロック図であり、図において、１
はトリミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこ
のサーマルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを
押し当てるプロービング装置、３はプロービング装置２
に接続されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー綱、
４はリレー綱３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値
の測定とを切り変えるスイッチ、５はスイッチ４の一方
に接続されて指定された電圧値の電圧パルスを送出する
パルス発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗
計、７は入出力部８、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う）９、メモリ１０、キーボード１１等の備えて、前記
諸装置の制御を行なうとともに所要の演算処理を行なう
制御演算部、１２はこの制御演算部７に接続されたプリ
ンタである。
る装置の一例を示すブロック図であり、図において、１
はトリミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこ
のサーマルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを
押し当てるプロービング装置、３はプロービング装置２
に接続されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー綱、
４はリレー綱３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値
の測定とを切り変えるスイッチ、５はスイッチ４の一方
に接続されて指定された電圧値の電圧パルスを送出する
パルス発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗
計、７は入出力部８、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う）９、メモリ１０、キーボード１１等の備えて、前記
諸装置の制御を行なうとともに所要の演算処理を行なう
制御演算部、１２はこの制御演算部７に接続されたプリ
ンタである。
次に動作について説明する。第３図は前記抵抗値降下曲
線の一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値
降下曲線で、横軸には電圧パルスによる印加電圧値が、
縦軸には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変化率
が目盛られている。実験の結果、第６図の縦軸を抵抗変
化率にして、初期の抵抗値から何％降下したかをプロッ
トすると、第３図に破線で示す如く、初期の抵抗値には
関係なくほぼ一定の曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは
（１）式で近似できることがわかった。
線の一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値
降下曲線で、横軸には電圧パルスによる印加電圧値が、
縦軸には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変化率
が目盛られている。実験の結果、第６図の縦軸を抵抗変
化率にして、初期の抵抗値から何％降下したかをプロッ
トすると、第３図に破線で示す如く、初期の抵抗値には
関係なくほぼ一定の曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは
（１）式で近似できることがわかった。
なお、（１）式中、Ｒ０は発熱抵抗体の初期の抵抗値、
Ｖ０は抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界
値、ΔＶは印加電圧の変化ステップ、α，βはサーマル
ヘッドの構造、ドット密度等で決まるトリミング定数で
ある。
Ｖ０は抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界
値、ΔＶは印加電圧の変化ステップ、α，βはサーマル
ヘッドの構造、ドット密度等で決まるトリミング定数で
ある。
また、このトリミング定数α，β相互の関係は、第４図
に示すように、横軸にα、縦軸にβを目盛ってプロット
すると、ほぼ一定の曲線Ｚ上をたどり、その曲線（基準
トリミング曲線）Ｚは（２）式で近似できる双曲線であ
ることがわかつた。
に示すように、横軸にα、縦軸にβを目盛ってプロット
すると、ほぼ一定の曲線Ｚ上をたどり、その曲線（基準
トリミング曲線）Ｚは（２）式で近似できる双曲線であ
ることがわかつた。
β＝・α−ｍ …（２） なお、（２）式中、，ｍはドット密度に関係なく一定
の値をとる定数である。
の値をとる定数である。
さらに、別の実験の結果、所定の電圧値の電圧パルスを
１回だけ印加した場合の抵抗減少率は、第３図の如く電
圧値を暫増させながら何回も電圧パルスを印加した場合
の同一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかつた。
この発明はこれらの実験結果に基づくものである。
１回だけ印加した場合の抵抗減少率は、第３図の如く電
圧値を暫増させながら何回も電圧パルスを印加した場合
の同一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかつた。
この発明はこれらの実験結果に基づくものである。
この実施例では、まず、ステップ１１で初期設定が行な
われ、次いでステップ１２でサンプルの抵抗変化測定が
行なわれる。即ち、リレー網３を制御してサーマルヘッ
ド１のサンプルとして指定されたドットの発熱抵抗体を
選択し、スイッチ４を切り換えて抵抗計６へ接続して抵
抗値を測定し、その測定値を制御演算部７へ送り、制御
演真部７のＣＰＵ９はこれをメモリ１０へ格納する。次
にスイッチ４を切り換えてパルス発生器５より所定の電
圧値の電圧パルスを前記抵抗発熱体に印加する。ここ
で、この電圧パルスは例えば幅が２μsecのパルスが１
５個周期５０μsecで連続するパルス列である。次に、
再度スイッチ４を切り換えて、この電圧パルスが印加さ
れた発熱抵抗体を抵抗計６に接続して抵抗値を測定し、
制御演算部７へ送る。制御演算部７のＣＰＵ９はそれを
印加した電圧パルスの電圧値とともにメモリ１０に格納
する。以下、同様にして、電圧パルスの電圧値を適宜上
昇させながらこれらの処理を繰返す。この処理は少くと
も３回繰返して実行され、リレー網３を切り換えていく
つかのサンプルについて実行される。
われ、次いでステップ１２でサンプルの抵抗変化測定が
行なわれる。即ち、リレー網３を制御してサーマルヘッ
ド１のサンプルとして指定されたドットの発熱抵抗体を
選択し、スイッチ４を切り換えて抵抗計６へ接続して抵
抗値を測定し、その測定値を制御演算部７へ送り、制御
演真部７のＣＰＵ９はこれをメモリ１０へ格納する。次
にスイッチ４を切り換えてパルス発生器５より所定の電
圧値の電圧パルスを前記抵抗発熱体に印加する。ここ
で、この電圧パルスは例えば幅が２μsecのパルスが１
５個周期５０μsecで連続するパルス列である。次に、
再度スイッチ４を切り換えて、この電圧パルスが印加さ
れた発熱抵抗体を抵抗計６に接続して抵抗値を測定し、
制御演算部７へ送る。制御演算部７のＣＰＵ９はそれを
印加した電圧パルスの電圧値とともにメモリ１０に格納
する。以下、同様にして、電圧パルスの電圧値を適宜上
昇させながらこれらの処理を繰返す。この処理は少くと
も３回繰返して実行され、リレー網３を切り換えていく
つかのサンプルについて実行される。
次に、ステップＳＴ１３において、このようにして測定
された抵抗変化に基づいて抵抗値降下曲線の近似のため
のトリミング定数α，βの算出が行なわれる。即ち、制
御演算部７のＣＰＵ９はメモリ１０に格納しておいた抵
抗変化から、電圧パルスによる各印加電圧における抵抗
変化率ΔＲ＝（Ｒ−Ｒ０）／Ｒ０○を求め、これを前記
（１）式に代入する。これによって各サンプル毎にそれ
ぞれα，β，Ｖ０を未知数とする方程式を作成してこれ
を解く。ここで、三つの未知数に対して四つ以上の方程
式がある場合にはこれを統計的に処理して解を得る。得
られた解はさらに各サンプル間で統計的に処理されて、
印加電圧の境界値Ｖ０とともに所望のトリミング定数
α，βが得られる。
された抵抗変化に基づいて抵抗値降下曲線の近似のため
のトリミング定数α，βの算出が行なわれる。即ち、制
御演算部７のＣＰＵ９はメモリ１０に格納しておいた抵
抗変化から、電圧パルスによる各印加電圧における抵抗
変化率ΔＲ＝（Ｒ−Ｒ０）／Ｒ０○を求め、これを前記
（１）式に代入する。これによって各サンプル毎にそれ
ぞれα，β，Ｖ０を未知数とする方程式を作成してこれ
を解く。ここで、三つの未知数に対して四つ以上の方程
式がある場合にはこれを統計的に処理して解を得る。得
られた解はさらに各サンプル間で統計的に処理されて、
印加電圧の境界値Ｖ０とともに所望のトリミング定数
α，βが得られる。
このようにして得られたトリミング定数α，βは、次に
ステップＳＴ１４において、（２）式の関係からのずれ
が検出される。即ち、第４図に点Ａで示す如く、ずれが
一定の範囲、例えば同図にハッチングを施した±５％の
領域をはずれた場合には誤測定とみなして、ステップＳ
Ｔ１２による抵抗値変化の測定をやり直す。その場合、
ステップＳＴ２０によって以前に電圧パルスが印加され
たことのないドットが新しいサンプルとして選択され
る。第４図に点Ｂで示す如く、ずれが一定の範囲内であ
る場合には、当該トリミング定数α，βはステップＳＴ
１５にて印加電圧の境界値Ｖ０とともに（１）式に代入
されて、抵抗変化率ΔＲと印加電圧Ｖとの関係を示す抵
抗値降下曲線が近似される。
ステップＳＴ１４において、（２）式の関係からのずれ
が検出される。即ち、第４図に点Ａで示す如く、ずれが
一定の範囲、例えば同図にハッチングを施した±５％の
領域をはずれた場合には誤測定とみなして、ステップＳ
Ｔ１２による抵抗値変化の測定をやり直す。その場合、
ステップＳＴ２０によって以前に電圧パルスが印加され
たことのないドットが新しいサンプルとして選択され
る。第４図に点Ｂで示す如く、ずれが一定の範囲内であ
る場合には、当該トリミング定数α，βはステップＳＴ
１５にて印加電圧の境界値Ｖ０とともに（１）式に代入
されて、抵抗変化率ΔＲと印加電圧Ｖとの関係を示す抵
抗値降下曲線が近似される。
これで準備段階を終了してステップＳＴ１６よりトリミ
ングの処理に入る。まず、ステップＳＴ１６において、
リレー網３でトリミングを実施するドットを選択し、ス
イッチによってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値を
測定する。次に、ステップＳＴ１７ではＣＰＵ９によっ
て、得られた抵抗値を目標値まで降下させるための抵抗
変化率ΔＲｎが算出され、さらに前述の抵抗値降下曲線
Ｙを用いて電圧パルスの印加電圧Ｖｎを決定する。その
様子は第３図に示され、具体的には前記α，β，Ｖ０が
代入された関係式に前記ΔＲｎを代入して印加電圧Ｖｎ
を算出する。得られた印加電圧Ｖｎは制御演算部７より
パルス発生器５へ送られる。ステップＳＴ１８でスイッ
チ４が切り換えられると、パルス発生器５からは電圧が
Ｖｎの電圧パルスが送出され、トリミングを実施するド
ットの発熱抵抗体に印加される。これによって当該発熱
抵抗体の抵抗値は目標値に近い値に降下する。以下ステ
ップＳＴ１９が全ドットのトリミングの終了を検出する
まで、ステップＳＴ１６以後の処理が繰返される。
ングの処理に入る。まず、ステップＳＴ１６において、
リレー網３でトリミングを実施するドットを選択し、ス
イッチによってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値を
測定する。次に、ステップＳＴ１７ではＣＰＵ９によっ
て、得られた抵抗値を目標値まで降下させるための抵抗
変化率ΔＲｎが算出され、さらに前述の抵抗値降下曲線
Ｙを用いて電圧パルスの印加電圧Ｖｎを決定する。その
様子は第３図に示され、具体的には前記α，β，Ｖ０が
代入された関係式に前記ΔＲｎを代入して印加電圧Ｖｎ
を算出する。得られた印加電圧Ｖｎは制御演算部７より
パルス発生器５へ送られる。ステップＳＴ１８でスイッ
チ４が切り換えられると、パルス発生器５からは電圧が
Ｖｎの電圧パルスが送出され、トリミングを実施するド
ットの発熱抵抗体に印加される。これによって当該発熱
抵抗体の抵抗値は目標値に近い値に降下する。以下ステ
ップＳＴ１９が全ドットのトリミングの終了を検出する
まで、ステップＳＴ１６以後の処理が繰返される。
なお、上記実施例では１つのサンプルに対して、少くと
も３回の電圧パルス印加を行なって抵抗値降下曲線を近
似するものを示したが、抵抗値に変化が現われはじめる
印加電圧の境界値Ｖ０ ２５Ｖとして固定的に与えてし
まえば、２回の電圧パルス印加で抵抗値降下曲線を近似
することも可能となる。
も３回の電圧パルス印加を行なって抵抗値降下曲線を近
似するものを示したが、抵抗値に変化が現われはじめる
印加電圧の境界値Ｖ０ ２５Ｖとして固定的に与えてし
まえば、２回の電圧パルス印加で抵抗値降下曲線を近似
することも可能となる。
また、上記実施例では電圧パルスに所定数連続したパル
ス列を用いたが単パルスであってもよく、上記実施例と
同様の効果を奏する。
ス列を用いたが単パルスであってもよく、上記実施例と
同様の効果を奏する。
以上のように、この発明によれば、発熱抵抗体中からサ
ンプルを複数選び、電圧値の異なる電圧パルスを低いも
のから順次前記サンプルに印加し、各印加電圧と抵抗変
化の関係を示す抵抗降下曲線を近似するためのトリミン
グ定数を求め、このトリミング定数と所定の関係式で表
現される基準トリミング曲線とのずれを検定し、そのず
れが一定の範囲内であれば前記発熱抵抗体に印加する前
記電圧パルスの電圧値を、その発熱抵抗体の初期の抵抗
値に基づいて前記抵抗降下曲線を用いて決定するように
構成したので、各ドット毎に１回の電圧パルスの印加に
よってトリミングが完了するため、発熱抵抗体の抵抗値
の均一化に要する時間を大幅に削減することでき、さら
に、抵抗値降下曲線の近似に際して、トリミング定数
α，βの検出を行なつているので、近似された曲線が真
の抵抗値降下曲線から大きくずれるようなことはなく、
抵抗値降下曲線の近似ミスによる過剰トリミングあるい
は発熱抵抗体の破壊、及びトリミング不足あるいは未ト
リミングが生ずることのないサーマルヘッドの抵抗値調
整装置が得られるなどの効果がある。
ンプルを複数選び、電圧値の異なる電圧パルスを低いも
のから順次前記サンプルに印加し、各印加電圧と抵抗変
化の関係を示す抵抗降下曲線を近似するためのトリミン
グ定数を求め、このトリミング定数と所定の関係式で表
現される基準トリミング曲線とのずれを検定し、そのず
れが一定の範囲内であれば前記発熱抵抗体に印加する前
記電圧パルスの電圧値を、その発熱抵抗体の初期の抵抗
値に基づいて前記抵抗降下曲線を用いて決定するように
構成したので、各ドット毎に１回の電圧パルスの印加に
よってトリミングが完了するため、発熱抵抗体の抵抗値
の均一化に要する時間を大幅に削減することでき、さら
に、抵抗値降下曲線の近似に際して、トリミング定数
α，βの検出を行なつているので、近似された曲線が真
の抵抗値降下曲線から大きくずれるようなことはなく、
抵抗値降下曲線の近似ミスによる過剰トリミングあるい
は発熱抵抗体の破壊、及びトリミング不足あるいは未ト
リミングが生ずることのないサーマルヘッドの抵抗値調
整装置が得られるなどの効果がある。
第１図はこの発明の一実施例によるサーマルヘッドの製
造方法を示すフローチャート、第２図はそれを実施する
ための装置の一例を示すブロック図、第３図はその抵抗
値降下曲線の一例を示す線図、第４図はそのトリミング
定数αとβの相互の関係を示す線図、第５図は従来のサ
ーマルヘッドの製造方法を示すフローチャート、第６図
はその発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、 ３はリレー網、４はスイッチ、５はパルス発生器、 ６は抵抗計、７は制御演算部。
造方法を示すフローチャート、第２図はそれを実施する
ための装置の一例を示すブロック図、第３図はその抵抗
値降下曲線の一例を示す線図、第４図はそのトリミング
定数αとβの相互の関係を示す線図、第５図は従来のサ
ーマルヘッドの製造方法を示すフローチャート、第６図
はその発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、 ３はリレー網、４はスイッチ、５はパルス発生器、 ６は抵抗計、７は制御演算部。
フロントページの続き (72)発明者 尾崎 裕 兵庫県尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三 菱電機株式会社通信機製作所内 (72)発明者 高瀬 弥平 兵庫県尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三 菱電機株式会社通信機製作所内 (56)参考文献 特開 昭61−131404（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】サーマルヘッドの各々の発熱抵抗体に電圧
パルスを印加し、その抵抗値を降下させて均一化するサ
ーマルヘッドの抵抗値調整装置において、前記各々の発
熱抵抗体に接続されるプロービング装置と、そのプロー
ビング装置に接続され前記発熱抵抗体の選択を行うと共
に、パルス発生器によるその発熱抵抗体への電圧パルス
の印加と抵抗計によるその発熱抵抗体の抵抗測定とを切
り換えるスイッチ回路と、前記発熱抵抗体中からサンプ
ルを複数選び、電圧値の異なる電圧パルスを低いものか
ら順次前記サンプルに印加し、各印加電圧と抵抗変化の
関係を示す抵抗降下曲線を近似するためのトリミング定
数を求め、このトリミング定数と所定の関係式で表現さ
れる基準トリミング曲線とのずれを検定し、そのずれが
一定の範囲内であれば前記発熱低抗体に印加する前記電
圧パルスの電圧値を、その発熱低抗体の初期の抵抗値に
基づいて前記抵抗降下曲線を用いて決定する制御演算部
とを備えたことを特徴とするサーマルヘッドの抵抗値調
整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61204005A JPH06414B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サーマルヘッドの抵抗値調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61204005A JPH06414B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サーマルヘッドの抵抗値調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6359552A JPS6359552A (ja) | 1988-03-15 |
| JPH06414B2 true JPH06414B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=16483194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61204005A Expired - Lifetime JPH06414B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サーマルヘッドの抵抗値調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06414B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63252759A (ja) * | 1987-04-09 | 1988-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | サ−マルヘツドの発熱抵抗体トリミング装置 |
| JPS63252760A (ja) * | 1987-04-09 | 1988-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | サ−マルヘツドの発熱抵抗体トリミング方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61131404A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-19 | ロ−ム株式会社 | サ−マルヘツドにおけるパルストリミング法 |
-
1986
- 1986-08-29 JP JP61204005A patent/JPH06414B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6359552A (ja) | 1988-03-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |