JPS6360977U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6360977U JPS6360977U JP15418286U JP15418286U JPS6360977U JP S6360977 U JPS6360977 U JP S6360977U JP 15418286 U JP15418286 U JP 15418286U JP 15418286 U JP15418286 U JP 15418286U JP S6360977 U JPS6360977 U JP S6360977U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- depletion layers
- semiconductor
- junctions
- extensions
- junction
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 2
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- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 1
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Description
第１図は本考案の一実施例の断面図、第２図は
従来の放射線スペクトル測定の一例を示す断面図
、第３図は他の例を示す断面図である。 １：ｐ型基板、２：ｎ＋領域、４１，４２，４
３：空乏層、５：直流電源、６：入射放射線、７
１，７２：ｐ＋領域。
従来の放射線スペクトル測定の一例を示す断面図
、第３図は他の例を示す断面図である。 １：ｐ型基板、２：ｎ＋領域、４１，４２，４
３：空乏層、５：直流電源、６：入射放射線、７
１，７２：ｐ＋領域。
Claims (1)
- 一つの半導体基板内に複数の空乏層形成のため
の接合を有し、各接合に接する半導体層の不純物
濃度がそれぞれ制御されて同一印加電圧に対する
空乏層の延びが異なることを特徴とする半導体放
射線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15418286U JPS6360977U (ja) | 1986-10-07 | 1986-10-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15418286U JPS6360977U (ja) | 1986-10-07 | 1986-10-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6360977U true JPS6360977U (ja) | 1988-04-22 |
Family
ID=31073745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15418286U Pending JPS6360977U (ja) | 1986-10-07 | 1986-10-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6360977U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020153756A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 日立Ｇｅニュークリア・エナジー株式会社 | α線検出装置およびα線検出方法 |
-
1986
- 1986-10-07 JP JP15418286U patent/JPS6360977U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020153756A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 日立Ｇｅニュークリア・エナジー株式会社 | α線検出装置およびα線検出方法 |