JPS6375569A - 基板検査用テスタ - Google Patents
基板検査用テスタInfo
- Publication number
- JPS6375569A JPS6375569A JP22049486A JP22049486A JPS6375569A JP S6375569 A JPS6375569 A JP S6375569A JP 22049486 A JP22049486 A JP 22049486A JP 22049486 A JP22049486 A JP 22049486A JP S6375569 A JPS6375569 A JP S6375569A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spring
- movable contact
- pin
- contact pin
- super
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、実装前のプリント基板や実装後のプリント基
板等の検査をする基板検査用テスタに関するものである
。
板等の検査をする基板検査用テスタに関するものである
。
（従来技術）
近年、プリント基板の集積度が高くなるにつれ、イの信
頼性試験に係る作業量が増加してさている。
頼性試験に係る作業量が増加してさている。
これに伴い、基板パターンのオープン・ショッートヂエ
ツク、実装部品の良否判定、接続箇所のヂエツク等を速
やかに行うためのインサーキットテスタなどが広く使用
されるようになってさた。
ツク、実装部品の良否判定、接続箇所のヂエツク等を速
やかに行うためのインサーキットテスタなどが広く使用
されるようになってさた。
第３図及び第４図はインリートキラ１−テスタ。
ボードテスタ等の測定端末を示したもので、板状の支持
フレーム１に多数のピンプローブ２を小ピツチで貫通支
持させ、支持フレーム１を加工させて検査用基板３の各
部に各ピンブｒｊ−ブ２の先端の可動］ンタクトピン４
を圧接させ、各ピンプ］］−ブ２より測定コード５を介
して信号をとり出し、解析して各検査箇所の良否を判定
するようになっている。なお、６は検査用基板３に実装
されている電子部品である。
フレーム１に多数のピンプローブ２を小ピツチで貫通支
持させ、支持フレーム１を加工させて検査用基板３の各
部に各ピンブｒｊ−ブ２の先端の可動］ンタクトピン４
を圧接させ、各ピンプ］］−ブ２より測定コード５を介
して信号をとり出し、解析して各検査箇所の良否を判定
するようになっている。なお、６は検査用基板３に実装
されている電子部品である。
近年、更に高密度実装を行うため、第４図に示づように
、基板３の表面へも実装を行う、所謂り一−フェス・マ
ウン１〜・チクノロシイ（ＳＭＴ）が増えできており、
この場合、検査は図示のように基板３の部品実装面側よ
り行わざるを得ない。このようにして検査を行うと、場
所によっては可動コンタクトビン４が電子部品６の上に
乗り上げるところと、基板３の表面に接するところとが
生じる。
、基板３の表面へも実装を行う、所謂り一−フェス・マ
ウン１〜・チクノロシイ（ＳＭＴ）が増えできており、
この場合、検査は図示のように基板３の部品実装面側よ
り行わざるを得ない。このようにして検査を行うと、場
所によっては可動コンタクトビン４が電子部品６の上に
乗り上げるところと、基板３の表面に接するところとが
生じる。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、このように各可動コンタクトピン４の接
触先が基板３十の突出部や基板面等のように異なると、
各可動コンタクトピン４のストロークが責なる。従来の
バネは弾性変形域が小さく（例えば、歪０．２％以下）
、従って弾性変形域内での使用を考えた場合、例えば接
触先が基板面であるコンタクトビン４が電気的に必要最
低限の接触圧を得るようバネを変形させた際に、接触先
が基板３上の突出部に当っている他のコンタク１−ビン
４のバネの歪が０．２％以内に納まるようにしなければ
ならず、ストロークが大きくとれない等の設泪」ユの問
題点があった。
触先が基板３十の突出部や基板面等のように異なると、
各可動コンタクトピン４のストロークが責なる。従来の
バネは弾性変形域が小さく（例えば、歪０．２％以下）
、従って弾性変形域内での使用を考えた場合、例えば接
触先が基板面であるコンタクトビン４が電気的に必要最
低限の接触圧を得るようバネを変形させた際に、接触先
が基板３上の突出部に当っている他のコンタク１−ビン
４のバネの歪が０．２％以内に納まるようにしなければ
ならず、ストロークが大きくとれない等の設泪」ユの問
題点があった。
本発明の目的は、各可動コンタクトピンのストロークを
大きくとれる基板検査用テスタを提供することにある。
大きくとれる基板検査用テスタを提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
上記の目的を達成するための本発明の構成を、実施例に
対応する第１図を参照して説明すると、本発明は板状の
支持フレーム１に多数のピンプローブ２が支持され、前
記各ピンプローブ２の各可動コンタクトピン４はバネ７
によって突出方向に付勢されている基板検査用テスタに
おいて、前記各ピンプローブ２で前記各可動コンタクト
ピン１を付勢している前記バネ７として超弾性バネが使
用されていることを特徴とする。
対応する第１図を参照して説明すると、本発明は板状の
支持フレーム１に多数のピンプローブ２が支持され、前
記各ピンプローブ２の各可動コンタクトピン４はバネ７
によって突出方向に付勢されている基板検査用テスタに
おいて、前記各ピンプローブ２で前記各可動コンタクト
ピン１を付勢している前記バネ７として超弾性バネが使
用されていることを特徴とする。
（作用）
このように各ピンプローブ２の可動コンタクトピン４を
付勢するバネ７として超弾性バネを使用すると、各可動
コンタクトピン４のストロークを人ぎくとることができ
る。
付勢するバネ７として超弾性バネを使用すると、各可動
コンタクトピン４のストロークを人ぎくとることができ
る。
（実施例）
以下本発明の実施１例を図面を参照して詳細に説明する
。本実施例の基板検査用テスタは、第３図に示すように
して支持フレーム１に支持されている多数のピンプロー
ブ２において、各可動コンタクトピン４を付勢している
バネ７として超弾性バネを使用している。即ら、ピンプ
ローブ２は、支持フレーム１を貫通してこれに支持され
ている絶縁スリーブ８を有し、該絶縁スリーブ８内の先
端側には可動コンタクトビン４が摺動自在に挿入されて
いる。絶縁スリーブ８の基端側にはバネ受けを兼ねた電
極９が支持され、該電極９には測定コード５が接続され
ている。絶縁スリーブ８内には可動コンタクトピン４を
付勢する超弾性バネ７が収納され、その両端は電極９と
可動コンタクトピン４とに当接されている。可動コンタ
クトピン４ど電極９とはリード線１０で接続されている
。
。本実施例の基板検査用テスタは、第３図に示すように
して支持フレーム１に支持されている多数のピンプロー
ブ２において、各可動コンタクトピン４を付勢している
バネ７として超弾性バネを使用している。即ら、ピンプ
ローブ２は、支持フレーム１を貫通してこれに支持され
ている絶縁スリーブ８を有し、該絶縁スリーブ８内の先
端側には可動コンタクトビン４が摺動自在に挿入されて
いる。絶縁スリーブ８の基端側にはバネ受けを兼ねた電
極９が支持され、該電極９には測定コード５が接続され
ている。絶縁スリーブ８内には可動コンタクトピン４を
付勢する超弾性バネ７が収納され、その両端は電極９と
可動コンタクトピン４とに当接されている。可動コンタ
クトピン４ど電極９とはリード線１０で接続されている
。
超弾性バネ７としては、例えばＮｉ−Ｔｉ合金バネのよ
うな形状記憶バネを使用する。この場合、形状記憶バネ
の変態点を、例えば室温以下に設定しておき、使用環境
では形状記憶バネが超弾性効果を発揮するＪ：うにする
。このときの形状記憶バネの応力（σ）−歪（ε）曲線
は、第２図に示すようになり、通常のバネに比べ回復可
能な変形岨は数倍〜１０倍にもなる。
うな形状記憶バネを使用する。この場合、形状記憶バネ
の変態点を、例えば室温以下に設定しておき、使用環境
では形状記憶バネが超弾性効果を発揮するＪ：うにする
。このときの形状記憶バネの応力（σ）−歪（ε）曲線
は、第２図に示すようになり、通常のバネに比べ回復可
能な変形岨は数倍〜１０倍にもなる。
従って、超弾性バネ７を使用したピンプローブ２によれ
ば、第４図のように被測定面に凹凸があっても大きなス
トロークがとれ、何ら問題がない。
ば、第４図のように被測定面に凹凸があっても大きなス
トロークがとれ、何ら問題がない。
（発明の効果）
以上説明したように本発明に係る基板検査用テスタでは
、各ピンプローブで可動コンタクトピンを付勢づるバネ
として超弾性バネを使用したので、従来のものに比べ各
可動コンタクトピンのストロークを非常に大ぎくどれ、
接触相手に凹凸があっても何ら問題がなく、測定に使用
できる範囲が広がる利点がある。
、各ピンプローブで可動コンタクトピンを付勢づるバネ
として超弾性バネを使用したので、従来のものに比べ各
可動コンタクトピンのストロークを非常に大ぎくどれ、
接触相手に凹凸があっても何ら問題がなく、測定に使用
できる範囲が広がる利点がある。
第１図は本発明に係る基板検査用テスタで用いているピ
ンプローブの一例を示す縦断面図、第２図は超弾性バネ
の応力−歪特性図、第３図は基板検査用テスタの一例の
斜視図、第４図は同テスタの検査状態の概念図である。 １・・・支持フレーム、２・・・ピンプローブ、３・・
・検査用基板、４・・・可動コンタクトピン、６・・・
電子部品、７・・・超弾性バネ。 第１図 箱２図 竿４図
ンプローブの一例を示す縦断面図、第２図は超弾性バネ
の応力−歪特性図、第３図は基板検査用テスタの一例の
斜視図、第４図は同テスタの検査状態の概念図である。 １・・・支持フレーム、２・・・ピンプローブ、３・・
・検査用基板、４・・・可動コンタクトピン、６・・・
電子部品、７・・・超弾性バネ。 第１図 箱２図 竿４図
Claims (1)
- 板状の支持フレームに多数のピンプローブが支持され、
前記各ピンプローブの各可動コンタクトピンはバネによ
って突出方向に付勢されている基板検査用テスタにおい
て、前記各ピンプローブで前記各可動コンタクトピンを
付勢している前記バネとして超弾性バネが使用されてい
ることを特徴とする基板検査用テスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22049486A JPS6375569A (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 基板検査用テスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22049486A JPS6375569A (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 基板検査用テスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6375569A true JPS6375569A (ja) | 1988-04-05 |
Family
ID=16751937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22049486A Pending JPS6375569A (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 基板検査用テスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6375569A (ja) |
-
1986
- 1986-09-18 JP JP22049486A patent/JPS6375569A/ja active Pending
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