JPS6376494A - 回路形成用レジスト密着力向上方法 - Google Patents

回路形成用レジスト密着力向上方法

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JPS6376494A
JPS6376494A JP21933986A JP21933986A JPS6376494A JP S6376494 A JPS6376494 A JP S6376494A JP 21933986 A JP21933986 A JP 21933986A JP 21933986 A JP21933986 A JP 21933986A JP S6376494 A JPS6376494 A JP S6376494A
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JP
Japan
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circuit
pattern
circuit formation
resist
resist adhesion
Prior art date
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Pending
Application number
JP21933986A
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English (en)
Inventor
千野 貴之
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔離業上の利用分野〕 本発明は、プリント基板の製造において、回路形成用レ
ジストの密着力を向上する方法&C関する。
〔従来の技術〕
ますます高密度化する半導体の技術的趨勢において、基
板上に形成するパターンの剥離や断崖或は測りの問題が
厳格になってきている。
従来の回路形成法としては、特開昭54−109171
号公報に記載のように、銅張積1板の銅箔上に感光性フ
ィルム状レジストを張りつけ、露光、現像してエツチン
グレジストパターンを形成し、そしてこれをエツチング
加工によりエツチングレジストパターンを除去して配線
パターンを形成するようにしていた(以下これをテンテ
ィング法という  ) 。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来のテンティング法は、配線パターンの基板への
密着保持に関して何ら配慮されていなかったので、レジ
ストの剥離や欠けによるパターン欠陥が発生し、高密度
化への対応ができないとい5問題があった。
本発明は、上記問題を解決するためになされたものであ
り、回路形成用レジストの密着力を向上する方法を提供
せんとするものである。
〔問題を解決するための手段〕
fit]ち、本発明は、プリント基板の回路形成に光硬
化性樹脂を用いて露光、現像により回路パターン又は回
路逆パターンを基板上に形成し、次いでこれに紫外線照
射をすることを特徴とするものである。
〔作用〕
このようにするととにより、光硬化性レジストは、紫外
線照射を受けて硬−化し、これにより基板への密着力が
強化され、レジストの剥離や欠げなどの発生が起り難く
なる。1 〔実施例〕 以下本発明の一実施例について詳細に説明する。
第1図において、3は、35Pの銅箔1を張りつけた一
般の銅張積層板を例示したものであり、この銅張積層板
3を用いた場合の製造方法を第2図から第6図t゛用い
て説明する。なお図中、2はスルーホール、4はエツチ
ングレジスト、5は紫外線を示す。
先ず第2図に示すように、銅張積層板3に通常の手段に
よりスルーホール2を明け、これに通常の手段により、
全面に化学鋼めっき用触媒7を施す。この触媒として例
えば7プレイ社製キャタボジット44が使用される。次
にi@3図に示すように、フィルム状感光性樹脂を用い
て、テンティング法によりエツチングレジスト4を形成
する。上記フィルム状感光性樹脂として例えば、市販の
ドライフィルム日立化成製フオテツク865 AFT 
50が使用される。そして第4図に示すようにエツチン
グレジスト4上に紫外縁5を照射してエツチングレジス
ト4を硬化させ、密着力を向上する。次いで露光してい
る回′#S部分以外の銅箔1をエツチングにより溶解除
去し、更にエツチングレジスト4も除去して8g5図の
状態にする。その後、酸洗浄により銅表面を活性化した
後、化学銅めっき6を第6図に示すように所定厚み析出
させ完了する。
〔発明の効果〕
以上詳述した通り本発明によれば、光硬化性樹脂を用い
て、露光、現像によって回路パターン等を形成した後に
、紫外線を照射するようにしたので、光硬化性樹脂は紫
外線の照射によって硬化し、回路レジスタの密着力が向
上して、レジストの剥離や欠けなどによるパターンの欠
陥の発生な減少することができた。
又、露光時に十分硬化させた場合は、硬化パターンが太
くなってパターン精度が低いものとなるか、本発明は、
パターン形成後に紫外線を照射するので、パターンの太
りがなく、配線パターンの精度を向上させることができ
た。
このように、密着力を向上して、剥離や欠けがなくなり
、かつ、配線パターンの精度が向上したので、高密度化
への対応がより確実となり、産業上果す効果は極めて顕
著なものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、紫外線を照射している状態を示す斜視図、第
2図乃至W、6図は、回路成形工程を示す図であり、第
2図は、銅張りiiR層板にスルーホールを明け、これ
に化学銅めっき用触媒を施した状態を示す縦断面図、第
3図は、エツチングレジストを形成した状態を示す縦断
面図、緬4図は、紫外線を照射している状態を示す縦断
面図、第5図は、銅箔及びエツチングレジストをエツチ
ングにより除去した状態を示す縦断面図、第6図は、化
学銅めりきなした状態を示す縦断面図である。 1・・・銅箔       2・・・スルーホール3・
・・基&        4・・・エツチングレジスト
5・・・紫外線      6・・・化学鋼めっき7・
・・触媒 に′ 伏臥弁理士小川勝男・ ;dめ仕−〇ト

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、プリント基板の回路形成に光硬化性樹脂を用いて露
    光、現像により回路パターン又は回路逆パターンを基板
    上に形成し、次いでこれに紫外線照射をすることを特徴
    とする回路形成用レジスト密着力向上方法。
JP21933986A 1986-09-19 1986-09-19 回路形成用レジスト密着力向上方法 Pending JPS6376494A (ja)

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