JPS6387608A - 薄膜コイルの製造方法 - Google Patents

薄膜コイルの製造方法

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JPS6387608A
JPS6387608A JP23114986A JP23114986A JPS6387608A JP S6387608 A JPS6387608 A JP S6387608A JP 23114986 A JP23114986 A JP 23114986A JP 23114986 A JP23114986 A JP 23114986A JP S6387608 A JPS6387608 A JP S6387608A
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film
cross
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Yuko Kumisawa
組沢 優子
Masakatsu Saito
斉藤 正勝
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気記録用または再生用の薄膜磁気ヘッドに
係り、特にマルチターンコイル構造の該薄膜磁気ヘッド
に関する。
〔従来の技術〕
従来の薄膜ヘッドは、アイビーエム ディスクストレー
ジ テクノロジー(1980)第6頁から第・9頁(I
BM Disk Storage Tachrolol
y、 Fsb、(1980)・pp6−9)および特開
昭57−66522号に記載され5ているように、コイ
ル形状は、鳥屋断面と台形断。
面の2種類が提案され、コイル絶縁材料には、凹−凸の
平坦化が容易なフォトレジストやポリイミド。
系樹脂等の有機材料を用いたものが実用になって。
いる。角型コイルの従来ヘッドの1例を第7図に。
示す、、2種類のコイルは、断面積の点から角型。
(口型)コイルの方が台盤(Q型)のコイルに比、。
べ、1ターンあたりの許容電流が大きく、記録能。
力を高めている。また、コイル抵抗の点からは当。
然角型コイルの方が抵抗値は小さくでき、インピーダン
スノイズの低減を図り、s/N向上を達成できる。
しかし、形成に高温を必要とするF g −Aj −S
 iやCo −Nh −Zr等の高Bs 、高摩耗性の
磁性薄膜をコア材に用いる場合には、コイルの絶縁材料
に、有機材料の代わりに耐熱性の高いf3i0xのよう
な無機材料が必要となり、角型コイルの場合には以下6
の様な問題を生じる。
第8図((Z)に示す様に、上層に形成した無機絶縁。
層3はステップカバレッジ不良部10を生じ、抜工。
程での熱履歴でクラック、剥離を生じる。また同。
図(b)に示す様に、コイル巻数の増加あるいは磁路;
長短縮によるヘッド効率向上を目的としてコイル。
間隔を狭くした場合、絶縁層に空洞11を生じたり、同
図(α)と同様の問題が発生し1歩留りよくヘッド。
を提供することができなかった。
〔発明が解決しようとする問題点〕1.。
上記従来技術では、コイル上に形成する絶縁層。
の膜質への配慮がされておらず、コイル間のシ1゜−ト
や絶縁膜の剥離という問題があった。
本発明の目的は、コイルの抵抗値を上げずに刑イル上層
に形成する無機絶縁層のステップカバン、3ツジ悪化に
よる弊害、絶縁層の空洞による弊害等を無クシ、歩留り
よおヘッドを提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、コイル断面形状をコイル抵抗に影罵 響を与えない範囲内でコイル上部の両肩をおとし・た形
状とすることによって達成される。
〔作用〕
コイルバターニング用のマスク材条件等を最適化するこ
とにより、イオンエツチング善後ノコイール断面形状を
角型コイルの上部両肩をおとした形・状とする。これに
より、上層に形成する絶縁層の。
ステップカバレッジ悪化、空洞形成を防止すると。
とができ、これらによる弊害が無くなり1歩留りよくヘ
ッドを提供することができる。
〔実施例〕
以下に本発明の薄膜磁気ヘッドについて1図面。
を参照しながら具体的に説明する。
第1図は9本発明の実施例である薄膜磁気ヘラ。
ドの平面図5第2図は第1図のA −A’断面図、第、
−3図(α)ハ従来ヘッド断面(第7図)の拡大図、(
6)。
は本発明のヘッド断面(第2図)の拡大図である。
たたし、保護膜、保護板は省略しである。
薄膜磁気ヘッド6は、基板1上に下部コア2、。
眉間絶縁層3、導体コイル4、上部コア5から形。、成
されている。上部コア5と下部コア2はコア接・続部7
で接続され、ギャップ8を有して磁気回路・を形成して
いる。なお、上・下部コアは高透磁率・磁性材、例えば
Co −Nh −Zr系アモルファスから・なり、眉間
絶縁層は8iCh 、ギャップはCr、導体コーイルは
Ctb等からなる。
第2図、第3図(41に示す様に、導体コイル4が。
角型の両肩をおとした断面形状(0型)を持つと。
とにより、コイル両肩部の絶縁層の膜質の問題や。
ハガレを防止することができるため、上層コイル1.。
4ξ上部コア5とのショート等がなくなり1歩留。
りよくヘッドを提供することができる。
また1本発明の■型コイル構造とすることによ。
つて、上部コアのコイル端近傍の磁気特性の劣化。
防止にも効果があり、ヘッドの記録再生効率も改1、善
する利点がある。以下にその理由を説明する。
薄膜ヘッドを作製する上で、コイル形成後何らかの方法
によりコイル凹凸を平坦化した絶縁層を形成し、凹凸に
よる磁気特性の劣化を防ぐ必要がある。その平坦化手段
としてエッチバック法がより。
4 ・ く用いられる。その場合、エツチング終点の判定・が難
しく、若干の段差がある状態(エッチング不・足)で工
程を終えることがしばしば起る。第3図はその時の従来
コイル構造(α)と本発明のコイル構・造優)による違
いを示したものである。すなわち、−両図において、記
号Xで示したコイル端近傍の上・部コアは、従来構造で
は磁気特性が劣化するのに・対して1本発明によれば、
同部分にはゆるい傾斜・かついているため磁気特性の劣
化は生じない。以。
上のことから1本発明によれば、絶縁層形成工程。
のプロセスマージンを大幅に改善でき、この点に。
おいてもヘッド歩留り向上の効果が犬である。 。
次にコイルを角型の両肩をおとした断面形状に。
パターニングする第一の方法としては、第4図1)に示
す様にエツチングする導体膜4′、膜厚aとマ、。
スフ材9のエツチング速度からマスク材の膜厚す。
を決定する。例えば導体膜がCw sμmの場合、イ。
オンエツチング条件をIarc : 1.6 A 、 
Vacc : 700 V *。
ビーム入射角0°とした時、フォトレジスト(マイ。
クロポジット)膜厚1,8μmが適当である。同図2人
でイオンエツチングにより、導体膜をエツチング・する
。一般に肩の部分Aのエツチング速度は他の・部分に比
べ速いため、エツチング終了後は同図3)・の様になり
、レジスト除去後、同図4)に示す様な・O型コイルを
得ることができる。
パターニングの第二の方法としては、第5図1)に・示
す様に、導体膜のエツチング終了時に、コイル・端部の
上、B部にレジストが残る様なレジスト膜・厚を塗布し
、導体膜4をエツチングする。導体膜・のエツチングが
終了したら、同図2)に示す様にし1゜シスト12を還
布する。レジストの平坦化作用によ。
す、コイル上の膜厚dは薄く、コイル間の膜厚e。
は厚くなる。例えばIl[6μm1間隔4μm、段差3
μmの場合には、dは0.8μm、 gは6.5μmと
なる。膜。
厚eが、コイル端部上の膜厚Cより厚くなる様ζ5条件
でレジスト12を塗布する。イオンエツチング。
により、コイル端部の両肩Cがエツチングされる。
までエツチングする。、(同図3))レジストを除去。
して、同図りに示す様な0型コイルを得ることが。
できる。この方法によれば、第1の方法に比べ% 2゜
・ 7 ・ コイルパターニング用のレジスト膜厚の条件範囲・が広
くなる。
第6図に本発明の第2の実施例を示す。   ・第6図
1)に示す様に、導体膜4′上に第2の金属・層13を
蒸着、スパッタリング等により形成する。−・できれば
、導体膜と同一チャンバー内で形成する・ことがグロマ
ス的には望ましい。第2の金属層は・、導体膜4′より
エツチング速度の遅いものを選ぶ。。
例えば、導体膜がCtb 、 At等の場合、第2の金
属層としては、Cr 、 Ti 、 NiCr等を用い
ればよ<ml。
また導体膜がCμの場合には、接合層として、導体膜の
上・下層に例えばCr500X程度を必要とする。
ため、該上層の接合層膜厚を厚くすることで、プ。
ロセスな増すことなく、同様の効果を得ることができる
。                   15この方
法によれば、コイルパターニングのだ瞭のレジスト膜厚
を薄くすることができるため、ノミターニング精度が向
上するとともに、オーバエラ。
チングによるコイル形状の変化が小さくプロセへマージ
ンが大きくなる。           2゜、 8 
。
[発明の効果] 以上、本発明によれば、コイルを角型の両肩を・おとし
た断面形状のコイルとすることで、コイル・抵抗を増加
させることなく、コイル上層に形成す・る絶縁層のステ
ップカバレッジ悪化による弊害、5絶縁層の空洞による
弊害が無くなるので、歩留り。
よくヘッドを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例による薄膜磁気ヘッド。 の平面図、第2図は第1図のA−A断面図、第3、。 図(α)は従来ヘッド(第7図)の拡大断面図、第3゜
図(町は本発明のヘッド断面(第2図)の拡大図、。 第4図はコイルパターニング方法を示す工程図、。 第5図は他のコイルパターニング方法を示す工私図、第
6図は本発明の第2の実施例を示す断面鴫5、第7図は
従来例の薄膜磁気ヘッドの断面図、第8゜図は角型コイ
ル上に形成した絶縁層の断面図であ。 る。 1・・・基板、2・・・下部コア、6・・・絶縁層、 
4a 、 48・・・導体コイル、4′・・・導体膜、
5・・・上部コア、61.。 薄膜磁気ヘッド、7・・・コア接続部、8・・・ギャッ
プ・、9・・・フォトレジスト、9′・・・ポストベー
ク後のフオ・トレジスト、10・・・ステップカバレッ
ジ、11・・・空洞・。 12・・・フォトレジスト、13・・・第2の金属層。    ・4・′へ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、下部コア、単層または複数層の導体コイルと該導体
    コイル間および上・下部コアとの絶縁をとる絶縁層、上
    部コアの順に積層形成されてなる薄膜磁気ヘッドにおい
    て、前記導体コイルが角型の上側両肩をおとした断面形
    状を持つことを特徴とした薄膜磁気ヘッド。 2、第1項記載の角型の上側両端をおとした断面形状を
    持つ導体コイルの上層部分に第2の金属層を持つことを
    特徴とした薄膜磁気ヘッド。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6478436A (en) * 1987-09-19 1989-03-23 Victor Company Of Japan Magnetic transfer device
US6333830B2 (en) * 1998-11-09 2001-12-25 Read-Rite Corporation Low resistance coil structure for high speed writer

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61195505A (ja) * 1985-02-25 1986-08-29 コニカ株式会社 導電層材料

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