JPS641744B2 - - Google Patents

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JPS641744B2
JPS641744B2 JP3224784A JP3224784A JPS641744B2 JP S641744 B2 JPS641744 B2 JP S641744B2 JP 3224784 A JP3224784 A JP 3224784A JP 3224784 A JP3224784 A JP 3224784A JP S641744 B2 JPS641744 B2 JP S641744B2
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JP
Japan
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clock signal
signal
time
counter
clock
Prior art date
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JP3224784A
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JPS60177270A (ja
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Rikichi Murooka
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Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
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Publication date
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Publication of JPS641744B2 publication Critical patent/JPS641744B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は書込みクロツク信号に同期して入力信
号を記憶回路に記憶する信号記憶装置に関する。
〔発明の背景〕
信号記憶装置には波形記憶装置(別名 トラン
ジエント・デジタイザ、トランジエント・レコー
ダ又は波形デジタイザ)やロジツク・アナライザ
がある。波形記憶装置は、アナログ入力信号をア
ナログ・デジタル(A/D)変換器でデジタル信
号に変換し、書込みクロツク信号に同期してこの
デジタル信号をデジタル記憶回路に記憶し、記憶
したデジタル信号をデジタル・アナログ(D/
A)変換器でアナログ信号に変換するものであ
る。なお、波形記憶装置には、アナログ入力信号
を書込みクロツク信号に同期してCCD等のアナ
ログ記憶回路に記憶する型式もある。また、ロジ
ツク・アナイザはロジツク(デジタル)信号を書
込みクロツク信号に同期してデジタル記憶回路に
記憶するものであり、A/D変換器及びD/A変
換器を除けば、原理的には波形記憶装置と類似し
ている。これら信号記憶装置はトリガ信号発生以
前の信号も測定できるため、非常に便利である。
また、トリガ信号の発生に応じて、書込みクロツ
ク信号の周波数を切替ることにより、入力信号の
関心のある部分を詳細に、またその他の部分を大
ざつぱに効率良く測定することもできる。
〔従来技術とその問題点〕
信号記憶装置として波形記憶装置を例とし、そ
の従来例と問題点とを次に説明する。第1図は従
来の波形記憶装置のブロツク図である。入力回路
12は、入力端子10のアナログ入力信号を適当
に振幅に増幅又は減衰して、A/D変換器14及
び比較器16に供給する。クロツク発生器18は
メイン・バス20(データ線、アドレス線及び制
御線から構成される)からの命令に応じた周波数
の第1及び第2書込みクロツク信号を発生する。
これらクロツク信号の内、高周波信号は端子H
に、また低周波信号は端子Lに夫々供給される。
なお、クロツク発生器18は水晶発振器の如き高
周波基準クロツク発生器と、この発生器からの基
準クロツク信号を分周する分周器(カウンタ)
と、この分周器の複数の出力信号から所望周波数
のものを選択するマルチプレクサとから構成され
ている。電子スイツチ21により選択されたクロ
ツク信号により、A/D変換器14はアナログ入
力信号をデジタル信号に変換し、ランダム・アク
セス・メモリ等のデジタル記憶回路22に供給す
る。書込み(W)アドレス発生器24はカウンタ
であり、スイツチ21からのクロツク信号をクロ
ツク端子Cに受ける。
今、バス20から書込み開始命令が書込み/読
出し(W/R)制御回路26に供給されると、こ
の制御回路26はラツチ回路28をリセツトす
る。よつて、ラツチ回路28の出力は「低」レベ
ルとなるので、スイツチ21は端子Lを選択し、
ゲート30はオフとなる。また、制御回路26は
アドレス発生器24をイネーブル(動作可能)と
し、記憶回路22を書込みモードにし、マルチプ
レクサ(MUX)32がアドレス発生器24を選
択するようにする。即ち、低速書込みクロツク信
号に同期して、A/D変換器14からのデジタル
信号が、アドレス発生器24からのアドレス信号
により記憶回路22に記憶される。入力アナログ
信号がポテンシヨンメータ34で設定されたトリ
ガ・レベルを超すと、比較器16がトリガ信号を
発生し、即ちその出力が「高」レベルとなり、ラ
ツチ回路28にラツチされる。よつて、ラツチ回
路28の出力が「高」レベルとなり、スイツチ2
1を切替えるので、トリガ時点以後は高速書込み
クロツク信号に同期して入力信号が記憶回路22
に記憶される。またラツチ回路34はトリガ時点
のアドレス信号をラツチする。更にアンド・ゲー
ト30はオンとなるので、プログラマブル・カウ
ンタであるデジタル遅延回路36はスイツチ21
及びゲート30を介した高速書込みクロツク信号
の計数を開始する。遅延回路36がバス20から
のデータにより設定された値までクロツク信号を
計数すると、制御回路26は書込みモードを停止
して、アドレス発生器24の計数動作及び記憶回
路22の書込み動作を止める。このときのアドレ
ス発生器24のアドレス出力をオフセツト回路3
8にロードする。よつて、記憶回路22は第2図
Aに示すアナログ入力信号に対応するデジタル値
をBに示す書込みクロツク信号により記憶したこ
とになる。なお、第2図において、時点T2はト
リガ時点であり、この時点以後、クロツク信号が
高周波に切替えられている。
バス20から読出しモードが制御回路26に命
令されると、記憶回路22は読出しモードにな
る。また、カウンタである読出し(R)アドレス
発生器40はクロツク発生器42からのクロツク
信号を計数し、アドレス信号を発生する。このア
ドレス信号をD/A変換器44に供給して、表示
の際の水平掃引信号を発生する。記憶回路22の
最も古いデータ(デジタル信号)のアドレスは最
初のアドレス(0000)とは限らないので、アドレ
ス発生器40からのアドレス信号をオフセツト回
路によりオフセツトしてから、マルチプレクサ3
2を介して記憶回路22に供給する。よつて、掃
引信号の開始レベルが、記憶回路22の最も古い
データに対応する。記憶回路22からのデジタル
信号をD/A変換器46によりアナログ信号に戻
し、出力回路48及び出力端子50を介して表示
器52の垂直偏向手段に供給する。また、D/A
変換器44からの掃引信号は、出力回路54及び
出力端子56を介して表示器52の水平偏向手段
に供給する。第1図において表示器52は静電偏
向型陰極線管であるが、D/A変換器46の出力
信号をビデオ信号に変換すれば、ラスタ走査型表
示器を用いてもよい。表示器52には再生された
波形が第3図のように表示される。
なお、バス20には、入力装置としてのキーボ
ード58、マイクロプロセツサ等の中央処理装置
(CPU)60、一時記憶装置としてのランダム・
アクセス・メモリ(RAM)62、及びCPU60
用のプログラムを記憶したリード・オンリ・メモ
リ(ROM)64を接続する。これら装置により
上述のクロツク周波数の設定、書込み又か読出し
モードの開始の制御を行なうと共に、後述の種々
の設定、制御及び演算を行なう。
第3図の表示は、第2図のアナログ入力信号A
を書込みクロツク信号Bに同期して記憶し、再生
した波形であるので、トリガ点TR(時点T2に
対応)を境にして時間軸が異なつている。(読出
しクロツク周波数は一定のため、TRより左側の
表示は水平方向に圧縮されている。)このように
トリガ点TRを境にして書込みクロツク周波数を
切替えることにより、必要な波形部分を詳細かつ
効率的に測定できる。
ところで、再生された信号の所望の2点間の時
間差を測定する必要がある場合がある。この場
合、まず所望の2点を定めるために、キーボード
58で設定した所望の第1及び第2アドレスを
夫々第1及び第2レジスタ66及び68に夫々ロ
ードする。第1デジタル比較器70はレジスタ6
6の内容と読出しアドレスが一致したときに出力
パルスを発生し、オア・ゲート74を介して表示
器52の輝度を制御して第1カーソルC1を表示
する。同様に第2デジタル比較器72はレジスタ
68の内容と読出しアドレスが一致したときに出
力パルスを発生し、表示器52に第2カーソルC
2を表示する。よつて操作者は表示器52の表示
を観察しながら第1及び第2カーソル点を定める
ことができる。
カーソルC1及びC2間の時間差を求めるに
は、ROM64のプログラによりCPU60が以下
の処理を行なう。まず、CPU60がC1のアド
レス及びC2のアドレスと、トリガ点のアドレス
との関係を判断する。トリガ・アドレスはラツチ
34に記憶されており、C1及びC2のアドレス
はレジスタ66及び68に夫々記憶されている。
C1及びC2アドレスが共にトリガ・アドレス前
ならば、C1及びC2アドレス差と低周波書込み
クロツク信号の周期との積を求め、時間差TPと
する。またC1及びC2アドレスが共にトリガ・
アドレス後ならば、C1及びC2アドレス差と高
周波書込みクロツク信号の周期との積を求め、時
間差TAとする。更に、トリガ・アドレスがC1
及びC2アドレス間にある場合は、C1アドレス
及びトリガ・アドレスの差と低周波書込みクロツ
ク信号の周期との積TPを求め、次にトリガ・ア
ドレス及びC2アドレスの差と高周波書込みクロ
ツク信号の周期との積TAを求め、更にTPとTA
の和を求めて時間差とする。これら演算結果は、
文字発生器等(図示せず)により表示器52に表
示する。なお、書込みクロツク信号の周期は
RAM62に記憶されている。
ところで、書込みクロツク信号の周波数、即ち
周期をトリガ時点から切替える従来の方式には次
の2つがある。その1つは、第2図に示す如くト
リガ信号発生したら(時点T2)直ちに書込みク
ロツク信号周波数を切替える方式である。この方
式は、特に書込みクロツク信号を低周波から高周
波に切替える際に、トリガ時点以後の重要な部分
(トランジエント)を取損なうことがない利点を
有する。しかし、トリガ信号の発生は低周波書込
みクロツク信号と同期していないため、トリガ発
生直前のクロツク・パルス発生時点T1とトリガ
時点T2との間の時間が不確定となり、トリガ点
を含む2点間の時間測定が正確に行なえないとい
う欠点がある。この欠点は、第4図に示す如く書
込みクロツク信号を高周波から低周波に切替えた
場合も同様である。即ち、低周波クロツク信号B
は高周波クロツク信号Aを分周したものであるた
め、トリガ点T1と切替えられた低周波クロツク
信号の最初のパルス発生時点T2との間の時間が
不確定となる。
他の従来の方式は、第5図に示す如く、トリガ
信号が時点T2で発生しても、直ちに書込みクロ
ツク周波数を切替えず、トリガ発生時点までの第
1クロツク信号に同期して周波数を切替えてい
る。即ち、トリガ時点T2後の第1クロツク信号
(低周波書込みクロツク信号)の最初のパルス発
生時点T3において、第2クロツク信号(高周波
書込みクロツク信号)に切替えている。よつて、
書込みクロツク信号はトリガ発生時点において不
確定なパルス周期を含まないので、トリガ点を含
む2点間の時間測定が正確に行なえるという利点
がある。しかし、トリガ時点T2及び時点T3間
に発生したトランジエントを測定できないという
欠点を有する。これら2つの方式をロジツク・ア
ナライザに適用しても、同様な欠点が生じる。
〔発明の目的〕
したがつて、本発明の目的は、トリガ信号が発
生すると直ちに書込みクロツク信号周波数を切替
えると共に、トリガ点を間に含んだ2点間の正確
な時間を測定できる信号測定装置の提供にある。
〔発明の概要〕
本発明の信号測定装置は、切替手段によりトリ
ガ信号が発生すると書込みクロツク信号を第1ク
ロツク信号からこの第1クロツク信号と周波数の
異なる第2クロツク信号に切替えている。即ち、
トリガ信号が発生後書込みクロツク信号の周波数
を直ちに切替えているので、入力信号の重要な部
分、例えばトランジエントを測定し損なうことが
なく、正確な測定が行なえる。また、測定手段が
書込みクロツク信号における第1クロツク信号の
最後のパルスから第2クロツク信号の最初のパル
スまでの時間を測定している。よつて、トリガ信
号による書込みクロツク信号周波数切替に伴なう
不確定時間を測定できるので、トリガ点を間に含
む2点間の時間も正確に測定できる。
〔発明の実施例〕
以下、添付図を参照して本発明の好適な実施例
について説明する。なお、本発明は第1図の信号
記憶装置を部分的に変更したものであるので、変
更した部分についてのみ説明する。第6図は本発
明の第1実施例の部分的ブロツク図である。第1
図と異なる点は、カウンタ76及びインバータ7
8を設けたことである。クロツク発生器18は上
述の如く、H端子に第1クロツク信号としての高
周波クロツク信号Aを発生し、L端子に第2クロ
ツク信号としての低周波クロツク信号Bを発生す
る。また時点T2において、比較器16がトリガ
信号を発生すると、ラツチ回路28の出力が
「低」レベルから「高」レベルに変化するので、
電子スイツチ(切替手段)21は端子Lから端子
Hを選択して、その出力を書込みクロツク信号と
して周波数を切替える。よつて、信号A,B及び
Cの関係は第7図のようになる。
カウンタ76はそのリセツト端子Rに低周波ク
ロツク信号Bを受け、クロツク端子Cに高周波ク
ロツク信号Aを受ける。インバータ78はラツチ
回路28の出力信号を反転してカウンタ76のイ
ネーブル端子Eに供給する。よつて、トリガ発生
時点以前において、カウンタ76はイネーブルさ
れて動作状態にあり、高周波クロツク信号Aを計
数すると共に、低周波クロツク信号Bのパルスが
発生する毎にリセツトされ、新たにクロツク信号
Aの計数を行なう。時点T2においてクロツク信
号が発生すると、カウンタ76のE端子は「高」
レベルから「低」レベルに変化するので、カウン
タ76は計数動作を停止する。このときのカウン
タ76の計数値は、トリガ発生時点T2以前の低
周波クロツク信号Bの最後のパルス発生時点T1
からトリガ発生時点T2までの間に発生した高周
波クロツク信号Aのパルス数である。このパルス
数と高周波クロツク周期の積を求めれば、時点T
1及びT2間の時間が求まる。したがつて、従来
では不確定とされた時点T1及びT2間の時間を
カウンタ76が測定したことになる。よつて、カ
ウンタ76は測定手段として動作する。トリガ点
を含む2点間の時間を測定する場合には、カウン
タ76の内容をCPU60が読取り、その値を考
慮すればよい。なお、この第6図の実施例は書込
みクロツク信号を低周波から高周波に切替える場
合に適用できる。
第8図は本発明の第2実施例の部分的ブロツク
図である。クロツク発生器18はバス20からの
データに応じた高周波クロツク信号A及び低周波
クロツク信号Bを夫々端子H及びLに発生する。
ラツチ回路28の出力信号Cは直接又はインバー
タ80を介して電子スイツチ82に供給する。ラ
ツチ回路84はバス20からのデータをラツチ
し、スイツチ82を制御する。スイツチ82が選
択した信号はスイツチ21を制御する。アンド・
ゲート86は低周波クロツク信号B及びラツチ回
路28の出力信号Cを受ける。Dフリツプ・フロ
ツプ88はそのクロツク端子にアンド・ゲート8
6の出力信号を受け、D端子に「高」レベルを受
け、そのQ出力信号Dを排他的オア・ゲート90
に供給する。ゲート90は更にバツフア回路92
及び94を介してラツチ回路28の出力信号Cを
受ける。カウンタ76はそのイネーブル端子Eに
ゲート90の出力信号Eを受け、クロツク端子C
にバツフア回路96,98及び100を介して高
周波クロツク信号Aを受け、その計数出力をバス
20に転送する。ラツチ回路28、フリツプ・フ
ロツプ88及びカウンタ76は、書込みモードの
開始において、制御回路26によりリセツトされ
る。なお、バツフア回路92及び94はゲート9
0の2つの入力信号のタイミングを補償するもの
であり、バツフア回路96,98及び100はカ
ウンタ76のクロツク信号及びイネーブル信号の
タイミングを補償するものである。
次に第9図の波形図を参照して第8図の動作を
説明する。なお、この波形図においては、各素子
の伝搬遅延時間は無視している。第1クロツク信
号が低周波で第2クロツク信号が高周波の場合
は、スイツチ82がラツチ回路28を選択するの
で、スイツチ21は初め低周波クロツク信号Bを
選択している。また、ラツチ回路28の出力信号
Cは「低」レベルなので、ゲート86はオフであ
り、フリツプ・フロツプ88はクロツクされず、
そのQ出力信号Dも「低」レベルである。一方、
ゲート90の2入力は共に「低」レベルなので、
その出力信号Eも「低」レベルであり、カウンタ
76はイネーブルされず、高速クロツク信号Aを
計数しない。
時点T2において、比較器16がトリガ信号を
発生すると、ラツチ回路28の出力信号Cが
「高」レベルに変化する。よつてアンド・ゲート
86がオンになると共に、排他的オア・ゲート9
0の出力信号Eも「高」レベルに変化する。な
お、このとき信号Dは依然「低」レベルであるこ
とに注意されたい。一方、ラツチ回路28の出力
信号Cはスイツチ21の接続を切替え、その出力
である書込みクロツク信号Fを第1クロツク信号
から第2クロツク信号に、即ち低周波から高周波
に切替える。時点T2以後、カウンタ76はイネ
ーブルされるので、高周波クロツク信号Aの計数
を行なう。時点T2以後、低周波クロツク信号B
の最初のパルスが時点T3においてアンド・ゲー
ト86を通過して、Dフリツプ・フロツプをクロ
ツクすると、そのQ出力信号Dが「高」レベルに
変化する。よつて、排他的オア・ゲート90の出
力信号Eが「低」レベルに変化し、カウンタ76
は計数動作を停止する。したがつて、カウンタ7
6の計数値は、時点T2及びT3間における高周
波クロツク信号Aのパルス数である。
しかし書込みクロツク信号Fにおける不確定時
間は、時点T1及びT2間の時間なので、この時
間を求めなければならない。CPU60は高周波
クロツク信号A及び低周波クロツク信号Bの周波
数から、クロツク信号Bの1周期期間に発生する
クロツク信号Aのパルスの総数を計数する。時点
T1及びT3間はクロツク信号Bの1周期に対応
するので、CPU60は計数した総数からカウン
タ76の計数値を減算し、減算結果にクロツク信
号Aの周期を掛けて、時点T1及びT2間の時間
を求める。このように、この場合、カウンタ76
及び演算手段であるCPU60が、書込みクロツ
ク信号における第1クロツク信号の最後のパルス
から第2クロツク信号の最初のパルスまでの時間
を測定する測定手段として作用する。よつて、ト
リガ点を間に含む2点間の時間測定が正確に行な
える。
また、第1クロツク信号が高周波で第2クロツ
ク信号が低周波の場合は、スイツチ82がインバ
ータ80を選択するので、スイツチ21は初め高
周波クロツク信号Aを選択しており、トリガ信号
が発生すると低周波クロツク信号Bを選択してい
る。よつて、書込みクロツク信号はGとなる。第
8図のその他の回路動作は上述の通りである。書
込みクロツク信号Gにおいて不確定時間は時点T
2及びT3間の時間であり、この時間はカウンタ
76の計数値に対応する。よつて、カウンタ76
が測定手段として作用する。
第10図は本発明の第3実施例の部分的ブロツ
ク図である。この実施例において、クロツク発生
器18は、高周波パルスを発生る水晶発振器の如
き基準クロツク発生器102と、この基準クロツ
ク発生器102からの基準クロツク信号を分周す
る適当なN進カウンタ(Nは任意の正の整数)1
04と、バス20からのデータに応じてこのカウ
ンタ104の複数の分周出力信号から所望の出力
信号を選択する、即ち複数ビツトの計数出力から
所望の出力ビツトを選択するマルチプレクサ
(MUX)106及び108とを含んでいる。な
お、マルチプレクサ106及び108はバス20
からのデータをラツチするラツチ部を具えてお
り、マルチプレクサ108の選択したクロツク信
号周波数は常にマルチプレクサ106の選択した
クロツク信号周波数よりも高い。よつて、端子H
及びLに高周波クロツク信号A及び低周波クロツ
ク信号Bが夫々発生し、ラツチ回路28の出力信
号Cに応じてスイツチ21がこれらクロツク信号
の一方を選択する。インバータ110はラツチ回
路28の出力信号Cを反転し、アンド・ゲート1
12は低周波クロツク信号B及びインバータ11
0の出力信号Dを受ける。ラツチ回路114はア
ンド・ゲート112の出力信号Eに応じてカウン
タ104の計数値をラツチし、ラツチ回路116
はラツチ回路28の出力信号Cに応じてカウンタ
104の計数値をラツチする。
次に第11図の波形図を参照して第10図の動
作を説明する。初めにラツチ回路28は制御回路
26によりリセツトされるため、出力信号Cは
「低」レベルである。よつて、スイツチ21は低
周波クロツク信号Bを選択する。また、インバー
タ110の出力信号Dは「高」レベルのため、ア
ンド・ゲート112は低周波クロツク信号Bを通
過させる。ラツチ回路114は低周波クロツク信
号Bのパルスが発生する毎に、カウンタ104の
計数値をラツチする。時点T2において、比較器
16がトリガ信号を発生すると、ラツチ回路28
の出力信号Cが「高」レベルに変化し、インバー
タ110の出力信号Dが「低」レベルに変化す
る。よつて、スイツチ21は高周波クロツク信号
Aを選択する。また、アンド・ゲート112はオ
フとなり、ラツチ回路114にラツチされた計数
値は以後更新されない。即ち、ラツチ回路114
には、トリガ時点T2の直前に発生した低周波ク
ロツク信号Bのパルス(時点T1)によりラツチ
されたカウンタ104の計数値が保持されてい
る。また、パルスCの変化によりラツチ回路11
6は時点T2におけるカウンタ104の計数値を
ラツチする。CPU60はラツチ114及び11
6の内容を読取り、時点T2の計数値と時点T1
の計数値の差を求める。基準クロツク発生器10
2の発振周期は既知であるので、求めた計数値の
差にこの発振周期を掛けることにより、時点T1
及びT2間の時間が測定できる。よつて、ラツチ
回路114及び116並びに演算手段としての
CPU60が測定手段として作用する。この実施
例は書込みクロツク信号Fの第1クロツク信号が
低周波で第2クロツク信号が高周波の場合、即ち
低周波から高周波に切替える場合に適用できる。
第12図は本発明の第4実施例の郎分的ブロツ
ク図であり、第8図及び第10図の実施例を組合
せたものである。即ち、クロツク発生器18の構
成は第10図の実施例と同じであり、素子21,
28,80〜94の接続は第8図の実施例と同じ
である。ラツチ回路114は排他的オア・ゲート
90の出力信号Eの立上りに応じてカウンタ10
4の計数値をラツチする。またインバータ118
が出力信号Eを反転してラツチ回路116に加え
るので、ラツチ回路116は出力信号Eの立下り
に応じてカウンタ104の計数値をラツチする。
次に第13図の波形図を参照して第12図の動
作を説明する。書込みモードにおいて、制御回路
26はラツチ回路28及びDフリツプ・フロツプ
88をリセツトする。第1クロツク信号が低周波
で第2クロツク信号が高周波の場合は、スイツチ
82がラツチ回路28を選択するので、スイツチ
21は初め低周波クロツク信号Bを選択してい
る。また、ラツチ回路28の出力信号Cは「低」
レベルなので、ゲート86はオフであり、フリツ
プ・フロツプ88はクロツクされず、そのQ出力
信号Dも「低」レベルである。一方、排他的オ
ア・ゲート90の2入力は共に「低」レベルなの
で、その出力信号Eも「低」レベルであり、ラツ
チ回路114及び116はカウンタ104の計数
値をラツチしない。
時点T2において、比較器16がトリガ信号を
発生すると、ラツチ回路28の出力信号Cが
「高」レベルに変化する。よつてアンド・ゲート
86がオンになると共に、排他的オア・ゲート9
0の出力信号Eも「高」レベルに変化する。よつ
て、ラツチ回路114は時点T2におけるカウン
タ104の計数値をラツチする。なお、このとき
信号Dは依然「低」レベルであることに注意され
たい。一方、ラツチ回路28の出力信号Cはスイ
ツチ21の接続を切替え、その出力である書込み
クロツク信号Fを第1クロツク信号から第2クロ
ツク信号に、即ち低周波から高周波に切替える。
時点T2以後、低周波クロツク信号Bの最初のパ
ルスが時点T3においてアンド・ゲート86を通
過して、Dフリツプ・フロツプをクロツクする
と、そのQ出力信号Dが「高」レベルに変化す
る。よつて、排他的オア・ゲート90の出力信号
Eが「低」レベルに変化し、ラツチ回路116は
時点T3におけるカウンタ104の計数値をラツ
チする。CPU60はラツチ回路114及び11
6にラツチされた計数値の差を求め、この差に基
準クロツク周期を掛けて時点T2及びT3間の時
間を演算する。
しかし書込みクロツク信号Fにおける不確定時
間は、時点T1及びT2間の時間なので、この時
間を求めなければならない。時点T1及びT3間
はクロツク信号Bの1周期に対応するので、
CPU60はこの1周期の時間から、求めた時点
T2及びT3間の時間を減算して、時点T1及び
T2間の時間を求める。このように、この場合、
ラツチ回路114及び116並びに演算手段であ
るCPU60が、測定手段として作用する。よつ
て、トリガ点を間に含む2点間の時間測定が正確
に行なえる。
また、第1クロツク信号が高周波で第2クロツ
ク信号が低周波の場合は、スイツチ82がインバ
ータ80を選択するので、スイツチ21は初め高
周波クロツク信号Aを選択しており、トリガ信号
が発生すると低周波クロツク信号Bを選択してい
る。よつて、書込みクロツク信号はGとなる。第
12図のその他の回路動作は上述の通りである。
書込みクロツク信号Gにおいて不確定時間は時点
T2及びT3間の時間であり、この時間はラツチ
回路114及び116がラツチしたカウンタ10
4の計数値の差に対応する。
第14図は本発明の信号記憶装置により記憶し
た入力信号を再生し、所望の2点間の時間を測定
する流れ図である。この流れ図に基づいたプログ
ラムがROM64内に記憶されており、CPU60
の処理を制御する。ステツプ120において、操
作者はキーボード58により第1カーソルを設定
する。即ち第1カーソルのアドレスがRAM62
及びレジスタ66に記憶される。同様にステツプ
122において第2カーソルを設定し、そのアド
レスをRAM62及びレジスタ68に記憶する。
すると表示器52の表示は例えば第3図のように
なる。ステツプ124において、CPU60は第
1及び第2カーソルのアドレス並びにラツチ回路
34に記憶されたトリガ・アドレスを比較し、第
1及び第2アドレス間にトリガ・アドレスを含む
か否かを判断する。この判断結果が肯定の場合、
ステツプ126に進み、上述の如く書込みクロツ
ク信号における第1クロツク信号の最後のパルス
から第2クロツク信号の最初のパルスまでの時間
TCを計算する。ステツプ128では、第1カー
ソルのアドレスと、トリガ信号が発生する直前の
第1クロツク信号のパルスに対応するアドレスと
の差を求め、この差に第1クロツク信号の周期を
掛けて、第1カーソル点からトリガ信号発生直前
の第1クロツク信号のパルス発生時までの時間
TPを計算する。次のステツプ130では、トリ
ガ信号が発生後最初の第2クロツクのパルスに対
応するアドレスと、第2カーソルのアドレスとの
差を求め、この差に第2クロツク信号の周期を掛
けて時間TAを計算する。ステツプ132で、計
算した時間TC,TP及びTAの和を求めれば、第
1及び第2カーソル間の正確な時間が得られる。
次にステツプ134において、第1及び第2カー
ソル間の時間は、適当な文字発生器等を用いて表
示器52に表示する。
ステツプ124の判断結果が否定の場合は、ス
テツプ136に進み、第1及び第2カーソルがト
リガ点よりも前か否かを判断する。この判断結果
が肯定の場合、ステツプ138に進み、第1及び
第2カーソルのアドレスの差と第1クロツク信号
の周期との積を求め、第1及び第2カーソル間の
時間TPとする。またステツプ136の判断結果
が否定の場合はステツプ140に進み、第1及び
第2カーソルのアドレスの差と第2クロツク信号
の周期との積を求め、第1及び第2カーソル間の
時間TAとする。ステツプ138及び140はス
テツプ134に進む。
上述は本発明の好適な実施例についてのみ説明
したが、当業者には本発明の要旨を逸脱すること
なく種々の変更が可能なことが明らかであろう。
例えば、第6図及び第8図の実施例において、カ
ウンタ76は設定した高周波クロツク信号よりも
高周波の所定の基準クロツク信号を計数してもよ
い。また本発明をロジツク・アナライザに適用す
る場合は、比較器16の代りにワード・リコグナ
イザによりトリガ信号を発生すればよい。
〔発明の効果〕
上述の如く本発明の信号記憶装置によれば、記
憶回路に入力信号を記憶する際、トリガ信号の発
生に応じて書込みクロツク周波数を直ちに切替え
られるので、所望の入力信号部分を確実に記憶で
きる。また、書込みクロツク周波数の切替えの際
の書込みクロツク・パルス間に不確定時間が発生
するが、この時間を測定するので、再生信号の時
間測定が正確となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は信号記憶装置の一例のブロツク図、第
2図は従来の信号記憶装置の動作を説明する波形
図、第3図は信号記憶装置の再生信号の表示を示
す図、第4図及び第5図は従来の信号記憶装置の
動作を説明する波形図、第6図は本発明の第1実
施例の部分的なブロツク図、第7図は第6図の動
作を説明する波形図、第8図は本発明の第2実施
例の部分的なブロツク図、第9図は第8図の動作
を説明する波形図、第10図は本発明の第3実施
例の部分的なブロツク図、第11図は第10図の
動作を説明する波形図、第12図は本発明の第4
実施例の部分的なブロツク図、第13図は第12
図の動作を説明する波形図、第14図は本発明を
用いた時間測定の流れ図である。 図において、18はクロツク発生器、21は切
替手段、22は記憶回路、60は演算手段、76
はカウンタ、102は基準クロツク発生器、10
4はカウンタ、114及び116はラツチ回路で
ある。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 クロツク発生器からのクロツク信号に同期し
    て入力信号を記憶回路に記憶する信号記憶装置に
    おいて、トリガ信号が発生すると上記クロツク信
    号を第1クロツク信号から該第1クロツク信号と
    周波数の異なる第2クロツク信号に切替えて書込
    みクロツク信号とする切替手段と、上記書込みク
    ロツク信号における上記第1クロツク信号の最後
    のパルスから上記第2クロツク信号の最初のパル
    スまでの時間を測定する側定手段とを具えたこと
    を特徴とする信号測定装置。 2 上記測定手段は上記書込みクロツク信号にお
    ける上記第1クロツク信号の最後のパルスから上
    記第2クロツク信号の最初のパルスまでの期間、
    上記第1クロツク信号及び上記第2クロツク信号
    の内の周波数の高い方を計数するカウンタである
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の信
    号測定装置。 3 上記測定手段は上記書込みクロツク信号にお
    ける上記第2クロツク信号の最初のパルスから上
    記第1クロツク信号の最後のパルスの次のパルス
    までの期間、上記第1クロツク信号及び上記第2
    クロツク信号の内の周波数の高い方を計数するカ
    ウンタと、上記第1クロツク信号及び上記第2ク
    ロツク信号の周波数並びに上記カウンタの計数値
    から上記書込みクロツク信号における上記第1ク
    ロツク信号の最後のパルス及び上記第2クロツク
    信号の最初のパルス間の時間を求める演算手段と
    を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の信号記憶装置。 4 上記クロツク発生器は基準クロツク信号を発
    生する基準クロツク発生器と、上記基準クロツク
    信号を分周して複数のクロツク信号を発生するカ
    ウンタと、上記複数のクロツク信号を選択して上
    記第1クロツク信号及び上記第2クロツク信号と
    する選択手段とを有し、上記測定手段は上記書込
    みクロツク信号における上記第1クロツク信号の
    最後のパルスが発生したとき上記カウンタの計数
    値をラツチする第1ラツチ回路と、上記書込みク
    ロツク信号における上記第2クロツク信号の最初
    のパルスが発生したときの上記カウンタの計数値
    をラツチする第2ラツチ回路と、上記第1ラツチ
    回路及び上記第2ラツチ回路にラツチされた計数
    値の差を求める演算手段とを有することを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の信号記憶装置。 5 上記クロツク発生器は基準クロツク信号を発
    生する基準クロツク発生器と、上記基準クロツク
    信号を分周して複数のクロツク信号を発生するカ
    ウンタと、上記複数のクロツク信号を選択して上
    記第1クロツク信号及び上記第2クロツク信号と
    する選択手段とを有し、上記測定手段は上記書込
    みクロツク信号における上記第2クロツク信号の
    最初のパルスが発生したとき上記カウンタの計数
    値をラツチする第1ラツチ回路と、上記書込みク
    ロツク信号における第1クロツク信号の最後のパ
    ルスの次のパルスが発生したとき上記カウンタの
    計数値をラツチする第2ラツチ回路と、上記第1
    クロツク信号及び上記第2クロツク信号の周波数
    並びに上記第1ラツチ回路及び上記第2ラツチ回
    路にラツチされた計数値から上記書込みクロツク
    信号における上記第1クロツク信号の最後のパル
    ス及び上記第2クロツク信号の最初のパルス間の
    時間を求める演算手段とを有することを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の信号記憶装置。
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