JPS643077Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は回路テスタに接続して用いるテスト
棒の改良に関する。

通常、電子機器の調整、試験、配線チエツク、
トラブルシユートにおいてダイオードやトランジ
スタ等の半導体部品の順抵抗、逆抵抗のチエツク
を行う場合には回路テスタを常用するが、このと
き部品に加える電圧極性を交互に換えて抵抗測定
する必要がある。

一般に回路テスタはその電極毎に１個のテスト
棒を接続して用いるため、それぞれのテスト棒に
は一定の極性しか取り出すことができない。この
ため、従来半導体部品の順抵抗、逆抵抗のチエツ
クを行うには、回路テスタに接続した一対のテス
ト棒のテスト端子をチエツクすべき部品或はその
部品が実装されたプリント基板のリード端子或は
配線パターンに接触してメータの抵抗値を読み、
次いで部品に加える電圧極性を反対にするため一
対のテスト棒を交互に持ち替え或は部品のリード
線やプリント基板のパターンを反対にした後、再
びテスト端子を部品のリード端子やプリント基板
の配線パターンに接触して抵抗値を読み、この抵
抗値を比較することにより行つているが、下記に
列挙する不都合があつた。

テスト端子を部品のリード線等に接触して抵
抗値を読む作業を反復し、しかもテスト棒の持
ち替えや部品のリード端子を反対にする作業も
あるため、工程が煩雑となり手数がかかる。

部品の測定中に回路テスタのレンジ切換を必
要とする場合が少なくなくこのとき回路テスタ
の零調整を必要とし、このため折角接触したテ
スト端子を部品のリード端子等から外し、この
テスト端子同志を接触して短絡状態にして零調
整を行つた後、再び上述の操作により抵抗測定
作業を再開するので作業能率が悪い。

プリント基板に実装した部品をチエツクする
場合、テスト端子先端の針先部分を配線パーン
面に何度も反復して突き当てるので配線パター
ン面に多数の傷がつき、また配線パターン面に
コーテイングが施されているときはそのコーテ
イングを突き破るためコーテイング面に多数の
傷がつき、品質上好ましくない。

この考案は上記した従来の欠点を解消すること
を目的とし、一対のテスト棒のうち一方の把手に
２極双投形の切換スイツチを固定して該把手を把
持する手の指先による該スイツチの切換操作によ
り、回路テスタの電極を一対のテスト棒のテスト
端子に反転自在に取り出すことができ、かつ短絡
することができるように回路構成したもので、一
度部品のリード線等にテスト端子を接触するだけ
で部品に加える電圧極性を反転して抵抗測定する
ことができ、また回路テスタの零調整を可能とし
たことを特徴とする極性切換スイツチ付テスト棒
を提供しようとするものである。

以下この考案の一実施例を図面を用いて説明す
る。

この考案に係るテスト棒は第１図に示すように
一対のテスト棒１，１′を含み、このテスト棒１，
１′はいずれも金属製のテスト端子１１，１１′の
一端部が絶縁物製の把手１２，１２′に固定され
ている。またテスト棒１にはその把手１２の外周
部下端近傍にその操作部を外に向けてマイクロス
イツチ１３が固定されており、把手１２を握つた
ときその指先でスイツチ操作を容易になしうるよ
うになつている。さらにテスト棒１の把手１２の
上部からは３本のリード線１４，１５，１６が引
き出されており、１４および１５は回路テスタ２
の極端子２１および２２に接続するリード線、１
６は一方のテスト棒１′の把手１２′の上部から導
入されてテスト端子１１′に接続するリード線で
ある。次にこれらテスト端子１１，１１′、マイ
クロスイツチ１３およびリード線１４，１５，１
６の相互の電気的接続関係について第２図の回路
図を用いて説明する。マイクロスイツチ１３は２
つの切換スイツチS₁，S₂を有する２極双投形のも
ので、S₁，S₂はＡ方向の押圧又はその解除により
回路が切換えられる。S₁は回路テスタ２の一方の
極性をテスト端子１１と１１′に切換えて取り出
すスイツチで、その共通端子C₁はリード線１４
に、常閉端子NC₁はテスト端子１１に、常開端子
NO₁はリード線１６を介してテスト端子１１′に
それぞれ接続されている。一方S₂は回路テスタ２
の他方の極性をテスト端子１１′と１１に切換え
て取り出すスイツチで、その共通端子C₂はリー
ド線１５に、常閉端子NC₂はリード線１６を介し
てテスト端子１１′に、常開端子NO₂はテスト端
子１１にそれぞれ接続されている。またスイツチ
S₁の常閉端子NC₁および常開端子NO₁はスイツチ
S₂の常開端子NO₂および常閉端子NC₂にそれぞれ
接続されている。したがつて、このテスト棒は第
２図に示すような常態、すなわちマイクロスイツ
チ１３のスイツチS₁およびS₂を共に押圧操作しな
いときは回路テスタ２の一方の極性はリード線１
４、スイツチS₁を介してテスト端子１１に取り出
され、他方の極性はリード線１５、スイツチS₂、
リード線１６を介してテスト端子１１′に取り出
される。またマイクロスイツチ１３のスイツチS₁
およびS₂を共に矢印Ａ方向に押圧操作するとスイ
ツチの回路切換作用により回路テスタ２の一方の
極性はリード線１４、スイツチS₁、リード線１６
を介してテスト端子１１′に、他方の極性はリー
ド線１５、スイツチS₂、を介してテスト端子１１
に切換つて取り出される。なお常態に復旧させる
にはスイツチS₁およびS₂の押圧力を解除すればよ
いことは勿論である。またマイクロスイツチ１３
のスイツチS₁またはS₂のいずれか一方のみを矢印
Ａ方向に押圧操作すると回路テスタの両極はリー
ド線１４、スイツチS₁，S₂およびリード線１５を
通じて短絡状態になる。

次に上記のように構成したテスト棒による半導
体部品の順抵抗、逆抵抗のチエツク作用を説明す
る。

先ず第１図に示すように回路テスタ２の極端子
２１，２２にテスト棒のリード線１４，１５の先
端をそれぞれ接続する。それからテスト棒１，
１′の把手１２，１２′を把持し、チエツクすべき
半導体部品の両端から延びるリード端子或はそれ
が実装されたプリント基板の配線パターンにテス
ト棒１，１′を近づけてテスト端子１１，１１′を
それぞれ接触し、メータ２３の抵抗値を読む。次
にこの状態、すなわち半導体部品のリード端子等
にテスト端子１１，１１′を接触した状態を維持
してテスト棒１の把手１２を把持した手の指先で
その下端近傍にあるマイクロスイツチ１３のスイ
ツチS₁およびS₂の操作部を共に押圧操作するとス
イツチS₁およびS₂の回路切換用によりテスト端子
１１，１１′の極性が反転し、したがつて半導体
部品には極性が反転して電圧印加される。ここで
メータ２３の抵抗値を読み、先の抵抗値と比較す
ることにより、この半導体部品の順抵抗、逆抵抗
のチエツクをすることができる。したがつて従来
のようにテスト棒の持ち替えや部品のリード端子
を反対にする作業を要することなく、またテスト
棒の部品のリード端子やプリント基板の配線パタ
ーンへの接触を反復することなく、一度の接触作
業のみで半導体部品の順抵抗、逆抵抗のチエツク
をすることができる。

また、半導体部品の抵抗測定中に回路テスタの
レンジ切換の必要が生じた場合、その測定操作状
態のままで回路テスタの零調整をし、測定作業を
続行することができる。すなわち、テスト棒１，
１′のテスト端子１１，１１′を半導体部品のリー
ド端子或はそれが実装されたプリント基板の配線
パターンに接触して抵抗測定中にレンジを切換え
なければならないとき、従来のように部品のリー
ド線等からテスト端子を外すことなくその測定状
態のままでテスト棒１の把手１２を把持する手の
指先でその下端近傍にあるマイクロスイツチ１３
のスイツチS₁またはS₂のいずれか一方の操作部を
押圧操作すると回路テスタの両極は短絡状態にな
り、従来のテスト棒の端子短絡と同一の効果が得
られるので、そこでその零調整を行い、ついで引
き続きマイクロスイツチ１３のスイツチS₁，S₂を
操作することにより抵抗測定作業を再開続行する
ことができる。

以上の説明より明らかなように、この考案に係
るテスト棒によれば、半導体部品の順抵抗、逆抵
抗のチエツクをする場合、テスト端子を部品のリ
ード端子等に接触した状態のままで切換スイツチ
の簡単な操作によりその部品に加える電圧極性を
反転して抵抗測定することができ、また回路テス
タの零調整をすることができるので、テスト端子
の部品のリード端子等への接触作業が一度で済
み、したがつて従来のものに比し作業時間が大幅
に短縮され、また半導体部品が実装されたプリン
ト基板の配線パターンやコーテインングの傷が大
幅に減少される利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案に係るテスト棒を回路にテス
タに接続した状態の平面図、第２図はこの考案に
係るテスト棒の回路図である。 １，１′……テスト棒、１１，１１′……テスト
端子、１２，１２′……把手、１３……マイクロ
スイツチ、２……回路テスタ、２１，２２……極
端子。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 回路テスタに接続して用いるテスト棒におい
   て、把手に固定した一対のテスト端子と２極双投
   形切換スイツチを有し、該２極双投形切換スイツ
   チの切換操作により一対のテスト端子の電極が反
   転可能にかつ短絡可能に電気的回路構成したこと
   を特徴とする極性切換スイツチ付テスト棒。