JPS645376B2 - - Google Patents
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- JPS645376B2 JPS645376B2 JP8593181A JP8593181A JPS645376B2 JP S645376 B2 JPS645376 B2 JP S645376B2 JP 8593181 A JP8593181 A JP 8593181A JP 8593181 A JP8593181 A JP 8593181A JP S645376 B2 JPS645376 B2 JP S645376B2
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 10
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B17/00—Guiding record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor
- G11B17/34—Guiding record carriers during transducing operation, e.g. for track following
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B21/00—Head arrangements not specific to the method of recording or reproducing
- G11B21/02—Driving or moving of heads
- G11B21/10—Track finding or aligning by moving the head ; Provisions for maintaining alignment of the head relative to the track during transducing operation, i.e. track following
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は位置検出装置、特に光を回折する部分
を有する対象物体上の前記回折効果を有する部分
から光スポツトがずれているいわゆるトラツキン
グ誤差を正確に検出することのできる位置検出装
置に関する。
を有する対象物体上の前記回折効果を有する部分
から光スポツトがずれているいわゆるトラツキン
グ誤差を正確に検出することのできる位置検出装
置に関する。
一般に、光を回折する部分を有する対象物体上
の前記回折効果を有する部分は、帯状に設けられ
ているか、あるいは制御対象となる低周波領域で
実質的に帯状に形成されているとみなせるので、
光スポツトをこの帯状の上にあるように制御する
ことをトラツキング制御と称することにする。
の前記回折効果を有する部分は、帯状に設けられ
ているか、あるいは制御対象となる低周波領域で
実質的に帯状に形成されているとみなせるので、
光スポツトをこの帯状の上にあるように制御する
ことをトラツキング制御と称することにする。
トラツキング誤差を検出する手段として、対象
物体上の情報トラツク（以下トラツクと称す）の
位置から回折反射される光の遠視野像（フアーフ
イールドパターン）上の不平衡量を検出する方法
がある。これをフアーフイールド方式と称し、こ
れについて第１図及び第２図を用いて説明する。
物体上の情報トラツク（以下トラツクと称す）の
位置から回折反射される光の遠視野像（フアーフ
イールドパターン）上の不平衡量を検出する方法
がある。これをフアーフイールド方式と称し、こ
れについて第１図及び第２図を用いて説明する。
第１図はフアーフイールド方式の原理説明図で
あり、１は対物レンズ、２は対象物体であるデイ
スク、３は前記デイスク２上に形成されたピツト
である。前記デイスク２上には前記ピツト３が多
数形成されており、情報はこれらピツト３の形で
前記デイスク２に記録されているのである。４は
入射光束であり、該入射光束４は前記対物レンズ
１によりデイスク２上に集束されているものとす
る。
あり、１は対物レンズ、２は対象物体であるデイ
スク、３は前記デイスク２上に形成されたピツト
である。前記デイスク２上には前記ピツト３が多
数形成されており、情報はこれらピツト３の形で
前記デイスク２に記録されているのである。４は
入射光束であり、該入射光束４は前記対物レンズ
１によりデイスク２上に集束されているものとす
る。
もし、光スポツトがピツト３上に左右のずれな
く乗つているとすると、第１図ａの実線イで示す
ように、デイスク２からの反射光は左右対象とな
る。もちろんピツト３が無いところでは、第１図
ｂの実線ロで示すように左右対象である。しか
し、光スポツトがピツト３からはずれると、第１
図ｃの実線ハで示すように、デイスク２からの反
射光は左右の光量に不平衡が生じる。
く乗つているとすると、第１図ａの実線イで示す
ように、デイスク２からの反射光は左右対象とな
る。もちろんピツト３が無いところでは、第１図
ｂの実線ロで示すように左右対象である。しか
し、光スポツトがピツト３からはずれると、第１
図ｃの実線ハで示すように、デイスク２からの反
射光は左右の光量に不平衡が生じる。
このように、光スポツトがピツト３からはずれ
たときに生じるフアーフイールドパターンの左右
の不平衡成分によりトラツキング誤差を検出する
のがフアーフイールド方式の原理である。
たときに生じるフアーフイールドパターンの左右
の不平衡成分によりトラツキング誤差を検出する
のがフアーフイールド方式の原理である。
第２図はフアーフイールド方式の代表的な光学
系の構成図であり、５は半導体レーザダイオー
ド、６はコリメートレンズ、７はビームスプリツ
タ、８は２分割光検出器である。半導体レーザダ
イオード５から出た光（図中破線で示す）はコリ
メートレンズ６で平行光とされ、ビームスプリツ
タ７及び対物レンズ１を通りデイスク２のトラツ
ク部（図の場合はピツト３）に集束される。デイ
スク２からの反射光（図中実線で示す）は対物レ
ンズ１及びビームスプリツタ７を通り２分割光検
出器８に入射する。
系の構成図であり、５は半導体レーザダイオー
ド、６はコリメートレンズ、７はビームスプリツ
タ、８は２分割光検出器である。半導体レーザダ
イオード５から出た光（図中破線で示す）はコリ
メートレンズ６で平行光とされ、ビームスプリツ
タ７及び対物レンズ１を通りデイスク２のトラツ
ク部（図の場合はピツト３）に集束される。デイ
スク２からの反射光（図中実線で示す）は対物レ
ンズ１及びビームスプリツタ７を通り２分割光検
出器８に入射する。
以上のように、フアーフイールド方式は光学系
が簡単であるという利点を有しているが、デイス
ク２の反射面の傾きにより誤つたトラツキング信
号を発生するという問題がある。すなわち、第３
図に示すように、デイスク２の反射面が入射光の
光軸に対して直交する姿勢からずれて傾いている
と、光スポツトが第３図ａのように丁度トラツク
上のピツト３部分にあつても反射光ニは左右不平
衡になる。またトラツク上のピツト３とピツト３
との間でも第３図ｂのように反射光ホは左右不平
衡になる。このため、トラツキングサーボは、こ
の傾きの誤差信号を打ち消すように働くから、光
スポツトはデイスク２上のトラツク位置からずれ
てしまう。
が簡単であるという利点を有しているが、デイス
ク２の反射面の傾きにより誤つたトラツキング信
号を発生するという問題がある。すなわち、第３
図に示すように、デイスク２の反射面が入射光の
光軸に対して直交する姿勢からずれて傾いている
と、光スポツトが第３図ａのように丁度トラツク
上のピツト３部分にあつても反射光ニは左右不平
衡になる。またトラツク上のピツト３とピツト３
との間でも第３図ｂのように反射光ホは左右不平
衡になる。このため、トラツキングサーボは、こ
の傾きの誤差信号を打ち消すように働くから、光
スポツトはデイスク２上のトラツク位置からずれ
てしまう。
本発明は上記の点に鑑み、無ピツト部のフアー
フイールドパターンが正確にデイスクの傾き情報
のみを有していることを利用して、無ピツト部の
フアーフイールドパターンからデイスクの傾きに
対応した補正信号を得、この補正信号でトラツキ
ング誤差信号を補正することにより、トラツキン
グ誤差信号に及ぼすデイスクの傾きの影響を極め
て小さく抑えるようにした位置検出装置を提供す
るものであり、以下その実施例を図面に基づいて
説明する。
フイールドパターンが正確にデイスクの傾き情報
のみを有していることを利用して、無ピツト部の
フアーフイールドパターンからデイスクの傾きに
対応した補正信号を得、この補正信号でトラツキ
ング誤差信号を補正することにより、トラツキン
グ誤差信号に及ぼすデイスクの傾きの影響を極め
て小さく抑えるようにした位置検出装置を提供す
るものであり、以下その実施例を図面に基づいて
説明する。
第４図はトラツキング誤差信号の説明図であ
り、対象物体であるデイスク２には第４図ａに示
すように、記録情報がほぼ一線上（トラツク上）
にピツト３の形で記録されている。光スポツトが
丁度トラツク上にあり、かつデイスク２の傾きが
ない場合、トラツキング誤差信号は第４図ｂに示
すように零である。光スポツトは丁度トラツク上
にあるが、デイスク２が傾いている場合、トラツ
キング誤差信号は第４図ｃに示すようになる。本
来なら、光スポツトが丁度トラツク上にあるので
あるからトラツキング誤差信号は零であるべきで
ある。一方、記録信号を再生した凹凸信号は、第
４図ｄに示すようにピツト３部分で小さく、ピツ
ト３以外の部分で大きい。
り、対象物体であるデイスク２には第４図ａに示
すように、記録情報がほぼ一線上（トラツク上）
にピツト３の形で記録されている。光スポツトが
丁度トラツク上にあり、かつデイスク２の傾きが
ない場合、トラツキング誤差信号は第４図ｂに示
すように零である。光スポツトは丁度トラツク上
にあるが、デイスク２が傾いている場合、トラツ
キング誤差信号は第４図ｃに示すようになる。本
来なら、光スポツトが丁度トラツク上にあるので
あるからトラツキング誤差信号は零であるべきで
ある。一方、記録信号を再生した凹凸信号は、第
４図ｄに示すようにピツト３部分で小さく、ピツ
ト３以外の部分で大きい。
第４図ｃに示すトラツキング誤差信号の無ピツ
ト部分に対応する部分は、第３図ｂから明らかな
ようにデイスク２の傾きの情報のみを示してい
る。したがつて、第４図ｄに示す凹凸信号の零ク
ロス点を検出してピツト部と無ピツト部を判別
し、第４図ｃに示すトラツキング誤差信号の無ピ
ツト部の量を抽出し、これに応じてトラツキング
誤差信号を補正すれば、デイスク２の傾きの影響
を著しく軽減できる。
ト部分に対応する部分は、第３図ｂから明らかな
ようにデイスク２の傾きの情報のみを示してい
る。したがつて、第４図ｄに示す凹凸信号の零ク
ロス点を検出してピツト部と無ピツト部を判別
し、第４図ｃに示すトラツキング誤差信号の無ピ
ツト部の量を抽出し、これに応じてトラツキング
誤差信号を補正すれば、デイスク２の傾きの影響
を著しく軽減できる。
第５図はトラツキングサーボ系の回路ブロツク
図であり、光学系は第２図に示すものと同一のも
のを用いることとし、詳細は省略している。９は
凹凸信号再生部、１０は無ピツト部トラツキング
誤差信号抽出部、１１は補正調整部、１２は差動
トラツキング誤差抽出部、１３は増幅部、１４は
トラツキングアクチエータである。デイスク２の
凹凸信号は２分割光検出器８に入り、該２分割光
検出器８からの双方の出力は凹凸信号再生部９及
び差動トラツキング誤差抽出部１２に入力され
る。凹凸信号再生部９は、２分割光検出器８から
の双方の出力の和により凹凸信号を再生する。一
方差動トラツキング誤差抽出部１２は、２分割光
検出器８からの双方の出力の差によりトラツキン
グ誤差信号を作出する。このトラツキング誤差信
号は無ピツト部トラツキング誤差信号抽出部１０
及び増幅部１３に入力される。無ピツト部トラツ
キング誤差信号抽出部１０はゲート回路から成
り、凹凸信号再生部９からの凹凸信号により無ピ
ツト部分のみのトラツキング誤差信号を抽出す
る。無ピツト部トラツキング誤差信号抽出部１０
の出力は補正調整部１１により所定の関係で変換
され、増幅部１３で差動トラツキング誤差抽出部
１２の出力信号に加算される。増幅部１３の出力
によりトラツキングアクチエータ１４が制御され
る。
図であり、光学系は第２図に示すものと同一のも
のを用いることとし、詳細は省略している。９は
凹凸信号再生部、１０は無ピツト部トラツキング
誤差信号抽出部、１１は補正調整部、１２は差動
トラツキング誤差抽出部、１３は増幅部、１４は
トラツキングアクチエータである。デイスク２の
凹凸信号は２分割光検出器８に入り、該２分割光
検出器８からの双方の出力は凹凸信号再生部９及
び差動トラツキング誤差抽出部１２に入力され
る。凹凸信号再生部９は、２分割光検出器８から
の双方の出力の和により凹凸信号を再生する。一
方差動トラツキング誤差抽出部１２は、２分割光
検出器８からの双方の出力の差によりトラツキン
グ誤差信号を作出する。このトラツキング誤差信
号は無ピツト部トラツキング誤差信号抽出部１０
及び増幅部１３に入力される。無ピツト部トラツ
キング誤差信号抽出部１０はゲート回路から成
り、凹凸信号再生部９からの凹凸信号により無ピ
ツト部分のみのトラツキング誤差信号を抽出す
る。無ピツト部トラツキング誤差信号抽出部１０
の出力は補正調整部１１により所定の関係で変換
され、増幅部１３で差動トラツキング誤差抽出部
１２の出力信号に加算される。増幅部１３の出力
によりトラツキングアクチエータ１４が制御され
る。
このように、無ピツト部トラツキング誤差信号
がデイスクの傾き情報しか含まないことを利用し
て、サーボループ内のトラツキング誤差信号から
デイスクの傾き成分の影響を除去するのである。
がデイスクの傾き情報しか含まないことを利用し
て、サーボループ内のトラツキング誤差信号から
デイスクの傾き成分の影響を除去するのである。
第６図は別の実施例を示しており、第５図に示
す構成要素と同一の構成要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。第４図ｃから明らかな
ように、デイスク２の傾きの影響は無ピツト部の
方が極めて大きく、この部分はトラツキング誤差
信号を含んでいないから、無ピツト部のトラツキ
ング誤差信号を捨て去る方がより正確なトラツキ
ング誤差信号を得ることができる。したがつて本
実施例では、凹凸信号再生部９の出力信号により
制御されて差動トラツキング誤差抽出部１２の出
力信号からビツト部のみのトラツキング誤差信号
を抽出するピツト部トラツキング誤差信号抽出部
１５を設け、このピツト部トラツキング誤差信号
抽出部１５の出力信号を増幅部１３に入力するよ
うにしている。
す構成要素と同一の構成要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。第４図ｃから明らかな
ように、デイスク２の傾きの影響は無ピツト部の
方が極めて大きく、この部分はトラツキング誤差
信号を含んでいないから、無ピツト部のトラツキ
ング誤差信号を捨て去る方がより正確なトラツキ
ング誤差信号を得ることができる。したがつて本
実施例では、凹凸信号再生部９の出力信号により
制御されて差動トラツキング誤差抽出部１２の出
力信号からビツト部のみのトラツキング誤差信号
を抽出するピツト部トラツキング誤差信号抽出部
１５を設け、このピツト部トラツキング誤差信号
抽出部１５の出力信号を増幅部１３に入力するよ
うにしている。
以上説明したように、本発明にかかる位置検出
装置によれば、無ピツト部トラツキング誤差信号
からデイスクの傾きに対応した補正信号を得、こ
の補正信号でトラツキング誤差信号を補正するよ
うにしたので、トラツキング誤差信号に及ぼす対
象物体の傾きの影響を極めて小さく抑えることが
でき、その工業的利用価値は極めて大である。
装置によれば、無ピツト部トラツキング誤差信号
からデイスクの傾きに対応した補正信号を得、こ
の補正信号でトラツキング誤差信号を補正するよ
うにしたので、トラツキング誤差信号に及ぼす対
象物体の傾きの影響を極めて小さく抑えることが
でき、その工業的利用価値は極めて大である。
第１図はフアーフイールド方式の原理説明図、
第２図はフアーフイールド方式における一般的な
光学系の構成図、第３図はデイスクが傾いたとき
のフアーフイールドパターンの説明図、第４図〜
第６図は本発明の実施例を示し、第４図はトラツ
キング誤差信号の説明図、第５図はトラツキング
サーボ系の回路ブロツク図、第６図は別の実施例
におけるトラツキングサーボ系の回路ブロツク図
である。 １…対物レンズ、２…デイスク（対象物体）、
３…ピツト、４…入射光束、５…半導体レーザダ
イオード、６…コリメートレンズ、７…ビームス
プリツタ、８…２分割光検出器、９…凹凸信号再
生部、１０…無ピツト部トラツキング誤差信号抽
出部、１１…補正調整部、１２…差動トラツキン
グ誤差抽出部、１３…増幅部、１４…トラツキン
グアクチエータ、１５…ピツト部トラツキング誤
差信号抽出部。
第２図はフアーフイールド方式における一般的な
光学系の構成図、第３図はデイスクが傾いたとき
のフアーフイールドパターンの説明図、第４図〜
第６図は本発明の実施例を示し、第４図はトラツ
キング誤差信号の説明図、第５図はトラツキング
サーボ系の回路ブロツク図、第６図は別の実施例
におけるトラツキングサーボ系の回路ブロツク図
である。 １…対物レンズ、２…デイスク（対象物体）、
３…ピツト、４…入射光束、５…半導体レーザダ
イオード、６…コリメートレンズ、７…ビームス
プリツタ、８…２分割光検出器、９…凹凸信号再
生部、１０…無ピツト部トラツキング誤差信号抽
出部、１１…補正調整部、１２…差動トラツキン
グ誤差抽出部、１３…増幅部、１４…トラツキン
グアクチエータ、１５…ピツト部トラツキング誤
差信号抽出部。
Claims (1)
- １ 光源と、該光源から出た光を対象物体上に集
束する光集束手段と、前記対象物体からの反射光
を検出する光検出手段と、該光検出手段の出力信
号から前記対象物体上の光学的に凹凸の記録信号
を再生する凹凸信号再生手段と、前記光検出手段
の出力信号から集束光スポツトが前記対象物体上
の情報トラツクからずれたことを示すトラツキン
グ誤差信号を差動的に抽出する差動トラツキング
誤差抽出手段と、前記凹凸信号により制御されて
前記トラツキング誤差信号から前記情報トラツク
の無ピツト部のみのトラツキング誤差信号を抽出
する無ピツト部トラツキング誤差信号抽出手段
と、前記差動トラツキング誤差抽出手段を含むト
ラツキングサーボループ内の所定の箇所に前記無
ピツト部トラツキング誤差信号に応じた補正信号
を挿入する補正信号挿入手段とを設けたことを特
徴とする位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56085931A JPS57199903A (en) | 1981-06-03 | 1981-06-03 | Position detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56085931A JPS57199903A (en) | 1981-06-03 | 1981-06-03 | Position detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57199903A JPS57199903A (en) | 1982-12-08 |
| JPS645376B2 true JPS645376B2 (ja) | 1989-01-30 |
Family
ID=13872498
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56085931A Granted JPS57199903A (en) | 1981-06-03 | 1981-06-03 | Position detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57199903A (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5848243A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | 光学的記録再生装置のトラツク追跡装置 |
| JPS58194146A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-12 | Sharp Corp | 光学式デイスクプレ−ヤにおけるトラツキング制御装置 |
| JPS60170037A (ja) * | 1984-02-13 | 1985-09-03 | Toshiba Corp | トラツキング誤差信号生成方法 |
| US5179268A (en) * | 1987-07-22 | 1993-01-12 | Omron Tateisi Electronic Co. | Apparatus for detecting inclination of an optical card |
| JPH0254969A (ja) * | 1988-08-19 | 1990-02-23 | Fuji Electric Co Ltd | Ｍｏｓ型半導体装置 |
| JPH0254858A (ja) * | 1988-08-19 | 1990-02-23 | Fuji Electric Co Ltd | イオンビーム中性化装置 |
| JPH0254857A (ja) * | 1988-08-19 | 1990-02-23 | Fuji Electric Co Ltd | イオンビーム中性化装置 |
| JP2680628B2 (ja) * | 1988-09-16 | 1997-11-19 | 三洋電機株式会社 | 水素吸蔵合金電極及びその電極を備えた密閉型アルカリ蓄電池 |
| JP2755611B2 (ja) * | 1988-09-16 | 1998-05-20 | 三洋電機株式会社 | 溶融炭酸塩燃料電池 |
| JP2867360B2 (ja) * | 1996-08-05 | 1999-03-08 | 株式会社日立製作所 | 光ディスク装置 |
| JP2785816B2 (ja) * | 1996-08-05 | 1998-08-13 | 株式会社日立製作所 | 光ディスク装置 |
| JP2785815B2 (ja) * | 1996-08-05 | 1998-08-13 | 株式会社日立製作所 | 光ディスク装置 |
| JPH09128774A (ja) * | 1996-09-03 | 1997-05-16 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置 |
| JP2867361B2 (ja) * | 1996-09-03 | 1999-03-08 | 株式会社日立製作所 | 光ディスク装置用ピックアップ |
| JP4772989B2 (ja) * | 2001-06-14 | 2011-09-14 | 三星電子株式会社 | 光ディスク記録装置及びそのトラックオフセット制御方法 |
-
1981
- 1981-06-03 JP JP56085931A patent/JPS57199903A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57199903A (en) | 1982-12-08 |
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