JPS648630U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS648630U JPS648630U JP10174087U JP10174087U JPS648630U JP S648630 U JPS648630 U JP S648630U JP 10174087 U JP10174087 U JP 10174087U JP 10174087 U JP10174087 U JP 10174087U JP S648630 U JPS648630 U JP S648630U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat
- amplifier
- pipe
- pair
- resistance wires
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
第1図は本案の測定原理の説明図、第2図は従
来の測定原理の説明図、第3図、第4図は本案の
開発段階での、測定方法の説明図、第5図は第1
図の温度分布図、第6図は第3図の温度分布図、
第7図は第4図の温度分布図である。 1……パイプ、2,4……熱抵抗線、3……ヒ
ータ、5……ヒータ電源、6……ブリツジ回路電
源、7,8……抵抗、9……アンプ、10……メ
ータ、11……包囲体、12……ブリツジ回路、
A……ヒータ3から熱抵抗線4までの長さ、B…
…ヒータ3から熱抵抗線2までの長さ、Ta……
熱抵抗線4の温度、Tb……熱抵抗線2の温度、
Th……ヒータ3の温度。
来の測定原理の説明図、第3図、第4図は本案の
開発段階での、測定方法の説明図、第5図は第1
図の温度分布図、第6図は第3図の温度分布図、
第7図は第4図の温度分布図である。 1……パイプ、2,4……熱抵抗線、3……ヒ
ータ、5……ヒータ電源、6……ブリツジ回路電
源、7,8……抵抗、9……アンプ、10……メ
ータ、11……包囲体、12……ブリツジ回路、
A……ヒータ3から熱抵抗線4までの長さ、B…
…ヒータ3から熱抵抗線2までの長さ、Ta……
熱抵抗線4の温度、Tb……熱抵抗線2の温度、
Th……ヒータ3の温度。
Claims (1)
- 被測定流体を流通せしめるパイプの、外周面に
、一対の感熱抵抗線を巻回する事により、形成さ
れるブリツジ回路と、上記の一対の感熱抵抗線を
外気と継熱する包囲体と、ブリツジ回路の不平衡
を増幅するアンプと、アンプ出力を表示するメー
タより成る流量計において、上記パイプに熱を供
給するヒータを設けた事を特徴とする流量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10174087U JPS648630U (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10174087U JPS648630U (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS648630U true JPS648630U (ja) | 1989-01-18 |
Family
ID=31331012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10174087U Pending JPS648630U (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS648630U (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7264680B2 (en) | 1997-05-09 | 2007-09-04 | Semitool, Inc. | Process and apparatus for treating a workpiece using ozone |
| US7378355B2 (en) | 1997-05-09 | 2008-05-27 | Semitool, Inc. | System and methods for polishing a wafer |
| US7404863B2 (en) | 1997-05-09 | 2008-07-29 | Semitool, Inc. | Methods of thinning a silicon wafer using HF and ozone |
-
1987
- 1987-07-03 JP JP10174087U patent/JPS648630U/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7264680B2 (en) | 1997-05-09 | 2007-09-04 | Semitool, Inc. | Process and apparatus for treating a workpiece using ozone |
| US7378355B2 (en) | 1997-05-09 | 2008-05-27 | Semitool, Inc. | System and methods for polishing a wafer |
| US7404863B2 (en) | 1997-05-09 | 2008-07-29 | Semitool, Inc. | Methods of thinning a silicon wafer using HF and ozone |
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